物電學(xué)院微電子制造技術(shù)試題2011級(jí)電信電子專業(yè)_第1頁(yè)
物電學(xué)院微電子制造技術(shù)試題2011級(jí)電信電子專業(yè)_第2頁(yè)
物電學(xué)院微電子制造技術(shù)試題2011級(jí)電信電子專業(yè)_第3頁(yè)
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1、貴州師范大學(xué)2013 2014 學(xué)年度第 二 學(xué)期微電子制造技術(shù)年級(jí)專業(yè) 電信 姓 名 江嵩 學(xué) 號(hào) 110802010017 一、 簡(jiǎn)答題1、什么是集成電路,集成電路有哪些主要工藝過(guò)程。 集成電路是一種微型電子器件和部件。采用一定的工藝,把一個(gè)電路中所需的晶體管,二極管,電阻,電感和電容及布線連接在一起。制作在一小塊合計(jì)小塊半導(dǎo)體晶體和介質(zhì)基片上。然后封裝在一個(gè)盒內(nèi),成為具有所需電路的功能和結(jié)構(gòu),其中所有元件在結(jié)構(gòu)上成為了一個(gè)整體,使電子元件成為微小型化。低功能和可靠性方面邁進(jìn)了一步,它的英文用字母IC表示。工藝有外延工藝,氧化工藝,摻雜工藝,光刻工藝,制版工藝,隔開工藝,表面鈍化工藝。,2

2、、簡(jiǎn)述PECVD、LPCVD、APCVD,并指出其區(qū)別。ECVD:是借助微波或射頻等使含有薄膜組成原子的氣體電離,在局部形成等離子體,而等離子體化學(xué)活性很強(qiáng),很容易發(fā)生反應(yīng),在基片上沉積出所期望的薄膜。為了使化學(xué)反應(yīng)能在較低的溫度下進(jìn)行,利用了等離子體的活性來(lái)促進(jìn)反應(yīng),因而這種CVD稱為等離子體增強(qiáng)化學(xué)氣相沉積(PECVD). 實(shí)驗(yàn)機(jī)理:是借助微波或射頻等使含有薄膜組成原子的氣體,在局部形成等離子體,而等離子體化學(xué)活性很強(qiáng),很容易發(fā)生反應(yīng),在基片上沉積出所期望的薄膜。 LPCVD是大規(guī)模集成電路和超大規(guī)模集成電路以及半導(dǎo)體光電器件上公益領(lǐng)域里的主要工藝之一,LPCVD技術(shù)可以提高淀積薄膜的質(zhì)量

3、,使膜成既有均勻性好,缺陷密度低,臺(tái)階覆蓋性好等優(yōu)點(diǎn),成為制備四氮化硅薄膜的主要方法,淀積時(shí)硅片放入反應(yīng)器中,間隙緊湊,大大提高了設(shè)備的加工能力,有利益減低生產(chǎn)成本,提高經(jīng)濟(jì)效益。與水平放置的硅片的系統(tǒng)相比,它避免了反應(yīng)器掉落微粒的玷污。 常壓化學(xué)氣相淀積(APCVD)是指在大氣壓下進(jìn)行的一種化學(xué)氣相淀積的方法,這是化學(xué)氣相淀積最初所采用的方法。這種工藝所需的系統(tǒng)簡(jiǎn)單,反應(yīng)速度快,但是均勻性較差,臺(tái)階覆蓋能力差,所以一般用于厚的介質(zhì)淀積。除了常壓化學(xué)氣相淀積(APCVD)之外,還有低壓化學(xué)氣相淀積(LPCVD),等離子體增強(qiáng)型淀積(PECVD)。目前,在芯片制造過(guò)程中,大部分所需的薄膜材料,不

