-T_4730_RT宣貫資料

1、JB/T 47302005?承壓設備無損檢測?宣貫講座強天鵬江蘇省特種設備平安監(jiān)督檢驗研究院2006年2月JB4730-94?壓力容器無損檢測?標準回憶由機械工業(yè)部、化學工業(yè)部、勞動部、中國石油化工總公司于1994-01-29公布，1994-5-1實施。成功之處：統(tǒng)一引用、標準管理、使用方便.同時也存在缺乏：宏觀內容；整體結構；具體規(guī)定和數(shù)據(jù)。關于JB4730-1994標題?壓力容器無損檢測?改名為JB/T4730-2005?承壓設備無損檢測?的說明鍋爐、壓力容器及壓力管道有共性和同一性;美國ASME?鍋爐壓力容器標準?第篇就是將其檢測內容放在一起考慮的;2003年國務院公布了?特種設備平安監(jiān)

2、察條例?，將鍋爐、壓力容器及壓力管道等通稱為承壓類特種設備;承壓類特種設備的無損檢測標準統(tǒng)一是大勢所趨，關于推薦性標準JB/T4730-2005?承壓設備無損檢測?性質與地位的說明推薦性標準和強制性標準的差異;絕大多數(shù)標準都屬于推薦性標準;推薦性標準一旦被法規(guī)引用,就變?yōu)閺娭菩詷藴赎P于JB/T 4730.12005?承壓設備無損檢測第一局部：通用要求?的幾個問題說明JB/T 4730.12005?承壓設備無損檢測第一局部：通用要求?的編寫目的及其作用使整個標準結構更加緊湊，各分篇的內容更加簡練。 供承壓類設備的設計人員和管理人員，快速了解和應用JB4730標準。 無損檢測新技術應用需要注意的問

3、題1、工藝鑒定評審2、人員資格鑒定3、應用標準制定標準案例制度的意義及作用標準是成熟技術的產物，標準制訂要經歷較長的時間。對標準案例不要求全面性和通用性，可以不要求進行大量試驗，使新技術盡快得以應用，從而節(jié)約費用和時間。標準案例制度保證了新技術應用的可靠性、標準性和合法性。JB/T 4730.22005?承壓設備無損檢測第2局部：射線檢測?重點講解JB4730.2修改的總體思路1技術進步 掌握當前科技開展動態(tài)，及時吸納新 概念、先進科學和成熟技術。 2與國際接軌 大處求同，小處存異 3標準體系和技術路線選擇 依據(jù)歐洲，參考美國。JB4730-2005.2的技術特點1、應用方便 對一些技術內容，

4、為方便操作采用了簡化處理 2、概念明確明確一些模糊不清的概念 3、寬嚴適度實事求是，有的從寬，有的從嚴 標準條文1 范圍JB/T4730的本局部規(guī)定了承壓設備金屬材料板和管的熔化焊對接接頭的X射線和射線檢測技術和質量分級要求。本局部適用于承壓設備的制造、安裝、在用檢測中對接焊接接頭的射線檢測。用于制作焊接接頭的金屬材料包括碳素鋼、低合金鋼、不銹鋼、銅及銅合金、鋁及鋁合金和鈦及鈦合金、鎳及鎳合金。本局部規(guī)定的射線檢測技術分為三級：A級低靈敏度技術；AB級中靈敏度技術； B級高靈敏度技術。承壓設備的有關支承件和結構件的對接焊接接頭的射線檢測，也可參照使用。說明：JB 4730.2的適用范圍承壓設備

5、的受壓元件熔化焊對接接頭的X射線和射線檢測技術和質量分級要求。 94標準：壓力容器焊縫及鋼管對接環(huán)縫 適用于承壓設備的制造、安裝、在用檢測中對接焊接接頭的射線檢測。94標準未指明,實際主要用于壓力容器制造安裝 用于制作焊接接頭的金屬材料包括碳素鋼、低合金鋼、不銹鋼、銅及銅合金、鋁及鋁合金、鈦及鈦合金、鎳及鎳合金。94標準：碳素鋼、低合金鋼、不銹鋼、鋁及鋁合金、鈦及鈦合金材料 說明：JB 4730.2適用的厚度范圍碳素鋼、低合金鋼、不銹鋼、銅及銅合金、鎳及鎳合金透照厚度2400mm鋁及鋁合金透照厚度280mm鈦合金250mm94標準：2250mm板厚的碳素鋼、低合金鋼、不銹鋼對接焊縫；壁厚小于或

6、等于 80mm的鋁及鋁合金焊縫；壁厚小于50mm的鈦焊縫說明：JB4730中所規(guī)定的射線照相技術適用的焊接接頭JB4708-2000?鋼制壓力容器焊接工藝評定?定義的焊接接頭型式種；B4730中所規(guī)定的射線照相技術適用的焊接接頭包括：對接接頭對接焊縫雙面焊、單面焊鎖底接頭對接焊縫加墊板單面焊JB4708-2000?鋼制壓力容器焊接工藝評定?定義的焊接接頭型式，角接接頭對接焊縫題16圖 焊縫和焊接接頭的型式關系角接接頭對接焊縫其它焊縫和焊接接頭組合型式的射線照相 歐洲標準EN1435:1997列出的幾種透照布置插入式管座填角焊縫4種1、單壁外透法 2、單壁內透法 其它焊縫和焊接接頭組合型式的射線

7、照相歐洲標準EN1435:1997列出的幾種透照布置插入式管座填角焊縫4種 3、單壁內透偏心法 4、雙壁單影法 其它焊縫和焊接接頭組合型式的射線照相騎座式管座填角焊縫3種 1 單壁外透法2單壁內透法 3 單壁內透偏心法其它焊縫和焊接接頭組合型式的射線照相T型接頭角焊縫2種1 源在翼板側的透照布置 2 膠片在腹板側的透照布置管子-管板角焊縫的射線照相管子-管板焊縫射線照相的第一種形式 (適用管子內徑14mm-60mm，厚度2mm-8mm， 管 板厚度不限，照相靈敏度0.5 mm。) 管子-管板焊縫射線照相的第二種形式 放射源伸出最大長度：300mm；阻擋結構距管子管板 角焊縫最大距離：250mm

