插頭放電培訓(xùn)講義

1、插頭放電測(cè)試技術(shù)研討插頭放電測(cè)試技術(shù)研討插頭放電測(cè)試技術(shù)研討插頭放電測(cè)試技術(shù)研討電器產(chǎn)品檢測(cè)部電子室電器產(chǎn)品檢測(cè)部電子室相關(guān)概念相關(guān)概念 測(cè)試技術(shù)測(cè)試技術(shù)注意事項(xiàng)注意事項(xiàng) 標(biāo)準(zhǔn)要求標(biāo)準(zhǔn)要求4123EE插頭放電測(cè)試技術(shù)研討插頭放電測(cè)試技術(shù)研討電器產(chǎn)品檢測(cè)部電子室電器產(chǎn)品檢測(cè)部電子室v 安全電壓和安全能量的限值 當(dāng)人體接觸帶電體時(shí)，人就被當(dāng)作一電路元件接入回路。人體阻抗通常包括外部阻抗（與觸電才當(dāng)時(shí)所穿衣服、鞋襪以及身體的潮濕情況有關(guān)，從幾千歐至幾十兆歐不等） 和內(nèi)部阻抗（與觸電者的皮膚阻抗和體內(nèi)阻抗有關(guān)）。 人體阻抗不是純電阻，主要由人體電阻決定。人體電阻也不是一個(gè)固定的數(shù)值。一般認(rèn)為干燥的皮膚

2、在低電壓下具有相當(dāng)高的電阻，約10 萬歐。當(dāng)電壓在5001000 伏時(shí)，這一電阻便下降為1000 歐。表皮具有這樣高的的電阻是因?yàn)樗鼪]有毛細(xì)血管。手指某部位的皮膚還有角質(zhì)層，角質(zhì)層的電阻值更高，而不經(jīng)常磨擦部位的皮膚的電阻值是最小的。皮膚電阻還同人體與體的接觸面積及壓力有關(guān)。通常情況下，人體電阻可按10002000 歐考慮 GB/T13870.11992電流通過人體的效應(yīng)（第一部分：常用部分） 對(duì)流經(jīng)人體的電流效應(yīng)、人體的阻抗做了詳細(xì)的規(guī)定。影響人體阻抗的因素有很多，對(duì)人體造成傷害的放電電壓無法用簡(jiǎn)單的歐姆定律去計(jì)算。不同標(biāo)準(zhǔn)對(duì)安全電壓和安全能量的規(guī)定都有所不同。插頭放電測(cè)試技術(shù)研討插頭放電測(cè)

3、試技術(shù)研討電器產(chǎn)品檢測(cè)部電子室電器產(chǎn)品檢測(cè)部電子室GB4943.1-2011GB4943.1-2011第第2.2 2.2 條條SELVSELV電路中對(duì)安全電壓的規(guī)定為不應(yīng)超過電路中對(duì)安全電壓的規(guī)定為不應(yīng)超過42.4V 42.4V 交流峰值或交流峰值或60V 60V 直流值。直流值。GB 8898-2011 GB 8898-2011 第第9.1.1.1 9.1.1.1 條如果滿足下列要求，則零部件或端子的接觸條如果滿足下列要求，則零部件或端子的接觸件是非危險(xiǎn)帶電的：件是非危險(xiǎn)帶電的： a a） 開路電壓不超過交流開路電壓不超過交流35V35V（峰值）（峰值） 或直流或直流60V60V； 對(duì)專業(yè)對(duì)

4、專業(yè)設(shè)備的音頻信號(hào)，設(shè)備的音頻信號(hào)，120V120V有效值，有效值，對(duì)非專業(yè)設(shè)備的音頻信號(hào)，對(duì)非專業(yè)設(shè)備的音頻信號(hào)，71V71V有效值有效值 b) b)用相應(yīng)的電壓用相應(yīng)的電壓U1U1和和U2U2表示的，使用本標(biāo)準(zhǔn)附錄表示的，使用本標(biāo)準(zhǔn)附錄D D規(guī)定的測(cè)量網(wǎng)絡(luò)按規(guī)定的測(cè)量網(wǎng)絡(luò)按GB/T 12113GB/T 12113規(guī)定測(cè)得的接觸電流超過下列數(shù)值：規(guī)定測(cè)得的接觸電流超過下列數(shù)值： 對(duì)交流：對(duì)交流：U1=35VU1=35V（峰值）以及（峰值）以及U2=0.35VU2=0.35V（峰值）；（峰值）； 對(duì)直流：對(duì)直流：U1=1.0VU1=1.0V； c c） 存電壓在存電壓在60V 60V 到到15

5、kV 15kV 之間者，放電量不超過之間者，放電量不超過45C45C； d d）在超過直流）在超過直流15kV15kV的電壓下所貯存的電荷的放電能量超過的電壓下所貯存的電荷的放電能量超過350mJ350mJ插頭放電測(cè)試技術(shù)研討插頭放電測(cè)試技術(shù)研討電器產(chǎn)品檢測(cè)部電子室電器產(chǎn)品檢測(cè)部電子室 GB 4706.1-2005標(biāo)準(zhǔn)第3.4.2條：安全特低電壓（SELV）：導(dǎo)線之間以及導(dǎo)線與地之間不超過42V電壓，其空載電壓不超過50V。 GB 4706.1-2005標(biāo)準(zhǔn)第8.1.4條：如果易觸及部件為下述情況，則不認(rèn)為其是帶電的： 該部件由安全特低電壓供電，且對(duì)交流其電壓峰值不超過42.4V，對(duì)直流，其電

6、壓不超過42.4V；或 該部件通過保護(hù)阻抗與帶電部件隔開。（在有保護(hù)阻抗的情況下，該部件與電源之間的電流：對(duì)直流應(yīng)不超過2mA; 對(duì)交流，其峰值應(yīng)不超過0.7mA,而且：對(duì)峰值電壓大于42.4V小于或等于450V的其電容量不應(yīng)超過0.1F;對(duì)峰值電壓大于450V小于等于15kV的，其放電量不應(yīng)超過45C.插頭放電測(cè)試技術(shù)研討插頭放電測(cè)試技術(shù)研討電器產(chǎn)品檢測(cè)部電子室電器產(chǎn)品檢測(cè)部電子室 GB 7000.1-2007第第1.2.42 安全特低電壓：在通過有單獨(dú)繞組的安全特低電壓：在通過有單獨(dú)繞組的安全隔離變壓器或轉(zhuǎn)換器與供電電源隔離開來的電路種，導(dǎo)體之間或安全隔離變壓器或轉(zhuǎn)換器與供電電源隔離開來的

7、電路種，導(dǎo)體之間或任何導(dǎo)體與地之間，不超過任何導(dǎo)體與地之間，不超過50V的交流有效電壓值（直流電壓未作規(guī)的交流有效電壓值（直流電壓未作規(guī)定，正在考慮中。定，正在考慮中。插頭放電測(cè)試技術(shù)研討插頭放電測(cè)試技術(shù)研討電器產(chǎn)品檢測(cè)部電子室電器產(chǎn)品檢測(cè)部電子室 GB 19212.1-2008第第3.7.16，安全特低電壓，安全特低電壓SELV是是“采用像安采用像安全隔離變壓器這樣的裝置與電網(wǎng)電源隔離的電路的全隔離變壓器這樣的裝置與電網(wǎng)電源隔離的電路的ELV”，ELV是是“在在導(dǎo)體之間或任何導(dǎo)體與地之間的電壓小于或等于交流導(dǎo)體之間或任何導(dǎo)體與地之間的電壓小于或等于交流50V或無紋波直或無紋波直流流120V”

