習(xí)題2014-超聲設(shè)備與器材

1、超聲檢測：超聲設(shè)備與器材29 由于水中只能傳播縱波，所以水浸探頭只能進(jìn)行縱波探傷.( )一、是非題1 超聲波探傷中，發(fā)射超聲波是利用正壓電效應(yīng)，接收超聲波是利用逆壓電效應(yīng).( )2增益lOOdB就是信號(hào)強(qiáng)度放大100倍.()3 與鋯鈦酸鉛想比，石英作為壓電材料有性能穩(wěn)定、機(jī)電藕合系數(shù)高、壓電轉(zhuǎn)換能量損失小等優(yōu)點(diǎn).( )4 與普通探頭相比，聚焦探頭的分辨力較高 .( )5 使用聚焦透鏡能提高靈敏度和分辨力，但減小了探測范圍.( )6 點(diǎn)聚焦探頭比線聚焦探頭靈敏度高 .(7 雙晶探頭只能用于縱波檢測 .( )8B 型顯示能夠展現(xiàn)工件內(nèi)缺陷的埋藏深度.( )9C型顯示能展現(xiàn)工件中缺陷的長度和寬度,但

2、不能展現(xiàn)深度.( )10通用AVG曲線采用的距離是以近場長度為單位的歸一化距離,適用于不同規(guī)格的探頭.(11在通用AVG曲線上，可直接查得缺陷的實(shí)際聲程和當(dāng)量尺寸.( )12A型顯示探傷儀，利用D.G.S曲線板可直觀顯示缺陷的當(dāng)量大小和缺陷深度.( )13 電磁超聲波探頭的優(yōu)點(diǎn)之一是換能效率高，靈敏度高.( )14 多通道探傷儀是由多個(gè)或多對(duì)探頭同時(shí)工作的探傷儀.( )15 探傷儀中的發(fā)射電路亦稱為觸發(fā)電路 .( )16 探傷儀中的發(fā)射電路亦可產(chǎn)生幾百伏到上千伏的電脈沖去激勵(lì)探頭晶片振動(dòng).( )17 探傷儀的掃描電路即為控制探頭在 工件探傷面上掃查的電路.( )18 探傷儀發(fā)射電路中的阻尼電阻

3、的阻值愈大，發(fā)射強(qiáng)度愈弱.(19調(diào)節(jié)探傷儀“深度細(xì)調(diào)”旋鈕時(shí)，可連續(xù)改變掃描線掃描速度.( )20 調(diào)節(jié)探傷儀“抑制”旋鈕時(shí)，抑制越大，儀器動(dòng)態(tài)范圍越大.( )21 調(diào)節(jié)探傷儀“延遲”按鈕時(shí)，掃描線上回波信號(hào)間的距離也將隨之改變.( )22 不同壓電晶體材料中聲速不一樣，因此不同壓電材料的頻率常數(shù)也不相同.( )23 不同壓電材料的頻率常數(shù)不一樣，因此用不同壓電材料制作的探頭其標(biāo)稱頻率不可能相同.( )24壓電晶片的壓電應(yīng)變常數(shù)(d 33)大,則說明該晶片接收性能好 .( )25壓電晶片的壓電電壓常數(shù) (g 33)大，則說明該晶片接收性能好.( )26 探頭中壓電晶片背面加吸收塊是為了提高機(jī)械

4、品質(zhì)因素Qm ，減少機(jī)械能損耗 .(27 工件表面比較粗糙時(shí)，為防止探頭磨損和保護(hù)晶片，宜選用硬保護(hù)膜 .( )28 斜探頭楔塊前部和上部開消聲槽的目的是使聲波反射回晶片處，減少聲能損失.(30 雙晶直探頭傾角越大，交點(diǎn)離探測面距離愈遠(yuǎn)，復(fù)蓋區(qū)愈大.( )31 有機(jī)玻璃聲透鏡水浸聚焦探頭，透鏡曲率半徑愈大，焦距愈大.( )32利用IIW試塊上e 50mn孔與兩側(cè)面的距離，僅能測定直探頭盲區(qū)的大致范圍.( )33 當(dāng)斜探頭對(duì)準(zhǔn) IIW 試塊上 R50 曲面時(shí)，熒光屏上的多次反射回波是等距離.( )34 中心切槽的半圓試塊，其反射特點(diǎn)是多次回波總是等距離出現(xiàn).( )35與IIW試塊相比CSK-1A

