試験申請書重復(fù)部分

1、Page 10 of 10DUT technical sheetu 試験申請書重複部分、記入願致。u 下記內(nèi)容試験成績書記載、內(nèi)容逸脫記入願。u 希望試験成績書書式和文日本語記入願。英文英語記入願。（日本語記載弊社英文変換行、御社語句、理解、考方違出可能性、英語記入願致。）1. 確認(rèn)事項(xiàng)適応規(guī)格名年度記入。Ford Motor Company EMC standard: ES-XW7T-A278-AC October 10, 2003注意上記規(guī)格修正文章數(shù)回発行。內(nèi)容確認(rèn)済？供試裝置、記入。Functional Inportance Classification:：Class A：Class

2、B：Class CElectronic module category:：AM：R：BM：P：A：AS：EM：AX：AY供試裝置情報記入願。Test Plan Tracking Number納入先承認(rèn)記入。Test Plan Approval Date承認(rèn)日記入。供試裝置名(Device Name): 商標(biāo)名(Trade Name) : 番號(Model Number): 番號(Serial Number): , , 試験種類(Type of test):Product Validation(製品検証) Design Validation(試作検証)Test Plan Tracking Num

3、ber:Test Plan Approval Date:試験目的:Validation(検証) Development purpose(開発目的)実施試験項(xiàng)目及詳細(xì)記入願。試験項(xiàng)目詳細(xì) RE310: Radiated RF Emissions適応限度値 Limit A Limit B適応Band# EU G NA JA CE420: Conducted RF Emissions適応Band# EU G JA CE410: Conducted Transient Emissions RI112: RF Immunity Bulk Current Injection試験 Level1 Level2

4、 RI114: RF Immunity ALSE Method試験 Level1 Level2 RI114: RF Immunity ALSE Method (Band6, 7)試験電界強(qiáng)度 600V/m 300V/m RI140: Magnetic Field Immunity RI130: Coupled Immunity RI150: Coupled Immunity CI210:Immunity from Continuous Disturbances試験 Level 1 Level 2 CI220: Immunity from Transient Disturbances試験 A1

5、A2 B1 B2 C D E F G G(CLD) CI230: Immunity to Power Cycling試験波形 A B C D CI250: Immunity to Voltage Offset CI260: Immunity to Voltage Dropout試験波形 A B C D E F CI270: Immunity to Voltage Overstress試験電圧 -14V 19V 24V CI280: Electro Static Discharge試験 Handling test Powered test試験電圧 Handling時 4kV 6kV 8kVPow

6、ered時 Air 4kV 6kV 8kV 15kV 25kV Contact 4kV 6kV 8kVKansai Electronic Industry Development CenterKEC-G103供試裝置確認(rèn)事項(xiàng)(試験成績書転記正確記入願)內(nèi)容逸脫注意。(1) Over View試験成績書記載項(xiàng)目 供試裝置概要記入。Over View(2) Serial Number試験成績書記載項(xiàng)目 Serial Number供試裝置番號記入。 Applicable test対試験項(xiàng)目記入。全試験適応場合All tests 記入。Test Sample No.Serial NumberAppli

7、cable TestNo.1No.2(3) Software Version試験成績書記載項(xiàng)目 Item供試裝置內(nèi)機(jī)能記入 Version NumberItem対記入。ItemVersion Number(4) List of Connector in DUT試験成績書記載項(xiàng)目 Connector Name供試裝置繋名稱記入。 Pin Name各名稱記入。 Function各役割記入。 Notes補(bǔ)足記入。Connector No.Connector NamePin NameFunctionNotesC1C2(5) List of Wiring Harness試験成績書記載項(xiàng)目 Harness

8、 Name名稱記入。 Shielded(Y/N)有無記入。 Length指定長記入。指定下表規(guī)格內(nèi)長試験実施。 Applicable Tests下記使用試験項(xiàng)目記入。 Notes補(bǔ)足記入。（試験twist記載。）規(guī)格長(試供裝置LISN及)規(guī)定試験項(xiàng)目長(m)他共通1.72.0RE3101.72.0CE420電源-LISN間長0.2-0.25電源線以外1.7-2.0CE410電源-LISN間長0.2-0.25電源線以外1.7-2.0RI1121.72.0RI1141.72.0RI140項(xiàng)目內(nèi)規(guī)定RI1302.0RI1502.0CI2102.0以下CI2202.0以下CI2302.0以下CI25

9、02.0以下CI2602.0以下CI270項(xiàng)目內(nèi)規(guī)定CI2801.72.0HarnessNoHarness NameShielded(Y/N)Length(m)Applicable TestsNotesH1H2(6) List of DUT System試験成績書記載項(xiàng)目 Device Name裝置名稱記入。 Model Number裝置番號記入。 Trade Name裝置商標(biāo)名記入。 Applicable Tests下記裝置使用試験項(xiàng)目記入。Peripheral NoDevice NameModel NumberTrade NameApplicable TestsA1A2A3(7) Diag

10、ram of DUT System試験成績書記載項(xiàng)目參考図 上記図中A1,A2、 C1,C2, H1,H2詳細(xì)項(xiàng)目(3), (4), (5)関連記入。Test Mode試験成績書記載項(xiàng)目 Test Mode 試験記入。 Applicable Tests下記適応試験項(xiàng)目記入Mode No.Test ModeApplicable Tests12Operation of DUT System試験成績書記載項(xiàng)目 Method of Operation上記設(shè)定方法及、試験中供試品動作內(nèi)容記入。Mode No.Method of Operation12Monitored item for immunity

