電路板故障檢測(cè)儀培訓(xùn)講義

1、GT4040P 培訓(xùn)北京金三航科技發(fā)展有限公司 1 操作培訓(xùn)操作培訓(xùn) GT4040P 電路板故障維修檢測(cè)儀電路板故障維修檢測(cè)儀 GT4040P 培訓(xùn)北京金三航科技發(fā)展有限公司 2 儀器簡(jiǎn)介儀器簡(jiǎn)介 o在維修各種電子設(shè)備時(shí)，您是否常因圖紙資料不全 而束手無(wú)策？您是否常因高昂的維修費(fèi)用而增添煩 惱? o高能檢測(cè)儀幫助您解除電路板維修中的煩惱。高能 檢測(cè)儀配合電腦使用，全部智能化。它利用電腦來(lái) 彌補(bǔ)人工維修能力的不足，能夠在維修人員缺乏圖 紙資料或不清楚電路板工作原理的情況下，對(duì)各種 類(lèi)型的電路板進(jìn)行ASA分析或ICT測(cè)試，在線檢測(cè) 元器件好壞，迅速檢測(cè)到電路板上故障元器件。簡(jiǎn) 捷、經(jīng)濟(jì)地修好各種類(lèi)

2、型電路板。 GT4040P 培訓(xùn)北京金三航科技發(fā)展有限公司 3 儀器特點(diǎn)儀器特點(diǎn) o先進(jìn)的測(cè)試技術(shù)，強(qiáng)大的驅(qū)動(dòng)能力，任何故障原因的電路板皆可修好；先進(jìn)的測(cè)試技術(shù)，強(qiáng)大的驅(qū)動(dòng)能力，任何故障原因的電路板皆可修好； o友好簡(jiǎn)單的中文操作界面，不經(jīng)專(zhuān)業(yè)訓(xùn)練，任何人均可成為維修專(zhuān)家；友好簡(jiǎn)單的中文操作界面，不經(jīng)專(zhuān)業(yè)訓(xùn)練，任何人均可成為維修專(zhuān)家； o無(wú)需電路原理圖，不必知道器件型號(hào)，對(duì)任何電路板皆可快速維修；無(wú)需電路原理圖，不必知道器件型號(hào)，對(duì)任何電路板皆可快速維修； o40路數(shù)字電路測(cè)試功能，備有路數(shù)字電路測(cè)試功能，備有TTL、CMOS及中大規(guī)模集成電路數(shù)據(jù)庫(kù)；及中大規(guī)模集成電路數(shù)據(jù)庫(kù)； o40路路/2

3、路（路（ASA）V/I曲線分析測(cè)試功能；曲線分析測(cè)試功能； o電路板測(cè)試存儲(chǔ)功能，被測(cè)板可與之比較；電路板測(cè)試存儲(chǔ)功能，被測(cè)板可與之比較； o真正的總線動(dòng)態(tài)隔離信號(hào)，使真正的總線動(dòng)態(tài)隔離信號(hào)，使IC測(cè)試更加準(zhǔn)確；測(cè)試更加準(zhǔn)確； o全面電路網(wǎng)絡(luò)表提取，使您方便畫(huà)出相應(yīng)原理圖；全面電路網(wǎng)絡(luò)表提取，使您方便畫(huà)出相應(yīng)原理圖； o全面存儲(chǔ)器測(cè)試，方便您對(duì)存儲(chǔ)器測(cè)試及在線讀?。蝗娲鎯?chǔ)器測(cè)試，方便您對(duì)存儲(chǔ)器測(cè)試及在線讀??； o簡(jiǎn)單編程語(yǔ)言，使您自行擴(kuò)充庫(kù)成為現(xiàn)實(shí)；簡(jiǎn)單編程語(yǔ)言，使您自行擴(kuò)充庫(kù)成為現(xiàn)實(shí)； o與進(jìn)口同類(lèi)儀器比較，性?xún)r(jià)比更優(yōu)，操作更方便。與進(jìn)口同類(lèi)儀器比較，性?xún)r(jià)比更優(yōu)，操作更方便。 GT4040

4、P 培訓(xùn)北京金三航科技發(fā)展有限公司 4 工作原理：全功能工作原理：全功能ASA+ICT測(cè)試儀測(cè)試儀 oASA （Analog Signature Analysis）對(duì)元件每個(gè)管腳提 供一個(gè)安全、低功率的掃描驅(qū)動(dòng)電壓信號(hào)，以便產(chǎn)生一 個(gè)阻抗特性圖并在CRT上顯示，且可存儲(chǔ)，以備比對(duì)。 所有測(cè)試都是在靜態(tài)下（不加電）執(zhí)行，所以不會(huì)傷害 到元件。它不僅能快速掃描并存儲(chǔ)各類(lèi)IC每個(gè)管腳V/I 曲線圖形，并且對(duì)各類(lèi)分立元件如：電阻、電容等同樣 有效。 GT4040P 培訓(xùn)北京金三航科技發(fā)展有限公司 5 工作原理：全功能工作原理：全功能ASA+ICT測(cè)試儀測(cè)試儀 oICT （In Circuit Test

5、ing）它能把待測(cè)元件與PC資料庫(kù)內(nèi) 相對(duì)應(yīng)的元件資料作邏輯功能測(cè)試比較，測(cè)試時(shí)可在 CRT上顯示元件管腳連接狀態(tài)、元件輸入管腳的輸入波 形，同時(shí)顯示相應(yīng)輸出管腳的實(shí)測(cè)波形及標(biāo)準(zhǔn)波形，以 便判定IC邏輯功能好壞。此功能可快速測(cè)試IC好壞， 也可測(cè)試分析，還識(shí)別不明型號(hào)的IC。 GT4040P 培訓(xùn)北京金三航科技發(fā)展有限公司 6 主要測(cè)試功能主要測(cè)試功能 o 數(shù)字IC功能測(cè)試 o 數(shù)字IC狀態(tài)測(cè)試 o VI曲線分析測(cè)試 o 全面存儲(chǔ)器測(cè)試 o LSI分析測(cè)試 o 電路網(wǎng)絡(luò)表提取及測(cè)試 GT4040P 培訓(xùn)北京金三航科技發(fā)展有限公司 7 數(shù)字IC功能測(cè)試 -1 o簡(jiǎn)介簡(jiǎn)介 本功能采用后驅(qū)動(dòng)隔離技術(shù)