8、；阻擋結構開孔最小直徑： 管子管板角焊縫外圓尺寸2mm 管子-管板焊縫射線照相的第三種形式 適用管子內徑25-90mm，厚度2mm-20mm，照 相靈敏度0.5 mmB3型射線探傷儀現(xiàn)場照相管子-管板角焊縫射線照相底片管子-管板角焊縫缺陷解剖 管子-管板焊縫的射線照相檢出的缺陷解剖驗證 .射線源：高比活度小焦點Ir192源 .5mm)；.膠片：高梯噪比膠片 AGFA；.曝光焦距：按照不同規(guī)格的工件計算；.曝光時間：按照源強度及不同焦距計算；.補償塊：按照工件的不同規(guī)格和不同材質 專門設計制作。 .照相靈敏度：檢出0.5mm的氣孔缺陷。管子-管板焊縫照相中的主要工藝參數(shù)：說明：JB 4730.2

9、的技術分級規(guī)定射線檢測技術分為三級：A級低靈敏度技術；AB級中靈敏度技術； B級高靈敏度技術。 技術分級相關內容：應用對象、膠片系統(tǒng)、透照厚度比K、射線透照厚度下限、焦距、曝光量、 底片黑度、靈敏度。94標準：射線透照的質量等級分為A級普能級、AB級較高級和B級高級。相關內容：焦距、透照厚度比K、射線能量、底片黑度。存在的主要問題：名實不苻；邏輯混亂；不成系統(tǒng)。標準條文2 標準性引用文件以下文件中的條款，通過JB/T 4730的本局部的引用而成為本局部的條款。但凡注日期的引用文件，其隨后所有的修改單不包括勘誤的內容或修訂版均不適用于本局部。然而，鼓勵根據(jù)本局部達成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文

10、件的最新版本。但凡不注日期的引用文件，其最新版本適用于本局部。GB 115331989 標準對數(shù)視力表 GB 163571996 工業(yè)射線探傷放射衛(wèi)生防護標準GB 184652001 工業(yè)射線探傷放射衛(wèi)生防護要求GB 188712002 電離輻射防護及輻射源平安根本標準GB/T 19384.12003 無損檢測 工業(yè)射線照相膠片 第1局部： 工業(yè)射線膠片系統(tǒng)的分類GB/T 19384.22003 無損檢測 工業(yè)射線照相膠片 第2局部： 用參考值方法控制膠片處理HB 76842000 射線照相用線型像質計JB 4730.12005 承壓設備無損檢測 第1局部：通用要求JB/T 79021999

11、線型像質計 JB/T 79031999 工業(yè)射線照相底片觀片燈共計10個) 標準條文：3一般要求射線檢測的一般要求除應符合JB/T4730.1的有關規(guī)定外，還應符合以下規(guī)定。 3.1 射線檢測人員 3.1.1 從事射線檢測人員上崗前應進行輻射平安知識的培訓，并取得放射工作人員證。3.1.2 射線檢測人員未經矯正或經矯正的近距視力和遠距視力應不低于5.0小數(shù)記錄值為1.0, 測試方法應符合GB 11533的規(guī)定。從事評片的人員應每年檢查一次視力。說明：JB/T4730-2005規(guī)定的無損檢測人員執(zhí)業(yè)根本條件：1、JB/T4730-2005.1之條：取特種設備無損檢測資格證；2、 JB/T4730

12、-2005.2之條：取?放射工作人員證?；3、視力檢查每年一次，符合要求。射線檢測人員視力要求GB11533-89?標準對數(shù)視力表?表達視力優(yōu)劣有分數(shù)、小數(shù)、5分記錄三種方式正常視力標準按5分記錄方式記為5.0，相當于小數(shù)記錄方式的1.0；視力觀察近視力表的標準距離為25cm ；觀察時近視力表與被檢眼視線垂直 ；視力表照明如用直接照明法，照度應達200700lx；如用后照法，那么視力表白底的亮度應達80320cd/m2。 JB4730-2005與國外標準的技術內容差異及簡要評述：1ASME中所述的無損檢測人員資格鑒定和認證屬第三方認證，不同于JB4730中所述的中國現(xiàn)行的由政府強制實行的無損檢

13、測人員資格鑒定考核。2在ASNT-TC-1A8.2中有對無損檢測人員視力和色覺要求：近視力能識別J 2號字母；色覺和灰度層次識別合格；每年檢查一次，記錄在案。標準條文：3.2 射線膠片3.2.1 膠片系統(tǒng)按照GB/T 19384.1分為四類，即T1、T2、T3和T4類。T1為最高類別，T4為最低類別。膠片系統(tǒng)的特性指標見附錄A資料性附錄。膠片制造商應對所生產的膠片進行系統(tǒng)性能測試并提供類別和參數(shù)。膠片處理方法、設備和化學藥劑可按照GB/T 19384.2的規(guī)定，用膠片制造商提供的預先曝光膠片測試片進行測試和控制。3.2.2 A級和AB級射線檢測技術應采用T3類或更高類別的膠片，B級射線檢測技術

14、應采用T2類或更高類別的膠片。膠片的本底灰霧度應不大于0.3。3.2.3 采用射線對裂紋敏感性大的材料進行射線檢測時,應采用T2類或更高類別的膠片。關于膠片系統(tǒng)的幾個問題1 膠片系統(tǒng)分類和膠片系統(tǒng)的特性指標2 不同射線檢測技術等級應采用不同類別的膠片3 采用射線對裂紋敏感性大的材料進行射線檢測時,應采用T2類或更高類別的膠片。 工業(yè)射線膠片系統(tǒng)是指包括射線膠片、增感屏 (材質、厚度)和沖洗條件(方式、配方、溫度、時間) 的組合。 新的分類方法之所以提出用“膠片系統(tǒng)取代“膠片進行分類，是因為評價膠片的特性指標不僅與膠片有關，還受增感屏和沖洗條件影響，所以將三者作為一個系統(tǒng)進行評價。何謂工業(yè)射線膠

15、片系統(tǒng)？ 膠片系統(tǒng)分類的特性指標有哪些？膠片定級或分類依據(jù)四個特性參數(shù)：D2.0 時的梯度G；D4.0時的梯度G； D2.0 時的顆粒度，D=2.0時的梯度噪聲比以上黑度D指凈黑度，即在本底灰霧度D o以上的光學密度。膠片分類規(guī)定的演變按粒度分 ：DIN 54111-1:1977G1,G2,G3按粒度和感光速度分：ISO 5579:1985G,G,G,G 按梯度、顆粒度、梯噪比分類的新方法：EN584-1：1995 C1,C2,C3,C4,C5,C6；ASME SE-18151996特,W-A,W-B,W-C ISO 11699-1：1998 T1,T2,T3,T4JIS K7627-1997