5、試塊的優(yōu)點(diǎn)之一是可以測定斜探頭分辨力.( )36 調(diào)節(jié)探傷儀的 “水平”旋鈕，將會(huì)改變儀器的水平線性 .( )37 測定儀器的“動(dòng)態(tài)范圍”時(shí)，應(yīng)將儀器的“抑制”、“深度補(bǔ)償”旋鈕置于關(guān)”的位置.( )10 影響儀器靈敏度的旋紐有（D）38 盲區(qū)與始波寬度是同一概念 .( )39 測定組合靈敏度時(shí)，可先調(diào)節(jié)儀器的“抑制”按鈕，使點(diǎn)噪聲電平W10%，再進(jìn)行測試.( )40 測定“始波寬度”時(shí)，應(yīng)將儀器的靈敏度調(diào)至最大.( )41 為提高分辨力，在滿足探傷靈敏度要求情況下，儀器的發(fā)射強(qiáng)度應(yīng)盡量調(diào)得低一些.(42 在數(shù)字化智能超聲波探傷儀中，脈沖重復(fù)頻率又稱為采樣頻率.( )43 雙晶探頭主要應(yīng)用于近

6、表面缺陷的探測 .( )44 溫度對(duì)斜探頭折射角有影響，當(dāng)溫度升高時(shí)，折射角將變大.(45 目前使用最廣泛的測厚儀是共振式測厚儀 .( )46在鋼中折射角為600的斜探頭，用于探測鋁時(shí)，其折射角將變大.(47“發(fā)射脈沖寬度”就是指發(fā)射脈沖的持續(xù)時(shí)間.( )48 軟保護(hù)膜探頭可減少粗糙表面對(duì)探傷的影響 .( )49 脈沖發(fā)射式和穿透式探傷，使用的探頭式同一類型、50 聲束指向角較小且聲束截面較窄的探頭稱作窄脈沖探頭.(是非題答案1 X2X3X4O5O6 O7X8O9O10O11 X12O13X14X15X16 O17X18X19O20X21 X22O23X24X25O26 X27X28X29X3

7、0X31 O32O33X34O35O36 X37O38X39X40X41 O42X43O44O45X46 X47O48O49X50X)C、缺陷回波的大小和超聲傳播的時(shí)間以上都是2 A 型掃描顯示， “盲區(qū)”是指（ C ）A近場區(qū)聲束擴(kuò)散角以外的區(qū)域C、始脈沖寬度和儀器阻塞恢復(fù)時(shí)間以上都是3 A 型掃描顯示中，熒光屏上垂直顯示大小表示（A超聲回波的幅度大小、缺陷的位置C、被探材料的厚度、超聲傳播時(shí)間4 A 型掃描顯示中，水平基線代表A超聲回波的幅度大小、探頭移動(dòng)距離C聲波傳播時(shí)間、缺陷尺寸大小脈沖反射式超聲波探傷儀中，產(chǎn)生觸發(fā)脈沖的電路單元叫做A.發(fā)射電路B .掃描電路C .同步電路顯示電路脈沖

8、反射式超聲波探傷儀中，產(chǎn)生時(shí)基線的電路單元叫做（A.掃描電路 B .觸發(fā)電路 C同步電路發(fā)射電路發(fā)射電路輸出的電脈沖，其電壓通?？蛇_(dá)（A）A幾百伏到上千伏B、幾十伏 C、幾伏1伏發(fā)射脈沖的持續(xù)時(shí)間叫（ AA始脈沖寬度、脈沖周期C 、脈沖振幅D 、以上都不是探頭上標(biāo)的2.5MHZ是指（B）A.重復(fù)頻率B .工作頻率C .觸發(fā)脈沖頻率以上都不對(duì)二、選擇題1 A 型掃描顯示中，從熒光屏上直接可獲得的信息是（缺陷的形狀和取向A缺陷的性質(zhì)和大小A.發(fā)射強(qiáng)度和增益旋鈕衰減器和抑制.以上都是C.深度補(bǔ)償11 儀器水平線性的好壞直接影響A缺陷性質(zhì)判斷.缺陷大小判斷12C缺陷的精確定位.以上都對(duì)儀器的垂直線性好

