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1、HS620數(shù)字式超土波攙傷儀簡介漢中 科創(chuàng)祈披術(shù)股訪km公 f .1目錄一、HS620數(shù)字式超聲波探傷儀簡介.31.1本機特點.31.2主要技術(shù)參數(shù).31.3儀器主要部件名稱.51.4鍵盤簡介.61.5功能介紹.7二HS620型數(shù)字式超聲波探傷儀的基本操作.92. 1開機.92.2常規(guī)功能狀態(tài)的調(diào)節(jié).102.2.1通道選擇.102.2.2閘門的調(diào)節(jié).102.2.3波峰記憶.122.2.4增益調(diào)節(jié)(dB調(diào)節(jié)).132.2.5檢測范圍(脈沖位移的調(diào)節(jié).142.2.6零點調(diào)節(jié).142.2.7脈沖移位調(diào)節(jié).152.2.8聲速測定.152.2.9“抑制”調(diào)節(jié).172.2.10掃査基線的調(diào)節(jié).18三儀器校
2、準(zhǔn).193.1選擇HS620型探傷儀的接收系統(tǒng)狀態(tài).193.2調(diào)校功能.1932.1直探頭調(diào)校.193.2.2斜探頭橫波自動校準(zhǔn).25四探傷應(yīng)用.344.1焊縫功能(適用于斜探頭).344丄1焊縫參數(shù)設(shè)置.344.1.2焊縫圖的缺陷定位分析.354.2測厚功能(適用于直探頭).3743性能校驗功能.384.4聲響報警的應(yīng)用.404.5縱向裂紋高度測量的應(yīng)用.404.6包絡(luò)功能.424.7存儲波形數(shù)據(jù).434.7.1存入子功能.434.7.2讀出子功能.44HS620數(shù)字式粗士浹揀傷儀簡介2銭 漢中科創(chuàng) 祈披術(shù)農(nóng)7良公 P4.7.3刪除子功能.454.7.4通道清零子功能.454.8頻帶選擇功能
3、.464.9匹配阻抗.464.10重復(fù)頻率.464.11通訊打印功能.464.11.1通訊功能.464.11.2打印輸出.474.12靜態(tài)讀數(shù)(凍結(jié)狀態(tài)下讀數(shù)).484.13探傷狀態(tài)與參數(shù)的顯示方式的重新設(shè)置.484.13.1探傷狀態(tài)和參數(shù)的顯示方式.484.13.2探傷狀態(tài)和參數(shù)的重新設(shè)置.48五充電器的使用說明.51六儀器的安全使用保養(yǎng)與維護.52附件一:通用探傷報表.53附件二:HS620數(shù)探儀選配打印機說明.54HS620數(shù)字式超土波攙傷儀簡介漢中 科創(chuàng)祈披術(shù)股訪 夕根公 F .一、HS620數(shù)字式超聲波探傷儀簡介1.1本機特點手持式結(jié)構(gòu),美觀、牢固、密封性能好,具超強的抗干擾能力。全
4、數(shù)字,真彩顯示器,根據(jù)環(huán)境選擇背景色、亮度可自由設(shè)左,領(lǐng)潮國內(nèi)應(yīng)用技術(shù)。高質(zhì)量的電路系統(tǒng),性能穩(wěn)定可靠。超髙速采樣,使回波顯示更保真、定位更準(zhǔn)確。高精度定量、泄位、解決遠(yuǎn)距離泄位誤差。實時全檢波,正、負(fù)檢波和射頻波顯示。優(yōu)良的寬頻帶放大器,且自動校正。具有良好的近場分辨能力。簡潔、強勁的操作功能,中文提示,對話操作,實用易學(xué)。焊縫剖口示意圖,更直觀顯示缺陷位置,輔助泄性。集超聲檢測、測厚雙重功能于一機檢測范圍無級調(diào)節(jié)功能。閘門龍位報警,雙閘門失波報警功能,適用于完成不同種類的探傷任務(wù)。動態(tài)缺陷包絡(luò)線描述。波幅曲線按標(biāo)準(zhǔn)自動繪制。且可上下自由移動。自動對探頭零點進(jìn)行校準(zhǔn)和斜探頭K值(折射角)測試
5、。靈活的雜波抑制調(diào)節(jié)功能。不影響增益、線性。自動快速的靈敏度調(diào)節(jié)功能。提髙檢測速度。自動波d金跟蹤搜索功能。提高檢測精度。有描述缺陷性質(zhì)的郵點軌跡包絡(luò)圖功能。縱向裂紋髙度測量功能。近場盲區(qū)小,可以進(jìn)行薄板及小徑管探傷。可對腐蝕層和氧化層厚度進(jìn)行的精確測量。高速USB2.0、RS232兩種接口提供傳輸打印。實現(xiàn)超聲探傷儀汁算機管理。予苣50組探傷參數(shù)。分別為直探頭15個,斜探頭30個,小角度探頭5個??纱鎯?000個探傷回波、曲線和數(shù)據(jù)。1. 2主要技術(shù)參數(shù)脈沖強度:600V阻抗匹配:200Q . 500Q二檔可選工作方式:單晶探傷、雙晶探傷掃描范圍:零界而入射5500mm鋼縱波采樣頻率/位數(shù):
6、150MHz/8bitsHS620數(shù)字式粗士浹揀傷儀簡介4銭 漢中科創(chuàng) 祈披術(shù)農(nóng)7良公 P檢波方式:全檢波、正、負(fù)檢波、射頻波顯示工作頻率:0. 5MHz15MHz各頻段等效輸入噪聲:VI概衰減器精度:v ldB/12dB增益調(diào)節(jié):110dB (0. ldB 2dB、6dB步進(jìn),全自動調(diào)節(jié))聲速范圍:(10020000) m/s動態(tài)范圍:2 230dB垂直線性誤差:W 3%水平線性誤差:W 0. 1%分辨力:40dB (5N14)靈敏度余量:60dB(深200唄62平底孔)數(shù)字抑制:(080) %,不影響線性與增益電源、電壓:直流(DC) 7. 2V10%:交流(AC) 220V10%工作時間
7、:連續(xù)工作5小時以上(鋰電池供電)環(huán)境溫度:(-1040) C(參考值)相對濕度:(2095) % RH外型尺寸:200 x 138 x 60 (mm)HS620數(shù)字式超土波攙傷儀簡介漢中 科創(chuàng)祈披術(shù)股訪 夕根公 F .51.3儀器主要部件名稱本儀器主要部件名稱如圖1-1所示。圖 1-11320X256像素的高分辨率顯示器2電源指示燈、報警指示燈3觸摸鍵盤4充電插座5護手帶6打印機及通訊插座7Q9插座(發(fā)射)8Q9插座(接收)9提手10USB通訊接口5104HS620數(shù)字式粗士浹揀傷儀簡介6銭 漢中科創(chuàng) 祈披術(shù)農(nóng)7良公 P1.4鍵盤簡介鍵盤是完成人機對話的媒介。本機鍵盤設(shè)有23個控制鍵,鍵位見