6、，可在線判定IC邏輯功能是否正確， 可測(cè)試74系列、4000/4500邏輯IC、75系列接口IC等兩千余種 集成電路。將測(cè)試儀上的5V外供電源通過(guò)隨機(jī)所帶電源鉤引到被 測(cè)板，再把測(cè)試夾夾在被測(cè)IC上，輸入其型號(hào)，測(cè)試儀就在微機(jī) 的控制下，自動(dòng)進(jìn)行測(cè)試，并將結(jié)果顯示出來(lái)。在這個(gè)過(guò)程中， 測(cè)試儀首先檢查是否對(duì)被測(cè)板正確供電，然后檢查測(cè)試夾同被測(cè) IC是否接觸良好。一切正常，再檢查被測(cè)IC各管腳處于何種狀態(tài) （比如電源，地、輸入/輸出等）以及哪些管腳短接在一起，據(jù)此 求出相應(yīng)的測(cè)試碼，送到被測(cè)IC輸入端，再?gòu)腎C輸出端取回對(duì)測(cè) 試碼的響應(yīng)。 GT4040P 培訓(xùn)北京金三航科技發(fā)展有限公司 8 數(shù)字I

7、C功能測(cè)試-2 o簡(jiǎn)介簡(jiǎn)介 將取回的實(shí)測(cè)響應(yīng)和計(jì)算出的預(yù)期響應(yīng)相比較，就能發(fā)現(xiàn)故障。 （后驅(qū)動(dòng)隔離技術(shù)：后驅(qū)動(dòng)隔離技術(shù)由美國(guó)施倫伯杰公司的 Factron在68年提出。早在這類(lèi)在線維修測(cè)試儀出現(xiàn)之前，就在 生產(chǎn)用大型針床式電路板測(cè)試儀上得到廣泛應(yīng)用。該技術(shù)利用了 半導(dǎo)體器件允許瞬態(tài)過(guò)載的特性，向被測(cè)IC的前級(jí)輸出灌進(jìn)瞬間 大電流，強(qiáng)迫其按測(cè)試需要由高變低或由低變高。達(dá)到被測(cè)IC輸 入在線施加測(cè)試碼的目的。） GT4040P 培訓(xùn)北京金三航科技發(fā)展有限公司 9 數(shù)字IC功能測(cè)試-3 o1 快速測(cè)試快速測(cè)試 故障電路板上有許多中小規(guī)模IC，究竟哪些IC是有問(wèn)題的， 可利用“快速測(cè)試”迅速進(jìn)行篩選。

8、此功能僅給出IC是否 通過(guò)測(cè)試的結(jié)果，不提供任何故障診斷信息。下一步用診 斷測(cè)試對(duì)未通過(guò)測(cè)試的IC作進(jìn)一步的檢查。 GT4040P 培訓(xùn)北京金三航科技發(fā)展有限公司 10 數(shù)字IC功能測(cè)試-4 o2 診斷測(cè)試診斷測(cè)試 該測(cè)試不僅給出測(cè)試是 否通過(guò)的信息，測(cè)試過(guò) 程中的測(cè)試碼波形、響 應(yīng)波形、各管腳的邏輯 狀態(tài)、測(cè)試前的管腳電 平、管腳的連接關(guān)系以 及器件圖都能顯示出來(lái)， 供您查閱。比較預(yù)期響 應(yīng)和實(shí)際響應(yīng)的不同， 可進(jìn)一步了解IC測(cè)試失 敗的原因。 GT4040P 培訓(xùn)北京金三航科技發(fā)展有限公司 11 數(shù)字IC功能測(cè)試-5 o3 IC循環(huán)測(cè)試（循環(huán)測(cè)試（Loop Test） 該功能專(zhuān)為檢查因溫升

9、造成的故障而設(shè)。有的IC開(kāi)機(jī) 運(yùn)行幾分鐘后，由于溫升而失效，當(dāng)停機(jī)后尋找故障 時(shí)，溫度降低功能又恢復(fù)正常。這種故障使維修人員 深感頭痛，“循環(huán)測(cè)試”功能有助于發(fā)現(xiàn)這種問(wèn)題。 GT4040P 培訓(xùn)北京金三航科技發(fā)展有限公司 12 數(shù)字IC功能測(cè)試-6 o4 無(wú)型號(hào)無(wú)型號(hào)IC識(shí)別識(shí)別 功能測(cè)試時(shí)必須鍵入被測(cè)IC的型號(hào)，但經(jīng)常有IC型號(hào) 不清楚或故意擦掉的情況，使得測(cè)試工作無(wú)法進(jìn)行。 本功能可迅速把無(wú)型號(hào)的IC的型號(hào)自動(dòng)查出來(lái)顯示在 屏幕上。但這種查找必須是器件庫(kù)內(nèi)有的，并且功能 必須完好。 GT4040P 培訓(xùn)北京金三航科技發(fā)展有限公司 13 數(shù)字IC功能測(cè)試-7 o5 離線測(cè)試離線測(cè)試 上述幾種