9、壞會(huì)影響A. 缺陷的當(dāng)量比較.AVG曲線面板的使用C.缺陷的定位以上都對(duì)13接受電路中，放大器輸入端接收的回波電壓約有（D）0.001 1 伏14同步電路每秒鐘產(chǎn)生的觸發(fā)脈沖數(shù)為（ B ）A.幾百伏B . 100伏左右 C . 10伏左右 DD 以上都不對(duì)15調(diào)節(jié)儀器面板上的“抑制”旋鈕會(huì)影響探傷儀的（D）A. 1 2個(gè) B數(shù)十個(gè)到數(shù)千個(gè)C 與工作頻率有同A.垂直線性B .動(dòng)態(tài)范圍 C .靈敏度D .以上全部16大器的不飽和信號(hào)高度與缺陷面積成比例的范圍叫做放大器的（B）A.靈敏度范圍B .線性范圍C .分辨力范圍 D .選擇性范圍17單晶片直探頭接觸法探傷中，與探測面十分接近的缺陷往往不能有

10、效地檢出，這是因?yàn)椋–）A.近場干擾B .材質(zhì)衰減C .盲區(qū) D .折射18同步電路的同步脈沖控制是指（D）A發(fā)射電路在單位時(shí)間內(nèi)重復(fù)發(fā)射脈沖次數(shù)19BCD掃描電路每秒鐘內(nèi)重復(fù)掃描次數(shù)探頭晶片在單位時(shí)間內(nèi)向工件重復(fù)輻射超聲波次數(shù)以上全部都是表示探傷儀與探頭組合性能的指標(biāo)有（ B ）A水平線性、垂直線性、衰減器精度A74dB 66dB 60dB 80dBB. 靈敏度余量、盲區(qū)、遠(yuǎn)場分辨力C. 動(dòng)態(tài)范圍、頻帶寬度、探測深度D.垂直極限、水平極限、重復(fù)頻率20使儀器得到滿幅顯示時(shí) 丫軸偏轉(zhuǎn)板工作電壓為 80V,現(xiàn)晶片接收到的缺陷信號(hào)電C）壓為40mv若要使此缺陷以 50%垂直幅度顯示，儀器放大器應(yīng)有

11、多大增益量？（21 脈沖反射式超聲波探傷儀同步脈沖的重復(fù)頻率決定著：A掃描長度 B .掃描速度 C .單位時(shí)間內(nèi)重復(fù)掃描次數(shù)D.鋸齒波電壓幅度A.晶片厚度的函數(shù)22 壓電晶片的基頻是： （ A ）施加的脈沖寬度的函數(shù)C.放大器放大特性的函數(shù)以上都不對(duì)23 探頭的分辨力： （ B ）A.與探頭晶片直徑成正比與頻帶寬度成正比C.與脈沖重復(fù)頻率成正比以上都不對(duì)24 當(dāng)激勵(lì)探頭的脈沖幅度增大時(shí)：A.儀器分辨力提高儀器分辨力降低，但超聲強(qiáng)度增大對(duì)試驗(yàn)無影響C.聲波穿透力降低25 探頭晶片背面加上阻尼塊會(huì)導(dǎo)致：A. Qm降低，靈敏度提高Qm 值增大，分辨力提高C. Qm值增大，盲區(qū)增大Qm 值降低，分辨力