8、。 GB 19212.1-2008第第9.1.1條危險(xiǎn)帶電零部件的確定：電壓不得大條危險(xiǎn)帶電零部件的確定：電壓不得大于交流于交流35V（峰值）或無紋波直流（峰值）或無紋波直流60V?；蛉绻妷捍笥诮涣?。或如果電壓大于交流35V（峰值）或無紋波直流（峰值）或無紋波直流60V，則接觸電流不得大于：，則接觸電流不得大于：對(duì)交流：對(duì)交流：0.7mA(峰值）對(duì)直流：峰值）對(duì)直流：2mA;對(duì)儲(chǔ)存電壓在對(duì)儲(chǔ)存電壓在60V15kV時(shí)，時(shí)，放電量不得大于放電量不得大于45C或者或者對(duì)儲(chǔ)存電壓大于對(duì)儲(chǔ)存電壓大于15kV時(shí)，放電能量不時(shí)，放電能量不得大于得大于350mJ插頭放電測(cè)試技術(shù)研討插頭放電測(cè)試技術(shù)研討電器產(chǎn)

9、品檢測(cè)部電子室電器產(chǎn)品檢測(cè)部電子室目前電氣設(shè)備會(huì)在電源LN 線路之間跨接通過認(rèn)證的X 電容，X 電容起到了抑制電磁干擾的作用。但是由于X 電容容量的選擇不當(dāng)，加上沒有合理的放電電路，當(dāng)使用者拔出設(shè)備電源插頭的時(shí)候，不小心觸及到插頭的插腳，X 電容所貯存的剩余能量會(huì)對(duì)使用者造成觸電危險(xiǎn)。來自電網(wǎng)的干擾會(huì)給電氣設(shè)備的工作帶來影響，同時(shí)電氣設(shè)備產(chǎn)生的開關(guān)脈沖也會(huì)給電網(wǎng)帶來影響。為了有效抑制來自電網(wǎng)的干擾和開關(guān)脈沖對(duì)電網(wǎng)的影響，電氣設(shè)備的電源線路的輸入部分常使用濾波元件，包括X電容和濾波線圈。電氣設(shè)備的電源線、通信線，與其它設(shè)備或外圍設(shè)備相互交換的通訊線路，至少有兩根LN 導(dǎo)線作為往返線路輸送電力或信

10、號(hào)，但在LN 兩根導(dǎo)線之外通常還有“地線”。干擾電壓和電流分為兩種：一種是LN 導(dǎo)線分別做為往返線路傳輸；另一種是LN 導(dǎo)線做去路，地線做返回路傳輸。前者叫“差模干擾”，后者叫“共模干擾”。電源插頭的LN 插腳之間剩余電壓和剩余能量的測(cè)量主要是考慮“差模干擾”的影響。而電源插頭的L（N） 插腳與保護(hù)地之間的剩余電壓和剩余能量的測(cè)量主要是考慮“共模干擾”的影響。電源電路中濾波線圈貯存的電能量遠(yuǎn)遠(yuǎn)小于X 電容貯存的電能量。忽略了濾波線圈的影響，重點(diǎn)考慮X電容的影響。插頭放電測(cè)試技術(shù)研討插頭放電測(cè)試技術(shù)研討電器產(chǎn)品檢測(cè)部電子室電器產(chǎn)品檢測(cè)部電子室v抗干擾電容器接入電路的位置及電器產(chǎn)品輸入電路抗干擾電

11、容器接入電路的位置及電器產(chǎn)品輸入電路通?？蓺w結(jié)為以下四種形式：通?？蓺w結(jié)為以下四種形式：1、圖、圖1，按最不利的原則，開關(guān)處于斷開，按最不利的原則，開關(guān)處于斷開位置，在供電電源峰值時(shí)拔出電源插頭，位置，在供電電源峰值時(shí)拔出電源插頭，這時(shí)電容器沒有放電回路，放電時(shí)間常數(shù)這時(shí)電容器沒有放電回路，放電時(shí)間常數(shù)為無窮大，所經(jīng)電容兩端將保持供電電源為無窮大，所經(jīng)電容兩端將保持供電電源的峰值電壓，因此對(duì)于超過的峰值電壓，因此對(duì)于超過0.1F的電容必的電容必須在電容兩端并接泄放電阻須在電容兩端并接泄放電阻2、圖、圖2，按最不利的原則，開關(guān)處于接通位置，在供電電源峰值時(shí)拔出，按最不利的原則，開關(guān)處于接通位置，

12、在供電電源峰值時(shí)拔出電源插頭，這時(shí)電容器通過變壓器初級(jí)繞組進(jìn)行放電，由于變壓器初級(jí)電源插頭，這時(shí)電容器通過變壓器初級(jí)繞組進(jìn)行放電，由于變壓器初級(jí)繞組的等效直流電阻較小，一般介于幾十至幾千歐，即使繞組的等效直流電阻較小，一般介于幾十至幾千歐，即使X電容的容量電容的容量達(dá)到達(dá)到1F，電容器兩端的電壓也將在，電容器兩端的電壓也將在1s內(nèi)降至內(nèi)降至0.1V以下以下插頭放電測(cè)試技術(shù)研討插頭放電測(cè)試技術(shù)研討電器產(chǎn)品檢測(cè)部電子室電器產(chǎn)品檢測(cè)部電子室3、圖、圖3類似于圖類似于圖1，電容器接在電源插頭與開關(guān)，電容器接在電源插頭與開關(guān)之間，斷開開關(guān)時(shí)在供電電源峰值時(shí)拔出電源之間，斷開開關(guān)時(shí)在供電電源峰值時(shí)拔出電源

13、插頭，這時(shí)電容器沒有放電回路，放電時(shí)間常插頭，這時(shí)電容器沒有放電回路，放電時(shí)間常數(shù)為無窮大，所經(jīng)電容兩端將保持供電電源的數(shù)為無窮大，所經(jīng)電容兩端將保持供電電源的峰值電壓，因此對(duì)于超過峰值電壓，因此對(duì)于超過0.1F的電容必須在電的電容必須在電容兩端并接泄放電阻容兩端并接泄放電阻4、圖、圖4可用如下的等效電路表示，可用如下的等效電路表示，R1為等效負(fù)載電阻，電路通過為等效負(fù)載電阻，電路通過R1的的放電時(shí)間常數(shù)需考慮放電時(shí)間常數(shù)需考慮C、C1和和R1，其中，其中R1會(huì)跟電器產(chǎn)品所入的不同狀會(huì)跟電器產(chǎn)品所入的不同狀態(tài)而不同（待機(jī)狀態(tài)、工作狀態(tài)），這種電路實(shí)際應(yīng)用也是最廣泛的，態(tài)而不同（待機(jī)狀態(tài)、工作狀

14、態(tài)），這種電路實(shí)際應(yīng)用也是最廣泛的，通常也會(huì)在電容器兩端并入放電電阻，此時(shí)需要通過測(cè)試來評(píng)價(jià)是否存通常也會(huì)在電容器兩端并入放電電阻，此時(shí)需要通過測(cè)試來評(píng)價(jià)是否存在電擊危險(xiǎn)了。在電擊危險(xiǎn)了。插頭放電測(cè)試技術(shù)研討插頭放電測(cè)試技術(shù)研討電器產(chǎn)品檢測(cè)部電子室電器產(chǎn)品檢測(cè)部電子室L L、C C元件稱為元件稱為“慣性元件慣性元件”，即電感中的電流、電容器兩端的電壓，都，即電感中的電流、電容器兩端的電壓，都有一定的有一定的“電慣性電慣性”，不能突然變化。充放電時(shí)間，不光與，不能突然變化。充放電時(shí)間，不光與L L、C C的容量的容量有關(guān)，還與充有關(guān)，還與充/ /放電電路中的電阻放電電路中的電阻R R有關(guān)。有關(guān)。

