插頭放電培訓講義

1、插頭放電測試技術研討插頭放電測試技術研討插頭放電測試技術研討插頭放電測試技術研討電器產品檢測部電子室電器產品檢測部電子室相關概念相關概念 測試技術測試技術注意事項注意事項 標準要求標準要求4123EE插頭放電測試技術研討插頭放電測試技術研討電器產品檢測部電子室電器產品檢測部電子室v 安全電壓和安全能量的限值 當人體接觸帶電體時，人就被當作一電路元件接入回路。人體阻抗通常包括外部阻抗（與觸電才當時所穿衣服、鞋襪以及身體的潮濕情況有關，從幾千歐至幾十兆歐不等） 和內部阻抗（與觸電者的皮膚阻抗和體內阻抗有關）。 人體阻抗不是純電阻，主要由人體電阻決定。人體電阻也不是一個固定的數值。一般認為干燥的皮膚

2、在低電壓下具有相當高的電阻，約10 萬歐。當電壓在5001000 伏時，這一電阻便下降為1000 歐。表皮具有這樣高的的電阻是因為它沒有毛細血管。手指某部位的皮膚還有角質層，角質層的電阻值更高，而不經常磨擦部位的皮膚的電阻值是最小的。皮膚電阻還同人體與體的接觸面積及壓力有關。通常情況下，人體電阻可按10002000 歐考慮 GB/T13870.11992電流通過人體的效應（第一部分：常用部分） 對流經人體的電流效應、人體的阻抗做了詳細的規(guī)定。影響人體阻抗的因素有很多，對人體造成傷害的放電電壓無法用簡單的歐姆定律去計算。不同標準對安全電壓和安全能量的規(guī)定都有所不同。插頭放電測試技術研討插頭放電測

3、試技術研討電器產品檢測部電子室電器產品檢測部電子室GB4943.1-2011GB4943.1-2011第第2.2 2.2 條條SELVSELV電路中對安全電壓的規(guī)定為不應超過電路中對安全電壓的規(guī)定為不應超過42.4V 42.4V 交流峰值或交流峰值或60V 60V 直流值。直流值。GB 8898-2011 GB 8898-2011 第第9.1.1.1 9.1.1.1 條如果滿足下列要求，則零部件或端子的接觸條如果滿足下列要求，則零部件或端子的接觸件是非危險帶電的：件是非危險帶電的： a a） 開路電壓不超過交流開路電壓不超過交流35V35V（峰值）（峰值） 或直流或直流60V60V； 對專業(yè)對

4、專業(yè)設備的音頻信號，設備的音頻信號，120V120V有效值，有效值，對非專業(yè)設備的音頻信號，對非專業(yè)設備的音頻信號，71V71V有效值有效值 b) b)用相應的電壓用相應的電壓U1U1和和U2U2表示的，使用本標準附錄表示的，使用本標準附錄D D規(guī)定的測量網絡按規(guī)定的測量網絡按GB/T 12113GB/T 12113規(guī)定測得的接觸電流超過下列數值：規(guī)定測得的接觸電流超過下列數值： 對交流：對交流：U1=35VU1=35V（峰值）以及（峰值）以及U2=0.35VU2=0.35V（峰值）；（峰值）； 對直流：對直流：U1=1.0VU1=1.0V； c c） 存電壓在存電壓在60V 60V 到到15

5、kV 15kV 之間者，放電量不超過之間者，放電量不超過45C45C； d d）在超過直流）在超過直流15kV15kV的電壓下所貯存的電荷的放電能量超過的電壓下所貯存的電荷的放電能量超過350mJ350mJ插頭放電測試技術研討插頭放電測試技術研討電器產品檢測部電子室電器產品檢測部電子室 GB 4706.1-2005標準第3.4.2條：安全特低電壓（SELV）：導線之間以及導線與地之間不超過42V電壓，其空載電壓不超過50V。 GB 4706.1-2005標準第8.1.4條：如果易觸及部件為下述情況，則不認為其是帶電的： 該部件由安全特低電壓供電，且對交流其電壓峰值不超過42.4V，對直流，其電

6、壓不超過42.4V；或 該部件通過保護阻抗與帶電部件隔開。（在有保護阻抗的情況下，該部件與電源之間的電流：對直流應不超過2mA; 對交流，其峰值應不超過0.7mA,而且：對峰值電壓大于42.4V小于或等于450V的其電容量不應超過0.1F;對峰值電壓大于450V小于等于15kV的，其放電量不應超過45C.插頭放電測試技術研討插頭放電測試技術研討電器產品檢測部電子室電器產品檢測部電子室 GB 7000.1-2007第第1.2.42 安全特低電壓：在通過有單獨繞組的安全特低電壓：在通過有單獨繞組的安全隔離變壓器或轉換器與供電電源隔離開來的電路種，導體之間或安全隔離變壓器或轉換器與供電電源隔離開來的

7、電路種，導體之間或任何導體與地之間，不超過任何導體與地之間，不超過50V的交流有效電壓值（直流電壓未作規(guī)的交流有效電壓值（直流電壓未作規(guī)定，正在考慮中。定，正在考慮中。插頭放電測試技術研討插頭放電測試技術研討電器產品檢測部電子室電器產品檢測部電子室 GB 19212.1-2008第第3.7.16，安全特低電壓，安全特低電壓SELV是是“采用像安采用像安全隔離變壓器這樣的裝置與電網電源隔離的電路的全隔離變壓器這樣的裝置與電網電源隔離的電路的ELV”，ELV是是“在在導體之間或任何導體與地之間的電壓小于或等于交流導體之間或任何導體與地之間的電壓小于或等于交流50V或無紋波直或無紋波直流流120V”