12、提高A.應(yīng)減小阻尼塊26 為了從換能器獲得最高靈敏度：應(yīng)使用大直徑晶片C.應(yīng)使壓電晶片在它的共振基頻上激勵(lì)D 換能器頻帶寬度應(yīng)盡可能大27超聲試驗(yàn)系統(tǒng)的靈敏度: ( A )A.取決于探頭、高頻脈沖發(fā)生器和放大器B .取決于同步脈沖發(fā)生器282930313233343536C.取決于換能器機(jī)械阻尼D.隨分辨力提咼而提咼換能器尺寸不變而頻率提高時(shí)：A.橫向分辨力降低C.近場長度增大C)般探傷時(shí)不使用深度補(bǔ)償是因?yàn)樗鼤?huì)：A.影響缺陷的精確定位C.導(dǎo)致小缺陷漏檢晶片共振波長是晶片厚度的A. 2 倍已知 PZT-4 的頻率常數(shù)是A. 0.8mm.聲束擴(kuò)散角增大.指向性變鈍.影響AVG曲線或當(dāng)量定量法的使

13、用A). 1/2 倍.以上都不對(duì)2000m/s , 2.5MHz的PZT-4晶片厚度約為:. 1.25mm. 1.6mm在毛面或曲面工件上作直探頭探傷時(shí)，應(yīng)使用:A.硬保護(hù)膜直探頭C.大尺寸直探頭目前工業(yè)超聲波探傷使用較多的壓電材料是:A.石英.鈦酸鋇聯(lián)合雙直探頭的最主要用途是:A.探測近表面缺陷C.精確測定缺陷高度. 0.4mm.軟保護(hù)膜直探頭.高頻直探頭C).鋯鈦酸鉛.硫酸鋰.精確測定缺陷長度.用于表面缺陷探傷超聲波探傷儀的探頭晶片用的是下面哪種材料:A.導(dǎo)電材料B .磁致伸縮材料面哪種材料最適宜做高溫探頭:()C .壓電材料D .磁性材料373839404142434445A.石英硫酸鋰

14、.鋯鈦酸鉛.鈮酸鋰面哪種壓電材料最適宜制作高分辨率探頭：A.石英.鋯鈦酸鉛下列壓電晶體中哪一種做高頻探頭較為適宜（A.鈦酸鋇(Q=5470m/s)C. PZT( CL=4400m/s)表示壓電晶體發(fā)射性能的參數(shù)是（A.壓電電壓常數(shù)g33C.壓電應(yīng)變常數(shù)d33.偏鈮酸鉛.鈦酸鋇C)以下關(guān)于爬波探頭的敘述，哪一條是錯(cuò)誤的（A.爬波探頭的外形和結(jié)構(gòu)與橫波斜探頭類似.鈦酸鋰（ CL=7400m/s）.鈦酸鉛( CL=4200m/s).機(jī)電耦合系數(shù) K.以上全部B.當(dāng)縱波入射角大于或等于第二臨界角時(shí)，在第二介質(zhì)中產(chǎn)生爬波C.爬波用于探測表層缺陷D.爬波探測的深度范圍與頻率f和晶片直徑D有關(guān)窄脈沖探頭和普

15、通探頭相比（D）A. Q值較小.靈敏度較低.頻帶較寬.以上全部采用聲透鏡方式制作聚焦探頭時(shí)，設(shè)透鏡材料為介質(zhì)1，欲使聲束在介質(zhì)2 中聚焦，選用平凹透鏡的條件是A. Z1>Z2B. C1<C2C. C1>C2D. Z1<Z探頭軟保護(hù)膜和硬保護(hù)膜相比，突出優(yōu)點(diǎn)是（A透聲性能好B .材質(zhì)衰減小C.有利消除耦合差異.以上全部以下哪一條，不屬于數(shù)字化智能超聲波探傷儀的優(yōu)點(diǎn)A檢測精度高，定位定量準(zhǔn)C.可記錄存儲(chǔ)信號(hào)以下哪一條，不屬于雙晶探頭的優(yōu)點(diǎn)（A.探測范圍大B .盲區(qū)小A)B).頻帶寬，脈沖窄.儀器有計(jì)算和自檢功能.工件中近場長度小.雜波少46以下哪一條，不屬于雙晶探頭的性能指