15、“1F1F電容它的充放電時(shí)間是電容它的充放電時(shí)間是多長(zhǎng)？多長(zhǎng)？”，不講電阻，就不能回答。，不講電阻，就不能回答。 RCRC電路的時(shí)間常數(shù)：電路的時(shí)間常數(shù)：=RC =RC 充電時(shí)，充電時(shí)，CC=U=U1-e(-t/) U1-e(-t/) U是電源電壓是電源電壓 放電時(shí)，放電時(shí)，CC=U=U0 0e(-t/) Ue(-t/) U0 0是放電前電容上的電壓是放電前電容上的電壓放電時(shí)間常數(shù)為等效的電容量（放電時(shí)間常數(shù)為等效的電容量（FF）和等效放電電阻值（）和等效放電電阻值（MM）的乘積，）的乘積，是指經(jīng)過等于放電時(shí)間常數(shù)的時(shí)間后電壓衰減到初始值的是指經(jīng)過等于放電時(shí)間常數(shù)的時(shí)間后電壓衰減到初始值的37

16、% 37% 。已知已知R R、C C 、U U0 0 、U U可以根據(jù)可以根據(jù)t=RCt=RC* *lnUlnU0 0/U /U 計(jì)算出衰減時(shí)間計(jì)算出衰減時(shí)間t t，其中，其中U U0 0為電為電源電壓峰值，源電壓峰值，U U為經(jīng)過為經(jīng)過t t的時(shí)間衰減后的電壓，的時(shí)間衰減后的電壓，U U0 0一般取額定電壓（或額一般取額定電壓（或額定電壓范圍的上限值）的定電壓范圍的上限值）的1.11.1倍倍. .插頭放電測(cè)試技術(shù)研討插頭放電測(cè)試技術(shù)研討電器產(chǎn)品檢測(cè)部電子室電器產(chǎn)品檢測(cè)部電子室2FF相關(guān)概念相關(guān)概念 測(cè)試技術(shù)測(cè)試技術(shù)注意事項(xiàng)注意事項(xiàng)標(biāo)準(zhǔn)要求標(biāo)準(zhǔn)要求4123插頭放電測(cè)試技術(shù)研討插頭放電測(cè)試技術(shù)研

17、討電器產(chǎn)品檢測(cè)部電子室電器產(chǎn)品檢測(cè)部電子室插頭放電測(cè)試技術(shù)研討插頭放電測(cè)試技術(shù)研討電器產(chǎn)品檢測(cè)部電子室電器產(chǎn)品檢測(cè)部電子室F 首先可分析電路圖，電源斷接處的標(biāo)稱電容不超過首先可分析電路圖，電源斷接處的標(biāo)稱電容不超過0.1F0.1F時(shí)不需測(cè)試；時(shí)不需測(cè)試；如果方便測(cè)試等效電容量和電阻值時(shí)可以通過計(jì)算時(shí)間常數(shù)來判定。如果方便測(cè)試等效電容量和電阻值時(shí)可以通過計(jì)算時(shí)間常數(shù)來判定。 F 分析電路圖在通分析電路圖在通/ /斷開關(guān)可能處于的任一位置確定電源斷接時(shí)會(huì)引起較斷開關(guān)可能處于的任一位置確定電源斷接時(shí)會(huì)引起較大電壓的開關(guān)狀態(tài)，如無法直接判定測(cè)試時(shí)需要開關(guān)處于不同位置時(shí)大電壓的開關(guān)狀態(tài)，如無法直接判定測(cè)

18、試時(shí)需要開關(guān)處于不同位置時(shí)進(jìn)行測(cè)試。進(jìn)行測(cè)試。（注意：部分標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定只需在開關(guān)斷開時(shí)測(cè)試）（注意：部分標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定只需在開關(guān)斷開時(shí)測(cè)試）F 考慮實(shí)際可能的工作狀態(tài)，負(fù)載和空載（開機(jī)或待機(jī)）時(shí)會(huì)有差異，考慮實(shí)際可能的工作狀態(tài)，負(fù)載和空載（開機(jī)或待機(jī)）時(shí)會(huì)有差異，可能需要單獨(dú)測(cè)試可能需要單獨(dú)測(cè)試F CTLCTL決議規(guī)定使用探頭內(nèi)阻為決議規(guī)定使用探頭內(nèi)阻為100M100M，等于或少于，等于或少于25pF25pFF 電源電壓應(yīng)取電源電壓上限值，同時(shí)按標(biāo)準(zhǔn)要求是否考慮容差（或具電源電壓應(yīng)取電源電壓上限值，同時(shí)按標(biāo)準(zhǔn)要求是否考慮容差（或具體標(biāo)準(zhǔn)要求）體標(biāo)準(zhǔn)要求）插頭放電測(cè)試技術(shù)研討插頭放電測(cè)試技術(shù)研討電器產(chǎn)品檢

19、測(cè)部電子室電器產(chǎn)品檢測(cè)部電子室示波器使用方法簡(jiǎn)介示波器使用方法簡(jiǎn)介F 數(shù)字示波器具有波形觸發(fā)、存儲(chǔ)、顯示、測(cè)量、波形數(shù)據(jù)分析處理等獨(dú)特優(yōu)點(diǎn)F 帶寬：數(shù)字示波器對(duì)重復(fù)信號(hào)采用順序采樣或隨機(jī)采樣技術(shù)所能達(dá)到的最高帶寬為示波器的數(shù)字實(shí)時(shí)帶寬，數(shù)字實(shí)時(shí)帶寬與最高數(shù)字化頻率和波形重建技術(shù)因子K相關(guān)（數(shù)字實(shí)時(shí)帶寬=最高數(shù)字化速率/K），模擬帶寬只適合重復(fù)周期信號(hào)的測(cè)量，而數(shù)字實(shí)時(shí)帶寬則同時(shí)適合重復(fù)信號(hào)和單次信號(hào)的測(cè)量。廠家聲稱示波器的帶寬能達(dá)到多少兆，實(shí)際上指的是模擬帶寬，數(shù)字實(shí)時(shí)帶寬是要低于這個(gè)值的。 F 采樣速率也稱為數(shù)字化速率，是指單位時(shí)間內(nèi)，對(duì)模擬輸入信號(hào)的采樣次數(shù)，常以MS/s表示。采樣速率是數(shù)

20、字示波器的一項(xiàng)重要指標(biāo) ，如果采樣速率不夠，容易出現(xiàn)混迭現(xiàn)象（通常采樣速率至少高于信號(hào)高頻成分的2倍才不會(huì)發(fā)生混迭 ） 采樣速率與t/div的關(guān)系 ：每臺(tái)數(shù)字示波器的最大采樣速率是一個(gè)定值。但是，在任意一個(gè)掃描時(shí)間t/div，采樣速率fs由下式給出： fs=N/(t/div) N為每格采樣點(diǎn)當(dāng)采樣點(diǎn)數(shù)N為一定值時(shí)，fs與t/div成反比，掃速越大，采樣速率越低 插頭放電測(cè)試技術(shù)研討插頭放電測(cè)試技術(shù)研討電器產(chǎn)品檢測(cè)部電子室電器產(chǎn)品檢測(cè)部電子室示波器使用方法簡(jiǎn)介示波器使用方法簡(jiǎn)介F采樣率的選擇 我們?cè)诖_定示波器的帶寬后，還要選擇足夠的采樣率來與之相配合，這樣才能獲得適合于實(shí)際測(cè)量中的實(shí)時(shí)帶寬，從而