8、。 GB 19212.1-2008第第9.1.1條危險帶電零部件的確定：電壓不得大條危險帶電零部件的確定：電壓不得大于交流于交流35V（峰值）或無紋波直流（峰值）或無紋波直流60V?；蛉绻妷捍笥诮涣?。或如果電壓大于交流35V（峰值）或無紋波直流（峰值）或無紋波直流60V，則接觸電流不得大于：，則接觸電流不得大于：對交流：對交流：0.7mA(峰值）對直流：峰值）對直流：2mA;對儲存電壓在對儲存電壓在60V15kV時，時，放電量不得大于放電量不得大于45C或者或者對儲存電壓大于對儲存電壓大于15kV時，放電能量不時，放電能量不得大于得大于350mJ插頭放電測試技術研討插頭放電測試技術研討電器產

9、品檢測部電子室電器產品檢測部電子室目前電氣設備會在電源LN 線路之間跨接通過認證的X 電容，X 電容起到了抑制電磁干擾的作用。但是由于X 電容容量的選擇不當，加上沒有合理的放電電路，當使用者拔出設備電源插頭的時候，不小心觸及到插頭的插腳，X 電容所貯存的剩余能量會對使用者造成觸電危險。來自電網的干擾會給電氣設備的工作帶來影響，同時電氣設備產生的開關脈沖也會給電網帶來影響。為了有效抑制來自電網的干擾和開關脈沖對電網的影響，電氣設備的電源線路的輸入部分常使用濾波元件，包括X電容和濾波線圈。電氣設備的電源線、通信線，與其它設備或外圍設備相互交換的通訊線路，至少有兩根LN 導線作為往返線路輸送電力或信

10、號，但在LN 兩根導線之外通常還有“地線”。干擾電壓和電流分為兩種：一種是LN 導線分別做為往返線路傳輸；另一種是LN 導線做去路，地線做返回路傳輸。前者叫“差模干擾”，后者叫“共模干擾”。電源插頭的LN 插腳之間剩余電壓和剩余能量的測量主要是考慮“差模干擾”的影響。而電源插頭的L（N） 插腳與保護地之間的剩余電壓和剩余能量的測量主要是考慮“共模干擾”的影響。電源電路中濾波線圈貯存的電能量遠遠小于X 電容貯存的電能量。忽略了濾波線圈的影響，重點考慮X電容的影響。插頭放電測試技術研討插頭放電測試技術研討電器產品檢測部電子室電器產品檢測部電子室v抗干擾電容器接入電路的位置及電器產品輸入電路抗干擾電

11、容器接入電路的位置及電器產品輸入電路通?？蓺w結為以下四種形式：通常可歸結為以下四種形式：1、圖、圖1，按最不利的原則，開關處于斷開，按最不利的原則，開關處于斷開位置，在供電電源峰值時拔出電源插頭，位置，在供電電源峰值時拔出電源插頭，這時電容器沒有放電回路，放電時間常數這時電容器沒有放電回路，放電時間常數為無窮大，所經電容兩端將保持供電電源為無窮大，所經電容兩端將保持供電電源的峰值電壓，因此對于超過的峰值電壓，因此對于超過0.1F的電容必的電容必須在電容兩端并接泄放電阻須在電容兩端并接泄放電阻2、圖、圖2，按最不利的原則，開關處于接通位置，在供電電源峰值時拔出，按最不利的原則，開關處于接通位置，

12、在供電電源峰值時拔出電源插頭，這時電容器通過變壓器初級繞組進行放電，由于變壓器初級電源插頭，這時電容器通過變壓器初級繞組進行放電，由于變壓器初級繞組的等效直流電阻較小，一般介于幾十至幾千歐，即使繞組的等效直流電阻較小，一般介于幾十至幾千歐，即使X電容的容量電容的容量達到達到1F，電容器兩端的電壓也將在，電容器兩端的電壓也將在1s內降至內降至0.1V以下以下插頭放電測試技術研討插頭放電測試技術研討電器產品檢測部電子室電器產品檢測部電子室3、圖、圖3類似于圖類似于圖1，電容器接在電源插頭與開關，電容器接在電源插頭與開關之間，斷開開關時在供電電源峰值時拔出電源之間，斷開開關時在供電電源峰值時拔出電源

13、插頭，這時電容器沒有放電回路，放電時間常插頭，這時電容器沒有放電回路，放電時間常數為無窮大，所經電容兩端將保持供電電源的數為無窮大，所經電容兩端將保持供電電源的峰值電壓，因此對于超過峰值電壓，因此對于超過0.1F的電容必須在電的電容必須在電容兩端并接泄放電阻容兩端并接泄放電阻4、圖、圖4可用如下的等效電路表示，可用如下的等效電路表示，R1為等效負載電阻，電路通過為等效負載電阻，電路通過R1的的放電時間常數需考慮放電時間常數需考慮C、C1和和R1，其中，其中R1會跟電器產品所入的不同狀會跟電器產品所入的不同狀態(tài)而不同（待機狀態(tài)、工作狀態(tài)），這種電路實際應用也是最廣泛的，態(tài)而不同（待機狀態(tài)、工作狀

