《無損檢測基礎知識》ppt課件

1、電站鍋爐無損檢測天津市電力公司技術中心天津市電力公司技術中心 20212021年年6 6月上海月上海 北京北京目目 錄錄n無損檢測概論n射線檢測根底知識n超聲波檢測根底知識n磁粉檢測根底知識n浸透檢測根底知識n渦流檢測根底知識n鍋爐的無損檢測要求第一章無損檢測概論第一章無損檢測概論一無損檢測的定義及分類一無損檢測的定義及分類定義：在不損壞試件的前提下，以物理或化學方法為手定義：在不損壞試件的前提下，以物理或化學方法為手段，借助先進的技術和設備器材，對試件的內部及外表段，借助先進的技術和設備器材，對試件的內部及外表的構造，性質，形狀進展檢查和測試的方法。的構造，性質，形狀進展檢查和測試的方法。分

2、類：射線檢測分類：射線檢測RT-Radiographic Testing 超聲檢測超聲檢測UT-Ultrasonic Testing 磁粉檢測磁粉檢測MT-Magnetic Testing 浸透檢測浸透檢測PT-Penetrant Testing 渦流檢測渦流檢測ET-Eddy Current Testing)RT和和UT主要用于探測試件內部缺陷主要用于探測試件內部缺陷MT、PT和和ET主要用于探測試件外表缺陷主要用于探測試件外表缺陷開展：以現(xiàn)代科學技術的開展為根底的。開展：以現(xiàn)代科學技術的開展為根底的。 RT是在德國物理學家倫琴發(fā)現(xiàn)是在德國物理學家倫琴發(fā)現(xiàn)X射線后開展起來的；射線后開展起來的

3、； UT是在聲納技術和雷達技術的根底上開發(fā)出來的；是在聲納技術和雷達技術的根底上開發(fā)出來的； MT、ET建立在電磁學實際的根底上；建立在電磁學實際的根底上； PT得益于物理化學的進展得益于物理化學的進展 無損探傷無損檢測無損評價無損探傷無損檢測無損評價 無損探傷是早期階段的稱號，其涵義是探測和發(fā)現(xiàn)缺陷； 無損檢測是當前階段的稱號，其涵義不僅僅發(fā)現(xiàn)缺陷，還包括探測缺陷的一些信息，如位置、外形、尺寸、性質等； 無損評價那么是即將進入或正在進入的新的開展階段，包涵更廣泛，更深化的內容，它不僅要求發(fā)現(xiàn)缺陷，探測缺陷的詳細數(shù)據(jù)，還要求獲取更全面，更準確的，綜合的信息，例如缺陷的取向、內含物、準確外形尺寸

4、、缺陷部位的組織、剩余應力等，結合成像技術、自動化技術、計算機數(shù)據(jù)分析和處置等技術，與資料力學、斷裂力學等知識綜合運用，對試件或產品的質量和性能給出全面，準確的評價。 二無損檢測的目的二無損檢測的目的1、保證產質量量、保證產質量量2、保證運用平安、保證運用平安3、改良制造工藝、改良制造工藝4、降低消費本錢、降低消費本錢三三 無損檢測的運用特點無損檢測的運用特點1、無損檢測要與破壞性檢測相配合、無損檢測要與破壞性檢測相配合2、正確選用實施無損檢測的時機、正確選用實施無損檢測的時機3、正確選用最適當?shù)臒o損檢測方法、正確選用最適當?shù)臒o損檢測方法4、綜合運用各種無損檢測方法、綜合運用各種無損檢測方法四

5、承壓類特種設備無損檢測規(guī)范四承壓類特種設備無損檢測規(guī)范2006年年3月月27日，國家質檢總局質檢辦特函日，國家質檢總局質檢辦特函2006144號關于鍋爐壓力容器平安監(jiān)察任務有關問題的意號關于鍋爐壓力容器平安監(jiān)察任務有關問題的意見中規(guī)定：承壓設備無損檢測執(zhí)行見中規(guī)定：承壓設備無損檢測執(zhí)行JB/T47302005，因此在承壓設備領域，因此在承壓設備領域，JB/T4730本質上是強迫性規(guī)本質上是強迫性規(guī)范。范。JB4730-2005 包括六部分包括六部分1、通用部分；、通用部分；2、射線檢測；、射線檢測；3、超聲檢測；、超聲檢測；4、磁粉檢測；、磁粉檢測；5、浸透檢測；、浸透檢測；6、渦流檢測、渦流

6、檢測JB4730-2005規(guī)范規(guī)定了射線檢測、超聲波檢測、磁粉檢測、浸透檢測和渦流檢測這五種無損檢測方法及質量等級評定分類，適用于：1、金屬資料制鍋爐、壓力容器固定式、挪動式及壓力管道原資料、零部件和設備的制造安裝檢測。2、在用金屬資料制鍋爐、壓力容器固定式、挪動式及壓力管道的檢測。3、鍋爐、壓力容器固定式、挪動式及壓力管道有關的支承件和構造件，如有要求也可參照該規(guī)范進展檢測。第二章射線檢測根底知識第二章射線檢測根底知識 射線檢測最主要是探測試件內部的宏觀幾何缺陷。射線照相法是指用X射線或射線穿透試件，以膠片作為記錄信息的器材的無損檢測方法。2.1 射線照相法原理1、射線的產生(X射線、射線X