8、圖1-2。使用者對探 傷儀發(fā)岀的所有控制指令,均通過鍵盤操作傳遞給探傷儀。23個控制鍵分為三大類:特殊 鍵(1個),菜單功能選擇鍵(9個) ,功能熱鍵(11個)和方向控制鍵(2)。鍵盤操作過程 中,探傷儀根據(jù)不同的狀態(tài)自動識別各鍵的不同含意,執(zhí)行操作人員的指令。各鍵的具體 使用方法在以后的各章節(jié)中分批逐漸介紹。下面是各鍵的具體功能簡介。 (閘門)(増益 抑制ggH鑰出j參數(shù)(存儲HS620數(shù)字式超土波攙傷儀簡介漢中 科創(chuàng)祈披術(shù)股訪km公 f .79右/上方向鍵1.5功能介紹儀器的功能及其邏輯關(guān)系閘門1.調(diào)校功能:范國:探傷范圍的調(diào)節(jié)零偏:探頭入射零點的調(diào)節(jié)聲速:材料聲速(0 20000) m/
9、s連續(xù)調(diào)if K值:斜探頭的折射角(K值)測量2閘門功能:范羽/平移:(06000) mm掃査范用的無級調(diào)7脈沖平移調(diào)節(jié)閘門操作:閘門移位/閘門寬度/閘門高度調(diào)節(jié)閘門選擇:閘門A/B選擇閘門讀數(shù):選擇單閘門讀數(shù)/雙閘門讀數(shù)方式曲線功能:制作:制作AVG、DAC曲線及曲線延長調(diào)整:調(diào)整已制作的曲線刪除:刪除已制作的曲線淸輸出功能:零:將當(dāng)前通道的參數(shù)初始化讀岀:顯示當(dāng)前讀出號的缺陷波形及數(shù)據(jù)刪除:刪除當(dāng)前存貯號或連續(xù)存貯區(qū)間的缺陷波形及數(shù)據(jù)通訊:將存儲的缺陷波形及數(shù)據(jù)傳送到計算機打?。捍蛴√絺麍蟾?.包絡(luò)功能:對缺陷回波進(jìn)行波蜂軌跡描繪,輔助對缺陷龍性判斷。6.增益/自動增益功能:手動調(diào)肖儀器靈
10、敏度/自動左髙調(diào)巧儀器靈敏度。7.波峰記憶:對閘門內(nèi)動態(tài)回波進(jìn)行最高回波的捕捉,并保留在屏幕上。8.色彩切換:對屏幕顯示色彩(前景、背景)進(jìn)行切換。9.報 警:閘門內(nèi)的缺陷回波髙于閘門/曲線髙度時,儀器發(fā)出聲響提示10.存 儲:將屏幕上的回波及其相應(yīng)的數(shù)據(jù)存儲在儀器存貯器中。子功能菜單/操作功能鍵左/下方向鍵范圍砰移閘門慫位聞門閘門讀數(shù)A制作曲線xVG/DAC調(diào)整刪除清睿包路 増益抑制通道自動増益波i峰記憶報警傷波存儲色彩切換調(diào)校范圍零偏蘆速K值讀出刪除通訊打印HS620數(shù)字式粗士浹揀傷儀簡介8銭 漢中科創(chuàng) 祈披術(shù)農(nóng)7良公 P11-抑 制:調(diào)節(jié)抑制雜波比例。12.通 道:通道切換選擇HS620
11、基本操作9二HS620型數(shù)字式超聲波探傷儀的基本操作2. 1開機HS620型數(shù)字式超聲波探傷儀采用直流供電方式,儀器內(nèi)置鋰電池。按越9鍵兩秒 鐘,直到電源指示燈亮。儀器首先出現(xiàn)漢威注冊商標(biāo),然后進(jìn)行儀器自檢,顯示如下畫而:W1-AnWEi儀器自檢鍵 盤 .0K存儲器 .0K綜合性能 .0K電池狀態(tài) .S圖2-1-1儀器自檢通過后,進(jìn)入開機動態(tài)界面,見圖2-1-20說明:在縱波直探頭的情況下。事聲程(S)即聲波從匸件表面至缺陷 的垂直距離呻沒有顯示。HS620釜本操作10.武漢中科創(chuàng) 新士空空 在橫波斜探頭的情況下。0 表示聲程(S)4表示水平距離(L)o指的是探頭入射點至缺陷的水平距離。事表示
12、垂直深度(H) o指的是入射點至缺陷的垂直距離。喇叭及參數(shù)鎖定圖標(biāo)在此圖上沒有顯示,在后面的帝節(jié)中詳細(xì)介紹。按任何熱惟或者子功能菜做鍵時相應(yīng)的區(qū)域出現(xiàn)反顯表示、T前 操作狀態(tài)。2.2常規(guī)功能狀態(tài)的調(diào)節(jié)221通道選擇本儀器予置了50組探傷參數(shù),即50個通道。分別為直探頭15個,斜探頭30個,小角 度5個。探傷人員可根據(jù)需要修改兔通道的參數(shù)按通道鍵對通道進(jìn)行選擇,此時顯示屏上 顯示通道區(qū)出現(xiàn)反顯。連續(xù)按此鍵可選擇不同的檢測任務(wù)。如圖所示。直探頭01抑制00%増益30. OdB0.0 28. 520406080 100甲1范圍10.OOITOK/D閘門移位25.9 mm閘門A閘門讀數(shù)圖2-2-1范圍
13、5. OChnm/D閘門移位14. 5 wi閘門A1閘門讀數(shù)電池狀農(nóng)T操作選律區(qū) 圖2-1-2HS620基本操作11222閘門的調(diào)節(jié)數(shù)字式探傷儀的最突出的特點是能夠把所有的有關(guān)反射波的信息用數(shù)字量顯示在屏幕 上。讀數(shù)時儀器處理汁算閘門內(nèi)的回波,并顯示最高回波的所有數(shù)據(jù)(包括聲程、水平距離 和垂直距離)。因此探傷過程中需使用閘門套住缺陷回波,儀器才能顯示探傷所需要的數(shù)據(jù)。2.2.2.12.2.2.1閘門選擇和閘門讀數(shù)方式本儀器是雙閘門工作方式,分為A閘門和B閘門。閘門讀數(shù)方式有兩種,即單閘門讀HS620釜本操作12.武漢中科創(chuàng) 新士空空 數(shù)方式和雙閘門讀數(shù)方式。用戶可以選擇任意閘門作為當(dāng)前使用閘
14、門,下面將要介紹閘門的 起始位置、寬度、髙度調(diào)節(jié)都是針對當(dāng)前使用閘門而言。操作步驟:1顯示方式選擇按凹進(jìn)入掃查狀態(tài),儀藩默認(rèn)的是“單閘門讀數(shù)方式 s 用戶想選擇雙閘門圖2-2-2閘門選擇 按畫鍵后就進(jìn)入了掃查狀態(tài),如圖所示。顯,初始值為A閘門,再按一次對應(yīng)的乙建切換為B閘門,如圖所示范圍10. OOnun/D閘門移位28.8mm閘門A閘門讀數(shù)范圍10. 00iTun/B閘門移位28.8mm閘B11閘門讀數(shù)圖2-2-32.1.2.22.1.2.2閘門起始閘門起始是對當(dāng)前使用閘門的起始位置進(jìn)行調(diào)r/o用戶可根拯需要 將閘門平行移動到想要的位苣來鎖泄你所感興趣的回波。操作如下:按起始相對應(yīng)的乙、鍵進(jìn)
15、入此功能,此時該欄反顯,如圖。再按調(diào)節(jié)。例如,當(dāng)前的使用閘門位置在回波顯示區(qū)的最左端,當(dāng)要使閘門移到最右端,按 住叵鍵,直到閘門移到目標(biāo)位置。范圍10. OOmjnZD閘門移位28. 8mjn閘門A閘門讀數(shù)圖2-2-4讀數(shù)方式”,按閘門讀數(shù)對應(yīng)的乙建即可。其閘門讀數(shù)方式如圖所示。 42. S /180.5單閘門遺數(shù)方武級波疊憔頭斤式 41.9時37.5$ 18.8橫披斜探頭單閘門讀教方式廉42.6P 180.5橫枝洞探頭刃I閘門讀顏方式4 52.8腱,此時閘門欄反鍵進(jìn)行HS620基本操作13注意: 為了回波顯示區(qū)簡單明了, 用戸可以將某一閘門移出回波顯示區(qū), 此時數(shù)據(jù)顯示 區(qū)的讀數(shù)為XXX.X