16、標(biāo)（D）47484950A.工作頻率晶片尺寸斜探頭前沿長度和 K 值測定的幾種發(fā)放中，A.半圓試法和橫孔法B 雙孔法超聲探傷系統(tǒng)區(qū)別相鄰兩缺陷的能力稱為：A.檢測靈敏度B .時(shí)基線性C .探測深度哪種方法精度最高：.直角邊法 D .C .垂直線性A ）、.近場長度不一定，須視具體情況而定D .分辨力用以標(biāo)定或測試超聲探傷系統(tǒng)的，含有模擬缺陷的人工反射體的金屬塊叫：A.晶體準(zhǔn)直器B .測角器C .參考試塊 D .工件對(duì)超聲探傷試塊材質(zhì)的基本要求是： （ D ）C）A.其聲速與波探工件聲速基本一致B. 材料中沒有超過2mn平底孔當(dāng)量的缺陷C. 材料衰減不太大且均勻D ）相同D. 以上都是A.長橫孔

17、B.平底孔C.球孔D.以上B和選擇題答案1 C2 C3 A4 C5 C6 A7 A8 A9 B10 D11 C12 A13 D14 B15 D16 B17 C18 D19 B20 C21 C22 A23 B24 B25 D26 C27 A28 C29 B30 A31 A32 B33 C34 A35 C36 D37 C38 B39 C40 B41 D42 C43 C44 B45 A51 CSK- n A試塊上的1 X 6橫孔，在超聲遠(yuǎn)場，其反射波高隨聲程的變化規(guī)律與C46 D47 A48 D49 C50 D51 D三、簡答題簡述超聲波探傷儀中同步電路的作用？超聲波探傷儀中發(fā)射電路中的阻尼電阻有什

18、么作用？超聲波探傷儀的接收電路由哪幾部分組成？“抑制”旋鈕有什么作用？什么是壓電晶體？舉例說明壓電晶體分為幾類？何謂壓電材料的居里點(diǎn)？哪些情況要考慮它的影響？探頭保護(hù)膜的作用是什么？對(duì)它有哪些要求？聲束聚焦有什么優(yōu)點(diǎn)？簡述聚焦探頭的聚焦方法和聚焦形式？超聲波探傷儀主要性能指標(biāo)有哪些？簡述超聲探傷系統(tǒng)主要性能指標(biāo)有哪些？10窄脈沖超聲場有哪些特點(diǎn)？11對(duì)超聲波探傷所用探頭的晶片材料有哪些要求12什么是試塊？試塊的主要作用是什么？13試塊有哪幾種分類方法？我國常用的試塊有哪幾種？14 試塊應(yīng)滿足哪些基本要求？使用試塊時(shí)應(yīng)注意什么？15 我國的 CSK-IA 試塊與 IIW 試塊有何不同 ?德國和日

19、本對(duì) IIW 試塊作了哪些修改？16 超聲波探傷儀和探頭的主要性能指標(biāo)有哪些？ 簡答題答案1 答：同步電路又稱觸發(fā)電路，它每秒鐘產(chǎn)生數(shù)十至數(shù)千個(gè)脈沖，觸發(fā)探傷儀的掃描電路，發(fā)射電路等，使之 不掉一致，有條不紊地工作，因襲，同步電路是真?zhèn)€探傷儀的指揮“中樞”2 答：改變阻尼電阻 R0 的阻值可改變發(fā)射強(qiáng)度，阻值大發(fā)射強(qiáng)度高，發(fā)射的聲能多，阻尼電阻阻值小，則發(fā) 射強(qiáng)度低。但改變 R0 阻值也會(huì)改變探頭電阻尼的大小，影響探頭分辨力。3 答：（ 1）接收電路由衰減器，射頻放大器，檢波器和視頻放大器等幾部分組成。2）調(diào)節(jié)“抑制按鈕”可使低于某一電平的信號(hào)在熒光屏上不予顯示，從而減少熒光屏上的雜波。但使用

