X射線衍射原理詳解

1、X射線衍射原理詳解現(xiàn)代分析測試技術(shù)現(xiàn)代分析測試技術(shù) 21.什么是X射線？X射線是由于原子中的電子在能量相差懸殊的兩個能級之間的躍遷而產(chǎn)生的粒子流，是波長介于紫外線和射線 之間的電磁輻射。其波長很短約介于0.01100埃之間。由德國物理學(xué)家W.K.倫琴于1895年發(fā)現(xiàn)，故又稱倫琴射線。射線的波長范圍是多少？0.01100埃之間。射線衍射儀常用的靶材？Cr, Fe, Co, Ni, Cu, Mo, Ag4. X射線的產(chǎn)生條件?（1）產(chǎn)生自由電子；（2）使電子作定向的高速運動；（3）在其運動的路徑上設(shè)置一個障礙物（靶）使電子突然減速或停止。射線的性質(zhì)有哪些？ 肉眼不能觀察到，但可使照相底片感光、熒光

2、板發(fā)光和使氣體電離； 能透過可見光不能透過的物體； 這種射線沿直線傳播，在電場與磁場中不偏轉(zhuǎn)，在通過物體時不發(fā)生反射、折射現(xiàn)象，通過普通光柵亦不引起衍射； 這種射線對生物有很厲害的生理作用。6.誰第一個發(fā)現(xiàn)的X射線？倫琴回顧上章節(jié)內(nèi)容回顧上章節(jié)內(nèi)容現(xiàn)代分析測試技術(shù)現(xiàn)代分析測試技術(shù) 一一.x .x射線衍射原理射線衍射原理3射線衍射的理論基礎(chǔ)射線衍射的理論基礎(chǔ)1. 1.材料學(xué)基礎(chǔ)引申材料學(xué)基礎(chǔ)引申2.1 布拉格方程布拉格方程X X射線衍射條件（方向）射線衍射條件（方向）2.3 倒易點陣倒易點陣X X射線衍射強度射線衍射強度現(xiàn)代分析測試技術(shù)現(xiàn)代分析測試技術(shù) 41. 1.基礎(chǔ)引申基礎(chǔ)引申空間點陣的概念

3、空間點陣的概念結(jié)構(gòu)基元：能體現(xiàn)晶體周期性的最小物質(zhì)結(jié)構(gòu)（分子、原子、原子團等），結(jié)構(gòu)基元：能體現(xiàn)晶體周期性的最小物質(zhì)結(jié)構(gòu)（分子、原子、原子團等），基元的確定有一定的隨機性?；拇_定有一定的隨機性。晶體：結(jié)構(gòu)基元在三維空間有規(guī)則排列形成的固體。晶體：結(jié)構(gòu)基元在三維空間有規(guī)則排列形成的固體。晶格：將結(jié)構(gòu)基元抽象為幾何點（點陣）便得到一個空間陣列（點陣），晶格：將結(jié)構(gòu)基元抽象為幾何點（點陣）便得到一個空間陣列（點陣），將陣點用直線連接成的空間格子將陣點用直線連接成的空間格子晶體結(jié)構(gòu)：晶體結(jié)構(gòu)：現(xiàn)代分析測試技術(shù)現(xiàn)代分析測試技術(shù) 5現(xiàn)代分析測試技術(shù)現(xiàn)代分析測試技術(shù) 6現(xiàn)代分析測試技術(shù)現(xiàn)代分析測試技術(shù)

4、7射線衍射的基本原理射線衍射的基本原理衍射：光線照射到物體邊沿后通過散射繼續(xù)在空間發(fā)射的現(xiàn)象由于干涉的存在，產(chǎn)生不同的衍射花樣，可用于分析晶體的性質(zhì)必須事先建立X射線衍射的方向和強度與晶體結(jié)構(gòu)之間的對應(yīng)關(guān)系現(xiàn)代分析測試技術(shù)現(xiàn)代分析測試技術(shù) 8布拉格方程布拉格方程布拉格實驗 布拉格實驗裝置ndSin2現(xiàn)代分析測試技術(shù)現(xiàn)代分析測試技術(shù) 9 在真空中光的波長為在真空中光的波長為 ，光速為，光速為 C，進入折射率為，進入折射率為 n 的介質(zhì)中后，波長的介質(zhì)中后，波長n , 光光速為速為 v , ,則有：則有：vCn nn光源的頻率不變，光在傳播過程中頻率保持不變。同一頻率的光在光源的頻率不變，光在傳播