16、的形式。如圖所示。+-% XXX. %* XXX. 3C4 X3CX. X*X縱波篡隹頭 單閘門凄敖草閘仃選敖 方式H 2-2-52.2.23閘門寬度鍵,就進(jìn)入了閘門寬度調(diào)節(jié),此時寬度欄岀現(xiàn)反顯,如圖所示。范圍10. 0Oinni/D閘門寬度24.2 non閘門A閘門讀數(shù)圖2-2-62.2.2.42.2.2.4閘門高度閘門髙度指的是閘門相對于回波顯示區(qū)滿幅的百分比。按閘門寬度相對應(yīng)的乙、鍵,就進(jìn)入了閘門高度調(diào)肖,此時髙度欄反顯,如圖2-2-7所示,再按 門的高度。范圍10.OOJTOR/D聞門高度40 %聞門A閘門讀數(shù)2-2-7223波峰記憶波郵記憶是儀器自動以閘門內(nèi)最高動態(tài)回波進(jìn)行記錄,并保
17、留在屏幕上。在實際探傷 中,這有助于最大缺陷回波的捕捉。操作:1.用閘門鎖立將要搜索的回波。曲,進(jìn)入波峰搜索狀態(tài),并且在回波顯示區(qū)的右上端顯示岀“波峰記憶”字樣當(dāng)您移動探頭時,如有一個比前而顯示回波更髙的新波岀現(xiàn)時, 儀器立即捕捉住此髙波作為當(dāng)前最高顯示波。3-按國鍵,退岀搜索狀態(tài)。按閘門移位對應(yīng)的2.2.犍可改變閘門的寬度。再按鍵可改變閘HS620釜本操作at漢中科創(chuàng)新鄉(xiāng)L術(shù)股彷RREB142.2.4增益調(diào)節(jié)(dB調(diào)節(jié))在探傷工作中,利用衰減器可控制儀器的靈敏度,測量信號的相對高度,用以判斷缺 陷的大小,或測量材料的衰減等。衰減器除了上述作靈敏度控制外,它的主要用途是測雖:反 射波幅度的相對
18、大小,用分貝表示。本機型的系統(tǒng)靈敏度由基準(zhǔn)dB讀數(shù)和偏差dB讀數(shù)兩部分組成??傆嗔繛镠OdB.2.2.4.1手動增益調(diào)節(jié) 操作:1按畫鍵選擇調(diào)肖步進(jìn)值。按第一次,增益顯示區(qū)基準(zhǔn)dB值反顯,此時, 增益的右上方出現(xiàn)0.1的字樣,表示當(dāng)前以O(shè).ldB步進(jìn)值調(diào)肖基準(zhǔn)dB值。 如圖2-2-8 (a)所示。按第二次,此時增益的右上方出現(xiàn)2.0的字樣, 表示 當(dāng)前以2.0dB步進(jìn)值調(diào)節(jié)基準(zhǔn)dB值, 如圖228(b),按第三次,此時增益 的右上方出現(xiàn)6.0的字樣,表示當(dāng)前以6.0dB步進(jìn)值調(diào)右基準(zhǔn)dB值。如圖2-2-8(c)所示。按第四次時,增益顯示區(qū)的偏差dB值反顯,此時增益的右上 方出現(xiàn)0.1的字樣,表
19、示當(dāng)前以O(shè).ldB步進(jìn)值調(diào)節(jié)偏差dB值。如圖2-2-8(d)所示。按動鍵盤增益鍵,此時增益的右上方出現(xiàn)6.0的字樣,增益顯示區(qū)的 偏差dB值反顯,表示當(dāng)前以6.0dB步進(jìn)值調(diào)節(jié)偏差dB值。如圖2-2-8(e)所示。叵鍵涮ij基準(zhǔn)dB值或偏差dB值。例如:當(dāng)前的基準(zhǔn)dB值為8OdB.如果以0.1 dB的步進(jìn)值增大基準(zhǔn)dB的值到llOdB,調(diào)I*J反顯出現(xiàn)在基準(zhǔn)dB欄,增益的右上方出現(xiàn)0.1的字樣,再調(diào)鍵不 放,可產(chǎn)生連續(xù)增益調(diào)節(jié)。直到HOdBo抑制cm増益Q 130. OdB0.0基推dEO.ldB調(diào)節(jié)抑制00*増益2.030. OdB0.0基準(zhǔn)dB2. OdB調(diào)節(jié)(I)(I)斜/表01抑制00
20、%00%増益&a30. OdB0.0基準(zhǔn)dB6.016調(diào)節(jié)(C)陰2-2-8斜/表01拠制00%増益0130. OdB0.0偏差曲0. 1-1B調(diào)節(jié)抑制00%増益Z030.OdB0.0偏差dB2. OdB調(diào)節(jié)(e)斜/表01抑制00囂増益&Q30. OdBi0. 0偏差旺6.08B調(diào)節(jié),使HS620釜本操作15.武漢中科創(chuàng) 新士空空 2.2.4.22.2.4.2自動增益調(diào)節(jié)操作:1移動閘門鎖宦回波。2選擇是調(diào)節(jié)基準(zhǔn)dB或偏差dB。3按團鍵,儀器自動進(jìn)行增益調(diào)肖,使閘門內(nèi)的最大回波波幅調(diào)肖到縱坐 標(biāo)的80%左右高度。并且在回波顯示區(qū)的右上角有“自動增益”的字樣提 示。調(diào)節(jié)完成后“
21、自動增益”的字樣消失。2.2.5檢測范圍(脈沖位移)的調(diào)節(jié)檢測人員根據(jù)被檢測工件的厚度合適的調(diào)肖檢測范用,范用調(diào)節(jié)不會改變回波之間的相 對位置和幅度,本儀器調(diào)節(jié)的范用為(06000) mm(鋼縱波)。鍵進(jìn)行范國調(diào)i仁范陽值實時顯示,表示每格的對應(yīng)的實際距離(儀器波形顯示區(qū)分為十格。當(dāng)檢測范用為200mm時,每小格的值為20mm)。例如:將當(dāng)前橫坐標(biāo)的每小格距簡為20mm調(diào)if到40mm,按住放,直到范耐數(shù)據(jù)連續(xù)變換到40mm。226零點調(diào)節(jié)零點調(diào)節(jié)指的是探頭零點的調(diào)節(jié)。為了準(zhǔn)確的對工件缺陷左位,我們必須調(diào)肖探頭的零 點,通俗的說也就是探頭的壓電晶片到工件表而的距禽(包括探頭保護膜的厚度和耦合劑
22、的 厚度)。在本儀器中用時間(US微妙)來表示探頭零點的距離。操作:按畫進(jìn)入功能菜單,再按零偏相對應(yīng)的乙、鍵,此時,該欄反顯, 如圖2-2-9所示。范圍零偏聲遠(yuǎn)K佰20. OOrnm/D0.00 U.S3240 m/s2.00U 2-2-9鍵來調(diào)節(jié)零偏的大小。且零偏的時間值實時顯示。例如:當(dāng)前的零偏值是0.00 US114,要使零偏的值調(diào)肖到0.56 n So就按住操作如下:范園偏芳)1K值20. 00mm/ D0. 00 us3240m/s2. 00在按鍵不按鍵進(jìn)入調(diào)校功能菜單O此時畫欄反顯。如圖HS620基本操作16鍵,直到數(shù)據(jù)顯示為0.56PS為止。注意:探頭的零點一旦校準(zhǔn)好后,就不能改