10、測(cè)試功能均可在隨機(jī)的離線測(cè)試器上進(jìn)行。 并且結(jié)果更準(zhǔn)確?？捎糜谄骷Y選，或?qū)υ诰€測(cè)試有 問(wèn)題的器件做進(jìn)一步的確認(rèn)。 GT4040P 培訓(xùn)北京金三航科技發(fā)展有限公司 14 主要測(cè)試功能主要測(cè)試功能 o 數(shù)字IC功能測(cè)試 o 數(shù)字IC狀態(tài)測(cè)試 o VI曲線分析測(cè)試 o 全面存儲(chǔ)器測(cè)試 o LSI分析測(cè)試 o 電路網(wǎng)絡(luò)表提取及測(cè)試 GT4040P 培訓(xùn)北京金三航科技發(fā)展有限公司 15 數(shù)字IC狀態(tài)測(cè)試 o電路板上每個(gè)數(shù)字器件，在加電后都有3種狀態(tài)特征：各管腳的邏 輯狀態(tài)（電源、地、 o高阻、信號(hào)等）、管腳之間的連接關(guān)系、輸入輸出邏輯關(guān)系。當(dāng)器 件損壞后，其狀態(tài)特征一般都要發(fā)生變化。測(cè)試儀能夠把好的電

11、路 板上各IC的狀態(tài)特征提取出來(lái)，存入微機(jī)的數(shù)據(jù)庫(kù)中，然后與同 類(lèi)有故障的電路板進(jìn)行比較，從而可相當(dāng)準(zhǔn)確的找到故障器件。這 類(lèi)學(xué)習(xí)的板越多，日后的工作越方便。 o這種測(cè)試方法不僅適用于器件庫(kù)中已有的IC，也適用于庫(kù)中沒(méi)有 的IC。是檢測(cè)各種專(zhuān)用器件、PAL、GAL、EPLD等可編程器件以 及大規(guī)模集成電路強(qiáng)有力的手段。 GT4040P 培訓(xùn)北京金三航科技發(fā)展有限公司 16 主要測(cè)試功能 o 數(shù)字IC功能測(cè)試 o 數(shù)字IC狀態(tài)測(cè)試 o VI曲線分析測(cè)試 o 全面存儲(chǔ)器測(cè)試 o LSI分析測(cè)試 o 電路網(wǎng)絡(luò)表提取及測(cè)試 GT4040P 培訓(xùn)北京金三航科技發(fā)展有限公司 17 VI曲線分析測(cè)試 o本測(cè)

12、試功能建立于模擬特征分析技術(shù)之上?？蓱?yīng)用于模擬、數(shù)字， 各種專(zhuān)用器件、可編程器件以及大規(guī)模、超大規(guī)模器件。 74LS373 曲線比較出現(xiàn)差異（3腳） o使用測(cè)試儀進(jìn)行此項(xiàng)測(cè)試十分簡(jiǎn)單。只需用探棒點(diǎn)到好板子上的 元件管腳上，或者用測(cè)試夾夾在器件上，測(cè)試儀就能自動(dòng)把該結(jié) 點(diǎn)的特征曲線提取出來(lái)，顯示在計(jì)算機(jī)屏幕上，最后存入計(jì)算機(jī) 中。通過(guò)同樣簡(jiǎn)單的操作，可以將庫(kù)中的曲線和新測(cè)到的曲線在 屏幕上同時(shí)顯示出來(lái)。比較兩者之差異就能發(fā)現(xiàn)故障。 GT4040P 培訓(xùn)北京金三航科技發(fā)展有限公司 18 VI曲線分析測(cè)試 o曲線在計(jì)算機(jī)中是以電路板為單位存 放的。一個(gè)板一個(gè)文件，板上所有結(jié) 點(diǎn)的曲線都放在該文件中，

13、沒(méi)有容量 限制。允許用軟盤(pán)拷貝出來(lái)。 o該項(xiàng)測(cè)試一般要求在被測(cè)板不加電的 情況下進(jìn)行檢測(cè)（只是注意板子上的 電壓不能高于掃描電壓），這在很多 情況下有助于進(jìn)一步確認(rèn)故障。 o邏輯器件管腳節(jié)點(diǎn)處含有R、C、L元 件，或者是模擬集成電路的故障，用 “IV曲線分析”方法是很有效的。 GT4040P 培訓(xùn)北京金三航科技發(fā)展有限公司 19 VI曲線分析測(cè)試 o“VI曲線”反映了節(jié)點(diǎn)處的阻抗特性，實(shí)際電路中的曲線形狀是多 樣的，我們要熟悉典型元件的曲線形狀；如純電阻為直線，其斜 率大，阻值?。患冸娙轂橐粰E圓，橢圓的Y/X軸比例越大其容量也 越大，以及我們常見(jiàn)的二極管、穩(wěn)壓管等不對(duì)稱(chēng)非線性PN結(jié)特征 曲線等

14、等。實(shí)際電路中提取的VI曲線必是這些典型曲線的合成。 所以根據(jù)實(shí)際電路節(jié)點(diǎn)的VI曲線幾何形狀，可大致推測(cè)出該節(jié)點(diǎn) 是哪些元件組成的；反之也可推測(cè)出某些屬性節(jié)點(diǎn)提取的曲線的 大概形狀。如果比預(yù)測(cè)形狀相差甚遠(yuǎn)，肯定有問(wèn)題。 o“VI曲線分析”還有另一個(gè)實(shí)用性：即當(dāng)電路板上芯片溫度異常 過(guò)熱，為了避免擴(kuò)大故障范圍，不適于加電測(cè)試時(shí)，可改用“VI 曲線分析”（不加電）逐個(gè)管腳檢查，能確切地定位故障點(diǎn)。 o測(cè)試時(shí)需要注意的是當(dāng)元件阻值（或阻抗）過(guò)大（R300K， C500PF）、過(guò)?。≧400uF）時(shí)，其曲線與開(kāi)路、 短路無(wú)法區(qū)分。VI曲線分析的這種局限性供您工作中參考。 GT4040P 培訓(xùn)北京金三航