7、射線: 射線束中包括延續(xù)X射線和特征X射線延續(xù)X射線產活力理：動畫演示根據(jù)電動力學實際，作加速運動包括負加速運動的帶電粒子將產生電磁輻射。X射線是從X射線管中產生的，X射線管是一種兩極電子管。將陰極燈絲通電，使之白熾，電子就在從陰極移向陽極的方向加速飛行，獲得很大的動能，當這些電子撞擊陽極時，與陽極金屬原子的核外庫侖場作用，發(fā)出軔致輻射而放出X射線。標識標識X X射線產活力理射線產活力理: :動畫演示動畫演示 能量較大的電子入射到靶資料的原子中，與殼層電子碰撞，能量較大的電子入射到靶資料的原子中，與殼層電子碰撞，擊出內電子，使原子處于激發(fā)態(tài)吸收；激發(fā)態(tài)原子釋放能擊出內電子，使原子處于激發(fā)態(tài)吸收

8、；激發(fā)態(tài)原子釋放能量發(fā)射光子輻射。即發(fā)射標識量發(fā)射光子輻射。即發(fā)射標識X X射線。射線。 產生標識產生標識X X射線的條件：管電壓射線的條件：管電壓 某一臨界值時，才干產生標某一臨界值時，才干產生標識識X X射線。射線。 射線產活力理射線產活力理原子核的重要性質原子核的重要性質-放射性放射性放射性同位素產生放射性同位素產生或或衰變之后，假設仍處于高能級的激發(fā)衰變之后，假設仍處于高能級的激發(fā)形狀，必定要釋放多余的能量回到低能級的穩(wěn)定形狀基態(tài)，形狀，必定要釋放多余的能量回到低能級的穩(wěn)定形狀基態(tài)，這時發(fā)射這時發(fā)射射線。射線。2、射線與物質的相互作用1)光電效應 動畫演示入射到物體內的光子與原子中的軌

9、道電子發(fā)生碰撞，光子的全部能量傳送給軌道電子使電子脫離軌道成為光電子，這一景象稱為光電效應。2)康普頓效應散射 動畫演示 入射光子與軌道電子碰撞，軌道電子脫離軌道成為反沖電子，入射光子能量降低波長變長并改動運動方向成為散射線，這一景象稱為康普頓效應散射。3)電子對效應 動畫演示 當入射光子的能量1.022Mev時，在原子核附近由于核庫侖場的作用將產生一對正、負電子，這種景象稱為電子對效應。電子質能 0.511Mev4)瑞利散射 動畫演示光子與內層電子作用時，電子吸收光子能量從低能級躍遷到高能級，同時釋放出一個散射光子，其能量與入射光子的能量一樣。光電效應康普頓效應電子對效應瑞利散射產生條件hv

10、W0hvW0hv1.02 MeV特征光子被吸收產生電子hv=W0+(1/2)mv2 EehV -Ei光子部分能量的轉移發(fā)生散射產生反沖電子光子被吸收生成一對正負電子對（高能X射線和射線）入射管子和束縛較牢固的內層軌道電子發(fā)生的彈性散射過程作用對象束縛電子最松的外層電子自由電子原子核庫侖場內層電子產物光電子俄歇電子標識X射線反沖電子散射光子正電子負電子反沖整體是原子干涉散射線幾率hv,Z 隨光子能量增大而減??；隨原子序數(shù)增大而增大hv,Z 與光子能量成反比；與原子序數(shù)成正比hv ,Z 隨光子能量增大而減增大；隨原子序數(shù)增大而增大hv,Z 隨光子能量增大而急劇減??；與原子序數(shù)平方成正比衰減條件pc

11、eR對入射光子吸收散射吸收散射四大效應的比較3、射線與膠片的作用射線還有一個性質就是能使膠片感光，能使膠片乳劑層中的鹵化銀產生潛象中心，經過顯影和定影后就會黑化。為了表示底片的黑化程度，采用底片黑度D表示DlgL0/LD底片的黑度L0透過底片前的光強L-透過底片后的光強膠片的特征曲線:特征參數(shù):感光度S、灰霧度D0、梯度G、寬容度L4、射線照相的原理2. 2 射線檢測設備射線檢測設備1 X射線檢測機射線檢測機2 高能射線探傷設備高能射線探傷設備3 射線探傷機射線探傷機 2.3 射線照相工藝特點射線照相工藝特點1 照相的操作步驟照相的操作步驟普通把被檢的物體安放在離普通把被檢的物體安放在離X射線