23、變,否則會影響數(shù)據(jù)精度。 如果真的要改變的話,會有一個滾動信息提示“已校準(zhǔn),是否要改變零偏? ”按鍵后,再進(jìn)行改變。按其他的鍵返回即 不改變。2.2.7脈沖移位調(diào)節(jié)調(diào)節(jié)儀器的脈沖移位, 不會改變回波的相對位置和幅度。 最大可調(diào)卩位移距離不小 于3500mm(鋼縱波)。操作:如圖所示。范圍平移聲速K值20. OOrrim/D0.00 US3240 m/s2. 00i2-2-10鍵來調(diào)節(jié)平移量的大小。且平移的時間值實時顯示。例如:當(dāng)前的平移值是O.OOus時,要使平移的值調(diào)巧到0 56us。就按住鍵,直到數(shù)據(jù)顯示為0.56us為止。(本儀器中用時間(us微妙)來表示)。228聲速測定我們知道,材料
24、聲速是探傷缺陷泄位中非常重要的一個參數(shù)。聲速對于超聲波探傷中 的定位精確度有著極其重要的作用,因此對于未知材料聲速的工件探傷時測立其聲速,是探 傷前的重要準(zhǔn)備步驟,下面利用一塊厚度為50mm的未知聲速材料為例講述聲速測量方法。操作:同步法:利用同一個反射體上的一次和二次底波反射來進(jìn)行聲速測泄。請選聲速測試方式:同步法 請輸入測試距離:50 mm將探頭放在實物試塊上,移動探頭找出最大反射波,觀察屏幕上回波,移動兩進(jìn)入功能菜單,再按平移相對應(yīng)的乙、鍵,此時,該欄反顯,按畫鍵進(jìn)入功能選擇狀態(tài),按鍵移動方塊光標(biāo)到調(diào)校欄,按再按聲速相對應(yīng)的此時該欄反顯,儀器彈出提示:按HS620本操作17個閘門分別套住
25、兩個回波后,按按肥丸此時儀器自動開始調(diào)節(jié)聲速, 直到兩次回波分別對齊50mm和100mm的位置, 聲 速測定完畢?。?注: 如果實物聲速和儀器初始聲速差異太大, 有可能回波不在屏 幕內(nèi), 這時需要調(diào)整范I乩 將波形先調(diào)整到屏幕內(nèi),再移動閘門套住回波) 分步法:如果被測實物試塊聲衰減較大,無法得到二次反射時可用分步法, 利用兩個深度不同的反射體的底波來測泄聲速。例如再制作一塊40 mm實物 試塊。進(jìn)入聲速測試,方法與上而相同,儀器出現(xiàn)提示:直槐頭Q1押制co%増益。53. GdE;0 05 (hon范S10.OOJUT/D聞門移位2& 0HJTI間門A聲透5940Ms請選聲速測試方式:同
26、步法改為分步法請輸入測試距離:50 mm按(兩個不同反射體之間的厚度差將探頭先放在厚度40 mm的實物試塊上,找出反射回波后,再將探頭放在厚度50 mm的實物試塊上,找出反射回波后,用閘門套住,按畫 用閘門套住,按包I宜採頭01押制co%23.3dB0 0於45.2813&乎9Z了L其它鍵退出!)儀器開自動校準(zhǔn)完畢!”,如圖所示。然后屏幕下方顯示“是否重校? ”(按畫鍵重校,儀器校準(zhǔn)253.此時屏幕上出現(xiàn)試塊的一次和二次回波,輕輕移動探頭找出最高回波,按勺鍵,此時儀器將自動調(diào)節(jié)零偏直到一次波對齊100mm位置,且二次波對齊200mm位置 后,儀器調(diào)準(zhǔn)結(jié)朿,并自動彈出自動校準(zhǔn)完畢的提示。
27、如下圖直探頭01*注: 校準(zhǔn)過后, 探頭的入射零點和聲速將自動存入儀器中,若重新調(diào)??稍侔匆淮螆F, 重復(fù)上述操作即可。已校準(zhǔn)過儀器重新調(diào)校的時候儀器會給出“已校準(zhǔn)過,是否重新調(diào)校? ”321.3直探頭AVG曲線制作本儀器中給用戶提供AVG曲線鑄鍛件探傷功能,用戶可根拯探傷范國制作岀相應(yīng)長度 的AVG曲線,作了曲線后,儀器能根據(jù)缺陷波和曲線之間的關(guān)系自動算出缺陷的當(dāng)量直徑 即值。制作AVG曲線有多種方法,本機內(nèi)根據(jù)波形采樣對象的不同分為大平底采樣和平底孔 采樣兩種方法大平底采樣:此方法可用于缺少標(biāo)準(zhǔn)試塊或只有現(xiàn)場實物采樣時使用,只需找岀試塊或范1零偏蘆速K值20.Omm/D0.56 us5940
28、TR/S0.00勺單100.0梓200.0自動校準(zhǔn)芫畢?甲 |圖3-2-2按畫重新開始調(diào)校過程,按其它鍵退出不重新調(diào)校!抑制00%増益23.3dB0.0儀器校準(zhǔn)26.武漢中科創(chuàng) 新士空空 實物的大平底反射回波作為采樣點即可制作AVG曲線。平底孔采樣:此方法適用于試塊齊全,有標(biāo)準(zhǔn)平底孔的用戶制作,以相同大小不同深度的 平底孔來采樣制作。兩種方法除采樣對象不同外,其制作方法完全相同,下面以大平底采樣法為例講述直探 頭AVG曲線的制用流程。準(zhǔn)備若干厚度不同的大平底試塊或?qū)嵨镌噳K。按叵)進(jìn)入曲線功能,按亟對應(yīng)的A ,儀器下方岀現(xiàn)提示:儀器提示:請使用閘門鎖左測試點!提示信息消失后進(jìn)入波形采樣階段。如圖
29、屏幕右上角顯示“測試點:0L并閃動,將探頭放在其中一個大平底試塊上,觀察英回此時屏幕右上角的提示變?yōu)椤皽y試點:02并閃動,如圖請選擇制作對象:大平底閘門移位35. 2mm調(diào)整刪除清寧鍵移動閘門套住一次回波,按期口將波形調(diào)整到滿屏的80%高度,直探頭01抑制cm増益21.9dB0 0鎖左回波峰值,結(jié)束該點的釆樣。儀器校準(zhǔn)27按照上述方法,將探頭放依次放在每個試塊上找岀大平底的最強反射并用閘門套住一次 將波形調(diào)整到滿屏的80%髙度.按盂J鎖立回波蜂值,按采樣。最后一點釆樣完成后,再按一次曲線制作,按其它任意鍵返回繼續(xù)制作曲線。確立結(jié)束后,將繪制岀整條曲線。在制作曲線 過程中若對上一個采樣點重新制作
30、可按屏幕下方鮑欄對應(yīng)的刪除上一個記錄的采 樣點重新采樣。曲線完成后將得到一個大平底曲線,在探傷過程中根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)可以在儀器中設(shè)置一條值 曲線,操作如下:設(shè)置三條值曲線根據(jù)需要進(jìn)行設(shè)置例如,探傷時以4)4mm為探傷標(biāo)準(zhǔn),則按 鍵將初始值改為4 mm,再扶畫如圖。曲線設(shè)置返回探傷界面,可看到屏幕上出現(xiàn)一條相應(yīng)的4曲線,按I豊I鍵將曲線調(diào)整到合適的髙度,即可進(jìn)行探傷,探傷過程中發(fā)了缺陷波,儀器 不僅能顯示出缺陷的深度還能根據(jù)波形與曲線的相對關(guān)系算出該缺陷的當(dāng)量值。鍵將光標(biāo)移動到進(jìn)入曲線值膛,此處共可線值輸入,按曲線設(shè)置曲線值.0mm曲線 G 值 0rnrn曲線 6 值. 0min表面補償. 0dB曲線