14、態(tài)），這種電路實際應用也是最廣泛的，通常也會在電容器兩端并入放電電阻，此時需要通過測試來評價是否存通常也會在電容器兩端并入放電電阻，此時需要通過測試來評價是否存在電擊危險了。在電擊危險了。插頭放電測試技術研討插頭放電測試技術研討電器產品檢測部電子室電器產品檢測部電子室L L、C C元件稱為元件稱為“慣性元件慣性元件”，即電感中的電流、電容器兩端的電壓，都，即電感中的電流、電容器兩端的電壓，都有一定的有一定的“電慣性電慣性”，不能突然變化。充放電時間，不光與，不能突然變化。充放電時間，不光與L L、C C的容量的容量有關，還與充有關，還與充/ /放電電路中的電阻放電電路中的電阻R R有關。有關。

15、“1F1F電容它的充放電時間是電容它的充放電時間是多長？多長？”，不講電阻，就不能回答。，不講電阻，就不能回答。 RCRC電路的時間常數：電路的時間常數：=RC =RC 充電時，充電時，CC=U=U1-e(-t/) U1-e(-t/) U是電源電壓是電源電壓 放電時，放電時，CC=U=U0 0e(-t/) Ue(-t/) U0 0是放電前電容上的電壓是放電前電容上的電壓放電時間常數為等效的電容量（放電時間常數為等效的電容量（FF）和等效放電電阻值（）和等效放電電阻值（MM）的乘積，）的乘積，是指經過等于放電時間常數的時間后電壓衰減到初始值的是指經過等于放電時間常數的時間后電壓衰減到初始值的37

16、% 37% 。已知已知R R、C C 、U U0 0 、U U可以根據可以根據t=RCt=RC* *lnUlnU0 0/U /U 計算出衰減時間計算出衰減時間t t，其中，其中U U0 0為電為電源電壓峰值，源電壓峰值，U U為經過為經過t t的時間衰減后的電壓，的時間衰減后的電壓，U U0 0一般取額定電壓（或額一般取額定電壓（或額定電壓范圍的上限值）的定電壓范圍的上限值）的1.11.1倍倍. .插頭放電測試技術研討插頭放電測試技術研討電器產品檢測部電子室電器產品檢測部電子室2FF相關概念相關概念 測試技術測試技術注意事項注意事項標準要求標準要求4123插頭放電測試技術研討插頭放電測試技術研

17、討電器產品檢測部電子室電器產品檢測部電子室插頭放電測試技術研討插頭放電測試技術研討電器產品檢測部電子室電器產品檢測部電子室F 首先可分析電路圖，電源斷接處的標稱電容不超過首先可分析電路圖，電源斷接處的標稱電容不超過0.1F0.1F時不需測試；時不需測試；如果方便測試等效電容量和電阻值時可以通過計算時間常數來判定。如果方便測試等效電容量和電阻值時可以通過計算時間常數來判定。 F 分析電路圖在通分析電路圖在通/ /斷開關可能處于的任一位置確定電源斷接時會引起較斷開關可能處于的任一位置確定電源斷接時會引起較大電壓的開關狀態(tài)，如無法直接判定測試時需要開關處于不同位置時大電壓的開關狀態(tài)，如無法直接判定測

18、試時需要開關處于不同位置時進行測試。進行測試。（注意：部分標準規(guī)定只需在開關斷開時測試）（注意：部分標準規(guī)定只需在開關斷開時測試）F 考慮實際可能的工作狀態(tài)，負載和空載（開機或待機）時會有差異，考慮實際可能的工作狀態(tài)，負載和空載（開機或待機）時會有差異，可能需要單獨測試可能需要單獨測試F CTLCTL決議規(guī)定使用探頭內阻為決議規(guī)定使用探頭內阻為100M100M，等于或少于，等于或少于25pF25pFF 電源電壓應取電源電壓上限值，同時按標準要求是否考慮容差（或具電源電壓應取電源電壓上限值，同時按標準要求是否考慮容差（或具體標準要求）體標準要求）插頭放電測試技術研討插頭放電測試技術研討電器產品檢

19、測部電子室電器產品檢測部電子室示波器使用方法簡介示波器使用方法簡介F 數字示波器具有波形觸發(fā)、存儲、顯示、測量、波形數據分析處理等獨特優(yōu)點F 帶寬：數字示波器對重復信號采用順序采樣或隨機采樣技術所能達到的最高帶寬為示波器的數字實時帶寬，數字實時帶寬與最高數字化頻率和波形重建技術因子K相關（數字實時帶寬=最高數字化速率/K），模擬帶寬只適合重復周期信號的測量，而數字實時帶寬則同時適合重復信號和單次信號的測量。廠家聲稱示波器的帶寬能達到多少兆，實際上指的是模擬帶寬，數字實時帶寬是要低于這個值的。 F 采樣速率也稱為數字化速率，是指單位時間內，對模擬輸入信號的采樣次數，常以MS/s表示。采樣速率是數

20、字示波器的一項重要指標 ，如果采樣速率不夠，容易出現混迭現象（通常采樣速率至少高于信號高頻成分的2倍才不會發(fā)生混迭 ） 采樣速率與t/div的關系 ：每臺數字示波器的最大采樣速率是一個定值。但是，在任意一個掃描時間t/div，采樣速率fs由下式給出： fs=N/(t/div) N為每格采樣點當采樣點數N為一定值時，fs與t/div成反比，掃速越大，采樣速率越低 插頭放電測試技術研討插頭放電測試技術研討電器產品檢測部電子室電器產品檢測部電子室示波器使用方法簡介示波器使用方法簡介F采樣率的選擇 我們在確定示波器的帶寬后，還要選擇足夠的采樣率來與之相配合，這樣才能獲得適合于實際測量中的實時帶寬，從而