12、安裝射線安裝50厘米到一米厘米到一米的位置處的位置處,把膠片盒緊貼在試樣的背后把膠片盒緊貼在試樣的背后,讓射線照射適當讓射線照射適當長的時間進展曝光長的時間進展曝光.把曝光后的膠片在暗室中進展顯影、把曝光后的膠片在暗室中進展顯影、定影、水洗、枯燥，將枯燥的底片在觀片燈的顯示屏定影、水洗、枯燥，將枯燥的底片在觀片燈的顯示屏上察看，根據(jù)底片的黑度和圖像來判別存在缺陷的種上察看，根據(jù)底片的黑度和圖像來判別存在缺陷的種類，大小和數(shù)量，隨后對缺陷按照通行的規(guī)范進展評類，大小和數(shù)量，隨后對缺陷按照通行的規(guī)范進展評定和分級。定和分級。2 照相規(guī)范確定照相規(guī)范確定射線照相靈敏度是射線照相對比度小缺陷或細節(jié)與其

13、周圍背射線照相靈敏度是射線照相對比度小缺陷或細節(jié)與其周圍背景的黑度差、不明晰度影象輪廓邊緣黑度過渡區(qū)的寬度景的黑度差、不明晰度影象輪廓邊緣黑度過渡區(qū)的寬度和顆粒度影像黑度的不均勻程度三大要素的綜合結果，而和顆粒度影像黑度的不均勻程度三大要素的綜合結果，而三大要素又分別遭到不同工藝要素的影響。三大要素又分別遭到不同工藝要素的影響。透照規(guī)范的選擇要留意以下幾點：透照規(guī)范的選擇要留意以下幾點：1透照方式的選擇透照方式的選擇2透照厚度比值的控制透照厚度比值的控制3射線源的選擇射線源的選擇4透照間隔的選擇透照間隔的選擇5 曝光量的選擇曝光量的選擇6膠片、增感屏的選擇與底片黑度控制膠片、增感屏的選擇與底片

14、黑度控制3 象質計透度計的運用象質計透度計的運用目的：為了評定底片的靈敏度目的：為了評定底片的靈敏度4 底片評定底片評定 先評定底片本身質量能否合格。先評定底片本身質量能否合格。1底片的黑度應在規(guī)定范圍內，影像明晰，反差適中，靈敏底片的黑度應在規(guī)定范圍內，影像明晰，反差適中，靈敏度符合規(guī)范要求，即能識別規(guī)定的象質指數(shù)。度符合規(guī)范要求，即能識別規(guī)定的象質指數(shù)。2標志齊全，擺放正確標志齊全，擺放正確3在評定區(qū)無影響評定的偽缺陷在評定區(qū)無影響評定的偽缺陷 在底片合格的前提下，再對底片上的缺陷進展定性、定量和定在底片合格的前提下，再對底片上的缺陷進展定性、定量和定位。位。 對照規(guī)范評出工件質量等級，寫

15、出探傷報告。對照規(guī)范評出工件質量等級，寫出探傷報告。5 射線檢測工藝要點射線檢測工藝要點:1)X射線的運用特點射線的運用特點X射線主要優(yōu)點：射線主要優(yōu)點：X射線能量可改動，因此對各種厚度的試件均可射線能量可改動，因此對各種厚度的試件均可獲得高靈敏度圖像；獲得高靈敏度圖像；X射線機可用開關切斷，故較易實施射線防射線機可用開關切斷，故較易實施射線防護；曝光時間短，普通為幾分鐘；護；曝光時間短，普通為幾分鐘；X射線局限性：需電源，有些設備還需有水源冷卻。體積較大，射線局限性：需電源，有些設備還需有水源冷卻。體積較大，現(xiàn)場運用不便本錢和維修費用均較大?，F(xiàn)場運用不便本錢和維修費用均較大。設備：便攜式，設

16、備：便攜式，160320KV，穿透鋼，穿透鋼45mm 挪動式，挪動式，200450KV，穿透鋼，穿透鋼100mm高能高能X射線加速器：射線加速器：432MeV,穿透鋼穿透鋼400mm5 射線檢測工藝要點射線檢測工藝要點:2)射線的運用特點射線的運用特點射線主要優(yōu)點：射源尺寸小，可用于射線主要優(yōu)點：射源尺寸小，可用于X射線機無法接近的現(xiàn)場；射線機無法接近的現(xiàn)場；不需電源水源；運轉費用低；不需電源水源；運轉費用低；射線局限性：探傷靈敏度低，尤其對薄鋼試件如射線局限性：探傷靈敏度低，尤其對薄鋼試件如5mm以下以下 ；曝光時間長。曝光時間長。射線的成像質量比射線的成像質量比X射線差得多。射線差得多。