16、 T1,T2,T3,T4,W-A,W-B,W-CGB/T 19348:1- 2003 T1,T2,T3,T4T1類膠片: 阿克發(fā)D2、D3；富士25；柯達R、SR；杜邦NDT35； T2類膠片: 天津；阿克發(fā)D4、D5；富士50、80；柯達M、T；杜邦NDT55 ；T3類膠片: 天津；阿克發(fā)D7、D8；富士100；柯達AA、B；杜邦NDT70、75；T4類膠片:天津;阿克發(fā)D10;富士400；柯達CX；杜邦NDT69；常用的國產膠片和進口膠片對應于哪一類別？ 怎樣驗證使用單位的膠片處理條件和方法是否符合要求？ GB/T 19384.22003 無損檢測 工業(yè)射線照相膠片 第2局部： 用參考值方

17、法控制膠片處理由膠片制造商提供預先曝光膠片測試片，用戶以本單位的處理設備、化學處理劑和方法沖洗測試片，測出灰霧限值D0、速度系數(shù)SX、比照度系數(shù)CX，與膠片制造商提供的鑒定證書進行比較，據(jù)此檢測膠片處理條件和方法是否符合要求，并實施控制。增感屏對顆粒度和梯噪比是否有影響？ 顆粒度主要取決于膠片種類，其次是射線能量，增感屏對顆粒度有影響，但比較小。在膠片系統(tǒng)分類測試時，對所使用的射線能量和增感屏作出規(guī)定。為什么規(guī)定：采用射線對裂紋敏感性大的材料進行射線檢測時,應采用T2類或更高類別的膠片。另一處類似規(guī)定：JB/T4730.1之4.2.44.2.4 當應用射線照相時，宜采用高梯度噪聲比(T1或T2

18、)膠片；當應用高能X射線照相時，應采用高梯度噪聲比的膠片；對于Rm540MPa的高強度材料焊縫射線照相，也應采用高梯度噪聲比的膠片。為什么規(guī)定：使用射線對裂紋敏感性大的材料進行射線檢測，應采用T2類或更高類別的膠片射線照相局限性1、射線為線狀譜，且射線的能量不可調節(jié)，因此照相比照度低；2、射線照相固有不清晰度大；3、射線照相顆粒度大；在影像細節(jié)的顯示能力方面射線底片遠低于X射線，而這是影響裂紋檢出率的關鍵。為什么規(guī)定：使用射線對裂紋敏感性大的材料進行射線檢測，應采用T2類或更高類別的膠片使用梯噪比等級更高的膠片是提高射線照相靈敏度最有效措施實踐證明，以Ir192或Se75射線源與T3類型膠片天

19、津配合使用，裂紋檢出率很低。如以配合使用T2類型膠片天津可以明顯提高裂紋檢出率 。JB4730-2005與國外標準的技術內容差異及簡要評述：12001版ASME-T231規(guī)定：膠片的選用應按照SE1815，允許使用的膠片體系級別是：特殊級，級，級，級，WA級和WB級。AS ME 2002、03增補將原SE-1815膠片分類測試方法刪去。2ASME無類似JB4730中的“對裂紋敏感性大的材料和高強度材料焊接接頭照相時，應采用高梯度噪聲比膠片的規(guī)定；3EN1435 “對裂紋敏感性大的材料有更為嚴格的技術要求的，應使用靈敏度比B級更優(yōu)的技術進行透照。的規(guī)定，其中包含了采用更高等級膠片的內容。標準條文

20、 3.3 觀片燈 3.3.1 觀片燈的主要性能應符合JB/T 7903的 有關規(guī)定。 3.3.2 觀片燈的最大亮度應能滿足評片的要求。 3.4 黑度計光學密度計 3.4.1 黑度計可測的最大黑度應不小于4.5，測量值的誤差應不超過0.05。 3.4.2 黑度計至少每6個月校驗一次。校驗方法可參照附錄B資料性附錄的規(guī)定進行。 3.5 增感屏 射線檢測一般應使用金屬增感屏或不用增感屏。增感屏的選用應符合表1的規(guī)定工業(yè)射線照相底片觀片燈主要指標亮度：要求觀察黑度4.5的底片時觀片燈亮度300000cd/平方米； 散射系數(shù)應大于0.7。 均勻系數(shù)g應大于0.5。 JB/T 7903-1999?工業(yè)射線

21、照相底片觀片燈?說明：關于黑度計黑度計屬于自校驗儀器，不是強制校驗設備，而標準黑度片是要強制檢驗的。黑度計的校驗按附錄B，校驗應做記錄。校準黑度計用的標準黑度片必須在有效期內，并通過計量部門的鑒定(2年。國外標準的相關技術內容及JB4730-2005與國外標準的技術內容差異觀片燈：ASME規(guī)定：觀片光源應亮度足夠且可調，可觀測規(guī)定黑度范圍內的規(guī)定絲徑；并有擋光設施。EN1435規(guī)定：觀片燈的亮度應可調，燈屏應有遮光板遮擋非評定區(qū)。黑度計：ASME規(guī)定黑度計校驗每90天一次。 ASTM-SE94中對增感屏選用的具體規(guī)定：對厚度小于等于in.6.35mm的鋼，采用低于125kV的較低電壓，前后鉛屏

22、不應大于厚度0.005in.0.13mm； 在采用放射性源作射線照相時，前鉛屏的最小厚度對銥192應為0.005in.0.13mm，對鈷60應為0.010in.0.25mm；關于其它種類金屬屏使用說明： 氧化鉛增感屏具有與鉛箔屏類似的功能，但它只相當于0.0005in.0.013mm厚的鉛箔；銅屏比鉛屏的吸收和增感作用稍微少一些，但它在1MV以上的較高能量下能稍微提高射線照相的靈敏度。金、鉭或其它重金屬屏可用于不能使用鉛屏的情況。標準條文3.6 像質計3.6.1 底片影像質量采用線型像質計測定。線型像質計的型號和規(guī)格應符合JB/T 7902的規(guī)定，JB/T 7902中未包含的絲徑、線號等內容，

23、應符合HB 7684的有關規(guī)定。3.6.2 像質計的材料、材料代號和不同材料的像質計適用的工件材料范圍應符合表2的規(guī)定。關于引用像質計標準的問題 94版：引用GB 5618-8505版：引用JB/T 7902-95、HB 7684-2000兩個標準；原因：GB 5618-85 已廢止，JB/T 7902-95 與其相同；HB 7684-2002 射線照相檢驗用線型象質計將線號擴展到19號；標準適用的厚度范圍擴大到2 mm400mm后，JB/T7902-1999規(guī)定的金屬線的直徑范圍已不能滿足要求。引用HB 76842000，增加了小于0.100mm的絲，即17號：0.080mm；18號：0.0