15、科技發(fā)展有限公司 20 主要測(cè)試功能主要測(cè)試功能 o 數(shù)字IC功能測(cè)試 o 數(shù)字IC狀態(tài)測(cè)試 o VI曲線分析測(cè)試 o 全面存儲(chǔ)器測(cè)試 o LSI分析測(cè)試 o 電路網(wǎng)絡(luò)表提取及測(cè)試 GT4040P 培訓(xùn)北京金三航科技發(fā)展有限公司 21 全面存儲(chǔ)器測(cè)試 -1 o全面存儲(chǔ)器測(cè)試可對(duì)SRAM/DRAM， PROM/EPROM存儲(chǔ)器共1500余種；進(jìn)行在線/離 線、快速/完全測(cè)試，滿(mǎn)足不同測(cè)試需求。 o對(duì)PROM/EPROM，將其中的內(nèi)容讀取出來(lái)，和以 前電路板無(wú)故障時(shí)讀出并存儲(chǔ)在計(jì)算機(jī)中的內(nèi)容相 比較，不一致則說(shuō)明有問(wèn)題。 o對(duì)DRAM/SRAM，在測(cè)試期間先寫(xiě)入，再讀出。 寫(xiě)入內(nèi)容和讀出內(nèi)容不一致

16、則說(shuō)明有問(wèn)題。 GT4040P 培訓(xùn)北京金三航科技發(fā)展有限公司 22 全面存儲(chǔ)器測(cè)試-2 o（1）快速測(cè)試）快速測(cè)試 其特點(diǎn)是測(cè)試速度很快，用于迅速檢測(cè)被測(cè)存儲(chǔ)器是否有故障。 它不遍歷每個(gè)存儲(chǔ)單元只按一定算法取部分存儲(chǔ)單元進(jìn)行測(cè)試。 o（2）完全測(cè)試）完全測(cè)試 遍歷每個(gè)存儲(chǔ)單元，所以可把PROM/EPROM中的內(nèi)容全部讀出 來(lái)，存成二進(jìn)制文件，供用戶(hù)復(fù)制或剖析。 o（3）離線測(cè)試）離線測(cè)試 對(duì)未焊接在板子上的存儲(chǔ)器進(jìn)行測(cè)試，離線測(cè)試只有完全測(cè)試。 o（4）在線測(cè)試）在線測(cè)試 對(duì)焊接在板子上的存儲(chǔ)器進(jìn)行測(cè)試。存儲(chǔ)器測(cè)試的特點(diǎn)是時(shí)間長(zhǎng)。 完全測(cè)試一個(gè)2K容量的存儲(chǔ)器，也比最復(fù)雜的邏輯器件所用時(shí)間

17、長(zhǎng)得多。所以在線測(cè)試支持快速測(cè)試和完全測(cè)試。并且對(duì)完全測(cè) 試進(jìn)行了特殊處理，使得既能訪問(wèn)到每一個(gè)存儲(chǔ)單元，有能保證 測(cè)試安全。 GT4040P 培訓(xùn)北京金三航科技發(fā)展有限公司 23 全面存儲(chǔ)器測(cè)試-3 o存儲(chǔ)器往往都掛在總線上，要保證在線測(cè)試準(zhǔn)確， 需用GUARD信號(hào)進(jìn)行總線隔離。測(cè)試存儲(chǔ)器所需 要的時(shí)間與存儲(chǔ)容量成正比。對(duì)一個(gè)容量1K字節(jié) 的讀寫(xiě)存儲(chǔ)器進(jìn)行完全測(cè)試（即遍歷每一個(gè)存儲(chǔ)單 元），至少需要4096個(gè)測(cè)試節(jié)拍。對(duì)容量為2K、 4K、8K的存儲(chǔ)器，其測(cè)試時(shí)間分別是測(cè)1K存儲(chǔ)器 的2倍，4倍，8倍。 GT4040P 培訓(xùn)北京金三航科技發(fā)展有限公司 24 主要測(cè)試功能主要測(cè)試功能 o 數(shù)字

18、IC功能測(cè)試 o 數(shù)字IC狀態(tài)測(cè)試 o VI曲線分析測(cè)試 o 全面存儲(chǔ)器測(cè)試 o LSI分析測(cè)試 o 電路網(wǎng)絡(luò)表提取及測(cè)試 GT4040P 培訓(xùn)北京金三航科技發(fā)展有限公司 25 LSI分析測(cè)試-1 oLSI測(cè)試分析與中小規(guī)模IC的測(cè)試原理有很大差別，主 要不同點(diǎn)在于：LSI內(nèi)部結(jié)構(gòu)與中小規(guī)模IC不同，其輸 入輸出邏輯關(guān)系不能直接確定。一片LSI器件的功能一 般都由許多子功能組成，如CPU器件就有取數(shù)、中斷、 復(fù)位等，也往往有不同的使用方式，如8086就有大小 模式之分。對(duì)LSI的測(cè)試就是對(duì)它的每一個(gè)子功能都用 一段相應(yīng)的測(cè)試碼進(jìn)行測(cè)試，我們稱(chēng)之為“子測(cè)試”， 也就是說(shuō)每個(gè)子測(cè)試只測(cè)一片LSI器