17、影響射線照相的三大要素：對比度、明晰度、顆粒度，影響射線照相的三大要素：對比度、明晰度、顆粒度， 射線射線均不如均不如X射線。射線。對裂紋傾向大的資料焊縫檢測應慎用對裂紋傾向大的資料焊縫檢測應慎用射線射線5 射線檢測工藝要點射線檢測工藝要點:3)膠片運用特點膠片運用特點 膠片影響成像對比度和顆粒度進而影響靈敏度膠片影響成像對比度和顆粒度進而影響靈敏度 根據(jù)成像特性，膠片分成四類，根據(jù)成像特性，膠片分成四類，T1、T2、T3、T4。T1為最高為最高類別，類別，T4為最低類別。為最低類別。 規(guī)范規(guī)定：規(guī)范規(guī)定：A級和級和AB級射線檢測技術應采用級射線檢測技術應采用T3類或更高類別的類或更高類別的膠

18、片，膠片，B級射線檢測技術應采用級射線檢測技術應采用T2類或更高類別的膠片。類或更高類別的膠片。 規(guī)范規(guī)定：采用規(guī)范規(guī)定：采用射線對裂紋敏感性大的資料進展射線檢測時射線對裂紋敏感性大的資料進展射線檢測時,應采用應采用T2類或更高類別的膠片。類或更高類別的膠片。T2類膠片類膠片:AgfaD4、D5；天津；天津；上海；上海GX-A5。T3類膠片類膠片:AgfaD7、D8；天津；天津；上海；上海GX-A7 采用采用射線對裂紋敏感性大的資料進展射線檢測時射線對裂紋敏感性大的資料進展射線檢測時,應采用天津應采用天津膠片。膠片。5 射線檢測工藝要點射線檢測工藝要點:4)透照參數(shù)選擇透照參數(shù)選擇焦距焦距影響

19、幾何不明晰度，選擇焦距必需大于規(guī)范規(guī)定最小值；影響幾何不明晰度，選擇焦距必需大于規(guī)范規(guī)定最小值；K值值影響橫向裂紋檢出率，選擇影響橫向裂紋檢出率，選擇K值不得大于規(guī)范規(guī)定值；值不得大于規(guī)范規(guī)定值；射線能量射線能量影響底片對比度、固有不明晰度、顆粒度；選擇射影響底片對比度、固有不明晰度、顆粒度；選擇射線能量應在規(guī)范限定范圍；線能量應在規(guī)范限定范圍；曝光量曝光量影響底片黑度，選擇曝光量應在規(guī)范限定范圍；影響底片黑度，選擇曝光量應在規(guī)范限定范圍；5 射線檢測工藝要點射線檢測工藝要點:5)透照方式選擇透照方式選擇2. 4 射線的平安防護射線的平安防護1 射線的危害射線的危害2 輻射計量及單位：照射量輻

20、射計量及單位：照射量(C/kg)吸收劑量吸收劑量(Gy)劑量當量劑量當量(Sv)3 射線防護方法射線防護方法 屏蔽防護屏蔽防護 間隔防護間隔防護 時間防護時間防護2.5 射線照相法的特點射線照相法的特點1檢測結果有直接記錄檢測結果有直接記錄-底片底片2可以獲得缺陷的投影圖像，缺陷定性定量準確可以獲得缺陷的投影圖像，缺陷定性定量準確3對體積型缺陷檢出率高，而面積型缺陷的檢出率遭對體積型缺陷檢出率高，而面積型缺陷的檢出率遭到多種要素影響到多種要素影響4適于檢測厚度較薄的工件而不適宜較厚的工件適于檢測厚度較薄的工件而不適宜較厚的工件5適宜檢測對接焊縫，檢測角焊縫效果較差，不適宜適宜檢測對接焊縫，檢測

21、角焊縫效果較差，不適宜檢測板材、棒材、鍛件。檢測板材、棒材、鍛件。6有些試件構造和現(xiàn)場條件不適宜射線照相有些試件構造和現(xiàn)場條件不適宜射線照相7對缺陷在工件中厚度方向的位置、尺寸高度確對缺陷在工件中厚度方向的位置、尺寸高度確實定比較困難。實定比較困難。8檢測本錢高檢測本錢高9射線照相檢測速度慢射線照相檢測速度慢10射線對人體有害射線對人體有害第三章超聲波檢測根底知識第三章超聲波檢測根底知識 超聲波檢測主要用于檢測試件的內部缺陷，它的運用非常廣泛。用于探傷的超聲波頻率為0.425兆Hz，用得最多的超聲波頻率為5兆Hz。3.1 超聲波的發(fā)生及其性質1 超聲波的發(fā)生和接納 壓電效應2 超聲波的種類超聲

22、波的種類 縱波縱波 橫波橫波 外表波外表波 板波板波3 聲速聲速橫波的聲速大約是縱波聲速的一半，而外表波聲速大約是橫波橫波的聲速大約是縱波聲速的一半，而外表波聲速大約是橫波的的0.9倍。倍。4 波長波長波在一個周期內或者說質點完成一次振動所經過的路程稱為波波在一個周期內或者說質點完成一次振動所經過的路程稱為波長。長。C=f動搖方程動搖方程5 超聲場及其特征量超聲場及其特征量充溢超聲波的空間叫做超聲場，描畫超聲場的特征量有聲壓、充溢超聲波的空間叫做超聲場，描畫超聲場的特征量有聲壓、聲強、聲阻抗。聲強、聲阻抗。6 界面的反射和透射界面的反射和透射1垂直入射時的反射和透射垂直入射時的反射和透射 動畫