20、“抑制”時(shí)，儀器的垂直線性和動(dòng)態(tài)范圍均會(huì)下降。4 答：（ 1）某些晶體受到拉力或壓力產(chǎn)生變形時(shí)，產(chǎn)生交變電場的效應(yīng)稱為正壓電效應(yīng)。在電場的作用下，晶體發(fā)生彈性形變的現(xiàn)象，稱為逆壓電效應(yīng)。正、逆壓電效應(yīng)統(tǒng)稱為壓電效應(yīng)。能夠產(chǎn)生壓電效應(yīng)的俄材料稱為壓電材料。由于它們多為非金屬電介質(zhì)晶體結(jié)構(gòu)，故又稱為壓電晶體。2）壓電晶體分為：單晶體：如硫酸鋰、磺酸鋰、鈮酸鋰等。多晶體：如鈦酸鋇、鈦酸鉛 ,鋯鈦酸鉛（ PZT ）等。5 答：（ 1）當(dāng)壓電材料的溫度達(dá)到一定值后，雅典效應(yīng)會(huì)自行消失，稱該溫度值為材料的居里溫度或居里點(diǎn)，用 Te 表示。同一壓電晶體有不同的 上居局里溫度和下居里溫度。不同的壓電晶體，居里

21、溫度也不一樣。2）對(duì)高溫工作進(jìn)行探傷時(shí)，應(yīng)選用上居里點(diǎn)較高的壓電晶片制作探頭。在寒冷地區(qū)探傷時(shí)，應(yīng)選用下居里點(diǎn)較低的壓電晶片做探頭。6 答：（ 1）保護(hù)膜加于探頭壓電晶片的前面，作用是保護(hù)壓電晶片和電極，防止其磨損和碰壞。2）對(duì)保護(hù)膜的要求是：耐磨性好，強(qiáng)度高，材質(zhì)衰減小，聲透性好，厚度合適。7 答：（ 1）聚焦的聲束，聲能更為集中，中心軸線上的聲壓增強(qiáng)，同時(shí)可改善聲束指向性，對(duì)提高探傷靈敏度，分辨力和信噪比均為有利。曲面晶片直接聚焦2）聚焦方法： 采用聲透鏡片聚焦3）聚焦形式：點(diǎn)聚焦和線聚焦。8 答：探傷儀性能是指僅與儀器有關(guān)的性能，主要有水平線性，垂直線性和動(dòng)態(tài)范圍等。1）水平線性：也稱時(shí)

22、基線性或掃描線性，是指探傷儀掃描線上顯示的反射波距離與反射體距離成正比的程度。水平線性的好壞以水平線性誤差表示。2）垂直線性：也稱放大線性或幅度線性，是指探傷儀熒光屏上反射波高度與接收信號(hào)電壓成正比的程度。垂直線性的好壞以垂直線性誤差表示。3）動(dòng)態(tài)范圍：是探傷儀熒光屏上反射波高從滿幅（垂直刻度100%）降至消失時(shí)（最小可辨認(rèn)值）儀器衰減器的變化范圍。以儀器的衰減器調(diào)節(jié)量（ dB 數(shù)）表示。9 答：系統(tǒng)性能是儀器，電纜、探頭特性的綜合反映，即探傷儀和探頭的組合性能，主要有信噪比，靈敏度余量，始波寬度，盲區(qū)和分辨力。1）信噪比：是探傷儀熒光屏上界面反射波幅與最大雜波幅度之比。以dB 數(shù)表示。2）靈

23、敏度余量：也稱綜合靈敏度。是指探測一定深度和尺寸的反射體，當(dāng)其反射波高調(diào)到熒光屏指定高度時(shí)，探傷儀剩余的放大能力。以此時(shí)衰減器的讀數(shù)（ dB 值表示）。3）始波寬度：也稱始波占寬，它是指發(fā)射脈沖的持續(xù)時(shí)間，通常以一定靈敏度條件下，熒光屏水平“0”刻度至始波后沿與垂直刻度 20%線交點(diǎn)間的距離所相當(dāng)?shù)穆暡ㄔ诓牧现袀鞑ゾ嚯x來表示。4）盲區(qū)：是探測面附近不能彈出缺陷的區(qū)域。以探測面到能夠探出缺陷的最小距離表示。6mm 或 9mm 的兩個(gè)反射面反射波幅相等時(shí)，波峰與波谷比值的dB 數(shù)表示。10 答：一般以脈沖持續(xù)時(shí)間的長短來區(qū)分脈沖的寬窄。按付里葉級(jí)數(shù)將脈沖波展開， 窄脈沖包含的諧波頻率寬5）分辨力：