21、獲得滿意的顯示和測量結果。 示波器采樣率不足，將會使信號失去高頻成份，影響對信號的完整性測量。如：使信號上升和下降時間變慢，或造成波形漏失。 如果在實際的測量中，比較重視單次信號的精確信息，我們建議采樣率要在帶寬的五倍以上，最好能在八到十倍。插頭放電測試技術研討插頭放電測試技術研討電器產品檢測部電子室電器產品檢測部電子室示波器使用方法簡介F示波器存儲深度 定義：一個波形記錄是指可被示波器一次性采集的波形點數，最大記錄長最大記錄長度由示波器的存儲容量決定，要增加存儲容量才能增加記錄長是為捕獲和度由示波器的存儲容量決定，要增加存儲容量才能增加記錄長是為捕獲和顯示單次信號過渡過程提供的重要指標。顯示

22、單次信號過渡過程提供的重要指標。 示波器的存儲由兩個方面來完成：1）觸發(fā)信號和延時的設定確定了示波器存儲的起點；2）示波器的存儲深度決定了數據存儲的終點。 記錄時間記錄長度 / 采樣率 由于時基和采樣率是聯動的，所以時基的速度快慢將同時改變采樣率的高低。當采樣率達到指標定義最高速率時，加快基速度的調整，采樣率將不能加快。 時基與采樣率的關系應為：存儲深度（點）時間/格10采樣間隔 1/采樣間隔采樣率觸發(fā)點觸發(fā)點延時時間延時時間記憶長度記憶長度起點起點終點終點插頭放電測試技術研討插頭放電測試技術研討電器產品檢測部電子室電器產品檢測部電子室示波器使用方法簡介F 觸發(fā)耦合 由于示波器的輸入信號經放大

23、器分兩路，一路進入A/D采樣器；一路到觸發(fā)電路，形成觸發(fā)信號。 觸發(fā)耦合是觸發(fā)信號與觸發(fā)電路的耦合方式，就像垂直系統(tǒng)輸入一樣，可為觸發(fā)信號選擇各種耦合方式。這些設置對消除觸發(fā)噪聲很有用處，噪聲的消除可以避免錯誤的觸發(fā)。耦合方式： 默認時為DC耦合：觸發(fā)信號直接連到觸發(fā)電路 交流耦合：觸發(fā)源通過一個串聯的電容連到觸發(fā)電路起到隔直作用 HF抑制：使觸發(fā)信號通過低通濾波器以抑制高頻分量，這意味即使一個低頻信號中包含很多高頻噪聲，仍能使其按低頻信號觸發(fā)。 LF抑制：使觸發(fā)源信號通過一個高通濾波器以抑制其低頻成分。這意味即使一個高頻信號中包含很多低頻噪聲，仍能使其按低頻信號觸發(fā)。這對于顯示包含很多電源交

24、流信號時情況是很有用處的。插頭放電測試技術研討插頭放電測試技術研討電器產品檢測部電子室電器產品檢測部電子室示波器使用方法簡介F 示波器主要有三個設置區(qū)，第一個是：“VERTICAL垂直”設置區(qū)，用來設置信號顯示時垂直方向的有關狀況，諸如顯示幅度，在屏幕上的上下位置等。第二個是“HORIZONTAL水平”設置區(qū)，用來設置信號顯示時在水平方向的有關狀況，比如左右位置和信號顯示寬度。第三個是最復雜的“TRIGGER觸發(fā)”設置區(qū)，用來設置信號的觸發(fā)方式，正是因為數字示波器提供了豐富的觸發(fā)方式才使其功能很強大。F 利用AUTOSET自動設置來觀察信號情況F 按下AUTOSET鍵，示波器會按被測信號的情況

25、自動顯示信號。插頭放電測試技術研討插頭放電測試技術研討電器產品檢測部電子室電器產品檢測部電子室示波器使用方法簡介F 利用Measure功能 Measure提供了很多項測量功能，比如周期、頻率、上下峰值、上升下降沿時間，均方根值等。利用此功能使測試方便。F 利用ZOOM功能F 利用此功能可以在水平方向和垂直方向縮小或放大觀察信號。F 利用Cursor功能 利用兩個垂直光標可以測量垂直兩點間的電壓差值，利用水平光標可以測量水平兩點間的時間距離。 操作方法：按面板上的CURSOR鍵，再按需要選取水平光標或垂直光標，旋動面板上的SELECT鈕，使光標對準感興趣的兩點，其差值就顯示在了顯示屏上。插頭放電

26、測試技術研討插頭放電測試技術研討電器產品檢測部電子室電器產品檢測部電子室示波器使用方法簡介F 注意事項：1、示波器電源線要用三相插頭良好接地 為減少電擊危險, 儀器的底板和外殼必須連接至地端。為了避免電沖擊對示波器造成損傷，輸出及輸入端進行電氣連接前要保證示波器良好接地。2、探頭地線只能接電路板上的地線，不可以搭接在電路板的正、負電源端 交流供電系統(tǒng)或經整流后直流供電的系統(tǒng)的地一般都是接大地的。探頭的地也是經示波器安全地線接大地的。如果探頭的地搭在電路板上不是地的點上，就會造成此點和電源地短路，輕者使電路板工作不正常，重者會燒壞電路板或探頭，造成嚴重后果。尤其注意不能把探頭的地接到電路板上的正