23、演示動畫演示當超聲波垂直地傳到界面上時，一部分超聲波被反射，而剩余當超聲波垂直地傳到界面上時，一部分超聲波被反射，而剩余的部分就穿透過去，這兩部分的比率取決于兩種介質的聲阻抗。的部分就穿透過去，這兩部分的比率取決于兩種介質的聲阻抗。2斜射時的反射和透射動畫演示斜射時的反射和透射動畫演示當超聲波斜射到界面上時，在界面上會產生反射和折射。當超聲波斜射到界面上時，在界面上會產生反射和折射。7 指向性圓盤源波束指向性矩形波源波束指向性指向性圓盤源波束指向性矩形波源波束指向性 聲束集中向一個方向輻射的性質，叫做聲波的指向性，探傷聲束集中向一個方向輻射的性質，叫做聲波的指向性，探傷采用高頻超聲波，其理由之

24、一就是希望它具有指向性，便于超采用高頻超聲波，其理由之一就是希望它具有指向性，便于超聲波探傷發(fā)現(xiàn)缺陷，確定缺陷位置。聲波探傷發(fā)現(xiàn)缺陷，確定缺陷位置。8 近場區(qū)和遠場區(qū)近場區(qū)和遠場區(qū) 在超聲波探頭的聲場中，按聲場變化的規(guī)律分為近場區(qū)和遠在超聲波探頭的聲場中，按聲場變化的規(guī)律分為近場區(qū)和遠場區(qū)。場區(qū)。 ND/4 9 小物體上的超聲波反射小物體上的超聲波反射 在超聲波探傷中，缺陷尺寸的檢出極限超聲波波長的一半。在超聲波探傷中，缺陷尺寸的檢出極限超聲波波長的一半。缺陷尺寸越大，越容易反射。缺陷尺寸越大，越容易反射。3.2 超聲波檢測原理超聲波檢測原理超聲波檢測可以分為超聲探傷和超聲波測厚，以及超超聲波

25、檢測可以分為超聲探傷和超聲波測厚，以及超聲波測晶粒度、測應力等。聲波測晶粒度、測應力等。脈沖反射法的縱波和橫波探傷原理如下：儀器原理動脈沖反射法的縱波和橫波探傷原理如下：儀器原理動畫演示畫演示1垂直探傷法動畫演示垂直探傷法動畫演示當把脈沖振蕩器發(fā)生的電壓加當把脈沖振蕩器發(fā)生的電壓加到晶片上時，晶片振動，產生到晶片上時，晶片振動，產生超聲波脈沖。假設被檢物是鋼超聲波脈沖。假設被檢物是鋼的話，超聲波以的話，超聲波以5900米米/秒的秒的固定速度在鋼內傳播，超聲波固定速度在鋼內傳播，超聲波碰到缺陷時，一部分從缺陷反碰到缺陷時，一部分從缺陷反射回到晶片，而另一部分未碰射回到晶片，而另一部分未碰到缺陷的

26、超聲波繼續(xù)前進，直到缺陷的超聲波繼續(xù)前進，直到被檢底面才反射回來。到被檢底面才反射回來。2 斜射探傷法動畫演示斜射探傷法動畫演示在斜射法探傷時，由于超聲波在被檢物中是斜向傳播的，超聲在斜射法探傷時，由于超聲波在被檢物中是斜向傳播的，超聲波是斜射向底面不會有底面回波。波是斜射向底面不會有底面回波。目前對掃描線的調整有三種方法：1按程度間隔調整2按深度調整3按聲程調整3.3 試塊試塊1 試塊的用途試塊的用途1確定適宜的探傷方法確定適宜的探傷方法2確定探傷靈敏度和評價缺陷大小確定探傷靈敏度和評價缺陷大小3校驗儀器和測試探頭性能校驗儀器和測試探頭性能2 試塊的種類試塊的種類1調理儀器及測試探頭的試塊：

27、調理儀器及測試探頭的試塊：CSK-IA2縱波探傷用試塊：人工缺陷為平底孔縱波探傷用試塊：人工缺陷為平底孔3橫波探傷用試塊：人工缺陷為橫孔橫波探傷用試塊：人工缺陷為橫孔CSK-IIA CSK-IIIA3.4 超聲波檢測工藝要點超聲波檢測工藝要點1、探傷方法的分類、探傷方法的分類1按原理分類按原理分類2按顯示方式分類按顯示方式分類3按探傷波型分類按探傷波型分類4按探頭數(shù)目分類按探頭數(shù)目分類5按接觸方式分類按接觸方式分類2、根本操作、根本操作1探傷時機選擇探傷時機選擇2探傷方法的選擇探傷方法的選擇3探傷儀器的選擇探傷儀器的選擇4探傷方向和掃描面的選定探傷方向和掃描面的選定5頻率的選擇頻率的選擇6晶片