31、e 值4rran曲線值 0mm曲線值 0rrm表而補償0dB鍵,再按回波,按吉束該點的吉朿按進(jìn)入探傷列表,按進(jìn)入曲按儀器校準(zhǔn)28.武漢中科創(chuàng) 新士空空 范圍閘門移位閘 門1閘門讀數(shù)20.00r(ircJD85.3 rtu-ftA322斜探頭橫波自動校準(zhǔn)對于橫波斜探頭接觸法檢測而言,在執(zhí)行任何檢測任務(wù)前做距離校準(zhǔn)是必不可少的程 序。商用斜探頭的類型眾多,結(jié)構(gòu)尺寸各異,對不同的檢測對象要求的K值不同,因而在 楔塊中的聲程的大小也不一樣,即對每個橫波斜探頭都要測量它的入射點,確左零偏值。斜 探頭在使用過程中隨著楔塊的磨損,經(jīng)過一段使用后也要重新校準(zhǔn)。3.2.2.1斜探頭橫波快捷調(diào)校模式(主要針對于C
32、SK- I A試塊)下而以CSK-I A標(biāo)準(zhǔn)試塊為例如圖所示,介紹斜探頭的快捷調(diào)校步驟。直探頭01抑制00%増益0127. 3dB0.0* 100.06 6.42儀器校準(zhǔn)29為“試塊選擇.CSK- I A鍵,返回探傷界而。列表,光標(biāo)處于“試塊選擇.其它試塊” 一欄,首先根據(jù)需要選擇所使用測試試塊,因我們現(xiàn)在使用的測試試塊為CSK- I A試塊,所以按畫將試塊選擇欄改鍵,選擇任意斜探頭通道,按鍵進(jìn)入?yún)?shù)按通道鍵,再按儀器校準(zhǔn)30.武漢中科創(chuàng) 新士空空 進(jìn)行自動校準(zhǔn)1按陲I熱鍵進(jìn)入自動校準(zhǔn)功能,屏幕右上角顯示“自動校準(zhǔn)”字樣且兩閘門 自動套在CSK- IA試塊50mm和100mm圓弧的反射波。2將
33、斜探頭放置在CSK- I A試塊的R50和R100的圓心處,來回移動探頭,直 到R50和R100的反射回波同時岀現(xiàn)在波形顯示區(qū)內(nèi)。此時首先尋找R100弧鍵將波形移動到屏幕內(nèi),當(dāng)回波髙度超出滿刻度時可按陛J鍵,反復(fù)上述直至確宦最高反射波,此時看R50弧而的回波是否在屏幕上髙 于10%。若低于此髙度,可將探頭平行地向R50的弧而橫向移動,直至R50的弧而回波髙度在滿刻度的10%以上。3再按畫鍵開始自動校準(zhǔn)。校準(zhǔn)完之后,滾動出一個提示信息。“自動校準(zhǔn)完畢!”當(dāng)由于其他原因而導(dǎo)致校準(zhǔn)不出來的話.就會有相關(guān)的信息提示,如:“閘門未鎖定波,無法校準(zhǔn)M ”4完畢后屏幕上顯示請用鋼尺測前沿:0.0”,此時手應(yīng)
34、固定探頭不動,用鋼 尺測量探頭前端到CSK-1A試塊R100端邊的距離X,然后用100-X所得到的 數(shù)值就是探頭的前沿值。如圖所示鍵自動跳到下一步驟,K值測試狀態(tài)。3. 2.2.2 K值測試快捷操作模式(主要針對于CSK- I A試塊)(1)在試塊選擇欄選擇為CSK- I A試塊時,在自動調(diào)校完畢后,儀器會自動進(jìn)入K值測試狀態(tài),屏幕下方顯示“進(jìn)入K值測試”,且默認(rèn)CSK-IA試塊上深度30mm的050孔為K值測試孔,閘門自動鎖定050孔波位置如圖所示:“請用鋼尺測前沿:0.0,用1包1鍵前沿修改完畢,儀器下方提示“是否覓校?將探頭前沿值改為實測數(shù)值后,用鋼尺雖 出探頭和 端到R1OO端邊之間
35、的距離X。鍵重校,按其它儀器校準(zhǔn)31方顯示“所測K值為:1.98化按連勺鍵K值測試完畢,儀器底部顯示“是否重校? ”,畫鍵可重新校準(zhǔn)K值,按其它鍵退出!3. 2. 2. 3斜探頭橫波自動調(diào)校基本操作步驟(使用非CSK- I A試塊調(diào)校時操作步驟) 卜而以CSK-1A標(biāo)準(zhǔn)試塊為例如圖所示,說明斜探頭的校準(zhǔn)程序。斜探頭橫波入射零點手調(diào)校準(zhǔn)跟直探頭一樣,用戶必須準(zhǔn)確的找到斜探頭的入射點(入 射點是指英主聲束軸線與探測而的交點)。下而就利用CSK-1A試塊的R50和R100的兩個回波進(jìn)行校準(zhǔn)。操作:1.2.按自動調(diào)校鍵,此時屏幕下方出現(xiàn)如下提示: 請輸入材料聲速:3240nVs更I包)若不是50mm,
36、按將探頭對準(zhǔn)050孔方向,前后移動探頭找出孔波最髙回波,按屏幕下鍵選擇任意斜探頭通道,請輸入起始距離:5Qnm】斜/表01抑制ooz0 0 52.3-46. 80 23. 4閘門移位13. 3mfn范10.91mm/B 7. 3角 度63.4増益(0.1)UO AB改為50mm,再按(確認(rèn)J)儀器校準(zhǔn)32.武漢中科創(chuàng) 新士空空 提示信息消失,進(jìn)入波形采樣階段。3.將探頭放置CSK- I A試塊上,發(fā)射方向?qū)?zhǔn)R50和R100的弧面上,如圖:前后移動探頭找岀R100弧而最高反射回波。觀察屏幕上R100弧面反射回波的位 宜,若偏離到屏幕以外側(cè),則按左下方向鍵,調(diào)整零偏,將R100的回波移進(jìn)屏幕內(nèi)
37、閘門中,如圖::自動哋斜/表01抑制00%増益233dB0.0單49.2 25%“ 98. 780%20.040.060.080.0100.0甲 |范圍零偏|聲速K值10.0mm/D11.64 us |3240m,/s2.00按波峰記憶鍵記錄最高回波, 當(dāng)找到R100最大反射波時, 平移的將探頭向R50呱面移動探頭, 讓R50弧而在屏幕上達(dá)到20%以上的高度,然后按畫,此時儀器 將自動調(diào)節(jié)零偏,直到R50和R100的反射駕波分別對齊50mm和100mm的位置后,儀 器校準(zhǔn)結(jié)束,并自動彈出提示:自動校準(zhǔn)完畢!請拿鋼尺測量前沿0.0 mm此時固宦探頭不動,拿尺量出探頭前到R100弧而端邊的距離,如
