QC七大手法---直方圖1ppt課件

1、1QC七大手法之直方圖QA：吳燕菲2021.04.162一、直方圖的定義二、直方圖的用途五、直方圖的看法六、制程才干及制程才干指數(shù)四、直方圖的制造步驟三、直方圖相關名詞解釋課程內(nèi)容QC七大手法5一、直方圖的定義 直方圖又稱質(zhì)量分布圖，它是根據(jù)消費過程中搜集來的質(zhì)量數(shù)據(jù)分布情況，畫成的以組距為底邊、以次數(shù)為高度的一系列銜接起來的直方型陳列的圖。3183153123093063034232168101214表示特性值(尺寸、分量、時間等計量值頻度分布的柱狀圖。由此圖可計算出該特性值分布的平均值、規(guī)范偏向、工序才干指數(shù)等參數(shù)。6二、直方圖的用途1、直方圖可以直觀的看出數(shù)據(jù)的分布外形。2、直方圖可以看

2、出數(shù)據(jù)分布的中心位置。3、直方圖可以看出數(shù)據(jù)分散的程度。4、經(jīng)過測定數(shù)據(jù)和規(guī)格值的比較，了解該制程的制程能 力，并可以計算出產(chǎn)品在該制程消費中的不良情況。5、直方圖可以對比改善前與改善后的效果。6、根據(jù)直方圖呈現(xiàn)的外形，可以判別能否有異常品混入下面的七個圖例可以協(xié)助我們了解直方圖對過程工序才干的判別：改善前直方圖改善后直方圖改善前改善后直方圖比較9二、相關統(tǒng)計名詞解釋平均值X：樣本均值，記為X，它是樣本數(shù)據(jù)的算術平均數(shù)。中位數(shù)Me：數(shù)據(jù)數(shù)為奇數(shù)，取按大小陳列時的中間的數(shù)。 數(shù)據(jù)數(shù)為偶數(shù)，取按大小陳列的中間兩數(shù)的平均。 15.07，15.09，15.15，15.21，15.29 為奇數(shù)，Me=1

3、5.15 15.07，15.09，15.15，15.21，15.29，15.30 為偶數(shù)，Me=15.18極差R：其值為搜集數(shù)據(jù)中的最大值與最小值之差，也就是一切數(shù)據(jù)從最小到最大跨度的區(qū)間。 R=Xmax-Xmin10組數(shù)K：對于所研討的數(shù)據(jù)進展分組，所分組的個數(shù)就是該直方圖的組數(shù)。組距h：組距表示的是所分成組的跨度區(qū)間，在圖上表達的那么是柱子的寬度，且一切的組距都是相等的。 h=R/K方差V：方差又稱分散：偏向平方和的平均值規(guī)范差(S)：各數(shù)據(jù)偏離平均數(shù)的間隔的平均數(shù)11下組界、上組界、中心點一個組的起始點成為下組界；一個組的末點稱為上組界;而中心點那么是本組最小值與最大值的平均值的地方，即

4、最大值到最小值的中心。12三、直方圖的繪制步驟1、搜集數(shù)據(jù)2、找出數(shù)據(jù)中的最大值、最小值，計算數(shù)據(jù)的變化范圍極差R)3、設定組數(shù)k，計算組距h4、計算各組邊境值與中心值5、計算各組頻數(shù)，繪制頻數(shù)分布表6、繪制直方圖，縱軸為頻數(shù)7、對直方圖的形狀進展分析131、搜集數(shù)據(jù)某產(chǎn)品的尺寸為24.56.0mm17.5-30.5mm共100個數(shù)據(jù)142、找出數(shù)據(jù)中的Xmax、Xmin，并計算極差R Xmax=30.0 Xmin=17.4 R=Xmax-Xmin=30.0-17.4=12.63、設定組數(shù)k，計算組距h 確定組數(shù)K表 數(shù)據(jù)個數(shù)n 組數(shù)K 50以內(nèi) 57 50100 610 100250 712

5、 250以上 1012因我們搜集的數(shù)據(jù)為100組，可設定組數(shù)為10，丈量最小單位為0.1，那么組距 h=R/k=12.6/10=1.26 1.3154、計算各組邊境和中心值第一組的下邊境值 = 最小值 = 17.4- = 17.350.122丈量單位第一組的上邊境值=第一組的下邊境值+組距=17.35+1.3=18.65第一組的中心值=下邊境值+上邊境值/2=17.35+18.65/2=18.0第二組的下邊境值=第一組的上邊境值=18.65第二組的上邊境值=第二組的下邊境值+組距=18.65+1.3=19.95按照以上規(guī)那么依次類推，第一組的上界限值就是第二組的下界限值，第二組的下界限值加上組