19、件的一項(xiàng)子功能。 通過(guò)好壞板上的子測(cè)試的比較情況來(lái)判斷被測(cè)LSI器件 是否有故障。 GT4040P 培訓(xùn)北京金三航科技發(fā)展有限公司 26 LSI分析測(cè)試-2 o測(cè)試分析LSI首先要“離線學(xué)習(xí)”，以得出“參考文 件”，再“離線測(cè)試”，以得出被測(cè)LSI的準(zhǔn)確數(shù)據(jù)備 用，然后“在線學(xué)習(xí)”好的被測(cè)板上的相同的LSI數(shù)據(jù) 存入硬盤(pán)供日后與故障板進(jìn)行比較。一片好的LSI器件， “離線測(cè)試”時(shí)應(yīng)通過(guò)全部子測(cè)試，但在線時(shí)由于實(shí)際 使用方式的不同，有的子功能使用，有的子功能不使用。 那么好的LSI器件“在線學(xué)習(xí)”時(shí)，對(duì)其不使用的子功 能（或方式），在進(jìn)行“子測(cè)試”時(shí)，允許它不通過(guò) （失效）。因此這就要求先用一塊

20、好電路板，通過(guò)學(xué)習(xí) 其上的LSI器件，可確定通過(guò)了哪些子測(cè)試，哪些沒(méi)有 通過(guò)并存入盤(pán)內(nèi)，供日后對(duì)相同的、有故障的電路板做 對(duì)照比較測(cè)試。如果與當(dāng)時(shí)存入的那些子測(cè)試的通過(guò)情 況不同，則表示該器件可能有問(wèn)題。 GT4040P 培訓(xùn)北京金三航科技發(fā)展有限公司 27 主要測(cè)試功能主要測(cè)試功能 o 數(shù)字IC功能測(cè)試 o 數(shù)字IC狀態(tài)測(cè)試 o VI曲線分析測(cè)試 o 全面存儲(chǔ)器測(cè)試 o LSI分析測(cè)試 o 電路網(wǎng)絡(luò)表提取及測(cè)試 GT4040P 培訓(xùn)北京金三航科技發(fā)展有限公司 28 電路網(wǎng)絡(luò)表提取及測(cè)試-1 o全面電路網(wǎng)絡(luò)表提取全面電路網(wǎng)絡(luò)表提取 為了得到被測(cè)電路板的電路圖，以便日后更好地開(kāi)展維為了得到被測(cè)電

21、路板的電路圖，以便日后更好地開(kāi)展維 修工作，您往往希望得到被測(cè)電路板的電路圖。也許您修工作，您往往希望得到被測(cè)電路板的電路圖。也許您 （包括許多人）已經(jīng)用萬(wàn)用表嘗試過(guò)此項(xiàng)工作，用測(cè)試（包括許多人）已經(jīng)用萬(wàn)用表嘗試過(guò)此項(xiàng)工作，用測(cè)試 儀的此項(xiàng)功能您會(huì)有重新體會(huì)。儀的此項(xiàng)功能您會(huì)有重新體會(huì)。 所謂所謂“全面全面”網(wǎng)絡(luò)表提取，是指測(cè)試儀提供三種操作模網(wǎng)絡(luò)表提取，是指測(cè)試儀提供三種操作模 式，能夠處理各種元器件之間的連接關(guān)系的提取。式，能夠處理各種元器件之間的連接關(guān)系的提取。 GT4040P 培訓(xùn)北京金三航科技發(fā)展有限公司 29 電路網(wǎng)絡(luò)表提取及測(cè)試-2 o全面電路網(wǎng)絡(luò)表提取全面電路網(wǎng)絡(luò)表提取 1 測(cè)

22、試夾測(cè)試夾 測(cè)試夾測(cè)試夾 這種模式主要用來(lái)處理數(shù)字這種模式主要用來(lái)處理數(shù)字IC之間的網(wǎng)絡(luò)提取。用邏輯信號(hào)之間的網(wǎng)絡(luò)提取。用邏輯信號(hào) 來(lái)檢查來(lái)檢查IC之間是否直接相連。提取速度快，工作效率高。之間是否直接相連。提取速度快，工作效率高。 2 測(cè)試夾測(cè)試夾 測(cè)試探棒測(cè)試探棒 這種模式主要用來(lái)處理這種模式主要用來(lái)處理IC和分立元器件（包括一端是可使用和分立元器件（包括一端是可使用 測(cè)試夾的測(cè)試夾的IC，一端是不能使用測(cè)試夾的，一端是不能使用測(cè)試夾的IC）之間的連接關(guān)系。）之間的連接關(guān)系。 3 測(cè)試探棒測(cè)試探棒 測(cè)試探棒測(cè)試探棒 這種模式主要用來(lái)提取分立元件之間（包括不能使用測(cè)試夾這種模式主要用來(lái)提取分

23、立元件之間（包括不能使用測(cè)試夾 的的IC）的連接關(guān)系。）的連接關(guān)系。 GT4040P 培訓(xùn)北京金三航科技發(fā)展有限公司 30 電路網(wǎng)絡(luò)表提取及測(cè)試-3 o全面電路網(wǎng)絡(luò)表提取全面電路網(wǎng)絡(luò)表提取 后兩種模式更多地涉及到模擬器件，所以用模擬信號(hào) 來(lái)檢查元器件之間的連接關(guān)系。目前的測(cè)試儀在后兩種 模式下，能夠識(shí)別約8歐姆以上電阻、3.2毫亨以上電 感和400微法以下電容。 GT4040P 培訓(xùn)北京金三航科技發(fā)展有限公司 31 電路網(wǎng)絡(luò)表提取及測(cè)試-4 o全面電路網(wǎng)絡(luò)測(cè)試全面電路網(wǎng)絡(luò)測(cè)試 目前的電路在線維修測(cè)試儀，其各種測(cè)試功能，都是用于檢查電路 板上元器件的功能性故障的。對(duì)于電路板本身的故障，比如由于