38、圖:請輸入終止距離:10011)111儀器校準(zhǔn)33測K值功能適用于斜探頭、表面波探頭和小角度。例如:標(biāo)識為2.5P13X13K2-D的探 頭,從標(biāo)識上就可以看出它是一只斜探頭,K值為2,所用晶片尺寸為13X 13mm的方片, 頻率為2.5MHz。對于探頭的標(biāo)稱值,特別是K值都與實際值有一泄的誤差。為了在檢測時 精確泄位缺陷的距離,所以在入射點校準(zhǔn)后必須測K值。本機型的K值測量,充分使用了數(shù)字儀器的數(shù)據(jù)處理能力,采用孔徑直接輸入方式,儀 器根據(jù)孔徑輸入值自動汁算補償就,完全消除了由孔徑帶來的深度和聲程誤差,使測量的K值準(zhǔn)確可靠。本儀器測量K值簡單方便,利用對已知孔徑和孔徑中心距離H(離探頭放置的
39、 一而)的孔進(jìn)行測量。調(diào)YdK值,使得數(shù)據(jù)顯示區(qū)的垂直距離的值等于孔中心距離時,此時 的K值就是此斜探頭的K值。下而就利用CSK-1A標(biāo)準(zhǔn)試塊的小50的孔(孔徑為(1)50,孔心 深度為30唄)對K值進(jìn)行測疑。如圖所示,將探頭放宜在試塊上。3. 2. 2.4斜探頭橫波K值自動校準(zhǔn)基本方法儀器校準(zhǔn)34.武漢中科創(chuàng) 新士空空 請選擇K值測試方式:手調(diào)(mT|儀器彈岀提示:鍵改為自動,儀器校準(zhǔn)35提示信息消失,進(jìn)入波形釆樣階段。將探頭放宜在CSK- I A試塊上發(fā)射方向?qū)?zhǔn)試塊上孔徑50mm,中心深度為30mm的圓孔,前范u閘門移位角度K值10. Omn/D46. 8nim65.0 |2. 143
40、2 2 5距離一波幅曲線的應(yīng)用距離一波幅曲線是一種描述反射點至波源的距離、回波髙度及當(dāng)量大小間相互關(guān)系的曲 線。大小相同的缺陷由于距離不同,回波高度也不相同。因此,距離一波幅曲線對缺陷的左 量非常有用。本儀器可自動制作距離一波幅曲線(DAC曲線九1)曲線的制作:本例以CSK-IIIA試塊為例介紹DAC曲線的制作流程。按照上步驟對探頭進(jìn)行入射點請使用閘門鎖定測試點!請輸入測試孔孔徑:50mm請輸入測試孔深度:30mm后移動探頭找出該孔最強反射,按鍵移動閘門鎖左回波,若回波低于20%髙將波形調(diào)整到80%髙度,再按I皿J鎖龍回波蜂,確認(rèn)找到最強反射后按畫,儀器將自動算出K值并存入?yún)?shù)。K值測試完畢!
41、如圖所示。度或超岀屏幕,按斜/表01抑制00% 81.660.3! 53.0増益】42. 2dB0.0和K值校正后,按儀器出現(xiàn)提示:儀器校準(zhǔn)36.武漢中科創(chuàng) 新士空空 提示消失后進(jìn)入波形采樣階段。屏幕右上角出現(xiàn)測試點01,并閃爍,如圖:儀器校準(zhǔn)37抑制00増益丄53.6dB0.0將探頭放置在CSK-IHA試塊上,尋找試塊上不同深度(1)1X6的橫孔回波的反射,例如 先找10mm深的孔,探頭對齊10mm深的孔,前后移動找出該孔回波,按 動閘門鎖左回波,若波形超岀滿屏或低于20%髙度可按一下儀器右上方的測試點自動跳為02,按照上述方式依波找出所測孔的最髙回波并記錄下來,最終孔的深度,一般大于彼測工
42、件厚度的2倍,當(dāng)最后一個點采樣完成后,再按一次畫,儀器提示:確定完成曲線嗎?:01斜/表01 22.4* 11.04 10.080.5Z甲I閘門移位5. 9 crim若確怎完成曲線則按應(yīng)I,否則按其它任意鍵返回繼續(xù)制作曲線??蓜h除上一個制作的點重新采樣。確認(rèn)后儀器在屏40.050.00.010.0鍵移,將波形調(diào)整到80%髙度,按,結(jié)朿第一點的釆樣。記錄髙波回波,再移動探頭,直到找出最髙回波,在制作過程中,儀器校準(zhǔn)38.武漢中科創(chuàng) 新士空空 幕上出現(xiàn)一條根據(jù)剛才用戶釆樣的回波峰值繪制的曲線,即基準(zhǔn)線。確上了基準(zhǔn)線后,可進(jìn)入?yún)?shù)列表中根據(jù)探傷標(biāo)準(zhǔn)要求,設(shè)置評左、泄量和判廢線2)曲線的調(diào)整:若覺得某
43、個點制作得不太理想,跳動,光標(biāo)指向哪點時,可以按 調(diào)整狀態(tài)。,屏幕上的光標(biāo)將在每個制作點之間循環(huán)來調(diào)整曲線髙度,調(diào)整完畢后按確認(rèn)鍵退出,鍵移動箭頭光標(biāo),對應(yīng)相的標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行設(shè)操作:按進(jìn)入探傷列表,按儀器校準(zhǔn)39置,以評左一9、左咼一3、判廢+5.表而補償+4為例,如圖:儀器校準(zhǔn)40.武漢中科創(chuàng) 新士空空 曲線設(shè)置*評定-9dB定量- -3dB判廢- +5dB表面補償- 4dB參數(shù)輸入完畢后,按13鍵返回探傷界面,屏幕上根據(jù)所輸入的參數(shù)自動生成三條曲 線。曲線制作完畢,可進(jìn)入探傷工作。按兩次4)曲線的延長:在曲線制作完成后,如果因為試塊不全或其它原因要延長曲線,可使用曲線延長功能。器將自動按照橫通孔
44、的聲壓法則將曲線延長至用戶指定范的深度。制作曲線完成后再按制作對應(yīng)的鍵,儀器提示請輸入晶片尺寸,和延長的范用,則儀41四探傷應(yīng)用本機根拯用戶在探傷中的各種需求增加了諸多探傷的輔助功能,應(yīng)用這些功能將大大的 減化掉以住探傷中的人為訃算和繁瑣的操作,為提高探傷效率創(chuàng)造了良好的平臺。本章將著 重對這些功能進(jìn)行介紹,用戶可根據(jù)自身探傷要求選擇適合自己的功能,以簡化探傷過程。4.1焊縫功能(適用于斜探頭)4.1.1焊縫參數(shù)設(shè)置確左了修改的焊縫參數(shù)項后, 鍵進(jìn)入修改和重新設(shè)置。在數(shù)字的下方有 一個光標(biāo),表示當(dāng)前調(diào)肖的步進(jìn)值。如果長時間地按住某方向鍵時,步進(jìn)值會逐 步增加。松開按鍵后,步進(jìn)值又恢復(fù)到儀器設(shè)左
45、的默認(rèn)初值(默認(rèn)值是根據(jù)各個 參數(shù)的特性而設(shè)左)。焊縫參數(shù)輸入完后,再按畫鍵退出此焊縫參數(shù)項的設(shè)苣, 回到焊縫圖標(biāo)參數(shù)設(shè)置子功能菜單。如果要是還要修改英它的參數(shù)項,就重復(fù)上 而的操作。按13鍵進(jìn)入?yún)?shù)頁顯示畫面,使用鍵移動步光標(biāo)指向焊縫功能欄。按建進(jìn)入焊縫圖標(biāo)參數(shù)設(shè)置子功能菜單,如下圖所示。能能L L町町H2H3H4H51H2H3H4H51 2 2 3 3岀岀也也度度度度度度角角角度度度度度度角角角埠長厚埠長厚厚厚厚厚夾夾夾退厚厚厚厚夾夾夾退3333 3 3 21560452156045參!輸入焊縫圖的相關(guān)參數(shù)后,使用鍵移動步光標(biāo)指向焊縫功能欄,按設(shè)設(shè)1012101242.武漢中科創(chuàng) 新士空空