6、距就是第二組的上界限值，也就是第三組的下界限值，依此類推，可定出各組的邊境值。并計算出各組的中心值165、計算各組頻數(shù)，繪制頻數(shù)分配表邊境值176、繪制直方圖，縱軸為頻數(shù)187、對直方圖的形狀進展分析7-1 按直方圖呈現(xiàn)的外形進展判別常態(tài)型 直方圖柱子顯示中間高兩邊低，柱子間無間隔并且呈現(xiàn)向中間集中的趨勢，左右對稱分配常態(tài)分配，實踐界限處于規(guī)格值之內(nèi)，表示該制程的質(zhì)量處于穩(wěn)定形狀。19鋸齒型直方圖的柱子無規(guī)那么地長短不一，柱子的頂端凹凸不平，就像口中有缺損或者斷裂的牙齒一樣。發(fā)生此種情況的緣由：作圖時數(shù)據(jù)太小分組太多；檢驗人員讀數(shù)有偏向如習慣偏向某些值；量測儀器精度不夠，而質(zhì)量要求較精細；較多

7、特性差別較大的數(shù)據(jù)摻混到一同，應層別后再分析；20偏態(tài)型 偏態(tài)形分左偏態(tài)形和右偏態(tài)形兩種：指圖的頂峰有時偏向左側(cè)、有時偏向右側(cè)。左邊少右邊多時稱右偏態(tài)，左邊多右邊少時稱左偏態(tài)。發(fā)生此種情況的緣由： 習慣作業(yè)或加工呵斥； 工具、冶具、模具曾經(jīng)磨損或松動；21陡壁型 絕壁分左絕壁形和右絕壁形兩種： 直方圖的柱子從左到右呈現(xiàn)先高后低或從右到左呈先低后高依次陳列，這樣的型態(tài)稱為左絕壁型和右絕壁型。也就是說，與常態(tài)的直方圖比較，絕壁形直方圖只需常態(tài)形直方圖的左半邊或右半邊。發(fā)生此種情況的緣由：通常表如今產(chǎn)質(zhì)量量較差時，為了符合產(chǎn)品的規(guī)范，需求進展全數(shù)檢查，以剔除不合格品。當用剔除了不合格品的產(chǎn)品數(shù)據(jù)作頻

8、數(shù)直方圖時容易產(chǎn)生這種陡壁型，這是一種非自然形狀。應檢查有無測定不實、測定誤差或檢查疏失等問題。注塑或壓鑄產(chǎn)品模具有較大的磨損呵斥。22雙峰型直方圖看起來好似是兩個直方圖銜接在一同，左右兩邊各有一個頂峰的柱子，而中間的柱子較低，那么稱為雙峰型。發(fā)生此種情況的緣由：有兩種機臺或兩種原物料有差別的數(shù)據(jù)集合一同呵斥。加工過程中有較大的異常做過重新調(diào)整。23平頂型直方圖的柱子高低近似，柱子間高度相差甚微，看起來有點像高原一樣，那么稱為平頂型。發(fā)生此種情況的緣由：丈量儀器精度不夠；人為的造假數(shù)據(jù)；經(jīng)過全檢和挑選后的數(shù)據(jù)；24離島型 在直方圖的在右端或左端構(gòu)成孤立小島，稱離島型。發(fā)生此種情況的緣由錯誤數(shù)據(jù)

9、輸入；較少的其它物料或緣由混入；機臺已出現(xiàn)特殊緣由，已產(chǎn)生一定的變異。7-2 與公差界限值做對比測定值充分落在規(guī)格值之中，平均值分布在正中間。規(guī)格值存在于直方圖求得的規(guī)范偏向約正負四倍左右的附近，CP=1.33。理想型兩邊無富有單邊無富有測定值剛好進入規(guī)格值內(nèi)，但幾乎沒有余裕令人擔憂。只需工程上有一點點的變化，就會出現(xiàn)不良品，因此有必要減少此不穩(wěn)定形狀。測定值充分落在規(guī)格值內(nèi)，但平均值太接近規(guī)格的上限，只需工程稍有變化，就有偏離規(guī)格的能夠性。25富有太多工序才干太富有，如不是規(guī)格太寬，就應適當放寬工序才干指數(shù)以降低本錢。規(guī)格的單側(cè)過于富有時，也應同樣思緒進展處置平均值太接近左邊，因此需進展技術