24、63mm；19號：0.050mm。 為什么JB 4730-2005標準同時引用了JB/T 79021999?線型像質計?和HB 76842000 ?射線照相用線型像質計?兩個像質計標準 JB/T7902-200?無損檢測 射線照相檢測用線型像質計?介紹參照:ISO 19232-1:2004 ；EN 462-1:1994金屬絲直徑擴展到：19號材料：鋼、鋁、鈦、銅以及其他金屬 組號：1號像質計1 7號金屬絲3.20.8mm； 6號像質計6 12號金屬絲1.00.25mm ；10號像質計10 16號金屬絲0.40.1mm ；13號像質計13 19號金屬絲0.20.05mm ； ASME有孔型或線型

25、兩種像質計，JB4730僅線型一種； ASME線型像質計線徑范圍比JB4730要寬，前者最細線徑和最粗線徑分別為0.08和8.13 mm，而后者為0.1和3.2 mm； ASME有“可使用比被透照材料射線吸 收性能低的合金材料制作的像質計，JB4730無類似規(guī)定 鐵Fe像質計可用于鎳Ni、銅Cu材料的照相；不可用于鈦Ti、鋁Al材料的照相。JB4730與ASME關于像質計規(guī)定的差異標準條文3.7 外表要求和射線檢測時機3.7.1 在射線檢測之前，對接焊接接頭的外表應經外觀檢測并合格。外表的不規(guī)那么狀態(tài)在底片上的影像不得掩蓋或干擾缺陷影像，否那么應對外表作適當修整。3.7.2 除非另有規(guī)定，射線

26、檢測應在焊后進行。有延遲裂紋傾向的材料，至少應在焊接完成24h后進行射線檢測。JB4730-2005與國外標準的技術內容差異1對外表要求，ASME與JB4730大致相同。ASME-T222的表達是：外表焊波或焊縫外表上下不平，在射線照片上形成的圖像不至于遮蔽任何缺陷的圖像或是與它們相混淆。2對射線檢測時機，ASME無類似規(guī)定3EN1435-5.2對射線檢測時機的規(guī)定是：除非另有規(guī)定，射線照相應在制造完工后進行，例如在拋光后或熱處理后進行。說明：關于檢測時機選擇射線檢測時機應如何選擇？ JB4730.2之規(guī)定：無損檢測一般應在焊接完工后進行；有延遲裂紋傾向的材料應在焊接完成24小時后進行。 1、

27、有再熱裂紋傾向的材料應在熱處理后增加一次?壓力容器平安技術監(jiān)察規(guī)程?1999第82條 2、壓力容器的拼接封頭應在成形后進行，假設成形前進行無損檢測，那么成形后應在圓弧過渡區(qū)再做無損檢測。?壓力容器平安技術監(jiān)察規(guī)程?1999第87條射線檢測時機應如何選擇？3、對有延遲裂紋傾向的鋼材或用標準抗拉強度大于 540MPa 鋼材制造現(xiàn)場組焊的球罐，應在焊接結束 36h后，其它鋼材制造的球罐應在焊接結束 24h后，進行焊縫的檢測。GB12337-1999?鋼制球形貯罐條；GB50094-98?球形貯罐施工及驗收標準條 4、鍋爐的封頭管板、下腳圈的拼接焊縫的無損探傷應在加工成型后進行。?蒸汽鍋爐平安技術監(jiān)察

28、規(guī)程?1996第82條。說明：關于材料種類和裂紋敏感性對射線檢測的影響JB/T4730.1之4.2.4 對于Rm540MPa的高強度材料焊縫射線照相，也應采用高梯度噪聲比的膠片。JB/T4730.2之3.2.3 采用射線對裂紋敏感性大的材料進行射線檢測時,應采用T2類或更高類別的膠片。JB/T4730.2之3.7.2 除非另有規(guī)定，射線檢測應在焊后進行。對有延遲裂紋傾向的材料，至少應在焊接完成24h后進行射線檢測。(有再熱裂紋傾向的材料) ?壓力容器平安技術監(jiān)察規(guī)程?1999第82條裂紋敏感性的含義材料在外界條件影響下容易發(fā)生裂紋的程度，這里泛指各種裂紋發(fā)生的敏感性,包括焊接裂紋，熱處理裂紋，

29、冷熱加工裂紋，應力腐蝕裂紋、疲勞裂紋等。外界因素焊接，冷熱加工，使用因素介質，應力等；制造過程中的裂紋冷裂紋，熱裂紋，再熱裂紋；使用過程中的裂紋應力腐蝕裂紋，疲勞裂紋。鋼強度級別與裂紋敏感性關系隨著鋼強度級別的提高，合金元素的增加，其淬硬傾向逐漸增大，發(fā)生冷裂紋或延遲裂紋的傾向也越大。Rm540MPa的高強度材料大多是易發(fā)生冷裂紋延遲裂紋的材料，有些有再熱裂紋傾向。哪些材料裂紋敏感性大？1、焊接冷裂紋敏感性低合金高強度鋼一般認為16MnR、15MnVR焊接冷裂紋敏感性輕微屈服強度450MPa以上或抗拉強度540MPa以上的低合金高強度鋼焊接冷裂紋敏感性大：15MnVNR、18MnMoNbg、1

30、8MnMoNbR、13MnNiMoNbR、07MnCrMoVR、07MnNiCrMoVDR ，以及CF62日本等；低合金耐熱鋼一些低合金耐熱鋼有一定焊接冷裂紋敏感性：15CrMo、14CrlMo、1Cr0.5MoV、 2.25Cr1Mo12Cr2Mo1等；馬氏體不銹鋼一些馬氏體不銹鋼也有一定焊接冷裂紋敏感性：1Cr13、2 Cr13、4 Cr13、2Cr12WMoV、2Cr12MoV、2Cr12Ni3MoV等. 、再熱裂紋敏感性低合金高強度鋼， 尤其是沉淀強化型低合金高強度鋼有再熱裂紋敏感性。 18MnMoNb、13MnNiMoNb 、07MnCrMoVR、07MnNiCrMoVDR、 CF6