28、直徑、折射角的選定晶片直徑、折射角的選定7探傷面修整探傷面修整8耦合劑和耦合方法的選擇耦合劑和耦合方法的選擇9確定探傷靈敏度確定探傷靈敏度10進展粗探傷和精探傷進展粗探傷和精探傷11寫出檢驗報告寫出檢驗報告3.5 超聲波檢測的特點超聲波檢測的特點1面積型缺陷檢出率高，體積型檢測率低面積型缺陷檢出率高，體積型檢測率低2適宜檢測厚度較大的工件適宜檢測厚度較大的工件3適于檢測各種試件適于檢測各種試件4檢驗本錢低，速度塊，儀器體積小檢驗本錢低，速度塊，儀器體積小5無法得到缺陷的直觀圖像，定性困難，定量精無法得到缺陷的直觀圖像，定性困難，定量精度不高度不高6檢測結果無直接見證記錄檢測結果無直接見證記錄7

29、對缺陷在工件厚度方向上定位準確對缺陷在工件厚度方向上定位準確8材質、晶粒度對探傷有影響材質、晶粒度對探傷有影響9工件不規(guī)那么的外形和一些構造會影響檢測工件不規(guī)那么的外形和一些構造會影響檢測10不平或粗糙的外表會影響耦合和掃查，從而影不平或粗糙的外表會影響耦合和掃查，從而影響檢測精度和可靠性響檢測精度和可靠性第四章磁粉檢測根底知識第四章磁粉檢測根底知識4.1磁粉檢測的原理磁粉檢測的原理1磁場與磁力線磁場與磁力線磁力作用的空間磁力作用的空間 稱為磁場稱為磁場采用磁力線的概念采用磁力線的概念,為了籠統(tǒng)地描畫磁場為了籠統(tǒng)地描畫磁場2 通電導體產生的磁場通電導體產生的磁場3 描畫磁場的幾個物理量描畫磁場

30、的幾個物理量磁場強度磁場強度(H):表征磁化強度的物理量表征磁化強度的物理量,單位單位(A/m)磁感應強度磁感應強度(B):表征被磁化了的磁介質中磁場強度大小的物理表征被磁化了的磁介質中磁場強度大小的物理量量,單位單位(T)磁導率磁導率(u):表征磁介質磁特性的物理量表征磁介質磁特性的物理量 B=uH4 鐵磁資料的磁化曲線鐵磁資料的磁化曲線通用通用BH曲線來描畫鐵磁性資料的磁化過程。表示循環(huán)交變曲線來描畫鐵磁性資料的磁化過程。表示循環(huán)交變過程過程B與與H的關系曲線叫做磁滯曲線。的關系曲線叫做磁滯曲線。5 磁粉檢測的原理磁粉檢測的原理試件中的裂紋呵斥的不延續(xù)性使得磁力線畸變，由于裂紋中空試件中的

31、裂紋呵斥的不延續(xù)性使得磁力線畸變，由于裂紋中空氣介質的磁導率遠遠低于試件的磁導率，使磁力線受阻，一部氣介質的磁導率遠遠低于試件的磁導率，使磁力線受阻，一部分磁力線擠到缺陷的底部，一部分穿過裂紋，一部分排斥出工分磁力線擠到缺陷的底部，一部分穿過裂紋，一部分排斥出工件的外表后進入工件。假設這是在工件上撒上磁粉，漏磁場就件的外表后進入工件。假設這是在工件上撒上磁粉，漏磁場就會吸附磁粉，構成與缺陷外形相近的磁粉堆積，從而顯示缺陷。會吸附磁粉，構成與缺陷外形相近的磁粉堆積，從而顯示缺陷。6影響漏磁場的要素影響漏磁場的要素1外加磁場強度外加磁場強度2資料的磁導率資料的磁導率3缺陷的延伸方向與磁力線的夾角缺

32、陷的延伸方向與磁力線的夾角4缺陷的埋藏深度缺陷的埋藏深度4.2 磁粉檢測設備器材磁粉檢測設備器材1 磁力探傷機分類磁力探傷機分類按設備體積和分量，可分為固定式，挪動式，攜帶式按設備體積和分量，可分為固定式，挪動式，攜帶式2 靈敏度試片靈敏度試片 用于檢查磁粉探傷設備、磁粉、用于檢查磁粉探傷設備、磁粉、磁懸液的綜合性能。磁懸液的綜合性能。3 磁粉和磁懸液磁粉和磁懸液4.3 磁粉檢測工藝特點磁粉檢測工藝特點1 磁化方法磁化方法線圈法、磁軛法、軸向通電法、觸頭法、中心導體法、線圈法、磁軛法、軸向通電法、觸頭法、中心導體法、旋轉磁場磁化法旋轉磁場磁化法2 磁粉探傷方法分類磁粉探傷方法分類按檢驗時機分為