21、獲得滿意的顯示和測(cè)量結(jié)果。 示波器采樣率不足，將會(huì)使信號(hào)失去高頻成份，影響對(duì)信號(hào)的完整性測(cè)量。如：使信號(hào)上升和下降時(shí)間變慢，或造成波形漏失。 如果在實(shí)際的測(cè)量中，比較重視單次信號(hào)的精確信息，我們建議采樣率要在帶寬的五倍以上，最好能在八到十倍。插頭放電測(cè)試技術(shù)研討插頭放電測(cè)試技術(shù)研討電器產(chǎn)品檢測(cè)部電子室電器產(chǎn)品檢測(cè)部電子室示波器使用方法簡(jiǎn)介F示波器存儲(chǔ)深度 定義：一個(gè)波形記錄是指可被示波器一次性采集的波形點(diǎn)數(shù)，最大記錄長(zhǎng)最大記錄長(zhǎng)度由示波器的存儲(chǔ)容量決定，要增加存儲(chǔ)容量才能增加記錄長(zhǎng)是為捕獲和度由示波器的存儲(chǔ)容量決定，要增加存儲(chǔ)容量才能增加記錄長(zhǎng)是為捕獲和顯示單次信號(hào)過渡過程提供的重要指標(biāo)。顯示

22、單次信號(hào)過渡過程提供的重要指標(biāo)。 示波器的存儲(chǔ)由兩個(gè)方面來完成：1）觸發(fā)信號(hào)和延時(shí)的設(shè)定確定了示波器存儲(chǔ)的起點(diǎn)；2）示波器的存儲(chǔ)深度決定了數(shù)據(jù)存儲(chǔ)的終點(diǎn)。 記錄時(shí)間記錄長(zhǎng)度 / 采樣率 由于時(shí)基和采樣率是聯(lián)動(dòng)的，所以時(shí)基的速度快慢將同時(shí)改變采樣率的高低。當(dāng)采樣率達(dá)到指標(biāo)定義最高速率時(shí)，加快基速度的調(diào)整，采樣率將不能加快。 時(shí)基與采樣率的關(guān)系應(yīng)為：存儲(chǔ)深度（點(diǎn)）時(shí)間/格10采樣間隔 1/采樣間隔采樣率觸發(fā)點(diǎn)觸發(fā)點(diǎn)延時(shí)時(shí)間延時(shí)時(shí)間記憶長(zhǎng)度記憶長(zhǎng)度起點(diǎn)起點(diǎn)終點(diǎn)終點(diǎn)插頭放電測(cè)試技術(shù)研討插頭放電測(cè)試技術(shù)研討電器產(chǎn)品檢測(cè)部電子室電器產(chǎn)品檢測(cè)部電子室示波器使用方法簡(jiǎn)介F 觸發(fā)耦合 由于示波器的輸入信號(hào)經(jīng)放大

23、器分兩路，一路進(jìn)入A/D采樣器；一路到觸發(fā)電路，形成觸發(fā)信號(hào)。 觸發(fā)耦合是觸發(fā)信號(hào)與觸發(fā)電路的耦合方式，就像垂直系統(tǒng)輸入一樣，可為觸發(fā)信號(hào)選擇各種耦合方式。這些設(shè)置對(duì)消除觸發(fā)噪聲很有用處，噪聲的消除可以避免錯(cuò)誤的觸發(fā)。耦合方式： 默認(rèn)時(shí)為DC耦合：觸發(fā)信號(hào)直接連到觸發(fā)電路 交流耦合：觸發(fā)源通過一個(gè)串聯(lián)的電容連到觸發(fā)電路起到隔直作用 HF抑制：使觸發(fā)信號(hào)通過低通濾波器以抑制高頻分量，這意味即使一個(gè)低頻信號(hào)中包含很多高頻噪聲，仍能使其按低頻信號(hào)觸發(fā)。 LF抑制：使觸發(fā)源信號(hào)通過一個(gè)高通濾波器以抑制其低頻成分。這意味即使一個(gè)高頻信號(hào)中包含很多低頻噪聲，仍能使其按低頻信號(hào)觸發(fā)。這對(duì)于顯示包含很多電源交

24、流信號(hào)時(shí)情況是很有用處的。插頭放電測(cè)試技術(shù)研討插頭放電測(cè)試技術(shù)研討電器產(chǎn)品檢測(cè)部電子室電器產(chǎn)品檢測(cè)部電子室示波器使用方法簡(jiǎn)介F 示波器主要有三個(gè)設(shè)置區(qū)，第一個(gè)是：“VERTICAL垂直”設(shè)置區(qū)，用來設(shè)置信號(hào)顯示時(shí)垂直方向的有關(guān)狀況，諸如顯示幅度，在屏幕上的上下位置等。第二個(gè)是“HORIZONTAL水平”設(shè)置區(qū)，用來設(shè)置信號(hào)顯示時(shí)在水平方向的有關(guān)狀況，比如左右位置和信號(hào)顯示寬度。第三個(gè)是最復(fù)雜的“TRIGGER觸發(fā)”設(shè)置區(qū)，用來設(shè)置信號(hào)的觸發(fā)方式，正是因?yàn)閿?shù)字示波器提供了豐富的觸發(fā)方式才使其功能很強(qiáng)大。F 利用AUTOSET自動(dòng)設(shè)置來觀察信號(hào)情況F 按下AUTOSET鍵，示波器會(huì)按被測(cè)信號(hào)的情況

25、自動(dòng)顯示信號(hào)。插頭放電測(cè)試技術(shù)研討插頭放電測(cè)試技術(shù)研討電器產(chǎn)品檢測(cè)部電子室電器產(chǎn)品檢測(cè)部電子室示波器使用方法簡(jiǎn)介F 利用Measure功能 Measure提供了很多項(xiàng)測(cè)量功能，比如周期、頻率、上下峰值、上升下降沿時(shí)間，均方根值等。利用此功能使測(cè)試方便。F 利用ZOOM功能F 利用此功能可以在水平方向和垂直方向縮小或放大觀察信號(hào)。F 利用Cursor功能 利用兩個(gè)垂直光標(biāo)可以測(cè)量垂直兩點(diǎn)間的電壓差值，利用水平光標(biāo)可以測(cè)量水平兩點(diǎn)間的時(shí)間距離。 操作方法：按面板上的CURSOR鍵，再按需要選取水平光標(biāo)或垂直光標(biāo)，旋動(dòng)面板上的SELECT鈕，使光標(biāo)對(duì)準(zhǔn)感興趣的兩點(diǎn)，其差值就顯示在了顯示屏上。插頭放電

26、測(cè)試技術(shù)研討插頭放電測(cè)試技術(shù)研討電器產(chǎn)品檢測(cè)部電子室電器產(chǎn)品檢測(cè)部電子室示波器使用方法簡(jiǎn)介F 注意事項(xiàng)：1、示波器電源線要用三相插頭良好接地 為減少電擊危險(xiǎn), 儀器的底板和外殼必須連接至地端。為了避免電沖擊對(duì)示波器造成損傷，輸出及輸入端進(jìn)行電氣連接前要保證示波器良好接地。2、探頭地線只能接電路板上的地線，不可以搭接在電路板的正、負(fù)電源端 交流供電系統(tǒng)或經(jīng)整流后直流供電的系統(tǒng)的地一般都是接大地的。探頭的地也是經(jīng)示波器安全地線接大地的。如果探頭的地搭在電路板上不是地的點(diǎn)上，就會(huì)造成此點(diǎn)和電源地短路，輕者使電路板工作不正常，重者會(huì)燒壞電路板或探頭，造成嚴(yán)重后果。尤其注意不能把探頭的地接到電路板上的正

27、、負(fù)電源端。3、不允許在探頭還連接著被測(cè)試電路時(shí)插拔探頭，避免對(duì)示波器和探頭造成損傷，尤其是有源探頭 4、信號(hào)的幅度不要超過探頭和示波器的安全幅度，以免造成損壞 注意輸入電壓，過最高電壓輸入值, 將造成示波器的損壞。不同探頭的幅度量程是不同的，要留心探頭及示波器上的說明文字。5、 探頭與示波器有特殊的匹配關(guān)系 示波器的輸入電阻有兩檔，1M和50。當(dāng)接有源探頭時(shí)示波器的輸入電阻應(yīng)設(shè)置為50，無源探頭時(shí)，輸入電阻設(shè)置為1M，否則屏幕上會(huì)顯示錯(cuò)誤波形或無波形顯示，無法進(jìn)行正確測(cè)量。 6、使用者請(qǐng)勿拆開儀器及移開外殼, 電路電壓高至2KV, 易造成危險(xiǎn)。組件的替換或內(nèi)部調(diào)整務(wù)必由合格專業(yè)人員操作, 切