5、過程中頻率保持不變。同一頻率的光在不同介質(zhì)中波長不相同。不同介質(zhì)中波長不相同。nvC而而1.1.光程光程 設(shè)光在設(shè)光在折射率為折射率為 n 的的介質(zhì)中傳播的幾何路程為介質(zhì)中傳播的幾何路程為 L，vtL vCn, tncL ctnL 光程光程 ：光在介質(zhì)中傳播的波程與介質(zhì)折射率的乘積。：光在介質(zhì)中傳播的波程與介質(zhì)折射率的乘積。nLC=f:波長f:頻率現(xiàn)代分析測試技術(shù)現(xiàn)代分析測試技術(shù) 1010光程的意義：光在光程的意義：光在t t時刻內(nèi)在真空中通過的路程時刻內(nèi)在真空中通過的路程nLnL就相當于光在介質(zhì)中在相同的時就相當于光在介質(zhì)中在相同的時間內(nèi)所通過的路程。間內(nèi)所通過的路程。2.2.光程差光程差

6、1 .1 .光程差光程差 ：兩束光的光程之差。：兩束光的光程之差。12 設(shè)一束光經(jīng)歷光程設(shè)一束光經(jīng)歷光程 1 1，另一速光經(jīng)歷光程，另一速光經(jīng)歷光程 2 2，則這兩束光的光程差為：，則這兩束光的光程差為：注意光程與光程差的區(qū)別：注意光程與光程差的區(qū)別：nL同一波線上兩點間的光程同一波線上兩點間的光程12兩束光的光程差兩束光的光程差現(xiàn)代分析測試技術(shù)現(xiàn)代分析測試技術(shù) 11布拉格方程推導(dǎo)布拉格方程推導(dǎo)X射線在單原子面上的鏡面反射射線在單原子面上的鏡面反射當一束當一束X射線照射在一層原子上，入射角射線照射在一層原子上，入射角與反射角相等，無光程差。與反射角相等，無光程差?，F(xiàn)代分析測試技術(shù)現(xiàn)代分析測試技

7、術(shù) 12ndSin2SinSin2 SinAOBOdddd 衍射面間距, 入射掠射角,n 衍射(反射)級數(shù),為X射線的波長現(xiàn)代分析測試技術(shù)現(xiàn)代分析測試技術(shù) 13ndSin2n 衍射(反射)級數(shù)，當n=1, 2dSin=, 2 Sind通式 布拉格方程的討論n選擇反射選擇反射n產(chǎn)生衍射的極限條件產(chǎn)生衍射的極限條件n干涉面和干涉指數(shù)干涉面和干涉指數(shù)n衍射花樣和晶體結(jié)構(gòu)的關(guān)系衍射花樣和晶體結(jié)構(gòu)的關(guān)系選擇反射選擇反射 X射線在晶體中的衍射實質(zhì)上是晶體中各射線在晶體中的衍射實質(zhì)上是晶體中各原子散射波之間的干涉結(jié)果。只是由于衍射線原子散射波之間的干涉結(jié)果。只是由于衍射線的方向恰好相當于某原子面對入射線的反

8、射，的方向恰好相當于某原子面對入射線的反射，所以借用鏡面反射規(guī)律來描述衍射幾何。所以借用鏡面反射規(guī)律來描述衍射幾何。 但是但是X射線的原子面反射和可見光的鏡面射線的原子面反射和可見光的鏡面反射不同。一束可見光以任意角度投射到鏡面反射不同。一束可見光以任意角度投射到鏡面上都可以產(chǎn)生反射，上都可以產(chǎn)生反射，而原子面對而原子面對X射線的反射射線的反射并不是任意的，只有當并不是任意的，只有當 、 、d三者之間滿足三者之間滿足布拉格方程時才能發(fā)生反射布拉格方程時才能發(fā)生反射，所以把，所以把X射線這射線這種反射稱為選擇反射。種反射稱為選擇反射?，F(xiàn)代分析測試技術(shù)現(xiàn)代分析測試技術(shù) 現(xiàn)代分析測試技術(shù)現(xiàn)代分析測試