24、斷線或金屬化孔不通造成的開(kāi)路故障；焊接或引線毛刺造成的短 路故障則無(wú)能為力。由于這類(lèi)故障往往不以元器件的功能異常表 現(xiàn)出來(lái)，而是表現(xiàn)為電路板網(wǎng)絡(luò)表的改變，所以，利用從好的電 路板上“學(xué)習(xí)”到的網(wǎng)絡(luò)表，去同相應(yīng)的故障板做對(duì)照檢查，就 能發(fā)現(xiàn)電路板本身的開(kāi)路/短路故障。 GT4040P 培訓(xùn)北京金三航科技發(fā)展有限公司 32 電路網(wǎng)絡(luò)表提取及測(cè)試-5 o全面電路網(wǎng)絡(luò)測(cè)試全面電路網(wǎng)絡(luò)測(cè)試 一般而言，在維修工作中，電路板的開(kāi)/短路故障相對(duì)比較少見(jiàn)。 而在電路板的生產(chǎn)調(diào)試中，絕大部分故障都是這種故障。所以， 網(wǎng)絡(luò)測(cè)試功能不僅使得測(cè)試儀能夠更好地應(yīng)用于維修測(cè)試，而且 使它能夠有效地用于小批量電子產(chǎn)品生產(chǎn)中的

25、電路板故障檢測(cè)。 網(wǎng)絡(luò)測(cè)試的使用過(guò)程和提取基本一致。比較是否有錯(cuò)由計(jì)算機(jī)自 動(dòng)完成，并將出錯(cuò)結(jié)果在屏幕上顯示出來(lái)。 GT4040P 培訓(xùn)北京金三航科技發(fā)展有限公司 33 輔助功能輔助功能-1 以下三項(xiàng)功能隱含在在線測(cè)試過(guò)程中，用戶(hù)不需要選擇，但它們可能會(huì)產(chǎn)生以下三項(xiàng)功能隱含在在線測(cè)試過(guò)程中，用戶(hù)不需要選擇，但它們可能會(huì)產(chǎn)生 提示信息，在使用中請(qǐng)多加注意。提示信息，在使用中請(qǐng)多加注意。 o（1）上拉電阻 對(duì)板上的OC門(mén)自動(dòng)上拉電阻。 o（2）測(cè)試夾自動(dòng)定位 此項(xiàng)功能允許測(cè)試夾以不同方向、不同位置夾在被測(cè)IC上進(jìn)行測(cè)試。 此項(xiàng)功能是利用被測(cè)IC的“電源地”引腳排列上的結(jié)構(gòu)判斷測(cè)試夾和 被 測(cè)IC的

26、位置關(guān)系。如果被測(cè)IC有多個(gè)引腳接電源或地，往往會(huì)導(dǎo)致自定 位失敗，此時(shí)，測(cè)試儀會(huì)提示您將測(cè)試夾和被測(cè)器件的1腳對(duì)齊后再行 測(cè)試。 “測(cè)試夾自動(dòng)定位”能提供兩類(lèi)信息： A IC位置超出測(cè)試儀的測(cè)試范圍；原因是測(cè)試夾沒(méi)有完全夾住被測(cè)器件。 B 測(cè)試夾自動(dòng)定位失敗。原因有多種： . 接電源或地腳過(guò)多 . 未接電源 . 輸入不匹配的器件類(lèi)型 GT4040P 培訓(xùn)北京金三航科技發(fā)展有限公司 34 輔助功能輔助功能-2 o（3）測(cè)試夾接觸檢查 在測(cè)試時(shí)，IC引腳氧化等情況，會(huì)造成測(cè)試夾與IC接觸不 良，直接導(dǎo)致測(cè)試失敗。因此，在實(shí)測(cè)前，測(cè)試儀自動(dòng)檢查 是否有接觸不良的引腳。若有，則出現(xiàn)提示。IC如果有不

27、用 的引腳（一般手冊(cè)上注以N,C，即懸空），會(huì)判斷成接觸不 良。請(qǐng)注意這種情況的檢查。 o此三項(xiàng)功能在“離線功能測(cè)試”中也同樣具備，用戶(hù)可以按任意 方向放置被測(cè)器件，只要電源和地正確連接即可。 GT4040P 培訓(xùn)北京金三航科技發(fā)展有限公司 35 儀器的使用儀器的使用 o 軟件安裝軟件安裝 o 硬件連接硬件連接 o 設(shè)備自檢設(shè)備自檢 o 測(cè)試夾的安裝測(cè)試夾的安裝 o 用測(cè)試夾夾集成電路用測(cè)試夾夾集成電路 o 給被測(cè)板供電給被測(cè)板供電 o 離線板的安裝及使用離線板的安裝及使用 GT4040P 培訓(xùn)北京金三航科技發(fā)展有限公司 36 軟件安裝 o光盤(pán)安裝光盤(pán)安裝 將光盤(pán)放入光驅(qū)，點(diǎn)擊安裝圖標(biāo)GT40

28、40P，則 系統(tǒng)將測(cè)試軟件自動(dòng)安裝到D:ICTEST 目錄 下，可根據(jù)需要更改安裝路徑，但I(xiàn)CTEST目 錄不能改變，安裝后，系統(tǒng)自動(dòng)在開(kāi)始菜單及 桌面創(chuàng)建的快捷方式GT4040P。在開(kāi)始位置可 卸載該軟件，該軟件適用于WINDOWS 95及 WINDOWS 98操作系統(tǒng)。 GT4040P 培訓(xùn)北京金三航科技發(fā)展有限公司 37 硬件連接 o1 將220V電源線連接到測(cè)試儀后面板的電 源插座中。 o2 將25芯通訊電纜線與測(cè)試儀后面板的25 芯座相連接后，另一端與PC機(jī)的打印口相 連 （注意：連接要緊）（注意：連接要緊） o3 接通電源，打開(kāi)機(jī)器后面板的電源開(kāi)關(guān)， 前面板綠色指示燈亮。 GT40