27、、負電源端。3、不允許在探頭還連接著被測試電路時插拔探頭，避免對示波器和探頭造成損傷，尤其是有源探頭 4、信號的幅度不要超過探頭和示波器的安全幅度，以免造成損壞 注意輸入電壓，過最高電壓輸入值, 將造成示波器的損壞。不同探頭的幅度量程是不同的，要留心探頭及示波器上的說明文字。5、 探頭與示波器有特殊的匹配關系 示波器的輸入電阻有兩檔，1M和50。當接有源探頭時示波器的輸入電阻應設置為50，無源探頭時，輸入電阻設置為1M，否則屏幕上會顯示錯誤波形或無波形顯示，無法進行正確測量。 6、使用者請勿拆開儀器及移開外殼, 電路電壓高至2KV, 易造成危險。組件的替換或內部調整務必由合格專業(yè)人員操作, 切

28、勿在電源未關掉時, 替換組件。插頭放電測試技術研討插頭放電測試技術研討電器產品檢測部電子室電器產品檢測部電子室插頭放電測試插頭放電測試電源確認：電源確認：F 將電源電壓和頻率調整至作業(yè)指導書或標準要求的值（注意部分標準將電源電壓和頻率調整至作業(yè)指導書或標準要求的值（注意部分標準要求在要求在1.11.1倍額定電壓下測試），使用萬用表讀取有效值、倍額定電壓下測試），使用萬用表讀取有效值、PEAKPEAKMAXMAX（波峰值），（波峰值），PEAK-MINPEAK-MIN（波谷值），建議取（波谷值），建議取PEAK-MIN PEAK-MIN 與與PEAK-MAXPEAK-MAX中比中比較接近理論值的

29、點作為斷接點?；蛘咴诓ǚ搴筒ü忍幏謩e測試取最大較接近理論值的點作為斷接點?；蛘咴诓ǚ搴筒ü忍幏謩e測試取最大值。值。 （注意：比對測試中對多個電源進行測試，使用示波器和高壓探頭讀（注意：比對測試中對多個電源進行測試，使用示波器和高壓探頭讀取電源電壓波形時通常會出現偏移，讀到的取電源電壓波形時通常會出現偏移，讀到的PEAK-MIN PEAK-MIN 與與PEAK-MAXPEAK-MAX絕對絕對值的差通常為值的差通常為10V10V以上）以上）插頭放電測試技術研討插頭放電測試技術研討電器產品檢測部電子室電器產品檢測部電子室F 示波器探頭直接接入：即示波器探頭與樣品待測部分并聯方式一起通示波器探頭直接接

30、入：即示波器探頭與樣品待測部分并聯方式一起通斷電，此時按標準及斷電，此時按標準及CTL決議要求探頭內阻決議要求探頭內阻 100 M，電容，電容 25 pF以下。此方法容易發(fā)現判斷是否為最大值，但對于樣品本身內阻高以下。此方法容易發(fā)現判斷是否為最大值，但對于樣品本身內阻高的產品容易引起測量值偏小。的產品容易引起測量值偏小。F 示波器探頭后接入：即斷電后經過標準要求的測試時間（示波器探頭后接入：即斷電后經過標準要求的測試時間（1s、2s、5s、10s）（可能需要用專用設備，如時間控制器、開關等）時再接）（可能需要用專用設備，如時間控制器、開關等）時再接入探頭，此時對探頭內阻對結果的影響不是十分明顯

31、。此方法對探頭入探頭，此時對探頭內阻對結果的影響不是十分明顯。此方法對探頭要求不高，但不易判斷是否找到最大值。要求不高，但不易判斷是否找到最大值。插頭放電測試技術研討插頭放電測試技術研討電器產品檢測部電子室電器產品檢測部電子室測試步驟：測試步驟：F打開示波器，檢查波形和電壓值，調節(jié)示波器量程打開示波器，檢查波形和電壓值，調節(jié)示波器量程; ;例如：只需測試例如：只需測試1s1s時電壓值調節(jié)時間時電壓值調節(jié)時間( (水平掃描時間系數水平掃描時間系數) )為為200ms/div200ms/div；測試；測試2s2s時的電時的電壓值調節(jié)時間為壓值調節(jié)時間為400ms/div400ms/div，選擇合適

32、的取樣率（調節(jié)，選擇合適的取樣率（調節(jié)ResolutionResolution按鈕，按鈕，部分示波器適用），調取示波器的兩個光標（部分示波器適用），調取示波器的兩個光標（CursorCursor鈕）。鈕）。F將樣品和示波器探頭并聯在一起（或接入一個直通式轉換插上，注意將樣品和示波器探頭并聯在一起（或接入一個直通式轉換插上，注意轉換插不得有其余影響測試結果的部件），接入測試電源上。轉換插不得有其余影響測試結果的部件），接入測試電源上。F選擇開關狀態(tài)，（此時示波器的波形應為往前推進的運動狀態(tài)，如果選擇開關狀態(tài)，（此時示波器的波形應為往前推進的運動狀態(tài)，如果不出現則需要重新調整時間量程和取樣率）待電

