射線檢測B級和AB級的區(qū)別

1、一、標準中涉及檢測技術級別的條款在JB/T4730.2-2005標準中，規(guī)定了射線檢測分為三級：A級低靈敏度技術；AB級中靈敏度技術；B級高靈敏度技術。在標準中涉及檢測技術級別的條款概括起來有以下9條：1、第3.8條：射線檢測技術等級選擇；2、第3.2.2條：不同檢測技術級別選擇膠片的規(guī)定；3、第3.5條：不同檢測技術級別選擇增感屏的規(guī)定；4、第條：不同檢測技術級別對透照厚度比K的規(guī)定；5、第條：不同檢測技術級別對射線源的透照厚度范圍的規(guī)定；6、第條：不同檢測技術級別對射線源至工件表面的最小距離的規(guī)定；7、第條：不同檢測技術級別對X射線照相最小曝光量的規(guī)定；8、第條：不同檢測技術級別對底片黑度

2、D的規(guī)定；9、第條：不同檢測技術級別對底片的像質計靈敏度的規(guī)定。二、射線檢測技術等級的選擇JB/T4730.2-2005標準第3.8條就有關射線檢測技術等級選擇的規(guī)定如下：3.8.1 射線檢測技術等級選擇應符合制造、安裝、在用等有關標準及設計圖樣規(guī)定。承壓設備對接焊接接頭的制造、安裝、在用時的射線檢測，一般應采用AB級射線檢測技術進行檢測。對重要設備、結構、特殊材料和特殊焊接工藝制作的對接焊接接頭，可采用B級技術進行檢測。 由于結構、環(huán)境條件、射線設備等方面限制，檢測的某些條件不能滿足AB級（或B級）射線檢測技術的要求時，經(jīng)檢測方技術負責人批準，在采取有效補償措施（例如選用更高類別的膠片）的前

3、提下，若底片的像質計靈敏度達到AB級（或B級）射線檢測技術的規(guī)定，則可認為按AB級（或B級）射線檢測技術進行了檢測。 承壓設備在用檢測中，由于結構、環(huán)境、射線設備等方面的限制，檢測的某些條件不能滿足AB級射線檢測技術的要求時，經(jīng)檢測方技術負責人批準，在采取有效補償措施（例如選用更高類別的膠片）后可采用A級技術進行射線檢測，但應同時采用其他無損檢測方法進行補充檢測。由于A級檢測技術屬于低靈敏度級別，一般不用于石油化工承壓設備的射線檢測，所以本文只討論B級檢測技術與AB級檢測技術的區(qū)別。三、不同檢測技術級別選擇膠片的規(guī)定JB/T4730.2-2005標準第條就有關不同檢測技術級別選擇膠片的規(guī)定如下

4、：3.2.2 A級和AB級射線檢測技術應采用T3類或更高類別的膠片，B級射線檢測技術應采用T2類或更高類別的膠片。膠片的本底灰霧度應不大于0.3。由上條規(guī)定可知，AB級射線檢測技術應采用AGFA-C7（或其他T3類）膠片，B級射線檢測技術應采用AGFA-C4（或其他T2類）膠片。由于T2類膠片感光乳劑粒度和感光速度比T3類膠片低，而膠片平均梯度和梯噪比比T3類膠片高，這些都有利于提高射線底片的靈敏度。所以B級檢測技術比AB級檢測技術在膠片選取方面考慮了提高靈敏度的因素。在同等條件下，使用T2類膠片的曝光時間一般是使用T3類膠片時的3倍以上，所以對檢測設備的性能要求較高，檢測效率下降，檢測成本提

5、高。而且T2類膠片比T3類膠片價格高的多，對檢測成本的提高顯而易見。四、不同檢測技術級別選擇增感屏的規(guī)定JB/T4730.2-2005標準第3.5條就有關不同檢測技術級別選擇增感屏的規(guī)定如下：射線檢測一般應使用金屬增感屏或不用增感屏。增感屏的選用應符合表1的規(guī)定。由上表可知，JB/T4730.2-2005標準B級和AB級檢測技術對常用低能X射線和Se-75、Ir-192放射源的增感屏要求是相同的。五、不同檢測技術級別對透照厚度比K的規(guī)定JB/T4730.2-2005標準第條就有關不同檢測技術級別對透照厚度比K的規(guī)定如下：由上表可知，無論是縱向焊接接頭還是環(huán)向焊接接頭，B級檢測的透照厚度比K都比