24、是在探傷儀熒光屏上能夠把兩個(gè)相鄰缺陷作為兩個(gè)反射信號(hào)區(qū)別出來的能力。分辨力可分為縱向分辨力和橫向分辨力。通常所說的分辨力是指縱向分辨力。一般以相距因此窄脈沖又為寬頻譜脈沖，其特點(diǎn)是：1）因脈沖持續(xù)時(shí)間短，故縱向（距離）分辨率高。2）橫向分辨率主要是由聲束擴(kuò)散角決定，而窄脈沖的最大聲束擴(kuò)散角由它所含最低頻率成分決定，故中心頻率相同的窄脈沖比寬脈沖聲束擴(kuò)散角大，即窄脈沖的橫向分辨率較寬脈沖低。3）脈沖所含的各諧波成份都有自己的近場、遠(yuǎn)場和聲壓分布規(guī)律。高頻成份的近場長、低頻成分的近場短，由于窄脈沖所含的頻率范圍寬，在近場區(qū)，不同頻率諧波聲壓迭加，各峰值互相抵消，使近場區(qū)距離振幅 曲線變得平滑，減小

25、了干涉現(xiàn)象所造成的影響。4）超聲波探傷時(shí)，入射波與回波有時(shí)回產(chǎn)生干涉，從而影響探傷靈敏度和準(zhǔn)確性。采用窄脈沖有利于消除干涉，提高信噪比。5）窄脈沖所含頻譜寬，有利于開展頻譜分析技術(shù)。6）產(chǎn)生窄脈沖需要使用高阻尼探頭，并需用很窄的電脈沖激勵(lì)，因此窄脈沖的探測靈敏度較低。11 答：對(duì)晶片材料一般有以下要求：（1）材料厚度機(jī)電耦合系數(shù)Kt要大，徑向機(jī)電耦合系數(shù)Kp要小，即Kt/ Kp值要大，從而獲得較高的轉(zhuǎn)換頻率，有利于提高探測靈敏度和信噪比。2）材料機(jī)械品質(zhì)因數(shù)宜小一些，使晶片在激勵(lì)后能很快回到靜止?fàn)顟B(tài)，使聲脈沖持續(xù)時(shí)間盡可能短，有利于提高縱向分辨力，減小盲區(qū)。3）晶片激勵(lì)后所產(chǎn)生的聲脈沖應(yīng)具有良

26、好的波形，其頻譜包絡(luò)線應(yīng)接近于高斯曲線，有利于改善近場區(qū)4）的聲壓分布。晶片材料與被檢材料聲阻抗應(yīng)盡量接近，在水浸探傷時(shí)，晶片材料與水的聲阻抗應(yīng)盡量接近，以利于 阻抗匹配。對(duì)一發(fā)一收的探頭，應(yīng)選擇壓電發(fā)射系數(shù)d33大的材料做發(fā)射晶片，選擇壓電接收系數(shù)g33大的材料做接收晶片。6）高溫探傷應(yīng)選擇居里點(diǎn)高的材料做晶片。7）制造大尺寸探頭應(yīng)選擇介電常數(shù)小的材料做晶片。12 答 :按一定用途設(shè)計(jì)制作的具有簡單幾何形狀人工反射體的試樣，通常稱為試塊，試塊和儀器、探頭一樣，是超聲波探傷中的重要工具。其主要作用是：1.確定探傷靈敏度，在超聲探傷前常用試塊的某一特定的人工反射體來調(diào)整探傷靈敏度。 2.測試儀器