33、容充電完成后斷開樣品不出現則需要重新調整時間量程和取樣率）待電容充電完成后斷開樣品及探頭與電源的連接，觀察波形斷開位置處于接近波峰或波谷時待波形及探頭與電源的連接，觀察波形斷開位置處于接近波峰或波谷時待波形運行到合適讀數的位置時按下停止鍵（運行到合適讀數的位置時按下停止鍵（Run/StopRun/Stop），否則重新按通電），否則重新按通電充電充電斷電循環(huán)至讀取到合適的波形。斷電循環(huán)至讀取到合適的波形。F放大示波器波形，將光標分別移至斷開電源的時刻和需要讀數的時刻放大示波器波形，將光標分別移至斷開電源的時刻和需要讀數的時刻（或規(guī)定的電壓值處），讀取斷開時的電壓值和測試時間的電壓值（或（或規(guī)定的

34、電壓值處），讀取斷開時的電壓值和測試時間的電壓值（或時間）并記錄。時間）并記錄。插頭放電測試技術研討插頭放電測試技術研討電器產品檢測部電子室電器產品檢測部電子室F分析方法1：從波形最大電壓值處對應的時間點作為時間坐標的起點，一直到波形安全電壓60V 對應的時間點作為時間座標的終點。終點與起點之間的時間差看是否小于1s。如果小于1s則表示1s 后插頭的剩余電壓符合要求。F分析方法2：從波形最大電壓值處對應的時間點作為時間座標的起點，沿著時間座標一直到1s 后對應波形的電壓值，看1s 后波形的電壓參數是否小于60V。如果1s 后對應的電壓參數小于60V，1s 后插頭的剩余電壓符合要求。F分析方法3

35、：從計算原理可知，剩余電量實際上是衰減波形與時間座標之間的面積。要精確計算1s 后插頭的剩余電量，可以利用數字存貯示波器的相關功能。測出插頭剩余電量。插頭放電測試技術研討插頭放電測試技術研討電器產品檢測部電子室電器產品檢測部電子室示例示例插頭放電測試技術研討插頭放電測試技術研討電器產品檢測部電子室電器產品檢測部電子室測量重復性分量：存儲下10次插頭放電的波形，選擇放電電壓最大，衰減時間最長的圖形進行分析，重復進行相同測量產生的不確定度，檢測中進行8次測量，取平均值。第1 次36ms、第2 次37ms、第3 次35ms、第4 次35ms、第5 次38ms、第6 次37ms、第7 次36ms、第8

36、 次36ms、平均36.25ms根據貝塞爾公式，計算重復性不確定度u1;示波器誤差分量u2,示波器測量的準確度為（1%讀數）;電源電壓波動分量u3（根據實踐經驗，電源電壓波動對測量結果的影響取0.7%;“插頭放電”測試裝置動作偏差分量u4，根據實踐經驗，插頭放電測試裝置動作偏差對測量結果的影響取0.5%.根據下表的概率分布及分布系數合成標準不確定度插頭放電測試技術研討插頭放電測試技術研討電器產品檢測部電子室電器產品檢測部電子室2FF相關概念相關概念 測試技術測試技術注意事項注意事項 標準要求標準要求4123插頭放電測試技術研討插頭放電測試技術研討電器產品檢測部電子室電器產品檢測部電子室 在測量

37、結果處于臨界狀態(tài)時建議用以下驗證方式：（注意只作為驗證，在測量結果處于臨界狀態(tài)時建議用以下驗證方式：（注意只作為驗證，不能作為正式測試方法）不能作為正式測試方法）F 可選用高壓探頭與樣品并聯接入，接入時間繼電器（時間控制盒），可選用高壓探頭與樣品并聯接入，接入時間繼電器（時間控制盒），輸出端接輸出端接10X10X探頭，將兩探頭接入示波器中，（注意兩探頭的極性不能探頭，將兩探頭接入示波器中，（注意兩探頭的極性不能相反連接）分別調節(jié)其電壓量程。用高壓探頭（相反連接）分別調節(jié)其電壓量程。用高壓探頭（1000X1000X）觀察斷開時位）觀察斷開時位置，用置，用10X10X探頭讀數，對于探頭讀數，對于5

38、s5s、10s10s的測試數據可以采用斷電后用秒表的測試數據可以采用斷電后用秒表計時再接入計時再接入10X10X的探頭來驗證。（通常此種方式僅用于比對中，對測量的探頭來驗證。（通常此種方式僅用于比對中，對測量比較小的電壓值時。）比較小的電壓值時。）F 采用直流的方式驗證，可保證均在峰值斷開，一般可采用直流電源，采用直流的方式驗證，可保證均在峰值斷開，一般可采用直流電源，或將交流經整流橋整流成直流后輸入樣品?；驅⒔涣鹘浾鳂蛘鞒芍绷骱筝斎霕悠贰２孱^放電測試技術研討插頭放電測試技術研討電器產品檢測部電子室電器產品檢測部電子室注意：插頭放電試驗應注意以下幾個方面：注意：插頭放電試驗應注意以下幾個方

39、面：F一是應使用存儲深度較高的示波器，最好有一是應使用存儲深度較高的示波器，最好有10K10K以上的存儲深度，確保長以上的存儲深度，確保長時基范圍內的快速采樣。時基范圍內的快速采樣。F二是必須使用阻抗值在二是必須使用阻抗值在100M100M以上的測試探頭。因為示波器的測量值會受探以上的測試探頭。因為示波器的測量值會受探頭的輸入阻抗影響，并且會隨著輸入阻抗的減少及延時時間的增加而影響增頭的輸入阻抗影響，并且會隨著輸入阻抗的減少及延時時間的增加而影響增大，使用大，使用100M100M以上的測試探頭可以減少測量偏差。以上的測試探頭可以減少測量偏差。F三是要測出正半軸（波峰）和負半軸（波谷）兩個放電波