4、論是導(dǎo)體、半導(dǎo)體,或是介電材料,都可以用化學(xué)氣相淀積來(lái)制備。這些薄膜通常作為層間介質(zhì)(ILD),保護(hù)性覆蓋物或者表面平坦化等。LPCVD即低壓化學(xué)氣相淀積,與APCVD相比,LPCVD加入了真空系統(tǒng),其真空度約為0.1-5Torr,反應(yīng)溫度一般為300-800°C。反應(yīng)腔內(nèi)真空度被降低,其效果是明顯增大了反應(yīng)氣體分子的平均自由度,使得氣體分子更加容易擴(kuò)散至硅片表面,硅片表面的反應(yīng)氣體非常充分?;谶@種氣體傳輸狀態(tài),反應(yīng)腔內(nèi)的氣流條件并不重要,允許反應(yīng)腔設(shè)計(jì)優(yōu)化以得到更高的產(chǎn)量。因此與APCVD不同的是,LPCVD的淀積速度受到化學(xué)反應(yīng)速度的限制。LPCVD系統(tǒng)有更低的成本,更高的產(chǎn)量

5、、更好的膜性能及具有臺(tái)階覆蓋能力和均勻性,具有廣泛的應(yīng)用。LPCVD常用于二氧化硅、Si3N4和多晶硅薄膜的淀積。典型的LPCVD工藝設(shè)備操作:1)做好淀積前的準(zhǔn)備工作,包括按流程卡確認(rèn)程序、工藝、設(shè)備及硅片數(shù)量2)硅片清洗3)選擇程序4)系統(tǒng)充氣5)裝片6)按“START”鍵,設(shè)備將按設(shè)定的程序進(jìn)爐7)程序結(jié)束,自動(dòng)出舟,同時(shí)發(fā)出報(bào)警聲,此時(shí)按面板上的“ACK”鍵,報(bào)警聲消除2014年度細(xì)分行業(yè)報(bào)告匯集制造行業(yè)報(bào)告互聯(lián)網(wǎng)行業(yè)報(bào)告農(nóng)林牧漁行業(yè)報(bào)告8)經(jīng)10min冷卻后,取下正片活測(cè)試片,放入傳遞盒待檢驗(yàn)和測(cè)試。APCVD和LPCVD都是通過(guò)熱能來(lái)

6、維持化學(xué)反應(yīng)。而等離子體輔佐CVD主要依賴于等離子體的能量。其優(yōu)點(diǎn)是:1)有更低的工藝溫度2)對(duì)高的深寬比間隙有好的填充能力3)淀積的膜對(duì)硅片有優(yōu)良的貼附能力4)有較高的淀積速度5)有較少的針孔和空洞,因而有較高的膜密度6)腔體可以利用等離子體清洗 3、簡(jiǎn)述20世紀(jì)八十年代與20世紀(jì)九十年代的CMOS工藝,并指出其區(qū)別。 答:20世紀(jì)80年代CMOS工藝具有以下特點(diǎn):1)采用氧化工藝進(jìn)行器件間的隔離2)采用磷化硅玻璃和回流進(jìn)行平坦化3)使用正性光刻膠進(jìn)行光刻4)采用蒸發(fā)的方法進(jìn)行金屬層的淀積5)使用發(fā)達(dá)的掩膜進(jìn)行成像6)用等離子體刻蝕和濕法刻蝕工藝進(jìn)行圖形刻蝕其工藝流程如下:1)硅片清洗:硅片

7、在一系列化學(xué)溶液中的清洗,以去除顆粒,有機(jī)物和無(wú)機(jī)物沾污及去除自然氧化層。漂洗、甩干2)墊氧化:熱生長(zhǎng)15mm的氧化層,保護(hù)硅片表面免受沾污,阻止在主人過(guò)程中對(duì)硅片過(guò)度損傷,有助于控制注入過(guò)程中雜質(zhì)的注入深度。同時(shí)也減少淀積的氮化層與硅片襯底的應(yīng)力3)低氣壓化學(xué)氣相淀積氮化層:在低氣壓化學(xué)氣相淀積設(shè)備中,氮?dú)夂投趸璺磻?yīng),在硅片表面上生成一薄膜層氮化硅。作為局部氧化隔離生長(zhǎng)二氧化硅的俺避蔽層4)第一次光刻:涂覆光刻膠,已形成局部氧化區(qū)域5)第一次掩膜版:硅局部掩膜版,決定了形成局部氧化區(qū)域6)(局部氧化)對(duì)準(zhǔn)和曝光:將掩膜版圖形直接刻在到涂膠的硅片上,包括曝光、顯影、堅(jiān)膜等步驟7)顯影:顯影