46、 所示。如顯示的焊縫圖標(biāo)不正確時,可把焊縫功能參數(shù)改為“設(shè)置狀態(tài),重復(fù)做 的操作。注釋注釋: :1.只有在焊縫功能為設(shè)置狀態(tài)時,才能修改與焊縫圖標(biāo)相關(guān)的參數(shù)。2.任焊縫功能為“應(yīng)用“狀態(tài)時,才能在A A掃功能中使用焊縫缺陷泄位分析。同時與焊縫圖標(biāo)相關(guān)的參數(shù)被鎖泄(例如:工件厚度和探頭前沿等)。3.焊縫圖標(biāo)參數(shù)中的“厚度H1H1”與大菜單中的“工件厚度”是同一參數(shù)值, 只是任不同的地方名稱不同而也。4.1.2焊縫圖的缺陷定位分析焊縫功能設(shè)左為應(yīng)用狀態(tài)后,可使用焊縫缺陷泄位分析功能。使用閘門鎖左缺陷波,并找出最大缺陷波蚯值后按建進(jìn)入焊縫功能應(yīng)用狀態(tài),并顯示使用焊縫參數(shù)所畫的焊縫圖標(biāo),如下圖置置設(shè)設(shè)
47、101233321560454101233321560454能能LH1B2H3H4B5123LH1B2H3H4B5123出出霍度霍度度度度度角角角度度度度角角角焊長厚厚厚焊長厚厚厚厚厚夾夾夾退厚厚夾夾夾退43斜/表01増益(0.1)27.750.0 44.7 22.383.0Z;M Z| l uAUl iraTk0.020.040.060.080.0oo.o 范圉10 . rrtr,kD閘門移位42 5 rum閘門A動態(tài)回於圖4-172儀器滾動出提示輸入信息:輸入用尺子測量焊縫中心至探頭前沿的距離后,按應(yīng)I鍵進(jìn)入焊縫缺陷宦位分析狀態(tài),如下圖所示。焊縫圖標(biāo)內(nèi)小十字標(biāo)記表示缺陷位置。斜/表01抑制
48、o o乂 増益(0.D 27.7 dlB0.0圖4-1-5確認(rèn)使用鍵可左右移動座標(biāo)內(nèi)的虛線光標(biāo),焊縫圖標(biāo)內(nèi)的缺陷位置標(biāo)記50.0*44 74 22 - 344.武漢中科創(chuàng) 新士空空 (小十字)也同時在聲線上移動,并在數(shù)據(jù)顯示區(qū)顯示當(dāng)前虛線光標(biāo)位宜的相關(guān)數(shù)據(jù)。45(注:此時按囹 鍵可以存儲焊縫圖) 按任意鍵退出焊縫缺陷怎位分析狀態(tài),如下圖所示。斜/表01増益OJ) 27 ?d.B& 0 50.0 -44.7 22.383 060.080.0iw n.A.4-1- 64.2測厚功能(適用于直探頭)1首先,按鍵進(jìn)入通逍選擇功能,選擇直探頭通道,利用標(biāo)準(zhǔn)試塊進(jìn)行宜探頭縱波入 射零點校準(zhǔn)。2校準(zhǔn)
49、完畢后, 按13鍵進(jìn)入?yún)?shù)列表, 移動方向鍵, 將光標(biāo)移動至參數(shù)列表中功能設(shè)置 欄內(nèi)的“功能選擇探傷功能”子欄目前而。按邑鍵選擇“測厚功能”,再按畫鍵 退岀參數(shù)列表,進(jìn)入測厚工作狀態(tài)3將探頭置于待測工件上,調(diào)整靈敏度,找工件的底而反射波,然后移動閘門A和B分別套 住底而一次反射波和二次反射波,工件實際厚度值即顯示在屏幕右側(cè),如下圖所示:).020.040.0諭?移位j42.5 mrn Iloo.o 0窈盤面預(yù)1 ! 46.武漢中科創(chuàng) 新士空空 4.3性能校驗功能針對探頭與儀器的綜合匹配性能,本儀器設(shè)有對靈敏度余量、分辨力、動態(tài)范囤、水平 線性、垂直線性五個指標(biāo)的自動測試功能,減少了以前手動測試
50、的指標(biāo)的繁瑣步驟。在進(jìn)行 此功能前必須需先對所測試直探頭進(jìn)行校準(zhǔn)(前而對直探頭縱波零點自動校準(zhǔn)已作闡述)。 具體操作如下:按參數(shù)鍵到參數(shù)欄進(jìn)入探傷參數(shù)列表,按下方向鍵將光標(biāo)移動到性能校驗欄,按確認(rèn)鍵 將該項功能打開,按參數(shù)鍵退岀參數(shù)列表后儀器自動進(jìn)入性能測試狀態(tài)如下圖所示:探傷參數(shù)探傷參數(shù)功能設(shè)畫圖4-3-22退岀參數(shù)后儀器自動進(jìn)入到第一項靈敏度余量測試, 此時將探頭放在靈敏度試塊上(CS-1,02X200 mm),移動探頭找岀0 2孔的最髙回波,按確認(rèn)鍵或單擊旋鈕儀器開始自 動調(diào)整波形并計算出靈敏度余量顯示在屏幕功能選擇能驗功校紋能裂性功能選擇 裂釵功能 少性能樓驗探傷功能關(guān)開期廈擇護定型選
51、嫁鎖類色1數(shù)印日売顏屏參打2008/08/08中彩色系列 ICANON期度擇護定型選保鎖米K色蔣數(shù)印E亠兌顏M參打儀蓋設(shè)蓋圖4-3-147下方,并進(jìn)入下一項動態(tài)范國的測試如下圖所示進(jìn)入動態(tài)范用測試仍固泄探頭不動,按確認(rèn)鍵儀器自動計算,并進(jìn)入下一項垂直線性 的測試。48.武漢中科創(chuàng) 新士空空 4進(jìn)入垂直線性測試,仍固左探頭不動,按確認(rèn)鍵,儀器自動訃算并進(jìn)入下一項水平線 性的測試.-直探頭Oi .-抑制00 X 増益(0.1).- 22 0 dB1: 10 0 - -4-20 0.0 -80.0-JU-P.O45. 0-90. 0135. 0180. 0225. 0 S余量dB動態(tài)范圍-dB垂直線
52、性.二二二於.圖4-3-55進(jìn)入水平線性測試,將探頭放置在CSK-IA試塊上厚25 mm的地方,找岀大平底的六 次反射回波,若有波蜂高于滿屏可按自動增益鍵將波形衰減到屏幕內(nèi),按確認(rèn)鍵,儀器依次 讀取六次回波的數(shù)值并計算岀水平線性.同時進(jìn)入下一項分辨力的測試。120.0150.0 S亙丁窈瘵著甬了至査瘞匣詠豐弱曲dBI血 % %, 直探頭01. 抑制00Z 塔益(0.1) 22 0 0 0 彳t V:1、- i 20 0 .090.0MP.O 45.0i.登孑蕩態(tài)范闔- dB-dBg 4-3-430. 0.135. 0180. 0225. 0住亙探頭0】抑制0 7;$ 25 0_増益(0.1)2