31、2日本等 、其他焊接裂紋敏感性焊接結晶裂紋敏感性；含Ni的低溫鋼容易發(fā)生2.5%Ni、3.5%Ni 、9%Ni鋼；特殊合金鋼焊接；異種鋼焊接接頭；堆焊。標準條文3.8 射線檢測技術等級選擇3.8.1 射線檢測技術等級選擇應符合制造、安裝、在用等有關標準及設計圖樣規(guī)定。承壓設備對接焊接接頭的制造、安裝、在用時的射線檢測，一般應采用AB級射線檢測技術進行檢測。對重要設備、結構、特殊材料和特殊焊接工藝制作的對接焊接接頭，可采用B級技術進行檢測。3.8.2 由于結構、環(huán)境條件、射線設備等方面限制，檢測的某些條件不能滿足AB級或B級射線檢測技術的要求時, 經檢測方技術負責人批準，在采取有效補償措施例如選

32、用更高類別的標準條文 膠片的前提下，假設底片的像質計靈敏度到達了AB級或B級射線檢測技術的規(guī)定,那么可認為按AB級或B級射線檢測技術進行了檢測。3.8.3 承壓設備在用檢測中，由于結構、環(huán)境、射線設備等方面限制,檢測的某些條件不能滿足AB級射線檢測技術的要求時, 經檢測方技術負責人批準,在采取有效補償措施例如選用更高類別的膠片后可采用A級技術進行射線檢測，但應同時采用其他無損檢測方法進行補充檢測。關于約束詞“經檢測方技術負責人批準的含義JB4730-2005標準的和3.8.3 中，“經檢測方技術負責人批準的規(guī)定的含義是什么？要求檢測方嚴格執(zhí)行標準條文的措施 ;企業(yè)制造、安裝、或專業(yè)檢測公司在質

33、量控制方面要有相應程序、手續(xù);企業(yè)制造、安裝、或專業(yè)檢測公司要承擔有關責任。 檢測的某些條件不能滿足要求時, 可采取哪些 “有效補償措施？選用更高類別的膠片：原用T3類膠片改用T2或T1類膠片； 提高黑度：將檢測區(qū)域黑度提高到3.0左右；改換更好的源：例如Ir192源改為Se75；或射線源改為X射線機或加速器。改變透照布置：例如增大焦距；或雙壁透照改為單壁透照；或外透法改為內透法。采取減少散射線的措施：磨平焊縫余高、加補償塊；或對存在邊蝕效應的工件采取屏蔽措施；或在工件和膠片之間增加鉛屏等。標準條文3.9 輻射防護3.9.1 放射衛(wèi)生防護應符合GB 18871、GB 16357和GB 1846

34、5的有關規(guī)定。3.9.2 現(xiàn)場進行射線檢測時，應按GB16357的規(guī)定劃定控制區(qū)和管理區(qū)、設置警告標志。檢測工作人員應佩帶個人劑量計，并攜帶劑量報警儀。3.9.3 現(xiàn)場進行射線檢測時，應按GB18465的規(guī)定劃定控制區(qū)和監(jiān)督區(qū)、設置警告標志，檢測作業(yè)時，應圍繞控制區(qū)邊界測定輻射水平。檢測工作人員應佩帶個人劑量計，并攜帶劑量報警儀。射線防護應遵循的法規(guī)標準介紹 1、射線防護應遵循的法規(guī)1中華人民共和國放射性污染防治法2中華人民共和國職業(yè)病防治法3放射工作衛(wèi)生防護管理方法4放射事故管理規(guī)定射線防護應遵循的標準 1GB 18871-2002電離輻射防護與輻射源平安根本標準；2 GB 16357-19

35、96工業(yè)射線探傷放射衛(wèi)生防護標準3 GB/T 17150-1997工業(yè)射線探傷放射衛(wèi)生防護要求4GB/T 17150-1997 X射線探傷輻射防護檢測5GB 16357-1996 放射人員健康規(guī)定GB 188712002?電離輻射防護及輻射源平安根本標準?該標準依據(jù)ICRP第60號出版物1990年制訂。2003年4月1日起實施，代替GB4792-84?放射衛(wèi)生防護根本標準?。輻射防護的原那么：正當化原那么(輻射實踐具有正當理由，獲得的利益超過付出的代價。) 最優(yōu)化原那么(設計輻射防護的真正的依據(jù)應是防護最優(yōu)化。)限值化原那么(限制個人所受的照射不超過規(guī)定。)輻射防護目的：防止發(fā)生有害確實定性效

36、應，將隨機性效應的發(fā)生率限制在可接受的水平；GB 188712002?電離輻射防護及輻射源平安根本標準?中與射線檢測防護相關的內容 標準適用范圍 ；各責任方 ；一般責任和特定責任 ；監(jiān)督管理方；監(jiān)督管理 內容；放射性物質的運輸；注冊或許可 ；注冊者和許可證持有者；輻射防護要求；劑量限制的規(guī)定；輻射工作場所的分區(qū) 。 按輻射防護標準設定禁區(qū)和管理區(qū)。 空氣比釋動能率在40Gyh-1以上的范圍內劃為控制區(qū) 控制區(qū)邊界外空氣比釋動能率在4Gyh-1以上的范圍內可劃為管理區(qū) GB16357?工業(yè)X射線探傷放射衛(wèi)生防護標準?對現(xiàn)場進行射線檢測，有哪些規(guī)定？ 工業(yè)射線探傷分為移動式探傷和固定式探傷兩類 ；

37、移動式探傷的放射防護將工作場所分為控制區(qū)和監(jiān)督區(qū)；控制區(qū)邊界外空氣比釋動能率低于40 Gy/h；監(jiān)督邊界空氣比釋動能率不大2.5Gy/hGB 184652001?工業(yè)射線探傷放射衛(wèi)生防護要求?對現(xiàn)場進行射線檢測有哪些規(guī)定 標準條文具體要求4.1 透照布置4.1.1 透照方式 應根據(jù)工件特點和技術條件的要求選擇適宜的透照方式。在可以實施的情況下應選用單壁透照方式,在單壁透照不能實施時才允許采用雙壁透照方式。典型的透照方式參見附錄C資料性附錄。4.1.2 透照方向 透照時射線束中心一般應垂直指向透照區(qū)中心，需要時也可選用有利于發(fā)現(xiàn)缺陷的方向透照。4.1.3 一次透照長度 一次透照長度應以透照厚度比