28、勿在電源未關(guān)掉時(shí), 替換組件。插頭放電測(cè)試技術(shù)研討插頭放電測(cè)試技術(shù)研討電器產(chǎn)品檢測(cè)部電子室電器產(chǎn)品檢測(cè)部電子室插頭放電測(cè)試插頭放電測(cè)試電源確認(rèn)：電源確認(rèn)：F 將電源電壓和頻率調(diào)整至作業(yè)指導(dǎo)書或標(biāo)準(zhǔn)要求的值（注意部分標(biāo)準(zhǔn)將電源電壓和頻率調(diào)整至作業(yè)指導(dǎo)書或標(biāo)準(zhǔn)要求的值（注意部分標(biāo)準(zhǔn)要求在要求在1.11.1倍額定電壓下測(cè)試），使用萬用表讀取有效值、倍額定電壓下測(cè)試），使用萬用表讀取有效值、PEAKPEAKMAXMAX（波峰值），（波峰值），PEAK-MINPEAK-MIN（波谷值），建議取（波谷值），建議取PEAK-MIN PEAK-MIN 與與PEAK-MAXPEAK-MAX中比中比較接近理論值的

29、點(diǎn)作為斷接點(diǎn)?；蛘咴诓ǚ搴筒ü忍幏謩e測(cè)試取最大較接近理論值的點(diǎn)作為斷接點(diǎn)?；蛘咴诓ǚ搴筒ü忍幏謩e測(cè)試取最大值。值。 （注意：比對(duì)測(cè)試中對(duì)多個(gè)電源進(jìn)行測(cè)試，使用示波器和高壓探頭讀（注意：比對(duì)測(cè)試中對(duì)多個(gè)電源進(jìn)行測(cè)試，使用示波器和高壓探頭讀取電源電壓波形時(shí)通常會(huì)出現(xiàn)偏移，讀到的取電源電壓波形時(shí)通常會(huì)出現(xiàn)偏移，讀到的PEAK-MIN PEAK-MIN 與與PEAK-MAXPEAK-MAX絕對(duì)絕對(duì)值的差通常為值的差通常為10V10V以上）以上）插頭放電測(cè)試技術(shù)研討插頭放電測(cè)試技術(shù)研討電器產(chǎn)品檢測(cè)部電子室電器產(chǎn)品檢測(cè)部電子室F 示波器探頭直接接入：即示波器探頭與樣品待測(cè)部分并聯(lián)方式一起通示波器探頭直接接

30、入：即示波器探頭與樣品待測(cè)部分并聯(lián)方式一起通斷電，此時(shí)按標(biāo)準(zhǔn)及斷電，此時(shí)按標(biāo)準(zhǔn)及CTL決議要求探頭內(nèi)阻決議要求探頭內(nèi)阻 100 M，電容，電容 25 pF以下。此方法容易發(fā)現(xiàn)判斷是否為最大值，但對(duì)于樣品本身內(nèi)阻高以下。此方法容易發(fā)現(xiàn)判斷是否為最大值，但對(duì)于樣品本身內(nèi)阻高的產(chǎn)品容易引起測(cè)量值偏小。的產(chǎn)品容易引起測(cè)量值偏小。F 示波器探頭后接入：即斷電后經(jīng)過標(biāo)準(zhǔn)要求的測(cè)試時(shí)間（示波器探頭后接入：即斷電后經(jīng)過標(biāo)準(zhǔn)要求的測(cè)試時(shí)間（1s、2s、5s、10s）（可能需要用專用設(shè)備，如時(shí)間控制器、開關(guān)等）時(shí)再接）（可能需要用專用設(shè)備，如時(shí)間控制器、開關(guān)等）時(shí)再接入探頭，此時(shí)對(duì)探頭內(nèi)阻對(duì)結(jié)果的影響不是十分明顯

31、。此方法對(duì)探頭入探頭，此時(shí)對(duì)探頭內(nèi)阻對(duì)結(jié)果的影響不是十分明顯。此方法對(duì)探頭要求不高，但不易判斷是否找到最大值。要求不高，但不易判斷是否找到最大值。插頭放電測(cè)試技術(shù)研討插頭放電測(cè)試技術(shù)研討電器產(chǎn)品檢測(cè)部電子室電器產(chǎn)品檢測(cè)部電子室測(cè)試步驟：測(cè)試步驟：F打開示波器，檢查波形和電壓值，調(diào)節(jié)示波器量程打開示波器，檢查波形和電壓值，調(diào)節(jié)示波器量程; ;例如：只需測(cè)試?yán)纾褐恍铚y(cè)試1s1s時(shí)電壓值調(diào)節(jié)時(shí)間時(shí)電壓值調(diào)節(jié)時(shí)間( (水平掃描時(shí)間系數(shù)水平掃描時(shí)間系數(shù)) )為為200ms/div200ms/div；測(cè)試；測(cè)試2s2s時(shí)的電時(shí)的電壓值調(diào)節(jié)時(shí)間為壓值調(diào)節(jié)時(shí)間為400ms/div400ms/div，選擇合適

32、的取樣率（調(diào)節(jié)，選擇合適的取樣率（調(diào)節(jié)ResolutionResolution按鈕，按鈕，部分示波器適用），調(diào)取示波器的兩個(gè)光標(biāo)（部分示波器適用），調(diào)取示波器的兩個(gè)光標(biāo)（CursorCursor鈕）。鈕）。F將樣品和示波器探頭并聯(lián)在一起（或接入一個(gè)直通式轉(zhuǎn)換插上，注意將樣品和示波器探頭并聯(lián)在一起（或接入一個(gè)直通式轉(zhuǎn)換插上，注意轉(zhuǎn)換插不得有其余影響測(cè)試結(jié)果的部件），接入測(cè)試電源上。轉(zhuǎn)換插不得有其余影響測(cè)試結(jié)果的部件），接入測(cè)試電源上。F選擇開關(guān)狀態(tài)，（此時(shí)示波器的波形應(yīng)為往前推進(jìn)的運(yùn)動(dòng)狀態(tài)，如果選擇開關(guān)狀態(tài)，（此時(shí)示波器的波形應(yīng)為往前推進(jìn)的運(yùn)動(dòng)狀態(tài)，如果不出現(xiàn)則需要重新調(diào)整時(shí)間量程和取樣率）待電

33、容充電完成后斷開樣品不出現(xiàn)則需要重新調(diào)整時(shí)間量程和取樣率）待電容充電完成后斷開樣品及探頭與電源的連接，觀察波形斷開位置處于接近波峰或波谷時(shí)待波形及探頭與電源的連接，觀察波形斷開位置處于接近波峰或波谷時(shí)待波形運(yùn)行到合適讀數(shù)的位置時(shí)按下停止鍵（運(yùn)行到合適讀數(shù)的位置時(shí)按下停止鍵（Run/StopRun/Stop），否則重新按通電），否則重新按通電充電充電斷電循環(huán)至讀取到合適的波形。斷電循環(huán)至讀取到合適的波形。F放大示波器波形，將光標(biāo)分別移至斷開電源的時(shí)刻和需要讀數(shù)的時(shí)刻放大示波器波形，將光標(biāo)分別移至斷開電源的時(shí)刻和需要讀數(shù)的時(shí)刻（或規(guī)定的電壓值處），讀取斷開時(shí)的電壓值和測(cè)試時(shí)間的電壓值（或（或規(guī)定的