53、2.04860.090.049. 6進(jìn)入分辨力測試,將探頭放在CSK-IA試塊上如下圖所示,找岀86 mm和91 mm兩處50.武漢中科創(chuàng) 新士空空 4.4聲響報警的應(yīng)用1在掃查過程中如需要聲響報警的話(默認(rèn)狀態(tài)下,聲響不報警,且沒有喇叭圖標(biāo) 顯示),按畫鍵打開報警功能,同時在電池圖標(biāo)的上而岀現(xiàn)喇叭的圖標(biāo)。此時 當(dāng)閘門內(nèi)的缺陷回波髙于閘門髙度(設(shè)左閾值)時,儀器就會連續(xù)發(fā)出“嘀嘀嘀” 的報警聲,警告發(fā)現(xiàn)超標(biāo)缺陷。如要關(guān)閉報警功能,再按一次畫鍵即可,此時 電池的上方岀現(xiàn)不報警的圖標(biāo),延時幾秒鐘就消失。2在雙閘門狀態(tài)下,當(dāng)閘門B內(nèi)的底波幅度低于閘門B的高度(設(shè)泄閾值)時,儀 器就會連續(xù)發(fā)出“嘀嘀嘀
54、”的報警聲,當(dāng)閘門B內(nèi)的底波幅度髙于閘門B的高度,閘門A內(nèi)的缺陷回波幅度超過閘門A的髙度時,儀器也就會連續(xù)發(fā)出“嘀嘀嘀” 的報警聲,警告發(fā)現(xiàn)超標(biāo)缺陷。4.5縱向裂紋高度測量的應(yīng)用縱向裂紋高度測量也就是端點衍射波測立缺陷高度。采用端點衍射波測定方法是依賴于 t 直探頭01抑制0 0乂増益(0 1)22 0 dB0 0.1-11 50 0* 44 722.383.0Z1:平底的反射回波并找出相同髙度時,按確認(rèn)鍵,儀器自動計算出分辨力。51缺陷端點反射波來辨認(rèn)衍射回波的,進(jìn)而又通過缺陷兩端點衍射回波之間的延時時間差值,確定缺陷自身髙度,而不是用聲傳播振幅描述的。在檢測過程中,不同檢測面上探測,英缺陷
55、回波高度顯著不同。在平行于缺陷的探測而 上探測,缺陷回波高。在垂直于缺陷的探測而上探測,缺陷回波很低,甚至無缺陷回波,這 樣的缺陷回波可初步判斷為連續(xù)裂紋。本儀器就是采用端點衍射回波法測左裂紋的高度。下 而就以一個開口裂紋為例說明(采用斜探頭)。操作鍵進(jìn)入?yún)?shù)列表。按叵鍵,將光標(biāo)移至“裂紋功能. 關(guān)”前,按也:打開裂紋功能,再按顯。調(diào)節(jié)檢測范圍到一定值。確立上端點回波:移動探頭,用閘門鎖左缺陷回波(在裂紋測深功能下,只有單閘門操作,且只能 平行移動)找到缺陷回波的最大幅度(也就是缺陷回波穌值開始降落前瞬間的幅 度位置)。再按上端點相對應(yīng)的乙、鍵,鎖泄并凍結(jié)此回波波形,并且在該缺陷 回波的峰值處
56、顯示一個大三角圖形。如圖所示。此時,儀器記住了上端點的ADW上的值。斜/表01抑制00% LL1上LI49.3dB+0.00: 117.64 105 24 52.60246310甲1范圍10.0mm/D閘門起始.43 5 mm 上端點下端點圖4一5-13確定下端點回波繼續(xù)移動探頭,用閘門鎖定缺陷回波,找到缺陷回波的最大幅度再按下端點相對 應(yīng)的乙、鍵,鎖立并凍結(jié)此回波波形,如下圖所示。儀器記住了下端點的按52.武漢中科創(chuàng) 新士空空 范園閘門起貽上諦點下端點10.0mm/070.5 mm圖5-2DW下的值。并且儀器自動計算出缺陷的自身髙度AH,同時滾出一條信息:裂紋高度AH =ADWT-ADVV上
57、二20.2mm如果用戶想重新測裂紋髙度,再按鍵重新操作。如果不想的話,就按任意鍵退岀。4.6包絡(luò)功能包絡(luò)功能主要對斜探頭而言,用來記錄變化的傷波峰點的軌跡圖。主要用于缺陷的左性 分析。如圖所示,探頭在不同的位置,所反射的回波髙度和距離也不同當(dāng)探頭從移到處, 在屏幕上的回波幅度應(yīng)該從低一髙一低變化,并留下不同幅度的峰點組成一個新的曲線,我 們稱此曲線為包絡(luò)線。下而就以上圖的裝置。我們以d) 50孔為例掃查其包絡(luò)線。操作:在檢測過程中, 按函逍進(jìn)入包絡(luò)功能。 顯示的電子?xùn)鸥裣А?并在回波顯示區(qū) 的右上角顯示包絡(luò)”字樣。斜/表01抑制00%増益49.3dB+0. 00 162.7145.5*72.
58、853閘門起始寬度高度A95. 5 mm26. 7 mm42.5%移動探頭,觀察最大波的髙度,按鍵,將最髙波調(diào)右到80%左右。再輕輕移動探頭(探頭用力均勻,平行移動),隨即屏幕上會顯示出由“點”組成的回波峰 值軌跡線。如圖所示。建退岀包絡(luò)功能。4.7存儲波形數(shù)據(jù)4.7.1存入子功能“存入”子功能對波形顯示區(qū)所有的波形圖及相關(guān)參數(shù)可進(jìn)行掉電存儲。 本機能存儲1000幅波形圖,編號為1 1000。存儲區(qū)編號可由儀器自動遞增給出,或由用戸任意 選擇。當(dāng)選擇的存儲區(qū)編號內(nèi)已存有數(shù)據(jù)時,儀器將提示一個信息。操作:1在回波顯示區(qū)顯示出要存入的波形(可以在檢測的過程中或者在以后介紹的靜 態(tài)的情況下都可以存入
59、)。該存儲號中。當(dāng)該存儲號中已存有數(shù)拯時,滾出一個提示信息:“已存有數(shù)據(jù),要覆蓋嗎? ”這時,如果你要覆蓋的話,就按13鍵進(jìn)行覆蓋:如果不的話,就按畫 外的任總鍵退出。BL懐出一條信息:“請輸入存儲號:001如圖4J3所示,您可以用鍵對存儲號進(jìn)行修改,此時回波已被凍結(jié)。當(dāng)選擇好存儲號后,再按囤JS鍵將波形數(shù)據(jù)及有關(guān)參數(shù)存入到通道:01抑制00%増益34. 9dB+0. 0054.武漢中科創(chuàng) 新士空空 諸輸入存儲號:Q01范園10.Omm/0恙占0.56 us蘆速5922 rri/sK值2.004 7 2讀出子功能讀岀子功能用于讀出已存入機內(nèi)的存儲區(qū)的波形圖及相關(guān)參數(shù),供用戸重新讀數(shù)和打印 探傷
60、報告或?qū)⒋鎯^(qū)的波形圖及相關(guān)參數(shù)傳送給微機(PC)。操作:按畫鍵進(jìn)入輸出功能菜單,此時讀出欄已經(jīng)反顯,表明已進(jìn)入了讀岀子功能。鍵輸入要讀出的存儲區(qū)號后,按回鍵讀出。儀器將該讀出號的數(shù)據(jù)和波形顯示在屏幕上。如圖所示。如果該讀出號中沒有數(shù)據(jù)的話,就滾岀提示信息:“此讀出號無數(shù)據(jù)同時將回波顯示區(qū)的波形擦掉。 .t-TT-X X.1-.嘰九通道:01抑制00%42. 2dB0.0讀出001通道:CH抑第!00%23.3dB0.0486. 5J 98.6- 93.9$ 30.0554.7.3刪除子功能在輸岀功能菜單中的“刪除”子功能,可刪除一個指泄存儲號內(nèi)的波形及相關(guān)參數(shù)。刪 除后的存儲區(qū)可重新存入新的波形數(shù)據(jù)。操作;按畫鍵進(jìn)入輸出功能菜
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