38、K進行控制。不同級別射線檢測技術和不同類型對接焊接接頭的透照厚度比應符合表3的規(guī)定。整條環(huán)向對接焊接接頭所需的透照次數(shù)可參照附錄D資料性附錄的曲線圖確定。關于透照方式的規(guī)定，JB4730-2005與JB4730-1994及ASME的比照JB4730-2005標準中明確了“單壁透照優(yōu)先的選用透照方式的根本原那么。 ASME規(guī)定：在任何可以實施的情況下，應當采用單壁透照技術。當單壁透照技術無法實施時，應采用雙壁透照技術。為了能證實充分覆蓋，應進行足夠次數(shù)的曝光。國外標準關于透照方向的規(guī)定1ASME規(guī)定：輻射方向：在任何可行情況下，應使射線束的中心對準受檢區(qū)域的中心。2EN1435規(guī)定：射線束應對準

39、被檢區(qū)中心，并在該點與工件外表相垂直。但假設某些缺陷用其他照射角度有利于檢出時，也可另擇方向進行透照。其它透照方式可由合同各方商定。關于K值放寬的說明對縱向焊接接頭和D0400mm的環(huán)向焊接接頭，JB4730-2005標準與94版的K值要求沒有變化，只有對D0400mm的容器或管子的環(huán)向焊接接頭，允許的透照厚度比K從1.1放寬至1.2。 近年來研究說明，裂紋檢出最重要因素是裂紋開口寬度，透照角度已不認為是裂紋檢出最關鍵因素，也就是說，從理論上看，控制K值的重要性有所下降，；國外標準或不考慮K值美ASME，或將K值放寬歐EN1435: 1997： K，A級：K1.2，B級：K1.1；對De400

40、mm的容器或管子，K = 1.1的一次透照長度太小，效率過低，本錢過高。 不同年代歐洲標準的K值規(guī)定A級：K 1.10 ；B級：K 1.06ISO/R1106：1969； 鋼板對接焊縫BS 2600-1：1983； 確定環(huán)縫透照次數(shù) A級：K 1.20 ；B級：K 1.10DIN 54111-1:1988 確定環(huán)縫透照次數(shù)EN 444:1994 金屬材料RT一般規(guī)那么EN 1435：1997 (焊接接頭RT通用方法ISO 5579：1998 金屬材料RT一般規(guī)那么標準條文4.1.4 小徑管環(huán)向對接焊接接頭的透照布置小徑管采用雙壁雙影透照布置，當同時滿足以下兩條件時應采用傾斜透照方式橢圓成像：T

41、壁厚8mm； g焊縫寬度Do /4橢圓成像時，應控制影像的開口寬度上下焊縫投影最大間距在1倍焊縫寬度左右。不滿足上述條件或橢圓成像有困難時可采用垂直透照方式重疊成像。4.1.5 小徑管環(huán)向對接接頭的透照次數(shù) 小徑管環(huán)向對接焊接接頭100%檢測的透照次數(shù)：采用傾斜透照橢圓成像時，當T/ Do0.12時,相隔90透照2次。當T/ Do0.12時,相隔120或60透照3次。垂直透照重疊成像時，一般應相隔120或60透照3次。 由于結構原因不能進行屢次透照時，可采用橢圓成像或重疊成像方式透照一次。鑒于透照一次不能實現(xiàn)焊縫全長的100%檢測，此時應采取有效措施盡量擴大缺陷可檢出范圍，并保證底片評定范圍內

42、黑度和靈敏度滿足要求。T壁厚8mm 且 g焊縫寬度 D0 /4時，應采用傾斜透照方式橢圓成像； T壁厚8mm 或 g焊縫寬度D0 /4時，應采用垂直透照方式重疊成像。規(guī)定條件的目的：限制縱向裂紋檢出角JB4730-2005規(guī)定小徑管環(huán)向對接接頭的透照方式選擇的說明JB4730-2005規(guī)定小徑管環(huán)向對接接頭的透照次數(shù)規(guī)定的說明當T8mm且gD0/4且T/ D00.12時, 傾斜透照橢圓成像，相隔90透照2次。當T8mm且gD0/4但T/ D00.12時, 傾斜透照橢圓成像，相隔120或60透照3次。當T8mm時，垂直透照重疊成像，相隔120或60透照3次。當gD0/4時，垂直透照重疊成像，相隔

43、120或60透照3次。規(guī)定條件的目的：限制透照厚度比理論和試驗均說明：小徑管環(huán)向對接接頭的透照透照一次不能實現(xiàn)實現(xiàn)焊縫全長的100%檢測，透照一次只能實現(xiàn)焊縫全長的50-80%檢測。由于結構原因不能進行屢次透照時，允許透照一次，此時可采用橢圓成像或重疊成像方式，且應采取有效措施擴大缺陷可檢出范圍，并保證底片評定范圍內黑度和靈敏度滿足要求。此處的“有效措施是指選用高電壓、短時間的曝光參數(shù)；采取有效的散射線屏蔽措施等；國外標準關于小徑管環(huán)向對接接頭的透照的規(guī)定ASME T271.2b規(guī)定：對外徑小于等于3in89mm的零部件焊縫和材料可采用雙壁雙影透照。透照時只能將透度計放在源側。如果雙壁雙影不能

44、滿足幾何不清晰度要求，就應使用雙壁單影。1對于焊縫，射線束應與焊縫平面傾斜一個足夠的角度，以便將源側的焊縫局部和膠片側的焊縫影像分開。這樣就不會出現(xiàn)評定區(qū)域的重疊。當要求全部覆蓋時，每個接頭至少要進行二次互成90的曝光。2另一種方法是將射線束置于某個位置對焊縫進行射線照相，使兩壁的影像重疊在一起。當要求完全覆蓋時，每個接頭至少要進行3次互成60或120的曝光。3如果用以上1或2的最少曝光數(shù)還不能到達射線照相的全部覆蓋要求，那么應增加曝光次數(shù)。標準條文4.2 射線能量4.2.1 X射線照相應盡量選用較低的管電壓。在采用較高管電壓時，應保證適當?shù)钠毓饬?。圖1規(guī)定了不同材料、不同透照厚度允許采用的最

45、高射線管電壓。 對截面厚度變化大的承壓設備，在保證靈敏度要求的前提下，允許采用超過圖1規(guī)定的射線管電壓。但對鋼、銅及銅合金材料，管電壓增量不應超過50kV；對鈦及鈦合金材料，管電壓增量不應超過40kV；對鋁及鋁合金材料，管電壓增量不應超過30kV。JB4730-2005與JB4730-94的技術內容差異1JB4730-2005修改了JB4730-94標準關于允許的最高透照電壓的規(guī)定，用EN1435-1997的圖代替了JB4730-94標準圖5-6，改變了對小厚度范圍的最高管電壓不適當?shù)?、過嚴的限定。2刪除了JB4730-94標準依據(jù)曝光時間選用透照電壓的錯誤表述在曝光時間許可下，應盡量采用較低