9、技術(shù) 15射線衍射方向射線衍射方向( (衍射條件衍射條件) )衍射方向?qū)嶋H上就是衍射條件問題，可用布拉格方程描述選擇反射只有當、和d三者之間滿足布拉格方程時才能發(fā)生反射產(chǎn)生衍射的極限條件能夠被晶體衍射的電磁波的波長必須小于參加反射的晶體中最大面間距的2倍（ /2衍射級數(shù)n稱為衍射級數(shù)n = 1稱為一級衍射， n = 2稱為二級衍射 產(chǎn)生衍射的極限條件產(chǎn)生衍射的極限條件 根據(jù)布拉格方程，根據(jù)布拉格方程，Sin 不能大于不能大于1， 因此：因此： 對衍射而言，對衍射而言，n的最小值為的最小值為1，所以，所以在任何可觀測的衍射角下，產(chǎn)生衍射的在任何可觀測的衍射角下，產(chǎn)生衍射的條件為條件為 2d，這也

10、就是說，能夠被晶體，這也就是說，能夠被晶體衍射的電磁波的波長必須小于參加反射衍射的電磁波的波長必須小于參加反射的晶面中最大面間距的二倍，否則不能的晶面中最大面間距的二倍，否則不能產(chǎn)生衍射現(xiàn)象。產(chǎn)生衍射現(xiàn)象。dnSindn212，即現(xiàn)代分析測試技術(shù)現(xiàn)代分析測試技術(shù) 現(xiàn)代分析測試技術(shù)現(xiàn)代分析測試技術(shù) 17（HKL）稱為衍射面的衍射指數(shù)或干涉指數(shù)。把（hkl）晶面的n級反射看成為與（hkl）晶面平行、面間距為(nh,nk,nl) 的晶面的一級反射。面間距為dHKL的晶面并不一定是晶體中的原子面，而是為了簡化布拉格方程所引入的反射面，把這樣的反射面稱為干涉面。干涉面的面指數(shù)稱為干涉指數(shù)。在布拉格方程2

11、dsin=n中，n取正整數(shù)，n=1為一級衍射，n=2為二級衍射，但這樣處理問題不夠方便，為簡單起見，常將問題這樣處理，將布拉格方程進行一下變換，即：2dhklsin=n 得：2sindhkl/n =，令dnhnkln=dhkl/n，則得2sindnhnkln =，令H=nh,K=nk,L=nl，又得2sindHKL =，這一形式表示，晶面（hkl）的任何一級衍射均可看作是（HKL）衍射面的一級衍射。干涉面和干涉指數(shù)干涉面和干涉指數(shù)布拉格方程的應(yīng)用布拉格方程的應(yīng)用布布拉格拉格 方程的兩種用途方程的兩種用途：1）結(jié)構(gòu)分析：已知波長的特征）結(jié)構(gòu)分析：已知波長的特征X射線，射線，通過測量通過測量 角角

12、,計算晶面間距計算晶面間距d2）X X射線光譜學(xué)：已知晶面間距射線光譜學(xué)：已知晶面間距d d的晶的晶體，通過測量體，通過測量 角角, ,計算未知計算未知X X射線的射線的波長波長Sind2現(xiàn)代分析測試技術(shù)現(xiàn)代分析測試技術(shù) 現(xiàn)代分析測試技術(shù)現(xiàn)代分析測試技術(shù) 192.3 2.3 倒易點陣倒易點陣 倒易點陣倒易點陣：在晶體點陣的基礎(chǔ)上按一定對應(yīng)在晶體點陣的基礎(chǔ)上按一定對應(yīng)關(guān)系建立起來的空間幾何圖形，是晶體點陣關(guān)系建立起來的空間幾何圖形，是晶體點陣的另一種表達形式。它既不是客觀存在，有的另一種表達形式。它既不是客觀存在，有無確定的物理意義，虛構(gòu)的無確定的物理意義，虛構(gòu)的 數(shù)學(xué)工具。數(shù)學(xué)工具。晶體產(chǎn)生衍