8、液噴到硅片上,圖形在硅片上顯現(xiàn)出來(lái),之后硅片進(jìn)行堅(jiān)膜,并對(duì)尺寸進(jìn)行檢測(cè)8)氮化物刻蝕:沒有光刻膠保護(hù)的氮化硅被強(qiáng)腐蝕性化學(xué)物質(zhì)刻蝕掉9)去掉光刻膠:在每一步驟刻蝕工藝之后都要將硅片上的光刻膠去除在一系列化學(xué)試劑中濕法清洗10)隔離區(qū)注入:硼離子注入,目的是為了防止場(chǎng)區(qū)下硅表面反型,產(chǎn)生寄生溝道11)場(chǎng)氧化:利用氮化硅掩膜氧化功能,在沒有氮化硅層,并經(jīng)硼離子注入的區(qū)域,生長(zhǎng)一層場(chǎng)區(qū)域氧化成,厚度約為400mm12)去除氮化物和墊氧層,并清洗13)掩蔽氧化:通過(guò)氧化層生成一層sio2膜,用做雜質(zhì)擴(kuò)散掩蔽膜,膜厚350mm14)第二次光刻:確定n阱區(qū)域,在N阱中制作PMOS管。其中包括涂膠、烘烤、曝

9、光、顯影等步驟15)N阱注入:為被光刻膠保護(hù)的區(qū)域允許高能粒子雜質(zhì)穿透表面進(jìn)入一定厚度16)N阱驅(qū)進(jìn):先去除光刻膠,之后將注入雜質(zhì)的硅片放入退火爐中進(jìn)行退火,使得雜質(zhì)向硅片更深處擴(kuò)散,達(dá)到所需深度,同時(shí)可以消除注入引起的硅片損并將注入雜質(zhì)激活。之后去除掩蔽氧化層17)生長(zhǎng)柵氧化層:在生長(zhǎng)柵氧化層之前先清洗硅片,去除沾污和氧化層,吧硅片放入氧化爐,在HCI氣氛中,用于氧氧化生長(zhǎng)一層致密的二氧化硅膜,厚度約為40mm18)淀積多晶硅:利用硅烷分解在硅片表面淀積一層多晶硅,并馬上進(jìn)行多晶硅的摻雜,此步驟刻在同一工藝腔體中進(jìn)行,也可以在不同的設(shè)備中進(jìn)行19)第三次光刻:形成柵極和局部互連圖形,包括涂膠

10、、烘烤、曝光、顯影、堅(jiān)膜等步驟20)多晶硅刻蝕:刻蝕多晶硅,形成多晶硅柵極和局部互連,之后去除光刻膠21)第四次光刻:形成N型源漏極區(qū)掩膜版區(qū)域圖形,刻印硅片,以得到NMOS管被注入?yún)^(qū)域,其他區(qū)域被光刻膠保護(hù)著,包括涂膠、曝光、顯影、堅(jiān)膜等步驟22)N型源漏極區(qū)離子注入:磷離子注入,形成NMOS源,漏區(qū)23)第五次光刻-第五次掩膜版24)P型源漏區(qū)離子注入:鵬離子注入,形成PMOS源漏區(qū)25)去除光刻膠26)退火:在氮?dú)庀峦嘶穑⒃绰﹨^(qū)推進(jìn),形成0.3-0.5um的源漏區(qū)27)低氣壓化學(xué)氣相淀積屏蔽氮化物28)化學(xué)氣相淀積BPSG(鵬磷硅玻璃)鈍化層29)BPSG回流:目的是使得表面平滑30