46、的射線能量。3增加了Se-75源的適用透照厚度范圍。4進一步降低了Ir-192源和Se-75源的最小透照厚度。JB4730-94標準圖5-6 選自ISO 5579:1985 ，對小厚度范圍的最高管電壓限制不適當、過嚴。JB4730-2005與國外標準的技術內容差異1ASME對輻射能量幾乎不作控制，在96版即取消了透照不同厚度材料時允許使用的最高X 射線管電壓的規(guī)定內容；2 EN1435比JB4730多兩種射線源，對Tm 170、Yb 169的應用有具體規(guī)定；3 EN1435規(guī)定了 Yb 169和Se 75透照鋁和鈦的穿透厚度。Yb 169在鋁和鈦的穿透厚度：A級時，10w70；B級時，25w5

47、5；Se 75在鋁和鈦的穿透厚度：A級時，35w120 標準條文4.2.2射線源和高能射線適用的透照厚度范圍應符合表4的規(guī)定。 采用源在內中心透照方式，在保證像質計靈敏 度到達要求的前提下，允許射線最小 透照厚度取表4下限值的二分之一。 采用其他透照方式，在采取有效補償措施并 保證像質計靈敏度到達要求的前提 下，經合同各方同意，A 級 ,AB級技術的 Ir-192源的最小透照厚度可降至10mm， Se- 75源的最小透照厚度可降至5mm。JB4730-2005為什么要對射線照相規(guī)定透照厚度范圍？射線的能量是由同位素的種類決定的，每一種放射性同位素放射出射線的波長是特定的，其能量不可調節(jié)，所以大

48、多數(shù)情況下得不到最正確比照度。每一種放射性同位素有其適用厚度范圍，厚度過大或過小都會導致靈敏度下降。為保證靈敏度，標準要對不同放射性同位素規(guī)定其適用的厚度范圍。國外標準是否規(guī)定射線照相透照厚度范圍？美國ASME標準中，只要靈敏度到達要求，對射線最小透照厚度沒有限制；歐洲EN1435標準：只要能獲得足夠高的影像質量，允許將穿透厚度范圍放寬。經合同各方同意，采用Ir192時，最小穿透厚度可降至10mm；采用Se75時，最小穿透厚度可降至5mm。JB4730-2005標準在哪些前提下允許放寬射線最小透照厚度？“采用源在內中心透照方式，在保證像質計靈敏度到達要求的前提下，允許射線最小透照厚度取表4下限

49、值的二分之一。采用其他透照方式，在采取有效補償措施并保證像質計靈敏度到達要求的前提下，經合同各方同意，Ir-192源的最小透照厚度可降至10mm， Se-75源的最小透照厚度可降至5mm。 JB4730-2005規(guī)定的管子對接接頭射線照相，透照厚度下限是多少？ 管子對接接頭采用雙壁透照法：Ir192源允許的透照厚度下限為10mm。經合同各方同意，在采取有效補償措施并保證像質計靈敏度到達要求的前提下，允許的管子壁厚下限為5mm。Se75源允許的透照厚度下限為5mm。經合同各方同意，在采取有效補償措施并保證像質計靈敏度到達要求的前提下，允許的管子壁厚下限為2.5mm 怎樣保證射線透照管子環(huán)焊縫的質

50、量 1嚴格執(zhí)行標準中關于源的最小透照厚度的規(guī)定。2嚴格執(zhí)行標準中關于射線源至工件外表的距離f的規(guī)定。3可考慮選擇更高等級的膠片。4應保證足夠長的曝光時間。5應采取有效的散射線屏蔽措施。JB4730-2005標準的中“經合同各方同意的規(guī)定的含義是什么？1、檢測方不得隨意和擅自應用2、委托方有知情權、批準權和監(jiān)督權3、執(zhí)行該條款要慎重，要有有效的補償措施，并保證條款中所有內容均被滿足。標準條文4.3 射線源至工件外表的最小距離4.3.1 所選用的射線源至工件外表的距離f應滿足下式的要求： A 級射線檢測技術： f 7.5db 2/3 AB級射線檢測技術： f 10db 2/3 B 級射線檢測技術：

51、 f 15db 2/3 圖2是A級和B級射線檢測技術確定f的諾模圖，圖3是AB級射線檢測技術確定f的諾模圖。有效焦點尺寸d 按附錄E標準性附錄的規(guī)定計算。4.3.2 采用源在內中心透照方式周向曝光時，只要得到的底片質量符合和的要求，f值可以減小，但減小值不應超過規(guī)定值的50%。4.3.3 采用源在內單壁透照方式時，只要得到的底片質量符合和的要求，f值可以減小，但減小值不應超過規(guī)定值的20%。JB4730-2005與國外標準的技術內容差異 1JB4730與EN1435對照相不清晰度的限制根本一致； 2對照相不清晰度的限制，JB4730與ASME限制的參數(shù)不同，前者是射線源至工件外表的距離f，后者

52、是最大幾何不清晰度Ug。3從對照相不清晰度的控制來說，限制f 和限制Ug含義是等同的，將JB4730的射線源至工件外表的最小f 換算為ASME的Ug規(guī)定值，可以發(fā)現(xiàn)JB4730大大嚴于ASME。4EN1435還有規(guī)定：用A級技術時，假設須檢出平面型缺陷，那么最小距離fmin應與B級同，以使Ug減半。對裂紋敏感性大的材料有更為嚴格的技術要求的，應使用靈敏度比B級更優(yōu)的技術進行透照。JB4730-2005為什么規(guī)定采用源內透照方式時允許f值小于規(guī)定值？只要底片評定范圍內的黑度D和底片的像質計靈敏度滿足要求:采用源在內中心透照方式周向曝光時 f值可以減小50%，采用源在內單壁透照方式時 f值可以減小

53、20%。為了使:在單壁透照和雙壁透照兩種透照方式之間選擇時，能盡可能多采用單壁透照；在源在內單壁透照和源在外單壁透照之間選擇時，能盡可能多采用源在內單壁透照方式。標準條文4.4 曝光量4.4.1 射線照相，當焦距為700mm時，曝光量的推薦值為：A級和AB級射線檢測技術不小于15mAmin；B級射線檢測技術不小于20mAmin。當焦距改變時可按平方反比定律對曝光量的推薦值進行換算。4.4.2 采用射線源透照時, 總的曝光時間應不少于輸送源往返所需時間的10倍。JB4730-2005與JB4730-94的技術內容差異1JB4730-2005中對X射線的曝光量推薦值按射線照相技術級別分別規(guī)定，且對

