spc與cpk的基礎(chǔ)認(rèn)識(shí)1

1、SPC與CPK的根底認(rèn)識(shí) 2021-04-01CPKCPK的定義:CPK CPK：Complex Process Capability index 的縮寫，是現(xiàn)代企業(yè)用于表示制程能力的指標(biāo)。制程能力是過(guò)程性能的允許最大變化范圍與過(guò)程的正常偏差的比值。 制程能力研究在於確認(rèn)這些特性符合規(guī)格的程度，以保證制程成品不符規(guī)格的不良率在要求的水準(zhǔn)之上，作為制程持續(xù)改善的依據(jù)。Cpk的意義Cpk的意義：制程水平的量化反映;用一個(gè)數(shù)值來(lái)表達(dá)制程的水平。 制程能力指數(shù)：是一種表示制程水平上下的方便方法，其實(shí)質(zhì)作用是反映制程合格率的上下。Cpk應(yīng)用講議 1. Cpk的中文定義為：制程能力指數(shù)。是某個(gè)工程或制程水

2、準(zhǔn)的量化反響，也是工程評(píng)估的一類指標(biāo)。 2. 同Cpk息息相關(guān)的兩個(gè)參數(shù)：Ca , Cp。 Ca: 是制程準(zhǔn)確度。 Cp: 是制程精密度。 3. Cpk, Ca, Cp三者的關(guān)系： Cpk = Cp * ( 1 - Ca)，Cpk是Ca及Cp兩者的中和反響，Ca反響的是位置關(guān)系(集中趨勢(shì))，Cp反響的是散布關(guān)系(離散趨勢(shì)) CPK的根底認(rèn)識(shí)精密cp和準(zhǔn)確caCPK的根底認(rèn)識(shí)1、Ca：制程準(zhǔn)確度的計(jì)算：CPK的根底認(rèn)識(shí)2、Cp：制程精密度的計(jì)算：CPK的根底認(rèn)識(shí)Ca制程準(zhǔn)確度與CPK的關(guān)系： CPK=CP*(1- ICaI) CPK的根底認(rèn)識(shí)CP制程精密度與CPK的關(guān)系： CPK=CP*(1-

3、ICaI)CPK的根底認(rèn)識(shí)為什么以6為標(biāo)準(zhǔn)來(lái)衡量工序能力假設(shè)B=2，那么合格品率為68.26%.假設(shè)B=4,那么合格品率為95.45%.假設(shè)B=6,那么合格品率為99.73%.假設(shè)B=8,那么合格品率為99.994%.CPK的根底認(rèn)識(shí)正常情況下，食品類產(chǎn)品的質(zhì)量不可能保證合格率100%，因?yàn)榱看?，肯定有次品，?dāng)cpk 1時(shí)的合格率就是99.73%。當(dāng)我們將產(chǎn)品的檢測(cè)數(shù)值控制在正負(fù)3倍的標(biāo)準(zhǔn)偏差內(nèi)就能控制產(chǎn)品的合格率在99.73%CPK的根底認(rèn)識(shí)Cpk應(yīng)用講議 4. 中選擇制程站別Cpk來(lái)作管控時(shí)，應(yīng)以本錢做考量的首要因素，還有是其品質(zhì)特性對(duì)后制程的影響度。 5. 計(jì)算取樣數(shù)據(jù)至少應(yīng)有2025組

4、數(shù)據(jù)，方具有一定代表性。 6. 計(jì)算Cpk除收集取樣數(shù)據(jù)外，還應(yīng)知曉該品質(zhì)特性的規(guī)格上下限(USL，LSL)，才可順利計(jì)算其值。 CPK應(yīng)用講議Cpk應(yīng)用講議 7. 首先可用Excel的“STDEV函數(shù)自動(dòng)計(jì)算所取樣數(shù)據(jù)的標(biāo)準(zhǔn)差()，再計(jì)算出規(guī)格公差(T)，及規(guī)格中心值(u). 規(guī)格公差規(guī)格上限規(guī)格下限；規(guī)格中心值規(guī)格上限+規(guī)格下限/2； 8. Ca值依據(jù)公式：Ca=(X-U)/(T/2) ， 計(jì)算出制程準(zhǔn)確度。 9. Cp值依據(jù)公式：Cp =T/， 計(jì)算出制程精密度。 10. Cpk值依據(jù)公式：Cpk=Cp(1-|Ca|) ，計(jì)算出制程能力指數(shù)。 數(shù)據(jù)分布圖Cpk應(yīng)用講議CPU：穩(wěn)定過(guò)程的上

5、限能力指數(shù)，定義為容差范圍上限除以實(shí)際過(guò)程分布寬度上限，一般表達(dá)式為： CPU=(USL-X)/(3*) CPKU=(上線-平均值/3*標(biāo)準(zhǔn)差CPL：穩(wěn)定過(guò)程的下限能力指數(shù)，定義為容差范圍下限除以實(shí)際過(guò)程分布寬度下限，一般表達(dá)式為：CPL=(X-LSL)/(3* ) CPKL=(平均值-下線/3*標(biāo)準(zhǔn)差CPK的根底認(rèn)識(shí)CPK的根底認(rèn)識(shí)無(wú)偏離的Cp表示過(guò)程加工的均勻性穩(wěn)定性，即“質(zhì)量能力。Cp越大，這質(zhì)量特性的分布越“苗條，質(zhì)量能力越強(qiáng)；而有偏離的Cpk表示過(guò)程中心與公差中心M的偏離情況，Cpk越大，二者的偏離越小，也即過(guò)程中心對(duì)公差中心越“瞄準(zhǔn)。使過(guò)程的“質(zhì)量能力與“管理能力二者綜合的結(jié)果。C