11、)第六塊掩膜版:接觸空曝光,形成金屬化接觸孔圖形。包括涂膠、曝光、顯影等31)接觸孔刻蝕:刻蝕金屬化的接觸孔,之后去除光刻膠32)金屬淀積:采用蒸發(fā)或?yàn)R射的方法淀積一層AL-Cu-Si合金,利于解決電遷移現(xiàn)象和防止AL片斷裂33)第七塊掩膜版金屬互連:包括涂膠,曝光,顯影和金屬刻蝕,去膠等,形成金屬互連34)化學(xué)氣相淀積USG(未摻雜的二氧化硅)35)化學(xué)氣相淀積氮化物形成的鈍化層20世紀(jì)90年代的COMS工藝技術(shù):數(shù)字通信設(shè)備、個(gè)人計(jì)算機(jī)和互聯(lián)網(wǎng)有關(guān)的應(yīng)用推進(jìn)了COMS工藝技術(shù)的發(fā)展。特征尺寸從0.8um到0.18um,晶園直徑從150mm300mm,原有的制作工藝已經(jīng)無(wú)法實(shí)現(xiàn)如此小的特尺寸

12、的制作。20世紀(jì)90年代的COMS工藝技術(shù)具有以下特點(diǎn):1)器件制作在外延硅片上2)采用淺槽隔離技術(shù)3)使用側(cè)墻隔離(防止源漏極區(qū)進(jìn)行更大劑量注入時(shí),源漏極區(qū)雜質(zhì)過(guò)于接近溝道以至于可能發(fā)生源漏極穿透),鈦硅化合物和側(cè)墻隔離解決了硅化合物問題4)多晶硅柵和采用鎢硅化合物和鈦硅化合物實(shí)現(xiàn)局部互聯(lián),減小了電阻并提高了器件速度5)光刻技術(shù)采用G-lineI-line深紫外線DUV光源曝光6)用等離子體刻蝕形成刻蝕圖形7)濕法刻蝕用于覆蓋薄膜的去除8)采用立式氧化爐,能使得硅片間距更小,更好地控制沾污9)采用快速處理系統(tǒng)對(duì)離子注入之后的硅片進(jìn)行退火處理及形成硅化物,能更快、更好地控制制造過(guò)程中的熱預(yù)算1

13、0)用直流磁控濺射取代蒸發(fā)淀積金屬膜11)采用多層金屬互聯(lián)技術(shù)12)鎢CVD和CMP(或者反刻)形成鎢賽,實(shí)現(xiàn)層與層之間的互連13)Ti和TiN成鎢的阻擋層14)Ti作為AL-Cu沾附層,能減小接觸電阻15)TiN抗反射涂層的應(yīng)用,可以減小光刻曝光時(shí)駐波和反射切口16)BPSG通常被用作PMD(金屬鉛絕緣層)17)DCVD:PE-TEOS(采用等離子體增強(qiáng)正硅酸乙酯淀積二氧化硅)和03-TEOS(采用臭氧和正硅酸乙酯反應(yīng)淀積二氧化硅)來(lái)實(shí)現(xiàn)淺槽隔離、側(cè)墻、PMD和IMD(金屬層間絕緣層)的淀積18)DCVD:PE-硅烷來(lái)實(shí)現(xiàn)PMD屏蔽氮化物絕緣介質(zhì)的抗反射涂層和PD氮化物的淀積19)介質(zhì)采用C

14、MP使得表面平坦化20)Cluster(計(jì)算機(jī)集群)工具變得非常普片21)批處理系統(tǒng)任然使用,可以使得普通工人的生成量也提高二、 結(jié)課論文 綜述國(guó)內(nèi)外半導(dǎo)體制造行業(yè)最新進(jìn)展。半導(dǎo)體材料的研究綜述摘要:半導(dǎo)體材料的價(jià)值在于它的光學(xué)、電學(xué)特性可充分應(yīng)用與器件。隨著社會(huì)的進(jìn)步和現(xiàn)代科學(xué)技術(shù)的發(fā)展,半導(dǎo)體材料越來(lái)越多的與現(xiàn)代高科技相結(jié)合,其產(chǎn)品更好的服務(wù)于人類,改變著人類的生活及生產(chǎn)。文章從半導(dǎo)體材料基本概念的界定、半導(dǎo)體材料產(chǎn)業(yè)的發(fā)展現(xiàn)狀、半導(dǎo)體材料未來(lái)發(fā)展趨勢(shì)等方面對(duì)我國(guó)近十年針對(duì)此問題的研究進(jìn)行了綜述,希望能引起全社會(huì)的關(guān)注和重視。關(guān)鍵詞:半導(dǎo)體材料,研究,綜述20世紀(jì)中葉,單晶硅和半導(dǎo)體晶體管