54、推薦的曝光量值附加了焦距前提條件，糾正了JB4730-94標準中曝光量推薦值規(guī)定的不確定性。為到達到規(guī)定的底片黑度，推薦采用不低于15mAmin的曝光量，以防止用短距和高電壓所引起的不良影響。2對射線曝光時間作出限制。JB4730-2005與國外標準的技術內容差異1曝光量的推薦值，ISO 5579之規(guī)定與JB4730同，ASME、EN1435無規(guī)定。2射線源透照時, 總的曝光時間應不小于輸送源往返所需時間的10倍，此規(guī)定EN1435-1997與JB4730同。3EN1435雖未限制射線照相曝光量，但限制了最高射線管電壓，也就間接對射線照相曝光量最低值作出限制；JB4730-2005為什么規(guī)定最

55、小曝光量？增大曝光量有利于提高比照度和信噪比制止X射線照相中為提高速度采用高電壓、短時間的做法；制止射線照相中為提高速度采用大強度源、小焦距、短時間的做法；標準條文4.5 曝光曲線4.5.1 對每臺在用射線設備均應做出經常檢測材料的曝光曲線，依據(jù)曝光曲線確定曝光參數(shù)。4.5.2 制作曝光曲線所采用的膠片、增感屏、焦距、射線能量等條件以及底片應到達的靈敏度、黑度等參數(shù)均應符合本局部的規(guī)定。4.5.3 對使用中的曝光曲線，每年至少應校驗一次。射線設備更換重要部件或經較大修理后應及時對曝光曲線進行校驗或重新制作。國外標準的相關技術內容：ASTM-SE94規(guī)定：1曝光圖表應按各X射線裝置編制，并且在每

56、次主要元件替換時進行校正，例如X射線管或高壓變壓器；2在更換不同制造廠牌號的化學處理藥品時曝光圖表應作修正，或者處理器時間溫度關系可以進行調整以適合此曝光圖表 標準條文應采用金屬增感屏、鉛板、濾波板、準直器等適當措施，屏蔽散射線和無用射線，限制照射場范圍。4.6.2 對初次制定的檢測工藝或當在使用中檢測工藝的 條件、環(huán)境發(fā)生改變時,應進行背散射防護檢查。 檢查背散射防護的方法是：在暗盒反面貼附“B鉛字標記，一般B鉛字的高度為13mm、厚度為1.6mm,按檢測工藝的規(guī)定進行透照和暗室處理。假設在底片上出現(xiàn)黑度低于周圍背景黑度的“B字影像，那么說明背散射防護不夠,應增大背散射防護鉛板的厚度。假設底

57、片上不出現(xiàn) “B字影像或出現(xiàn)黑度高于周圍背景黑度的“B字影像，那么說明背散射防護符合要求。國外標準的相關技術內容：1ASME規(guī)定：每個暗盒反面應貼附鉛字標記“B，以監(jiān)測曝光過程中有無背散射線落到膠片上。2EN1435規(guī)定：為減少散射線的影響，應利用鉛光闌等將照射線盡量限制在被檢區(qū)段。用Ir192和Co60射源或有邊緣散射時，可將鉛箔或薄鉛板插在工件與暗袋之間，作為低能散射線的濾板。按透照厚度的不同，此濾板厚度可為0.5mm2mm。為防止散射線對膠片的影響，應在膠片暗袋后貼附適當厚度的鉛板至少1mm或錫板至少1.5mm。當采用新的透照布置時，應在每個暗袋后背貼上鉛標記“B高度10mm，厚度1.5

58、mm，以此驗證背散射的存在與否。假設底片上出現(xiàn)該標記的較亮影像，此底片應作廢；假設此標記影像較暗或不可見，說明散射線屏蔽良好，那么此底片合格。標準條文4.7 像質計的使用4.7.1 像質計一般應放置在工件源側外表焊接接頭的一端在被檢區(qū)長度的1/4左右位置,金屬絲應橫跨焊縫，細絲置于外側。當一張膠片上同時透照多條焊接接頭時,像質計應放置在透照區(qū)最邊緣的焊縫處。 4.7.2 像質計放置原那么 a) 單壁透照規(guī)定像質計放置在源側。雙壁單影透照規(guī)定像質計放置在膠片側。雙壁雙影透照像質計可放置在源側，也可放置在膠片側。標準條文b) 單壁透照中，如果像質計無法放置在源側，允許放置在膠片側。c) 單壁透照中

59、像質計放置在膠片側時，應進行比照試驗。比照試驗方法是在射源側和膠片側各放一個像質計，用與工件相同的條件透照，測定出像質計放置在源側和膠片側的靈敏度差異，以此修正像質指數(shù)規(guī)定，以保證實際透照的底片靈敏度符合要求。d) 當像質計放置在膠片側時，應在像質計上適當位置放置鉛字“F作為標記， F標記的影像應與像質計的標記同時出現(xiàn)在底片上，且應在檢測報告中注明。4.7.3 原那么上每張底片上都應有像質計的影像。當一次曝光完成多張膠片照相時，使用的像質計數(shù)量允許減少但應符合以下要求: a) 環(huán)形對接焊接接頭采用源置于中心周向曝光時，至少在圓周上等間隔地放置3個像質計;b) 球罐對接焊接接頭采用源置于球心的全

60、景曝光時，至少在北極區(qū)、赤道區(qū)、南極區(qū)附近的焊縫上沿緯度等間隔地各放置3個像質計，在南、北極的極板拼縫上各放置1個像質計; c) 一次曝光連續(xù)排列的多張膠片時，至少在第一張、中間一張和最后一張膠片處各放置一個像質計。標準條文4.7.4 小徑管可選用通用線型像質計或附錄F標準性附錄規(guī)定的專用等徑金屬絲像質計，金屬絲應橫跨焊縫放置。4.7.5 如底片黑度均勻部位一般是鄰近焊縫的母材金屬區(qū)能夠清晰地看到長度不小于10mm的連續(xù)金屬絲影像時，那么認為該絲是可識別的。專用像質計至少應能識別兩根金屬絲。標準條文像質計選用依據(jù)有4個，a.透照厚度；b.透照方式；c .像質計放置位置源側或膠片側；d. 射線照