34、電壓值處），讀取斷開時(shí)的電壓值和測(cè)試時(shí)間的電壓值（或時(shí)間）并記錄。時(shí)間）并記錄。插頭放電測(cè)試技術(shù)研討插頭放電測(cè)試技術(shù)研討電器產(chǎn)品檢測(cè)部電子室電器產(chǎn)品檢測(cè)部電子室F分析方法1：從波形最大電壓值處對(duì)應(yīng)的時(shí)間點(diǎn)作為時(shí)間坐標(biāo)的起點(diǎn)，一直到波形安全電壓60V 對(duì)應(yīng)的時(shí)間點(diǎn)作為時(shí)間座標(biāo)的終點(diǎn)。終點(diǎn)與起點(diǎn)之間的時(shí)間差看是否小于1s。如果小于1s則表示1s 后插頭的剩余電壓符合要求。F分析方法2：從波形最大電壓值處對(duì)應(yīng)的時(shí)間點(diǎn)作為時(shí)間座標(biāo)的起點(diǎn)，沿著時(shí)間座標(biāo)一直到1s 后對(duì)應(yīng)波形的電壓值，看1s 后波形的電壓參數(shù)是否小于60V。如果1s 后對(duì)應(yīng)的電壓參數(shù)小于60V，1s 后插頭的剩余電壓符合要求。F分析方法3

35、：從計(jì)算原理可知，剩余電量實(shí)際上是衰減波形與時(shí)間座標(biāo)之間的面積。要精確計(jì)算1s 后插頭的剩余電量，可以利用數(shù)字存貯示波器的相關(guān)功能。測(cè)出插頭剩余電量。插頭放電測(cè)試技術(shù)研討插頭放電測(cè)試技術(shù)研討電器產(chǎn)品檢測(cè)部電子室電器產(chǎn)品檢測(cè)部電子室示例示例插頭放電測(cè)試技術(shù)研討插頭放電測(cè)試技術(shù)研討電器產(chǎn)品檢測(cè)部電子室電器產(chǎn)品檢測(cè)部電子室測(cè)量重復(fù)性分量：存儲(chǔ)下10次插頭放電的波形，選擇放電電壓最大，衰減時(shí)間最長(zhǎng)的圖形進(jìn)行分析，重復(fù)進(jìn)行相同測(cè)量產(chǎn)生的不確定度，檢測(cè)中進(jìn)行8次測(cè)量，取平均值。第1 次36ms、第2 次37ms、第3 次35ms、第4 次35ms、第5 次38ms、第6 次37ms、第7 次36ms、第8

36、 次36ms、平均36.25ms根據(jù)貝塞爾公式，計(jì)算重復(fù)性不確定度u1;示波器誤差分量u2,示波器測(cè)量的準(zhǔn)確度為（1%讀數(shù)）;電源電壓波動(dòng)分量u3（根據(jù)實(shí)踐經(jīng)驗(yàn)，電源電壓波動(dòng)對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響取0.7%;“插頭放電”測(cè)試裝置動(dòng)作偏差分量u4，根據(jù)實(shí)踐經(jīng)驗(yàn)，插頭放電測(cè)試裝置動(dòng)作偏差對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響取0.5%.根據(jù)下表的概率分布及分布系數(shù)合成標(biāo)準(zhǔn)不確定度插頭放電測(cè)試技術(shù)研討插頭放電測(cè)試技術(shù)研討電器產(chǎn)品檢測(cè)部電子室電器產(chǎn)品檢測(cè)部電子室2FF相關(guān)概念相關(guān)概念 測(cè)試技術(shù)測(cè)試技術(shù)注意事項(xiàng)注意事項(xiàng) 標(biāo)準(zhǔn)要求標(biāo)準(zhǔn)要求4123插頭放電測(cè)試技術(shù)研討插頭放電測(cè)試技術(shù)研討電器產(chǎn)品檢測(cè)部電子室電器產(chǎn)品檢測(cè)部電子室 在測(cè)量

37、結(jié)果處于臨界狀態(tài)時(shí)建議用以下驗(yàn)證方式：（注意只作為驗(yàn)證，在測(cè)量結(jié)果處于臨界狀態(tài)時(shí)建議用以下驗(yàn)證方式：（注意只作為驗(yàn)證，不能作為正式測(cè)試方法）不能作為正式測(cè)試方法）F 可選用高壓探頭與樣品并聯(lián)接入，接入時(shí)間繼電器（時(shí)間控制盒），可選用高壓探頭與樣品并聯(lián)接入，接入時(shí)間繼電器（時(shí)間控制盒），輸出端接輸出端接10X10X探頭，將兩探頭接入示波器中，（注意兩探頭的極性不能探頭，將兩探頭接入示波器中，（注意兩探頭的極性不能相反連接）分別調(diào)節(jié)其電壓量程。用高壓探頭（相反連接）分別調(diào)節(jié)其電壓量程。用高壓探頭（1000X1000X）觀察斷開時(shí)位）觀察斷開時(shí)位置，用置，用10X10X探頭讀數(shù)，對(duì)于探頭讀數(shù)，對(duì)于5

38、s5s、10s10s的測(cè)試數(shù)據(jù)可以采用斷電后用秒表的測(cè)試數(shù)據(jù)可以采用斷電后用秒表計(jì)時(shí)再接入計(jì)時(shí)再接入10X10X的探頭來驗(yàn)證。（通常此種方式僅用于比對(duì)中，對(duì)測(cè)量的探頭來驗(yàn)證。（通常此種方式僅用于比對(duì)中，對(duì)測(cè)量比較小的電壓值時(shí)。）比較小的電壓值時(shí)。）F 采用直流的方式驗(yàn)證，可保證均在峰值斷開，一般可采用直流電源，采用直流的方式驗(yàn)證，可保證均在峰值斷開，一般可采用直流電源，或?qū)⒔涣鹘?jīng)整流橋整流成直流后輸入樣品?；?qū)⒔涣鹘?jīng)整流橋整流成直流后輸入樣品。插頭放電測(cè)試技術(shù)研討插頭放電測(cè)試技術(shù)研討電器產(chǎn)品檢測(cè)部電子室電器產(chǎn)品檢測(cè)部電子室注意：插頭放電試驗(yàn)應(yīng)注意以下幾個(gè)方面：注意：插頭放電試驗(yàn)應(yīng)注意以下幾個(gè)方

39、面：F一是應(yīng)使用存儲(chǔ)深度較高的示波器，最好有一是應(yīng)使用存儲(chǔ)深度較高的示波器，最好有10K10K以上的存儲(chǔ)深度，確保長(zhǎng)以上的存儲(chǔ)深度，確保長(zhǎng)時(shí)基范圍內(nèi)的快速采樣。時(shí)基范圍內(nèi)的快速采樣。F二是必須使用阻抗值在二是必須使用阻抗值在100M100M以上的測(cè)試探頭。因?yàn)槭静ㄆ鞯臏y(cè)量值會(huì)受探以上的測(cè)試探頭。因?yàn)槭静ㄆ鞯臏y(cè)量值會(huì)受探頭的輸入阻抗影響，并且會(huì)隨著輸入阻抗的減少及延時(shí)時(shí)間的增加而影響增頭的輸入阻抗影響，并且會(huì)隨著輸入阻抗的減少及延時(shí)時(shí)間的增加而影響增大，使用大，使用100M100M以上的測(cè)試探頭可以減少測(cè)量偏差。以上的測(cè)試探頭可以減少測(cè)量偏差。F三是要測(cè)出正半軸（波峰）和負(fù)半軸（波谷）兩個(gè)放電波