15、的發(fā)明及其硅集成電路的研制成功,導(dǎo)致了電子工業(yè)革命;20世紀(jì)70年代初石英光導(dǎo)纖維材料和GaAs激光器的發(fā)明,促進(jìn)了光纖通信技術(shù)迅速發(fā)展并逐步形成了高新技術(shù)產(chǎn)業(yè),使人類進(jìn)入了信息時(shí)代。超晶格概念的提出及其半導(dǎo)體超晶格、量子阱材料的研制成功,徹底改變了光電器件的設(shè)計(jì)思想,使半導(dǎo)體器件的設(shè)計(jì)與制造從“雜質(zhì)工程”發(fā)展到“能帶工程”。徹底改變?nèi)藗兊纳罘绞?。在此筆者主要針對(duì)半導(dǎo)體材料產(chǎn)業(yè)的發(fā)展、半導(dǎo)體材料的未來(lái)發(fā)展趨勢(shì)等進(jìn)行綜述,希望引起社會(huì)的關(guān)注,并提出了切實(shí)可行的建議。一、關(guān)于半導(dǎo)體材料基礎(chǔ)材料概念界定的研究陳良惠指出自然界的物質(zhì)、材料按導(dǎo)電能力大小可分為導(dǎo)體、半導(dǎo)體、和絕緣體三大類。半導(dǎo)體的電導(dǎo)

16、率在10-3109歐厘米范圍。在一般情況下,半導(dǎo)體電導(dǎo)率隨溫度的升高而增大,這與金屬導(dǎo)體恰好相反。凡具有上述兩種特征的材料都可歸入半導(dǎo)體材料的范圍。1半導(dǎo)體材料(semiconductormaterial)是導(dǎo)電能力介于導(dǎo)體與絕緣體之間的物質(zhì)。半導(dǎo)體材料是一類具有半導(dǎo)體性能、可用來(lái)制作半導(dǎo)體器件和集成電的電子材料,其電導(dǎo)率在10(U-3)10(U-9)歐姆/厘米范圍內(nèi)。2隨著社會(huì)的進(jìn)步以及科學(xué)技術(shù)的發(fā)展,對(duì)于半導(dǎo)體材料的界定會(huì)越來(lái)越精確。二、關(guān)于半導(dǎo)體材料產(chǎn)業(yè)的發(fā)展現(xiàn)狀及解決對(duì)策的分析王占國(guó)指出中國(guó)半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)市場(chǎng)需求強(qiáng)勁,市場(chǎng)規(guī)模的增速遠(yuǎn)高于全球平均水平。不過(guò),產(chǎn)業(yè)規(guī)模的擴(kuò)大和市場(chǎng)的繁榮并不表

17、明國(guó)內(nèi)企業(yè)分得的份額更大。相反,中國(guó)的半導(dǎo)體市場(chǎng)正日益成為外資公司的樂土。3朱黎輝說(shuō)基于市場(chǎng)需求和產(chǎn)業(yè)轉(zhuǎn)移,我們判斷半導(dǎo)體行業(yè)在國(guó)內(nèi)有很大的增長(zhǎng)潛力。之所以這樣說(shuō),主要是基于國(guó)家政策的支持,中國(guó)半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)離不開國(guó)家政策的支持。4市場(chǎng)需求巨大。計(jì)算機(jī)、通訊、消費(fèi)類電子產(chǎn)品的需求帶動(dòng)半導(dǎo)體的需求。國(guó)際產(chǎn)能轉(zhuǎn)移,芯片制造的封裝測(cè)試的產(chǎn)能轉(zhuǎn)移比較明顯,國(guó)際大工廠紛紛在國(guó)內(nèi)設(shè)立工廠,或者把生產(chǎn)線交給國(guó)內(nèi)公司制造。5王占國(guó)說(shuō)我國(guó)半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)快速發(fā)展,產(chǎn)業(yè)逐步完善。半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)經(jīng)過(guò)長(zhǎng)期發(fā)展,已經(jīng)建立起基本的產(chǎn)業(yè)結(jié)構(gòu)。近幾年的加速發(fā)展縮短了與國(guó)外先進(jìn)技術(shù)的差距。6美國(guó)是半導(dǎo)體技術(shù)的發(fā)源地,但20世紀(jì)80年代美國(guó)作