13、射的方向只與晶胞參數(shù)有關(guān)晶體產(chǎn)生衍射的方向只與晶胞參數(shù)有關(guān),與與 晶體結(jié)構(gòu)無關(guān)，只與晶胞的大小有關(guān)，與晶晶體結(jié)構(gòu)無關(guān)，只與晶胞的大小有關(guān)，與晶體結(jié)構(gòu)無關(guān)，不同晶體結(jié)構(gòu)、不同晶胞、不體結(jié)構(gòu)無關(guān)，不同晶體結(jié)構(gòu)、不同晶胞、不同元素衍射線的干涉，在同元素衍射線的干涉，在X射線衍射的強度射線衍射的強度上，差別明顯。上，差別明顯?，F(xiàn)代分析測試技術(shù)現(xiàn)代分析測試技術(shù) 20 x x射線衍射理論能將晶體結(jié)構(gòu)與衍射花樣有機地聯(lián)系起來，它包射線衍射理論能將晶體結(jié)構(gòu)與衍射花樣有機地聯(lián)系起來，它包括衍射線束的方向、強聲和形狀。衍射線束的方向由晶胞的形括衍射線束的方向、強聲和形狀。衍射線束的方向由晶胞的形狀大小決定，衍射線

14、束的強度由晶胞中原子的位置和種類決定，狀大小決定，衍射線束的強度由晶胞中原子的位置和種類決定，而衍射線束的形狀大小與晶體的形狀大小相關(guān)。在討論一個小而衍射線束的形狀大小與晶體的形狀大小相關(guān)。在討論一個小晶體的衍射強度時，可以引出衍射線束的方向和形狀，即三者晶體的衍射強度時，可以引出衍射線束的方向和形狀，即三者為一有機整體。為一有機整體。 X X射線能夠揭示衍射晶體的結(jié)構(gòu)特征，主要取決于兩個方面射線能夠揭示衍射晶體的結(jié)構(gòu)特征，主要取決于兩個方面1. X射線衍射束方向反映了晶胞的形狀和射線衍射束方向反映了晶胞的形狀和 大小大小; 2. X射線衍射束的強度反映了晶胞中的原射線衍射束的強度反映了晶胞中

15、的原 子位置與種類。子位置與種類。現(xiàn)代分析測試技術(shù)現(xiàn)代分析測試技術(shù) 21射線衍射強度射線衍射強度現(xiàn)代分析測試技術(shù)現(xiàn)代分析測試技術(shù) 22現(xiàn)代分析測試技術(shù)現(xiàn)代分析測試技術(shù) 23二二 多晶體多晶體x x射線衍射分析方法射線衍射分析方法 概述概述 多晶多晶X X射線衍射發(fā)展歷程射線衍射發(fā)展歷程 多晶多晶X X射線衍射分析方法的分類射線衍射分析方法的分類勞厄法勞厄法粉晶法粉晶法粉晶衍射儀法粉晶衍射儀法4. X4. X射線衍射儀器與樣品的制備射線衍射儀器與樣品的制備現(xiàn)代分析測試技術(shù)現(xiàn)代分析測試技術(shù) 241. 1.概述概述X X射線多晶體衍射（射線多晶體衍射（X-ray Polycrystalline di

16、ffractionX-ray Polycrystalline diffraction）也稱也稱X X射線粉末衍射（射線粉末衍射（X-ray Powder diffractionX-ray Powder diffraction），），是是由德國科學(xué)家德拜（由德國科學(xué)家德拜（DebyeDebye）、）、謝樂（謝樂（ScherrerScherrer）在在19161916年年提出的。提出的。所謂多晶體衍射或粉末衍射是相對于單晶體衍射來命名的所謂多晶體衍射或粉末衍射是相對于單晶體衍射來命名的，在單晶體衍射中，被分析試樣是一粒單晶體，而在多晶，在單晶體衍射中，被分析試樣是一粒單晶體，而在多晶體衍射中被分析

17、試樣是一堆細小的單晶體（粉末）。體衍射中被分析試樣是一堆細小的單晶體（粉末）?，F(xiàn)代分析測試技術(shù)現(xiàn)代分析測試技術(shù) 25時間大約是從時間大約是從2020世紀世紀4040年代后期至年代后期至7070年代后期。其標志年代后期。其標志是用計數(shù)器作為是用計數(shù)器作為X X射線探測器的衍射儀取代了用底片的射線探測器的衍射儀取代了用底片的照相機成為主要的實驗儀器。照相機成為主要的實驗儀器。最早使用的計數(shù)器是蓋格計數(shù)器，以后為正比計數(shù)器及最早使用的計數(shù)器是蓋格計數(shù)器，以后為正比計數(shù)器及閃爍計數(shù)器所取代。閃爍計數(shù)器因其時間分辨率可達閃爍計數(shù)器所取代。閃爍計數(shù)器因其時間分辨率可達1010- -6 6 s s，計數(shù)線性