11、 tests試験成績書記載項(xiàng)目 Monitored item for immunity tests試験各動作項(xiàng)目方法記入。Mode No.Monitored ItemMonitored method1Performance Status for Immunity Tests試験成績書記載項(xiàng)目 Performance Status判定基準(zhǔn)。下記文章Ford ES-XW7T-1A278-AC一般判定基準(zhǔn)。PerformanceStatusCommentsIThe function shall operate as designed (or meet specified limits) during

12、 and after exposure to a disturbance. 和訳：妨害受間、及妨害後設(shè)計(指定範(fàn)囲)、機(jī)能作動。IIThe function may deviate from designed performance, to a specified level, during exposure to a disturbance or revert to a fail-safe mode of operation, but shall return to normal immediately following removal of the disturbance. No eff

13、ect on permanent or temporary memory is allowed (see fail-safe mode). 和訳：妨害受間、計畫的実行指定、反、戻、妨害後設(shè)計（指定範(fàn)囲）、機(jī)能作動。永久一時記憶裝置対影響許可(參照)。IIIThe function may deviate from designed performance during exposure to a disturbance but shall not affect safe operation of the vehicle or safety of its occupants. Operator

14、action may be required to return the function to normal after the disturbance is removed (e.g. cycle ignition key, replace fuse). No effect on permanent type memory is allowed. 和訳：機(jī)能、妨害接觸間計畫的実行反、自動車安全機(jī)能、運(yùn)転手安全性影響。機(jī)能返要求。妨害後正常動作(例點(diǎn)火、交換)。永久対影響許可。IVThe device shall not sustain damage, changes in I/O para

15、metric values (resistance, capacitance, leakage current etc.) or a permanent reduction in functionality 和訳：裝置損害受。I/O値(抵抗、漏出流)変化機(jī)能性永久的変化。 上記判定基準(zhǔn)基供試裝置固有判定方法許容範(fàn)囲詳細(xì)記入。試験成績書記載項(xiàng)目 內(nèi)容逸脫記入願。Conformity item of DUTPerformanceStatusConformity item of DUTIIIIIIIV補(bǔ)足及、各試験項(xiàng)目確認(rèn)事項(xiàng)日本語記入。內(nèi)容逸脫記入願。(1) 供試裝置接地方法 供試裝置接地際、以下

16、方法。例）50mm絶縁物上接地。例）上直接接地。例）50mm絶縁物上設(shè)置、使用接地。 供試裝置接地不明確場合規(guī)格通試験。接地方法不明確場合（接地場合、接地場合）両方條件試験実施試験項(xiàng)目。（試験項(xiàng)目：CE420, CI280）項(xiàng)目接地方法(2) 試験時各周波數(shù)照射時間記入。：試験有：試験無 上記停留時間各周波數(shù)合否判定時間。供試裝置動作確認(rèn)時間記入。項(xiàng)目停留時間(sec)赤文字規(guī)格定最少時間。RI112RI114RI1305secRI1502secRI140CI210CI2502sec(3) 試験結(jié)果記載情報記入。 例）波形、電圧値 例）RI112, RI114, RI140試験場合、試験中不具

17、合出場合閾値測定必要？項(xiàng)目記載必要事項(xiàng)(4) 試験時周波數(shù)記入。規(guī)格通“規(guī)格通”入。規(guī)格內(nèi)條件下表參照。：試験有：試験無：規(guī)格通：規(guī)格外周波數(shù)範(fàn)囲規(guī)格內(nèi)周波數(shù)規(guī)格外周波數(shù)50-100Hz10Hz100-1000Hz20Hz1000-10000Hz500Hz1-30MHz0.5MHz30-200MHz2MHz200-400MHz5MHz400-1000MHz10MHz1000-2000MHz20MHz2700-3100MHz40MHz(5) RE310、RI114(X軸、Y軸、Z軸合計3軸)試験実施記入下。：試験有：試験無 試験方向決場合決方向試験行。 寫真図試験軸説明。 規(guī)格、RE310試験1

18、軸実施、RI114試験1000MHz以上3軸方向?qū)g施定義。項(xiàng)目試験軸軸RE310X軸Y軸N/AZ軸N/ARI114X軸Y軸Z軸(6) CE420試験場合、測定名記入。：試験有：試験無 複數(shù)電源場合、試験個別行、同時行記入電源試験対象名LINE- LINE(7) CE410試験場合、測定対象名記入。：試験有：試験無 複數(shù)電源場合、試験個別行、一緒行記入測定対象名 試験使用指定用意？：用意：用意場合弊社使用。（指定異。）(8) RI112試験場合、規(guī)格外要求記入。規(guī)格通“規(guī)格通”入。規(guī)格內(nèi)條件下表參照。：試験有：試験無：規(guī)格通：規(guī)格外規(guī)格外要求規(guī)格內(nèi)條件周波數(shù)範(fàn)囲(MHz)(mm)方法1-30150DBCI1-30450DBCI30-400CBCI30-400750CBCI(9) RI130, RI150試験場合、試験適応名稱記入。：試験有：試験無注意：適用全長2000mm加工下。注意：規(guī)格線線以下示規(guī)格合致加工準(zhǔn)備下。、別方式（具體的、）承認(rèn)、別方式実施承認(rèn)得納入先文書、別方式実施。事前納入先協(xié)議、検討願。Harness NoHarness NameH1H2(10) RI140試験場合、印加軸