33、延續(xù)法和剩磁法按檢驗時機分為延續(xù)法和剩磁法按運用的電流種類可分為交流法、直流法按運用的電流種類可分為交流法、直流法按施加磁粉的方法分類可分為濕法和干法按施加磁粉的方法分類可分為濕法和干法3 磁粉探傷的普通程序磁粉探傷的普通程序預處置預處置磁化磁化施加磁粉施加磁粉磁痕的察看與判別磁痕的察看與判別記錄記錄后處置后處置4.4 磁粉檢測的特點磁粉檢測的特點1適宜鐵磁資料探傷，不能用于非鐵磁資料適宜鐵磁資料探傷，不能用于非鐵磁資料2可以檢測出外表和近外表的缺陷，不能檢測內部可以檢測出外表和近外表的缺陷，不能檢測內部缺陷缺陷3靈敏度高，可以發(fā)現(xiàn)細小的裂紋靈敏度高，可以發(fā)現(xiàn)細小的裂紋4檢測本錢很低，速度快檢

34、測本錢很低，速度快5工件的外形和尺寸有時對探傷有影響，難以磁化工件的外形和尺寸有時對探傷有影響，難以磁化而無法探傷而無法探傷第五章浸透檢測根底知識第五章浸透檢測根底知識5.1 浸透檢測的根本原理浸透檢測的根本原理 零件外表被施涂含有熒光染料或著色染料的浸透液后，在毛零件外表被施涂含有熒光染料或著色染料的浸透液后，在毛細管的作用下，經過一段時間，浸透液可浸透到外表開口的缺細管的作用下，經過一段時間，浸透液可浸透到外表開口的缺陷中，經去除零件外表多余的浸透液后；再在零件外表施涂顯陷中，經去除零件外表多余的浸透液后；再在零件外表施涂顯象劑，同樣在毛細管的作用下，顯象劑將吸引缺陷中保管的浸象劑，同樣在

35、毛細管的作用下，顯象劑將吸引缺陷中保管的浸透液，浸透液回滲到顯象劑中；在一定光源下，缺陷處的浸透透液，浸透液回滲到顯象劑中；在一定光源下，缺陷處的浸透液痕跡被顯示，從而測出缺陷的形貌和分布形狀。液痕跡被顯示，從而測出缺陷的形貌和分布形狀。 浸透操作的根本步驟有：浸透、清洗、顯象、察看浸透操作的根本步驟有：浸透、清洗、顯象、察看 浸透探傷根本操作過程：浸透、清洗、顯象、察看5.2浸透檢測的分類浸透檢測的分類1 根據(jù)浸透液所含染料成分分類著色法、熒光法根據(jù)浸透液所含染料成分分類著色法、熒光法2 浸透液去除方法分類水洗型、后乳化型、溶劑去除浸透液去除方法分類水洗型、后乳化型、溶劑去除型型3 顯象法的

36、種類顯象法的種類1濕式顯象法濕式顯象法2快干式顯象法快干式顯象法3干式顯象法干式顯象法4無顯象劑式顯象法無顯象劑式顯象法5.3 浸透檢測工藝要點浸透檢測工藝要點1 不同浸透探傷方法的操作程序不同浸透探傷方法的操作程序2 各種浸透探傷方法的優(yōu)缺陷和運用選擇各種浸透探傷方法的優(yōu)缺陷和運用選擇1)著色法需在白光或日光下進展，在沒有電源的場所下也能任務。著色法需在白光或日光下進展，在沒有電源的場所下也能任務。熒光法需求配備黑光燈和暗室，無法在沒有電源及暗室的場所熒光法需求配備黑光燈和暗室，無法在沒有電源及暗室的場所下任務。下任務。2)水洗著色法適于檢查外表較粗糙的零件，操作簡便，本錢較低。水洗著色法適

37、于檢查外表較粗糙的零件，操作簡便，本錢較低。該法靈敏度較低，不易發(fā)現(xiàn)微細缺陷。該法靈敏度較低，不易發(fā)現(xiàn)微細缺陷。3)后乳化型著色法具有較高靈敏度，適宜檢查較精細零件，但對后乳化型著色法具有較高靈敏度，適宜檢查較精細零件，但對螺栓，有孔、槽零件，以及外表粗糙零件不適用。螺栓，有孔、槽零件，以及外表粗糙零件不適用。4)溶劑去除型著色法運用較廣，特別是運用噴罐，可簡化操作，溶劑去除型著色法運用較廣，特別是運用噴罐，可簡化操作，適宜于大型零件的部分檢驗。適宜于大型零件的部分檢驗。5)水洗型熒光法本錢較低，有亮堂的熒光，易于水洗，檢查速度水洗型熒光法本錢較低，有亮堂的熒光，易于水洗，檢查速度快，適用于外