18、范圍大，容易維護，壽命長而被廣泛使用計數(shù)線性范圍大，容易維護，壽命長而被廣泛使用，至今仍為重要的探測器。，至今仍為重要的探測器。由于由于X X射線衍射譜質(zhì)量的提高，特別衍射強度準確性的射線衍射譜質(zhì)量的提高，特別衍射強度準確性的提高，使物相定量分析在這一時期的到了較快的發(fā)展。提高，使物相定量分析在這一時期的到了較快的發(fā)展。主要有：內(nèi)標法，參考強度比法（國內(nèi)常把他簡稱為主要有：內(nèi)標法，參考強度比法（國內(nèi)常把他簡稱為K K值法），基體沖洗法和不用標樣的無標法。值法），基體沖洗法和不用標樣的無標法。2. 2.發(fā)展歷程發(fā)展歷程現(xiàn)代分析測試技術(shù)現(xiàn)代分析測試技術(shù) 26我國曾經(jīng)制定過幾個用于金屬材料定量相分析

19、的國家標我國曾經(jīng)制定過幾個用于金屬材料定量相分析的國家標準：如金屬材料定量相分析準：如金屬材料定量相分析X X射線衍射射線衍射K K值法（值法（GB GB 522585522585）；）；高速鋼中碳化物相的定量分析高速鋼中碳化物相的定量分析X X射線衍射線衍射儀法（射儀法（GB 835987GB 835987）；）；鋼中殘余奧氏體定量測定鋼中殘余奧氏體定量測定X X射線衍射儀法（射線衍射儀法（GB 836287GB 836287）。）。我國在精密測定點陣常數(shù)方面也有許多工作，也曾經(jīng)制我國在精密測定點陣常數(shù)方面也有許多工作，也曾經(jīng)制定過一個國家標準：金屬點陣常數(shù)的測定方法定過一個國家標準：金屬點

20、陣常數(shù)的測定方法X X射線射線衍射儀法（衍射儀法（GB 8360GB 8360一一8787）。）?，F(xiàn)代分析測試技術(shù)現(xiàn)代分析測試技術(shù) 27近代近代從從2020世紀世紀7070年代后期至今，以計算機應(yīng)用于年代后期至今，以計算機應(yīng)用于X X射線多晶體射線多晶體衍射、全譜擬合法衍射、全譜擬合法( (Rietveld)Rietveld)處理數(shù)據(jù)及同步輻射處理數(shù)據(jù)及同步輻射X X射線射線衍射技術(shù)的應(yīng)用為標志。衍射技術(shù)的應(yīng)用為標志。計算機技術(shù)應(yīng)用于計算機技術(shù)應(yīng)用于X X射線多晶體衍射，大大促近了射線多晶體衍射，大大促近了X X射線多射線多晶體衍射各方面的發(fā)展。其作用主要表現(xiàn)在：晶體衍射各方面的發(fā)展。其作用主

21、要表現(xiàn)在：（1 1）與衍射儀結(jié)合，使衍射儀的調(diào)試，操作的自動化程）與衍射儀結(jié)合，使衍射儀的調(diào)試，操作的自動化程度更高。度更高。（2 2）建立數(shù)據(jù)庫與做數(shù)據(jù)檢索。如粉末衍射卡片集（）建立數(shù)據(jù)庫與做數(shù)據(jù)檢索。如粉末衍射卡片集（PDFPDF）已轉(zhuǎn)變?yōu)閿?shù)字數(shù)據(jù)庫并有了相應(yīng)得檢索匹配程序，使物已轉(zhuǎn)變?yōu)閿?shù)字數(shù)據(jù)庫并有了相應(yīng)得檢索匹配程序，使物相定性分析自動化等。相定性分析自動化等?，F(xiàn)代分析測試技術(shù)現(xiàn)代分析測試技術(shù) 28（3 3）數(shù)據(jù)處理）數(shù)據(jù)處理, ,如光滑、尋峰、扣本底、求出積分強度如光滑、尋峰、扣本底、求出積分強度和半峰寬及分峰等；更重要的是對實驗得到的物理量作和半峰寬及分峰等；更重要的是對實驗得到的