6、AB級檢測的小?？刂仆刚蘸穸缺菿主要是為了控制裂紋檢出角，K值越小，裂紋和根部未熔合的檢出率就越高。所以B級檢測比AB級檢測有更高的裂紋和根部未熔合的檢出率。透照厚度比K越小，透照次數(shù)越多，檢測效率越低。六、不同檢測技術級別對射線源的透照厚度范圍的規(guī)定JB/T4730.2-2005標準第4.2.2條就有關不同檢測技術級別對射線源的透照厚度范圍的規(guī)定如下：4.2.2 射線源和高能X射線適用的透照厚度范圍應符合表4的規(guī)定。采用源在內中心透照方式，在保證像質計靈敏度達到要求的前提下，允許射線最小透照厚度取表4下限值的1/2。采用其他透照方式，在采取有效補償措施并保證像質計靈敏度達到要求的前提下，經(jīng)合

7、同各方同意，A級、AB級技術的Ir-192源的最小透照厚度可降至10mm，Se-75源的最小透照厚度可降至5mm。由于Co-60和高能X射線在石油化工的現(xiàn)場檢測的運用比較少，所以只分析Se-75源和Ir-192源B級檢測和AB級檢測的不同之處。由上表可知，對Se-75和Ir-192源B級檢測比AB級檢測的透照厚度范圍小。這是因為相比于同等能量的X射線，射線的線質較硬，對比度、清晰度、顆粒度都比X射線差，控制透照厚度下限值是為了保證小缺陷的檢出率。由于B級檢測采用感光度低的細粒膠片，所以曝光時間相對較長，但過長的的曝光時間，使底片灰霧增加，對檢測靈敏度不利，所以對Ir-192源B級檢測的透照厚度

8、上限值比AB級檢測小。采用其他透照方式時，B級檢測的透照厚度下限值不允許降低，而AB級檢測允許降低，表示B級檢測比AB級檢測對透照厚度的下限值控制更為嚴格。B級檢測時，各種射線源的透照范圍變小，在很多情況下，不得不使用X射線透照，檢測效率下降，檢測成本增加。七、不同檢測技術級別對射線源至工件表面的最小距離的規(guī)定JB/T4730.2-2005標準第條就有關不同檢測技術級別對射線源至工件表面的最小距離的規(guī)定如下：4.3.1 說選用的射線源至工件表面的距離f應滿足下述要求：A級射線檢測技術：f7.5db2/3AB級射線檢測技術：f10db2/3B級射線檢測技術：f15db2/3注：f為射線源至工件表

9、面的距離； d為射線源的有效焦點尺寸； b為工件至膠片距離。由于焦距F=f+b，所以在d和b不變的情況下，B級檢測比AB級檢測的f值大，所以焦距F也比AB級大。大的焦距幾何不清晰度小，所以檢測靈敏度高。注意：焦距是指射線源焦點到膠片的距離，而不是射線機機頭到膠片的距離。所以焦距為機頭到膠片的距離加焦點到機頭的距離，現(xiàn)場檢測中應注意。一般300KV探傷機焦點到機頭的距離為130mm,250KV探傷機焦點到機頭的距離為120mm。B級檢測焦距比AB級檢測焦距大，射線的能量和距離的平方成反比，焦距越大，曝光時間越長，檢測效率越低，檢測成本越高。八、不同檢測技術級別對X射線照相最小曝光量的規(guī)定JB/T

10、4730.2-2005標準第條就有關不同檢測技術級別對X射線照相最小曝光量的規(guī)定如下：4.4.1 X射線照相，當焦距為700mm時，曝光量的推薦值為：A級和AB級射線檢測技術不小于15mAmin；B級射線檢測技術不小于20mAmin。當焦距改變時可按平方反比定律對曝光量的推薦值進行換算。由條規(guī)定可知，在相同焦距情況下，B級檢測比AB級檢測要求的最小曝光量大，曝光量的增大有利于改善底片顆粒度，進而提高對比度。曝光量增大意味著曝光時間的延長，檢測效率的降低，檢測成本的提高。九、不同檢測技術級別對底片黑度D的規(guī)定JB/T4730.2-2005標準第條就有關不同檢測技術級別對底片黑度D的規(guī)定如下：4.11.2 底片評定范圍內的黑度D應符合下列規(guī)定：A級：1.5D4.0；AB級：2.0D4.0；B級：2.3D4.0。用X射線透照小徑管或其他截面厚度變化大的工件時，AB級最低黑度允許降至1.5；B級最低黑度可降至2.0。由條規(guī)定可知，無論是透照普通工件還是截面厚度變化大的工件，B級檢測比AB級檢測要求的最低黑度值都要高。這是因為，對于承壓設備射線照相檢測用的都是非增感型膠片，這種膠片的梯度隨黑度的增加而增加，而梯度的增加能提高射線檢測對比高，進而提高靈敏度。黑底的增加，需要曝