27、和探頭的性能，超聲波探傷儀和探頭一些重要性能，如放大線性、水平線性、動(dòng)態(tài)范圍、靈敏度余量、分辨力、盲區(qū)、探頭的入射點(diǎn)、K 值等都是利用試塊來測試的。3.調(diào)整掃描速度，利用試塊可以調(diào)整儀器示波屏上水平刻度值與實(shí)際聲程之間的比例關(guān)系即掃描速度，以便對(duì)缺陷進(jìn)行定位。4.評(píng)定缺陷的大小，利用某些試塊繪出的距離一波幅一當(dāng)量曲線（即實(shí)用AVG）來對(duì)缺陷定量，是目前常用的定量方法之一。13答：（1）按試塊的來歷分：（a）標(biāo)準(zhǔn)試塊。是由權(quán)威機(jī)構(gòu)制定的試塊，試塊的材質(zhì)、形狀、尺寸及表面狀態(tài)都有權(quán)威部門統(tǒng)一規(guī)定。如國際焊接學(xué)會(huì)IIW試塊和IIW2試塊。（b）參考試塊。是由各部門按某些具體探傷對(duì)象制定的試塊，如 C

28、S1， CSK IIA 試塊等。（2）按試塊上人工反射體分：（a）平底孔試塊，一般平底孔試塊上加工有底面為平面的平底孔，如CS 1、cs 2試塊。（b）橫孔試塊。橫孔試塊上加工有與探測面平行的長橫孔或短橫孔，焊縫探傷中CSKIIA (長橫孔）和CSK IIIA （短橫孔）試塊。（C）槽形試塊。槽形試塊上加工有三角尖槽或矩形槽，如無縫鋼管探傷中所有的試塊，內(nèi)、外圓表面就加工有三角尖槽。我國常有的試塊有：（1） 機(jī)械部頒布的平底孔標(biāo)準(zhǔn)試塊，CS 1和CS2試塊。（2）壓力容器無損檢測 JB4730 94規(guī)定的試塊，CSK IA、CSK IIA、CSK IIIA、階梯形試塊等。14 答：試塊材質(zhì)要均

29、勻，內(nèi)部雜質(zhì)少，無影響使用的缺陷。加工容易，不易變形和腐蝕，具有良好的聲學(xué)性能。試塊的平行度、垂直度、光潔度和尺寸精度都要符合一定的要求。使用試塊時(shí)要注意：試塊要在適當(dāng)部位編號(hào)，以防混淆。試塊在使用和搬運(yùn)過程中應(yīng)注意保護(hù)，防止碰傷或擦傷。使用試塊時(shí)應(yīng)注意清除反射體內(nèi)的有無和銹蝕。4)注意防止試塊銹蝕。注意防止試塊變形。平板試塊盡可能立放，防止重壓。15 答：我國的 csKIA 試塊是在 IIW 試塊基礎(chǔ)上改進(jìn)后得到的。主要改進(jìn)有：1 ）將直孔 50 改為 50 、44、40臺(tái)階孔，以便于測定橫波斜探頭的分辨力。2）將 R100 改為 R100、R50 階梯圓弧，以便于調(diào)整橫波掃描速度和探測范圍

30、。K 值。3）將試塊標(biāo)定的折射角改為K 值（ K tg ），從而可直接測出橫波斜探頭的德國和日本，在 R100圓心處兩側(cè)加開寬為 0.5，深為2的溝槽，皆宜獲得 R100圓弧面的多次反射，克服了 IIW試塊調(diào)整橫波探測范圍和掃描速度不便的特點(diǎn)。16 答：超聲波探傷儀的主要性能指標(biāo)有：1）垂直線性：是指儀器示波屏上波高與探頭接受信號(hào)之間成正比的程度，垂直線性的好壞影響缺陷定量精度。2）水平線性：是指儀器示波屏上時(shí)基線顯示的水平刻度值與實(shí)際聲程之間成正比的程度，或者說是示波屏上多次底波等距離的程度，水平線性的好壞以水平線性誤差來表示。（3）動(dòng)態(tài)范圍：是指示波屏容納信號(hào)大小的能力，將滿幅度100%某波高用 衰減器 衰減到剛能識(shí)別的最小值所需要衰減的分貝值就是儀器的動(dòng)態(tài)范圍，以儀器的dB 數(shù)來表示。探頭的主要性能指標(biāo)有：斜探頭的入射點(diǎn)，是指其主聲束軸線與探測面的交點(diǎn)，入射點(diǎn)至探頭前沿的距離稱為探頭前沿長度，測定入射點(diǎn)和前沿長度是為了便于