40、形，分別讀取數三是要測出正半軸（波峰）和負半軸（波谷）兩個放電波形，分別讀取數值進行比較后取較大值作為測量結果。值進行比較后取較大值作為測量結果。F四是盡量能捕獲待測樣品在電壓峰值時從電源斷開時的波形，否則測量結四是盡量能捕獲待測樣品在電壓峰值時從電源斷開時的波形，否則測量結果會有偏差。果會有偏差。插頭放電測試技術研討插頭放電測試技術研討電器產品檢測部電子室電器產品檢測部電子室2FF相關概念相關概念 測試技術測試技術注意事項注意事項 標準要求標準要求4123插頭放電測試技術研討插頭放電測試技術研討電器產品檢測部電子室電器產品檢測部電子室GB 4943.1-2011GB 4943.1-2011第

41、第2.1.1.7 2.1.1.7 設備內電容器的放電設備內電容器的放電F 設備在設計上應當保證在電網電源外部斷接處，盡量減小因接在設備內設備在設計上應當保證在電網電源外部斷接處，盡量減小因接在設備內的電容器貯存有電荷而產生的電擊危險。除非電網電源的標稱電壓超過的電容器貯存有電荷而產生的電擊危險。除非電網電源的標稱電壓超過42.4V42.4V交流峰值或交流峰值或60V60V直流，否則不需要進行電擊危險的試驗。直流，否則不需要進行電擊危險的試驗。F 通過檢查設備和有關的電路圖來檢驗其是否合格。檢查時要考慮到斷開通過檢查設備和有關的電路圖來檢驗其是否合格。檢查時要考慮到斷開電源時通電源時通/ /斷開

42、關可能處于的任一位置。斷開關可能處于的任一位置。F 如果設備中有任何電容器，其標明的或標稱的容量超過如果設備中有任何電容器，其標明的或標稱的容量超過0.1F0.1F，而且在，而且在與電網電源連接的電路上，但該電容器的放電時間常數不超過下列規(guī)定與電網電源連接的電路上，但該電容器的放電時間常數不超過下列規(guī)定值，則應當認為設備是合格的：值，則應當認為設備是合格的： 對對A A 型可插式設備，型可插式設備，1s1s；和；和 對對B B 型可插式設備，型可插式設備，10s10s。F 有關的時間常數是指等效電容量（有關的時間常數是指等效電容量（FF）和等效放電電阻值（）和等效放電電阻值（MM）的乘）的乘積

43、。如果測定等效電容量和電阻值有困難，則可以在外部斷接點測量電積。如果測定等效電容量和電阻值有困難，則可以在外部斷接點測量電壓衰減。當測量電壓衰減時，使用輸入阻抗由一個壓衰減。當測量電壓衰減時，使用輸入阻抗由一個100M100M5M5M電阻和電阻和一個輸入電容量為一個輸入電容量為25pF25pF的或更小的電容器并聯組成的儀器得到結果。的或更小的電容器并聯組成的儀器得到結果。F 注：在經過一段等于一個時間常數的時間，電壓將衰減到初始值的注：在經過一段等于一個時間常數的時間，電壓將衰減到初始值的37%37%。插頭放電測試技術研討插頭放電測試技術研討電器產品檢測部電子室電器產品檢測部電子室 GB 88

44、98-2011GB 8898-2011第第9.1.69.1.6條：拔出電源插頭條：拔出電源插頭F 對預定要用電源插頭與電網電源連接的設備，其設計應當確保在插頭從對預定要用電源插頭與電網電源連接的設備，其設計應當確保在插頭從電源插座拔出后，當接觸插頭的插腳或插銷時，不得因電容器貯存的電電源插座拔出后，當接觸插頭的插腳或插銷時，不得因電容器貯存的電荷而產生觸電危險。荷而產生觸電危險。F 通過通過9.1.1.1 a9.1.1.1 a）項或）項或c c）項規(guī)定的測量，或通過計算來檢驗是否合格。）項規(guī)定的測量，或通過計算來檢驗是否合格。F 電源開關，如果有，置于電源開關，如果有，置于“斷斷”位，除非置于

45、位，除非置于“通通”位更為不利。位更為不利。F 在拔出插頭后在拔出插頭后2s2s，插頭的插腳不得危險帶電。，插頭的插腳不得危險帶電。F 為了能找到最不利的情況，試驗可以重復為了能找到最不利的情況，試驗可以重復1010次。次。F 如果電源兩極之間的標稱電容量不超過如果電源兩極之間的標稱電容量不超過0.1F0.1F，則不進行試驗。，則不進行試驗。F 9.1.1.1 a9.1.1.1 a）項開路電壓不超過交流）項開路電壓不超過交流35V35V（峰值）或直流（峰值）或直流60V60V或或c c）在直）在直流流60V60V到到15kV15kV之間的電壓下所貯存的電荷的電量不超過之間的電壓下所貯存的電荷的