40、形，分別讀取數(shù)三是要測(cè)出正半軸（波峰）和負(fù)半軸（波谷）兩個(gè)放電波形，分別讀取數(shù)值進(jìn)行比較后取較大值作為測(cè)量結(jié)果。值進(jìn)行比較后取較大值作為測(cè)量結(jié)果。F四是盡量能捕獲待測(cè)樣品在電壓峰值時(shí)從電源斷開時(shí)的波形，否則測(cè)量結(jié)四是盡量能捕獲待測(cè)樣品在電壓峰值時(shí)從電源斷開時(shí)的波形，否則測(cè)量結(jié)果會(huì)有偏差。果會(huì)有偏差。插頭放電測(cè)試技術(shù)研討插頭放電測(cè)試技術(shù)研討電器產(chǎn)品檢測(cè)部電子室電器產(chǎn)品檢測(cè)部電子室2FF相關(guān)概念相關(guān)概念 測(cè)試技術(shù)測(cè)試技術(shù)注意事項(xiàng)注意事項(xiàng) 標(biāo)準(zhǔn)要求標(biāo)準(zhǔn)要求4123插頭放電測(cè)試技術(shù)研討插頭放電測(cè)試技術(shù)研討電器產(chǎn)品檢測(cè)部電子室電器產(chǎn)品檢測(cè)部電子室GB 4943.1-2011GB 4943.1-2011第

41、第2.1.1.7 2.1.1.7 設(shè)備內(nèi)電容器的放電設(shè)備內(nèi)電容器的放電F 設(shè)備在設(shè)計(jì)上應(yīng)當(dāng)保證在電網(wǎng)電源外部斷接處，盡量減小因接在設(shè)備內(nèi)設(shè)備在設(shè)計(jì)上應(yīng)當(dāng)保證在電網(wǎng)電源外部斷接處，盡量減小因接在設(shè)備內(nèi)的電容器貯存有電荷而產(chǎn)生的電擊危險(xiǎn)。除非電網(wǎng)電源的標(biāo)稱電壓超過的電容器貯存有電荷而產(chǎn)生的電擊危險(xiǎn)。除非電網(wǎng)電源的標(biāo)稱電壓超過42.4V42.4V交流峰值或交流峰值或60V60V直流，否則不需要進(jìn)行電擊危險(xiǎn)的試驗(yàn)。直流，否則不需要進(jìn)行電擊危險(xiǎn)的試驗(yàn)。F 通過檢查設(shè)備和有關(guān)的電路圖來檢驗(yàn)其是否合格。檢查時(shí)要考慮到斷開通過檢查設(shè)備和有關(guān)的電路圖來檢驗(yàn)其是否合格。檢查時(shí)要考慮到斷開電源時(shí)通電源時(shí)通/ /斷開

42、關(guān)可能處于的任一位置。斷開關(guān)可能處于的任一位置。F 如果設(shè)備中有任何電容器，其標(biāo)明的或標(biāo)稱的容量超過如果設(shè)備中有任何電容器，其標(biāo)明的或標(biāo)稱的容量超過0.1F0.1F，而且在，而且在與電網(wǎng)電源連接的電路上，但該電容器的放電時(shí)間常數(shù)不超過下列規(guī)定與電網(wǎng)電源連接的電路上，但該電容器的放電時(shí)間常數(shù)不超過下列規(guī)定值，則應(yīng)當(dāng)認(rèn)為設(shè)備是合格的：值，則應(yīng)當(dāng)認(rèn)為設(shè)備是合格的： 對(duì)對(duì)A A 型可插式設(shè)備，型可插式設(shè)備，1s1s；和；和 對(duì)對(duì)B B 型可插式設(shè)備，型可插式設(shè)備，10s10s。F 有關(guān)的時(shí)間常數(shù)是指等效電容量（有關(guān)的時(shí)間常數(shù)是指等效電容量（FF）和等效放電電阻值（）和等效放電電阻值（MM）的乘）的乘積

43、。如果測(cè)定等效電容量和電阻值有困難，則可以在外部斷接點(diǎn)測(cè)量電積。如果測(cè)定等效電容量和電阻值有困難，則可以在外部斷接點(diǎn)測(cè)量電壓衰減。當(dāng)測(cè)量電壓衰減時(shí)，使用輸入阻抗由一個(gè)壓衰減。當(dāng)測(cè)量電壓衰減時(shí)，使用輸入阻抗由一個(gè)100M100M5M5M電阻和電阻和一個(gè)輸入電容量為一個(gè)輸入電容量為25pF25pF的或更小的電容器并聯(lián)組成的儀器得到結(jié)果。的或更小的電容器并聯(lián)組成的儀器得到結(jié)果。F 注：在經(jīng)過一段等于一個(gè)時(shí)間常數(shù)的時(shí)間，電壓將衰減到初始值的注：在經(jīng)過一段等于一個(gè)時(shí)間常數(shù)的時(shí)間，電壓將衰減到初始值的37%37%。插頭放電測(cè)試技術(shù)研討插頭放電測(cè)試技術(shù)研討電器產(chǎn)品檢測(cè)部電子室電器產(chǎn)品檢測(cè)部電子室 GB 88

44、98-2011GB 8898-2011第第9.1.69.1.6條：拔出電源插頭條：拔出電源插頭F 對(duì)預(yù)定要用電源插頭與電網(wǎng)電源連接的設(shè)備，其設(shè)計(jì)應(yīng)當(dāng)確保在插頭從對(duì)預(yù)定要用電源插頭與電網(wǎng)電源連接的設(shè)備，其設(shè)計(jì)應(yīng)當(dāng)確保在插頭從電源插座拔出后，當(dāng)接觸插頭的插腳或插銷時(shí)，不得因電容器貯存的電電源插座拔出后，當(dāng)接觸插頭的插腳或插銷時(shí)，不得因電容器貯存的電荷而產(chǎn)生觸電危險(xiǎn)。荷而產(chǎn)生觸電危險(xiǎn)。F 通過通過9.1.1.1 a9.1.1.1 a）項(xiàng)或）項(xiàng)或c c）項(xiàng)規(guī)定的測(cè)量，或通過計(jì)算來檢驗(yàn)是否合格。）項(xiàng)規(guī)定的測(cè)量，或通過計(jì)算來檢驗(yàn)是否合格。F 電源開關(guān)，如果有，置于電源開關(guān)，如果有，置于“斷斷”位，除非置于

45、位，除非置于“通通”位更為不利。位更為不利。F 在拔出插頭后在拔出插頭后2s2s，插頭的插腳不得危險(xiǎn)帶電。，插頭的插腳不得危險(xiǎn)帶電。F 為了能找到最不利的情況，試驗(yàn)可以重復(fù)為了能找到最不利的情況，試驗(yàn)可以重復(fù)1010次。次。F 如果電源兩極之間的標(biāo)稱電容量不超過如果電源兩極之間的標(biāo)稱電容量不超過0.1F0.1F，則不進(jìn)行試驗(yàn)。，則不進(jìn)行試驗(yàn)。F 9.1.1.1 a9.1.1.1 a）項(xiàng)開路電壓不超過交流）項(xiàng)開路電壓不超過交流35V35V（峰值）或直流（峰值）或直流60V60V或或c c）在直）在直流流60V60V到到15kV15kV之間的電壓下所貯存的電荷的電量不超過之間的電壓下所貯存的電荷的

46、電量不超過45C45C；插頭放電測(cè)試技術(shù)研討插頭放電測(cè)試技術(shù)研討電器產(chǎn)品檢測(cè)部電子室電器產(chǎn)品檢測(cè)部電子室GB 4706.1-2005GB 4706.1-2005第第22.522.5條條F 打算通過一個(gè)插頭來與電源連接的器具，其結(jié)構(gòu)應(yīng)能使其在正常使用打算通過一個(gè)插頭來與電源連接的器具，其結(jié)構(gòu)應(yīng)能使其在正常使用中當(dāng)觸碰該插頭的插腳時(shí)，不會(huì)因有充過電的電容器而引起電擊危險(xiǎn)。中當(dāng)觸碰該插頭的插腳時(shí)，不會(huì)因有充過電的電容器而引起電擊危險(xiǎn)。F 器具以額定電壓供電，然后將其任何一個(gè)開關(guān)置于器具以額定電壓供電，然后將其任何一個(gè)開關(guān)置于“斷開斷開”位置，器位置，器具在電壓峰值時(shí)從電源斷開。在斷開后具在電壓峰值時(shí)