29、40P 培訓(xùn)北京金三航科技發(fā)展有限公司 38 設(shè)備自檢 o前面板不連接任何測(cè)試線纜或測(cè)試線纜懸空。 o點(diǎn)擊主頁(yè)面“設(shè)備自檢” o設(shè)備自檢通過(guò)表明系統(tǒng)一切正常 OK! o自檢失敗有以下可能： a、后面板通訊電纜線連接不好 b、測(cè)試儀有硬件故障或儀器內(nèi)部板卡松動(dòng)， 必要時(shí)在專(zhuān)業(yè)人員指導(dǎo)下，打開(kāi)上機(jī)箱 蓋查看并排除松動(dòng)現(xiàn)象或與廠家聯(lián)系。 （輕輕翻開(kāi)上機(jī)箱蓋六個(gè)深顏色塑料小蓋（輕輕翻開(kāi)上機(jī)箱蓋六個(gè)深顏色塑料小蓋 子，用螺絲刀擰出六只螺絲，打開(kāi)機(jī)箱蓋）子，用螺絲刀擰出六只螺絲，打開(kāi)機(jī)箱蓋） GT4040P 培訓(xùn)北京金三航科技發(fā)展有限公司 39 測(cè)試夾的安裝 o 1 取出40Pin 扁平長(zhǎng)電纜一對(duì)，紅線向

30、左側(cè)。 按照一定方向插入前面板的牛角座中并鎖緊。 （一定要注意方向，方向錯(cuò)誤插不進(jìn)去） o 2 取出任何一個(gè)測(cè)試夾。例如14pin測(cè)試夾， 插入排線的壓線器中。（注:左端對(duì)齊 見(jiàn)圖） 插入測(cè)試夾不要插入測(cè)試夾電 纜插頭的外側(cè)是地 GT4040P 培訓(xùn)北京金三航科技發(fā)展有限公司 40 用測(cè)試夾夾集成電路 o用IC測(cè)試夾夾集成電路。集成電路缺口端向左，測(cè) 試夾與IC缺口端對(duì)齊。 電 源 14 61 23547 1312119108 接 地 GT4040P 培訓(xùn)北京金三航科技發(fā)展有限公司 41 給被測(cè)板供電 o將外供電源鉤一對(duì)的另一端插入儀器面板+5V電源座， 將紅黑鉤分別鉤住被測(cè)板的+5V電源和地

31、，使被測(cè)板 供電。（注意測(cè)試時(shí)再開(kāi)電源注意測(cè)試時(shí)再開(kāi)電源）。 GT4040P 培訓(xùn)北京金三航科技發(fā)展有限公司 42 離線板的安裝及使用-1 o1 取出40pin扁平長(zhǎng)電纜一對(duì)，紅線向左側(cè)，按照一定方向插入 儀器前面板的牛角應(yīng)中并鎖緊（一定要注意方向，方向錯(cuò)誤插入 不進(jìn)去）。 o2 將儀器上一排（紅線向左側(cè)）40pin扁平電纜線插入離線板的 JP5牛角座中并鎖緊。將儀器下排40pin扁平電纜線插入離線板的 JP4牛角座中并鎖緊。（注意：上下兩排扁平（注意：上下兩排扁平40pin電纜，紅線電纜，紅線 向左向左;自?xún)x器至離線板之間的纜線不能有彎折，且兩線是相互平自?xún)x器至離線板之間的纜線不能有彎折，且

32、兩線是相互平 行的。這樣兩線剛好插入行的。這樣兩線剛好插入JP5，JP4座中，方向錯(cuò)誤線是插不進(jìn)座中，方向錯(cuò)誤線是插不進(jìn) 去的）。去的）。 o3 將電源鉤VCC線（線色）鉤到離線板的VCC電源針，將GND 鉤（黑線）鉤到離線板的GND接地針，打開(kāi)儀器面板電源開(kāi)關(guān)， 即可給離線板供電。（注意：離線（注意：離線ICFT測(cè)試需要給離線板供電，測(cè)試需要給離線板供電， 離線離線VI曲線測(cè)試，不需要供電，只需接地即可使用）。曲線測(cè)試，不需要供電，只需接地即可使用）。 GT4040P 培訓(xùn)北京金三航科技發(fā)展有限公司 43 離線板的安裝及使用-2 o4 離線ICFT功能測(cè)試 將IC的腳“1”對(duì)準(zhǔn)鎖緊的“1”，

33、鎖緊IC座，將相應(yīng)電源及地用 短路塊短接，這樣IC就可以供電了。例如“74LS00”見(jiàn)下圖離線 測(cè)試同ICFT測(cè)試完全相同（見(jiàn)六ICFT功能測(cè)試），注意調(diào)換離 線板上COMS與TTL短線的位置。測(cè)試TTL時(shí)，短40線電纜接到 TTL的40線座上，測(cè)試COMS時(shí)，短40線纜連接到COMS的40 線座上即可。 GT4040P 培訓(xùn)北京金三航科技發(fā)展有限公司 44 離線板的安裝及使用-3 o5 離線離線VI測(cè)試測(cè)試 離線VI測(cè)試的方式同ICFT的功能測(cè)試連接方式相同，離線VI測(cè)試 同VI曲線測(cè)試相同，（見(jiàn)九 VI曲線測(cè)試）。注意離線VI測(cè)試不 需要供電，只要GND與儀器面板GND相連接即可。 GT4