6、p與Cpk的著重點(diǎn)不同，需要同時(shí)加以考慮。Cpk的評(píng)級(jí)標(biāo)準(zhǔn) Cpk的評(píng)級(jí)標(biāo)準(zhǔn)：可據(jù)此標(biāo)準(zhǔn)對(duì)計(jì)算出之制程能力指數(shù)做相應(yīng)對(duì)策。 A+級(jí) Cpk2.0 特優(yōu) 可考慮本錢的降低。 A+ 級(jí) 2.0 Cpk 1.67 優(yōu) 應(yīng)當(dāng)保持之 。 A 級(jí) 1.67 Cpk 1.33 良 能力良好，狀態(tài)穩(wěn)定，但應(yīng)盡力提升為A級(jí) 。 B 級(jí) 1.33 Cpk 1.0 一般 狀態(tài)一般，制程因素稍有變異即有產(chǎn)生不良的危險(xiǎn)，應(yīng)利用各種資源及方法將其提升為 A級(jí) 。 Cpk應(yīng)用講議C 級(jí) 1.0 Cpk 0.67 差 制程不良較多，必須提升其能力 。 D 級(jí) 0.67 Cpk 不可接受 其能力太差，應(yīng)考慮重新整改設(shè)計(jì)制程。

7、SPC的根底認(rèn)識(shí)SPC的根底認(rèn)識(shí)1、SPC的定義：即統(tǒng)計(jì)過(guò)程控制Statistical Process Control簡(jiǎn)稱SPC，是一種借助數(shù)理統(tǒng)計(jì)方法的過(guò)程控制工具。是應(yīng)用統(tǒng)計(jì)技術(shù)對(duì)過(guò)程中的各個(gè)階段進(jìn)行評(píng)估和監(jiān)控，建立并保持過(guò)程處于可接受的，并且穩(wěn)定的水平，從而保證產(chǎn)品與效勞符合規(guī)定的要求的一種質(zhì)量管理技術(shù)。SPC的根底認(rèn)識(shí)2、SPC的重要意義：SPC是過(guò)程控制的一局部，從內(nèi)容上說(shuō)主要是有兩個(gè)方面：一是利用控制圖分析過(guò)程的穩(wěn)定性，對(duì)過(guò)程存在的異常因素進(jìn)行預(yù)警。二是計(jì)算過(guò)程能力指數(shù)，分析穩(wěn)定的過(guò)程能力滿足技術(shù)要求的程度，對(duì)過(guò)程質(zhì)量進(jìn)行評(píng)價(jià)。SPC的根底認(rèn)識(shí)3、SPC的應(yīng)用能力：SPC是一種用來(lái)

8、分析數(shù)據(jù)的科學(xué)方法，并且利用分析結(jié)果來(lái)解決實(shí)際的問(wèn)題。只要問(wèn)題能以數(shù)字表示，就可以應(yīng)用SPC來(lái)分析。SPC的根底認(rèn)識(shí)4、SPC控制圖三要素：坐標(biāo)、管制界限中心線CL，上控制線UCL，下控制線LCL、數(shù)據(jù)點(diǎn)。SPC的根底認(rèn)識(shí) SPC的根底認(rèn)識(shí)5、控制圖的種類及應(yīng)用范圍：1、計(jì)量型數(shù)據(jù)的控制圖Xbar-R圖均值極差圖Xbar-S圖均值標(biāo)準(zhǔn)差圖X-MR圖單值移動(dòng)極差圖X-R中位數(shù)圖2、計(jì)數(shù)型數(shù)據(jù)的控制圖P圖不合格品率圖np圖不合格品數(shù)圖c圖不合格數(shù)圖u圖單位產(chǎn)品不合格數(shù)圖SPC的根底認(rèn)識(shí)SPC的根底認(rèn)識(shí)SPC的根底認(rèn)識(shí) 隨機(jī)因素統(tǒng)計(jì)控制狀態(tài)簡(jiǎn)稱受控狀態(tài)過(guò)程統(tǒng)計(jì)失控狀態(tài)簡(jiǎn)稱失控狀態(tài)系統(tǒng)因素服從隨機(jī)分布不服從6、SPC的影響因素SPC的根底認(rèn)識(shí)SPC的根底認(rèn)識(shí)SPC的根底認(rèn)識(shí)7、普通原因與特殊原因的區(qū)別與差異SPC的根底認(rèn)識(shí)SPC的根底認(rèn)識(shí)SPC的根底認(rèn)識(shí)質(zhì)量診斷理論過(guò)程能力指數(shù)的定義 a、過(guò)程能力 過(guò)程的加工質(zhì)量滿足技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)的能力，是衡量加工內(nèi)在一致性的標(biāo)準(zhǔn)，決定于質(zhì)量因素人、機(jī)、料、環(huán)、法，與公差無(wú)關(guān)。 穩(wěn)態(tài)時(shí)，99.73%的產(chǎn)品落在(-3 ，+3 )范圍內(nèi)，因此將過(guò)程能力PC定義為： PC=6 b、生產(chǎn)能力 加工數(shù)量方面的能力。 c、過(guò)程能力指數(shù)-Cp 過(guò)程能力滿足產(chǎn)品技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)產(chǎn)品規(guī)格、公差的程度。第四