46、電量不超過45C45C；插頭放電測試技術研討插頭放電測試技術研討電器產品檢測部電子室電器產品檢測部電子室GB 4706.1-2005GB 4706.1-2005第第22.522.5條條F 打算通過一個插頭來與電源連接的器具，其結構應能使其在正常使用打算通過一個插頭來與電源連接的器具，其結構應能使其在正常使用中當觸碰該插頭的插腳時，不會因有充過電的電容器而引起電擊危險。中當觸碰該插頭的插腳時，不會因有充過電的電容器而引起電擊危險。F 器具以額定電壓供電，然后將其任何一個開關置于器具以額定電壓供電，然后將其任何一個開關置于“斷開斷開”位置，器位置，器具在電壓峰值時從電源斷開。在斷開后具在電壓峰值時

47、從電源斷開。在斷開后1s1s時，用一個不會對測量值產時，用一個不會對測量值產生明顯影響的儀器，測量插頭各插腳間的電壓。此電壓不應超過生明顯影響的儀器，測量插頭各插腳間的電壓。此電壓不應超過34V34V。插頭放電測試技術研討插頭放電測試技術研討電器產品檢測部電子室電器產品檢測部電子室 家電標準（從網上下載的內容家電標準（從網上下載的內容, ,是否準確需請家電的同事確認）是否準確需請家電的同事確認） 對比不同版本的差異，可以發(fā)現：對比不同版本的差異，可以發(fā)現：F對電容器放電電壓測量的試驗次數有變化。測量插頭放電殘余電壓是為了保證家電產品在正常使用對電容器放電電壓測量的試驗次數有變化。測量插頭放電殘

48、余電壓是為了保證家電產品在正常使用中當觸碰其插頭的插腳時，不會因充過電的電容器放電而引起電擊危險。中當觸碰其插頭的插腳時，不會因充過電的電容器放電而引起電擊危險。F部分標準要求試驗重復進行部分標準要求試驗重復進行1010次，沒有規(guī)定要在電源峰值瞬間斷開。根據物理電容放電的常識，初次，沒有規(guī)定要在電源峰值瞬間斷開。根據物理電容放電的常識，初始電壓越高，始電壓越高，1 1秒后測得的殘余電壓則越高。自上世紀秒后測得的殘余電壓則越高。自上世紀7070年代以來，經歷電子管、晶體管、集成電路、年代以來，經歷電子管、晶體管、集成電路、大規(guī)模集成電路、信息化電子技術飛速發(fā)展，家電以及檢測技術都已經更新換代。原

49、先通過大規(guī)模集成電路、信息化電子技術飛速發(fā)展，家電以及檢測技術都已經更新換代。原先通過1010次有次有限的重復測量，試圖限的重復測量，試圖“碰巧碰巧”有有1 1次能從電源峰值時斷開，到了現在則完全可以通過電子裝置實現從次能從電源峰值時斷開，到了現在則完全可以通過電子裝置實現從峰值瞬間斷開，所以峰值瞬間斷開，所以20102010年第年第5 5版版IEC 60335-1IEC 60335-1刪除試驗重復刪除試驗重復1010次的內容，要在電源峰值時斷開，以次的內容，要在電源峰值時斷開，以測得最大初始電壓下插頭殘余的電壓。測得最大初始電壓下插頭殘余的電壓。F只適用帶插頭的產品，不適用于帶插腳的直插式產

50、品：各個版本標準條款可看到，只適用帶插頭的產品，不適用于帶插腳的直插式產品：各個版本標準條款可看到，“打算通過一個打算通過一個插頭來與電源連接的器具插頭來與電源連接的器具”主語從來沒有變化，而在標準內嚴格區(qū)分了插頭和插腳。就字面而言，主語從來沒有變化，而在標準內嚴格區(qū)分了插頭和插腳。就字面而言，測量插頭放電測試只適用于帶插頭的產品。為何對帶插腳的直接式產品不適用？筆者認為，使用者測量插頭放電測試只適用于帶插頭的產品。為何對帶插腳的直接式產品不適用？筆者認為，使用者握住直插式產品從插座中拔出，握住直插式產品從插座中拔出，1 1秒后手握住產品本體的同時接觸兩片插腳的機率非常小，所以標準秒后手握住產

51、品本體的同時接觸兩片插腳的機率非常小，所以標準不適用于帶插腳的直插式產品。不適用于帶插腳的直插式產品。F測量用示波器及探頭是一開始就連接，不是在第測量用示波器及探頭是一開始就連接，不是在第1 1秒時刻連接。曾有觀點認為測量電壓的示波器秒時刻連接。曾有觀點認為測量電壓的示波器要在第要在第1 1秒時刻連接到電路中，筆者認為是誤讀了標準秒時刻連接到電路中，筆者認為是誤讀了標準“1 1秒后秒后”字面上的意思字面上的意思, ,應該是示波器要一開應該是示波器要一開始就連接上始就連接上, ,完整地記錄整個時間內的電壓完整地記錄整個時間內的電壓- -時間曲線。時間曲線。 插頭放電測試技術研討插頭放電測試技術研討電器產品檢測部電子室電器產品檢測部電子室插頭放電測試技術研討插頭放電測試技術研討電器產品檢測部電子室電器產品檢測部電子室 GB 7000.1-2007GB 7000.1-2007第第8.2.78.2.7條條F 裝有電容量大于裝有電容量大于0.5F0.5F電容器的燈具（以下提到的除外）應裝有放電電容器的燈具（以下提到的除外）應裝有放電裝置，使燈類與額定電壓的電源斷開后裝置，使燈類與額定電壓的電源斷開后1min1min，電容器兩端的電壓應不，電容器兩端的電壓應不超過超過50V