18、為半導(dǎo)體的主要生產(chǎn)在全球的地位大幅度下降。為了應(yīng)對(duì)這種狀況,美國(guó)政府以巨大的國(guó)防支出來(lái)資助半導(dǎo)體業(yè)的研發(fā)。7技術(shù)是半導(dǎo)體行業(yè)的立足之本,這個(gè)行業(yè)的技術(shù)更新速度迅速。國(guó)內(nèi)外半導(dǎo)體公司的發(fā)展面臨強(qiáng)大的壓力,生存環(huán)境堪憂。一些學(xué)者在分析、總結(jié)的基礎(chǔ)上提出了一些建議。中國(guó)應(yīng)采取更加優(yōu)惠的政策、形成良好的投資環(huán)境吸引更多的資金流入到中國(guó)半導(dǎo)體產(chǎn) 業(yè)。8凌玲說(shuō)在短期內(nèi),可以借鑒走引進(jìn)、消化、吸收、趕超的路子,重點(diǎn)發(fā)展市場(chǎng)需求大的半導(dǎo)體適用技術(shù)和產(chǎn)品,通過(guò)技術(shù)改造、資本積累和市場(chǎng)開拓的互動(dòng)實(shí)現(xiàn)半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)水平的滾動(dòng)發(fā)展。9王彥指出中國(guó)半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)的發(fā)展與突破,人才是關(guān)鍵因素。目前我國(guó)半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)最缺乏的就是人才,

19、既包括技術(shù)人員,也包括半導(dǎo)體企業(yè)有經(jīng)驗(yàn)的中高階層主管。10半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)會(huì)在優(yōu)惠政策及便利的條件下朝著更快、更前的方向發(fā)展。三、關(guān)于半導(dǎo)材料的應(yīng)用及未來(lái)發(fā)展趨勢(shì)的研究InSb是一種具有閃鋅礦結(jié)構(gòu)的半導(dǎo)體材料,還材料具有較窄的禁寬度和較高的電子遷移率,被廣泛應(yīng)用于光電原件、磁阻元件及晶體管結(jié)之中。11光纖放大器是光纖通信發(fā)展三、關(guān)于半導(dǎo)材料的應(yīng)用及未來(lái)發(fā)展趨勢(shì)的研究InSb是一種具有閃鋅礦結(jié)構(gòu)的半導(dǎo)體材料,還材料具有較窄的禁寬度和較高的電子遷移率,被廣泛應(yīng)用于光電原件、磁阻元件及晶體管結(jié)之中。11光纖放大器是光纖通信發(fā)展史上的一個(gè)重要里程碑,它能夠延長(zhǎng)通信系統(tǒng)距離、擴(kuò)大用戶分配間的覆蓋范圍。而浙適波耦合半導(dǎo)體量子點(diǎn)光纖放大器將比傳統(tǒng)的光纖放大器更具有重要的實(shí)際意義和應(yīng)用價(jià)值。12鄭東梅指出GaN具有禁帶寬度大、熱導(dǎo)率高、電子飽和漂移速度大、臨界擊穿電壓高和介電常數(shù)小等特點(diǎn),在高亮度發(fā)光二極管、短波長(zhǎng)激光二極管、高性能紫外探測(cè)器和高溫、高頻、大功率半導(dǎo)體器件等領(lǐng)域有著廣泛的應(yīng)用前景。13硅材料仍將是制造集成電路的主要材料,硅半導(dǎo)體器件和集成電路仍將是大3生產(chǎn)的主流產(chǎn)品。適應(yīng)大直徑、細(xì)線條、銅工藝將成為半導(dǎo)體設(shè)備發(fā)展面臨

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