47、從電源斷開。在斷開后1s1s時(shí)，用一個(gè)不會(huì)對(duì)測(cè)量值產(chǎn)時(shí)，用一個(gè)不會(huì)對(duì)測(cè)量值產(chǎn)生明顯影響的儀器，測(cè)量插頭各插腳間的電壓。此電壓不應(yīng)超過生明顯影響的儀器，測(cè)量插頭各插腳間的電壓。此電壓不應(yīng)超過34V34V。插頭放電測(cè)試技術(shù)研討插頭放電測(cè)試技術(shù)研討電器產(chǎn)品檢測(cè)部電子室電器產(chǎn)品檢測(cè)部電子室 家電標(biāo)準(zhǔn)（從網(wǎng)上下載的內(nèi)容家電標(biāo)準(zhǔn)（從網(wǎng)上下載的內(nèi)容, ,是否準(zhǔn)確需請(qǐng)家電的同事確認(rèn)）是否準(zhǔn)確需請(qǐng)家電的同事確認(rèn)） 對(duì)比不同版本的差異，可以發(fā)現(xiàn)：對(duì)比不同版本的差異，可以發(fā)現(xiàn)：F對(duì)電容器放電電壓測(cè)量的試驗(yàn)次數(shù)有變化。測(cè)量插頭放電殘余電壓是為了保證家電產(chǎn)品在正常使用對(duì)電容器放電電壓測(cè)量的試驗(yàn)次數(shù)有變化。測(cè)量插頭放電殘

48、余電壓是為了保證家電產(chǎn)品在正常使用中當(dāng)觸碰其插頭的插腳時(shí)，不會(huì)因充過電的電容器放電而引起電擊危險(xiǎn)。中當(dāng)觸碰其插頭的插腳時(shí)，不會(huì)因充過電的電容器放電而引起電擊危險(xiǎn)。F部分標(biāo)準(zhǔn)要求試驗(yàn)重復(fù)進(jìn)行部分標(biāo)準(zhǔn)要求試驗(yàn)重復(fù)進(jìn)行1010次，沒有規(guī)定要在電源峰值瞬間斷開。根據(jù)物理電容放電的常識(shí)，初次，沒有規(guī)定要在電源峰值瞬間斷開。根據(jù)物理電容放電的常識(shí)，初始電壓越高，始電壓越高，1 1秒后測(cè)得的殘余電壓則越高。自上世紀(jì)秒后測(cè)得的殘余電壓則越高。自上世紀(jì)7070年代以來，經(jīng)歷電子管、晶體管、集成電路、年代以來，經(jīng)歷電子管、晶體管、集成電路、大規(guī)模集成電路、信息化電子技術(shù)飛速發(fā)展，家電以及檢測(cè)技術(shù)都已經(jīng)更新?lián)Q代。原

49、先通過大規(guī)模集成電路、信息化電子技術(shù)飛速發(fā)展，家電以及檢測(cè)技術(shù)都已經(jīng)更新?lián)Q代。原先通過1010次有次有限的重復(fù)測(cè)量，試圖限的重復(fù)測(cè)量，試圖“碰巧碰巧”有有1 1次能從電源峰值時(shí)斷開，到了現(xiàn)在則完全可以通過電子裝置實(shí)現(xiàn)從次能從電源峰值時(shí)斷開，到了現(xiàn)在則完全可以通過電子裝置實(shí)現(xiàn)從峰值瞬間斷開，所以峰值瞬間斷開，所以20102010年第年第5 5版版IEC 60335-1IEC 60335-1刪除試驗(yàn)重復(fù)刪除試驗(yàn)重復(fù)1010次的內(nèi)容，要在電源峰值時(shí)斷開，以次的內(nèi)容，要在電源峰值時(shí)斷開，以測(cè)得最大初始電壓下插頭殘余的電壓。測(cè)得最大初始電壓下插頭殘余的電壓。F只適用帶插頭的產(chǎn)品，不適用于帶插腳的直插式產(chǎn)

50、品：各個(gè)版本標(biāo)準(zhǔn)條款可看到，只適用帶插頭的產(chǎn)品，不適用于帶插腳的直插式產(chǎn)品：各個(gè)版本標(biāo)準(zhǔn)條款可看到，“打算通過一個(gè)打算通過一個(gè)插頭來與電源連接的器具插頭來與電源連接的器具”主語從來沒有變化，而在標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)嚴(yán)格區(qū)分了插頭和插腳。就字面而言，主語從來沒有變化，而在標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)嚴(yán)格區(qū)分了插頭和插腳。就字面而言，測(cè)量插頭放電測(cè)試只適用于帶插頭的產(chǎn)品。為何對(duì)帶插腳的直接式產(chǎn)品不適用？筆者認(rèn)為，使用者測(cè)量插頭放電測(cè)試只適用于帶插頭的產(chǎn)品。為何對(duì)帶插腳的直接式產(chǎn)品不適用？筆者認(rèn)為，使用者握住直插式產(chǎn)品從插座中拔出，握住直插式產(chǎn)品從插座中拔出，1 1秒后手握住產(chǎn)品本體的同時(shí)接觸兩片插腳的機(jī)率非常小，所以標(biāo)準(zhǔn)秒后手握住產(chǎn)

51、品本體的同時(shí)接觸兩片插腳的機(jī)率非常小，所以標(biāo)準(zhǔn)不適用于帶插腳的直插式產(chǎn)品。不適用于帶插腳的直插式產(chǎn)品。F測(cè)量用示波器及探頭是一開始就連接，不是在第測(cè)量用示波器及探頭是一開始就連接，不是在第1 1秒時(shí)刻連接。曾有觀點(diǎn)認(rèn)為測(cè)量電壓的示波器秒時(shí)刻連接。曾有觀點(diǎn)認(rèn)為測(cè)量電壓的示波器要在第要在第1 1秒時(shí)刻連接到電路中，筆者認(rèn)為是誤讀了標(biāo)準(zhǔn)秒時(shí)刻連接到電路中，筆者認(rèn)為是誤讀了標(biāo)準(zhǔn)“1 1秒后秒后”字面上的意思字面上的意思, ,應(yīng)該是示波器要一開應(yīng)該是示波器要一開始就連接上始就連接上, ,完整地記錄整個(gè)時(shí)間內(nèi)的電壓完整地記錄整個(gè)時(shí)間內(nèi)的電壓- -時(shí)間曲線。時(shí)間曲線。 插頭放電測(cè)試技術(shù)研討插頭放電測(cè)試技術(shù)研討電器產(chǎn)品檢測(cè)部電子室電器產(chǎn)品檢測(cè)部電子室插頭放電測(cè)試技術(shù)研討插頭放電測(cè)試技術(shù)研討電器產(chǎn)品檢測(cè)部電子室電器產(chǎn)品檢測(cè)部電子室 GB 7000.1-2007GB 7000.1-2007第第8.2.78.2.7條條F 裝有電容量大于裝有電容量大于0.5F0.5F電容器的燈具（以下提到的除外）應(yīng)裝有放電電容器的燈具（以下提到的除外）應(yīng)裝有放電裝置，使燈類與額定電壓的電源斷開后裝置，使燈類與額定電壓的電源斷開后1min1min，電容器兩端的電壓應(yīng)不，電容器兩端的電壓應(yīng)不超過超過50V