38、表較粗糙零件，帶有螺紋、鍵槽的零件及大批量快，適用于外表較粗糙零件，帶有螺紋、鍵槽的零件及大批量小零件的檢查。小零件的檢查。6)后乳化型熒光法具有極亮堂的熒光，對細小缺陷檢驗靈敏度高，后乳化型熒光法具有極亮堂的熒光，對細小缺陷檢驗靈敏度高，能檢出寬而淺的缺陷，反復檢驗效果好，但本錢較高，因清洗能檢出寬而淺的缺陷，反復檢驗效果好，但本錢較高，因清洗困難，不適用有螺紋、鍵槽及盲孔零件的檢查，也不適用于外困難，不適用有螺紋、鍵槽及盲孔零件的檢查，也不適用于外表粗糙零件的檢驗。表粗糙零件的檢驗。7)溶劑去除型熒光法輕便，適用于部分檢查，反復檢查效果好，溶劑去除型熒光法輕便，適用于部分檢查，反復檢查效果

39、好，可用于無水源場所，靈敏度較高，本錢亦較高?？捎糜跓o水源場所，靈敏度較高，本錢亦較高。3 浸透探傷工藝要點浸透探傷工藝要點1預處置質量；預處置質量；2浸透時間；浸透時間；3浸透溫度；浸透溫度；4清洗方法；清洗方法；5顯象時間。顯象時間。4 浸透探傷本卷須知浸透探傷本卷須知1預處置時要在試件上呵斥充分潤濕條件預處置時要在試件上呵斥充分潤濕條件2確定適當?shù)慕笗r間確定適當?shù)慕笗r間3清洗時只需除去覆著在試件上的浸透液，不要過度清洗清洗時只需除去覆著在試件上的浸透液，不要過度清洗4干式顯象前進展枯燥時，要有適宜的枯燥溫度干式顯象前進展枯燥時，要有適宜的枯燥溫度.4 浸透檢測的平安管理浸透檢測的平安

40、管理5.5 浸透檢測的特點浸透檢測的特點1 除了疏松多孔資料外任何種類的資料都可以用除了疏松多孔資料外任何種類的資料都可以用2 外形復雜的部件也可以用浸透檢測外形復雜的部件也可以用浸透檢測3 同時存在幾個方向的缺陷，用一次探傷操作就可以同時存在幾個方向的缺陷，用一次探傷操作就可以完成檢測完成檢測4 不需求大型的設備不需求大型的設備5 試件外表光潔度影響大試件外表光潔度影響大6 可以檢測外表張口的缺陷，但對埋藏缺陷或閉合型可以檢測外表張口的缺陷，但對埋藏缺陷或閉合型的外表缺陷無法檢測出的外表缺陷無法檢測出7 檢測程序多，速度慢檢測程序多，速度慢8 檢測靈敏度比磁粉探傷低檢測靈敏度比磁粉探傷低9

41、資料較貴，本錢較高資料較貴，本錢較高10 有些資料易燃、有毒有些資料易燃、有毒第六章渦流檢測根底知識第六章渦流檢測根底知識6.1 渦流檢測的原理渦流檢測的原理 線圈產生交變磁場，交變磁場在試件中產生渦流。試件中的線圈產生交變磁場，交變磁場在試件中產生渦流。試件中的渦流方向與給定的試件施加交流磁場線圈的電流方向相反。由渦流方向與給定的試件施加交流磁場線圈的電流方向相反。由渦流所產生的交流磁場也產生磁力線，其磁力線也是隨時間而渦流所產生的交流磁場也產生磁力線，其磁力線也是隨時間而變化，它所穿過鼓勵線圈內感生出交流電。由于這個電流方向變化，它所穿過鼓勵線圈內感生出交流電。由于這個電流方向與渦流方向相

42、反結果就與鼓勵線圈中原來的電流方向一樣了，與渦流方向相反結果就與鼓勵線圈中原來的電流方向一樣了，這就是說線圈中的電流由于渦流的反作用而添加了。假設渦流這就是說線圈中的電流由于渦流的反作用而添加了。假設渦流變化的話，這個添加部分也變化。測定這個電流的變化，就可變化的話，這個添加部分也變化。測定這個電流的變化，就可以測得渦流的變化，從而得到試件的信息。以測得渦流的變化，從而得到試件的信息。6.2 渦流檢測儀器、探頭和對比試樣渦流檢測儀器、探頭和對比試樣1渦流探傷儀渦流探傷儀2 探頭3 對比試樣：用于調理渦流檢測儀檢測靈敏度、確定驗收程度和保證檢測結果準確性。6.3渦流檢測的工藝特點渦流檢測的工藝特點1 試件外表的清理試件外表的清理2 探傷儀器的穩(wěn)定探傷儀器的穩(wěn)定3 探傷規(guī)范的選擇探傷規(guī)范的選擇1探傷頻率的選定；探傷頻率的選定；2線圈的選擇；線圈的選擇；3探傷靈敏度的選定；探傷靈敏度的選定；4平衡調整；平衡調整；5相位角的選定；相位角的選定；6直流磁場的調整直流磁場的調整4 探傷實驗探傷實驗6.