34、040P 培訓(xùn)北京金三航科技發(fā)展有限公司 45 離線板的安裝及使用-4 o6注意：注意： n220V電源一定要接保護(hù)地（三相） nICFT功能測(cè)試+5電源不要長(zhǎng)時(shí)間打開(kāi)。測(cè)試一個(gè)完成 后，馬上關(guān)掉。 n測(cè)試夾自動(dòng)定位失敗，與測(cè)試結(jié)果無(wú)關(guān)，由于74系列IC 內(nèi)部電源與地是對(duì)角關(guān)系，所以系統(tǒng)判定時(shí)要查找電源 及地，有時(shí)，一個(gè)IC可能有多個(gè)地或電源，所以導(dǎo)致自 動(dòng)定位失敗。測(cè)試夾沒(méi)有自動(dòng)定位失?。凑＃?，可 以將測(cè)試夾錯(cuò)位或反過(guò)來(lái)夾住IC進(jìn)行測(cè)試。 n儀器不使用時(shí)，不要長(zhǎng)時(shí)間開(kāi)機(jī)。 n注意保存好VI已存的數(shù)據(jù)，經(jīng)常備份數(shù)據(jù)。 GT4040P 培訓(xùn)北京金三航科技發(fā)展有限公司 46 儀器的測(cè)試實(shí)例操作

35、儀器的測(cè)試實(shí)例操作 o ICFT測(cè)試過(guò)程（以74LS04為例） o VI曲線測(cè)試 GT4040P 培訓(xùn)北京金三航科技發(fā)展有限公司 47 ICFT功能測(cè)試 o1 選擇“環(huán)境設(shè)置”項(xiàng)，將ICFT測(cè)試方法選定為“診 斷測(cè)試”點(diǎn)擊“OK” o2 進(jìn)入主頁(yè)面，鼠標(biāo)左鍵按住，不要放開(kāi)，瀏覽主頁(yè)， 每一個(gè)按鈕會(huì)有一行注解漢字，進(jìn)入“數(shù)字IC功能測(cè) 試”項(xiàng)，就是第一排第一個(gè)按鈕。鍵入相應(yīng)IC型號(hào)即 可。例如“74LS04”。 GT4040P 培訓(xùn)北京金三航科技發(fā)展有限公司 48 ICFT測(cè)試過(guò)程（以74LS04為例） o1）將測(cè)試夾夾住被測(cè)IC左端對(duì)齊，在輸入窗口鍵入“74LS04” 數(shù)字，回車(chē)回車(chē) o2）儀

36、器提示打開(kāi)電源給被測(cè)板供電，并提示夾好測(cè)試夾 o3）再次回車(chē)，儀器完成測(cè)試，關(guān)掉前面板電源。 o4）綠色綠色高低電平信號(hào)：代表被測(cè)IC輸入腳輸入的電平，程序 編好的。 黃色黃色的高低電平信號(hào)：為根據(jù)輸入的信號(hào)應(yīng)輸出的理論電平 值，虛黃色為三態(tài)值，不與考慮。 紅色紅色的高低電平信號(hào)：為測(cè)試儀實(shí)際測(cè)試到的輸出信號(hào) 黃色與紅色黃色與紅色電平（除黃色三態(tài)值）都一致時(shí)，說(shuō)明該測(cè)試單 元通過(guò)，其它單元同上。 o5）F3鍵查看測(cè)試報(bào)告。按空格鍵查看每管腳的電壓值以供參考。 o6）ICFT可以測(cè)試TTL、COMS及其它常用數(shù)字集成電路，注意測(cè) 試每一類(lèi)要到環(huán)境設(shè)置內(nèi)的MSI測(cè)試庫(kù)內(nèi)選取相應(yīng)的測(cè)試庫(kù)。 GT40

37、40P 培訓(xùn)北京金三航科技發(fā)展有限公司 49 VI曲線測(cè)試-1 o1）測(cè)試過(guò)程經(jīng)常用到的IC器件庫(kù)內(nèi)沒(méi)有的器件，這時(shí) 就要自己建立VI庫(kù)。VI庫(kù)可以包容任何器件，包括 數(shù)字、模擬及分立器件等； o2）進(jìn)入環(huán)境設(shè)置項(xiàng)，選定VI顯示開(kāi)關(guān)為動(dòng)態(tài)顯示； o3）按ICFT方式將測(cè)試夾夾住被測(cè)IC； o4）點(diǎn)擊主頁(yè)下面第二排第七個(gè)按鈕，VI曲線學(xué)習(xí)測(cè) 試； GT4040P 培訓(xùn)北京金三航科技發(fā)展有限公司 50 VI曲線測(cè)試-2 o5）進(jìn)入VI曲線學(xué)習(xí)輸入窗口： a、庫(kù)文件名：即板子的代號(hào)名，可填寫(xiě)8個(gè)數(shù)字式字母 b、元件代號(hào)：即元件在板上的位置代號(hào)，一般每個(gè)元件 在一個(gè)板子有特定代號(hào) 如：U12，U23等； c、管腳總數(shù)：輸入被測(cè)IC的實(shí)際管腳數(shù)。（為偶數(shù)）（為偶數(shù)） o6）都輸入完后按回車(chē)鍵； o7）進(jìn)入VI實(shí)際測(cè)試，按空格鍵為下一個(gè)管腳。 例如“74LS04”為14腳,按空格14下 可以將74LS04的 14個(gè)管腳的VI曲線都記錄下來(lái)以備與壞板相應(yīng)位置的 74LS04相比。 GT4040P 培訓(xùn)北京金三航科技發(fā)展有限公司 51 VI曲線測(cè)試-3 o8）點(diǎn)擊主頁(yè)下面第二排第九個(gè)按鈕，進(jìn)入VI曲線顯示 輸入窗口，填寫(xiě)與上面VI曲線學(xué)習(xí)完全相同的內(nèi) 容，回車(chē)回車(chē)，就可以看到剛才記錄下來(lái)的曲線。 o9）點(diǎn)擊主頁(yè)下面第二排第八個(gè)按鈕，進(jìn)入VI曲線比較 輸入窗口，填寫(xiě)與上面VI