22、物理量作進一步處理，如傅里葉變換、衍射線形的反卷積的研究進一步處理，如傅里葉變換、衍射線形的反卷積的研究、衍射圖的指標化和求晶胞參數(shù)、全譜擬合作晶體結(jié)構(gòu)、衍射圖的指標化和求晶胞參數(shù)、全譜擬合作晶體結(jié)構(gòu)的精修及晶體結(jié)構(gòu)的從頭測定等。的精修及晶體結(jié)構(gòu)的從頭測定等。（4 4）網(wǎng)站的建立。如）網(wǎng)站的建立。如ICDDICDD已將已將PDFPDF以電子形式發(fā)行，網(wǎng)以電子形式發(fā)行，網(wǎng)址為址為 icdd icdd ?，F(xiàn)代分析測試技術(shù)現(xiàn)代分析測試技術(shù) 29射線衍射分析方法分類：射線衍射分析方法分類： 按照成像原理按照成像原理: : 勞厄法、粉末法和周轉(zhuǎn)晶體法勞厄法、粉末法和周轉(zhuǎn)晶體法 勞厄法和周轉(zhuǎn)晶體法是用來對

23、單晶進行衍射分析的。勞厄法和周轉(zhuǎn)晶體法是用來對單晶進行衍射分析的。 單晶衍射的主要目的是確定經(jīng)濟結(jié)構(gòu)、晶體不完整性和晶體取向單晶衍射的主要目的是確定經(jīng)濟結(jié)構(gòu)、晶體不完整性和晶體取向粉末衍射法中按照記錄方法分粉末衍射法中按照記錄方法分: : 照相法和衍射儀法照相法和衍射儀法現(xiàn)代分析測試技術(shù)現(xiàn)代分析測試技術(shù) 30 德拜法（德拜德拜法（德拜-謝勒法）謝勒法） 照相法照相法 聚焦法聚焦法 多晶體衍射方法多晶體衍射方法 針孔法針孔法 衍射儀法衍射儀法 勞埃（勞埃（Laue）法）法 單晶體衍射方法單晶體衍射方法 旋轉(zhuǎn)單晶法旋轉(zhuǎn)單晶法 四圓衍射儀四圓衍射儀X X射線衍射的方法射線衍射的方法分類分類現(xiàn)代分析測

24、試技術(shù)現(xiàn)代分析測試技術(shù) 31X X射線衍射的方法射線衍射的方法-概述概述現(xiàn)代分析測試技術(shù)現(xiàn)代分析測試技術(shù) 32是應(yīng)用最早的一種衍射方法，它是用連續(xù)X射線投射到不動的單晶體試樣上產(chǎn)生衍射的一種實驗方法。 勞埃法要求所用的連續(xù)X射線具有較高的強度，以便在較短的時間內(nèi)得到清晰的衍射花樣。因此，勞埃法一般均選用原子序數(shù)較大的鎢（Z=74）靶X射線管作輻射源。3.1 3.1 勞埃法勞埃法現(xiàn)代分析測試技術(shù)現(xiàn)代分析測試技術(shù) 33特點：勞厄法主要用來測定晶體的取向。此外，還可以用來觀測晶體的對稱性，鑒定晶體是否是單晶、以及粗略地觀測晶體的完整性。如若晶體的完整性良好，則勞厄斑點細而圓，均勻清晰。若晶體完整性不

25、好，則勞厄斑點粗而滿散，有時還呈破碎狀?，F(xiàn)代分析測試技術(shù)現(xiàn)代分析測試技術(shù) 343.2 3.2 粉晶法粉晶法 粉晶法也稱粉末法或多晶體法。采用粉末狀的多晶體樣品；入射線為波長固定的標識射線，以固定方向投射到樣品上。由于樣品中所包含的晶粒數(shù)目極為龐大，每mm3內(nèi)可達109個或更多，而且各晶粒在空間的取向又是雜亂無章的，以致總是存在著這樣的機遇可能：對于所有晶粒中任一給定的(hkl)面網(wǎng)族而言，它們與入射線之間的夾角，包含了從090的幾乎一切可能的值。這就相當于成了可變量，從而總是可以找到某些晶粒，它們的某個（hkl）面網(wǎng)族與入射線恰好都相交成適當?shù)闹?，使之能夠滿足反射條件而產(chǎn)生反射。 現(xiàn)代分析測試技術(shù)現(xiàn)代分析測試技術(shù) 353.3 3.3 粉晶衍射儀法粉晶衍射儀法 使一束平行的單色X射線垂直投射到一根粉晶樣品柱上，則將產(chǎn)生一組以入射線為軸的同軸反射圓錐面族。假定此時不用底片記錄，而是使一個輻射探測器處在相當于圓筒形底片的位置上，繞