10、性檢討，使平均值回歸中心的必要平均值偏離中心產(chǎn)品實附際值分布已有部分超出公差上下限，工程不穩(wěn)定性太大，有改善的必要非常不穩(wěn)定7-2 與工差界限值比較做對比26規(guī)格值整體分布太接近左側(cè)，部分產(chǎn)品值超公差下限，因此可提升平均值或減少不穩(wěn)定性太接近上限規(guī)格時亦同。7-2 與工差界限值比較做判別偏規(guī)格下限27281、此直方圖外形中間高兩邊低，屬正態(tài)分布，服從統(tǒng)計規(guī)律，可認定過程較為穩(wěn)定。2、直方圖與公差界限比較可知，數(shù)據(jù)分布靠左，實踐平均值比規(guī)格值小，有部分產(chǎn)品已超出公差下限，因調(diào)整平均值或減少不穩(wěn)定性。結(jié)論：根據(jù)以上斷定方式對直方圖面進分析可知：六、 SPC的知識引見制程才干與制程才干指數(shù)1、SPC

11、統(tǒng)計過程控制： Statistical Process Control ：就是根據(jù)統(tǒng)計的邏輯來判別過程 能否正常及應否采取改善對策的一套控制系統(tǒng)。SPC 最早是由美國貝爾實驗室質(zhì)量專家休哈特W.A.Shewhart于上世界20年代提出。Statistical ：統(tǒng)計 以概率統(tǒng)計學為根底，分析數(shù)據(jù)、得出結(jié)論；Process： 過程 有輸入-輸出的一系列的活動；Control： 控制 做出調(diào)理和行動；29SPC才干分析的一些專有名詞序號代號名稱說明01X(Bar)平均數(shù)（均值）02R組距/全距/極差 MAX-MIN03M中位數(shù)大小順利排列的中間數(shù)042(S 2)方差05(S)標準差：各數(shù)據(jù)偏離平均

12、數(shù)的距離（離均差）的平均數(shù)S=06SL規(guī)格中心線07USL規(guī)格上限08LSL規(guī)格下限09CL管制中心線Xbar10UCL管制上限Xbar+311LCL管制下限Xbar-312Ca準確度（偏移度）13Cp精密度（離散度）14Cpk制程能力指數(shù)302、SPC制程才干表示方式： Ca、Cp、Cpk制程準確度Ca Capability of accuracy ：表示測定結(jié)果與真實值接近的程度。代表制程平均值偏離規(guī)格中心值之程度。假設其值越小，表示制程平均值越接近規(guī)格中心值，即質(zhì)量越接近規(guī)格要求之水準集中趨勢，與平均值有關，制程平均值越偏離規(guī)格中心值，所呵斥的不良率將越大。偏離度K=|Ca|,Ca 的值

13、將介于01。國內(nèi)相關技術資料普通運用K表示偏移度，K=|Ca| K與Ca的關系準確度好準確度好準確度好準確度差Ca：偏移度31Ca計算公式：雙邊規(guī)格：單邊規(guī)格：單邊規(guī)格沒有中心值，所以Ca值取0.Ca值是負值表示平均值往左偏，相比規(guī)格中心值偏低。 Ca值是正值表示平均值往右偏,相比規(guī)格中心值偏高，普通不能大于0.3.Ca值=0時表示平均值與規(guī)格中心值完全一致相重合，是最理想的形狀。Ca = 樣本平均值-規(guī)格中心值規(guī)格公差 / 2 X100% = X - T / 2 X100% 312=-1=1=0=0.5假設固定, 隨 值的變化而沿x軸平移, 故稱為位置參數(shù)。32Ca等級斷定原那么等級Ca值處

14、理原則A0|Ca|12.5%維持現(xiàn)狀B12.5%|Ca|25%改進為A級C25%|Ca|50%立即檢討改善D50%|Ca|100%采取緊急措施，全面檢討必要時停工100%|Ca|平均值已超出公差帶，此時CPK計算為負值，制程嚴重不穩(wěn)Ca決議曲線中心偏移程度，Ca越小，制程偏移越少，中心值與規(guī)格值越接近，制程才干越好，反之相反.33制程精細度CPCapability Indies of Process ：表示制程實踐值相互之間的離散程度。值越大表示實踐值越集中，即表示制程穩(wěn)定變異小集中趨勢，與 有關，值越小表示實踐值越分散。Cp計算公式：雙邊規(guī)格： Cp=T/6單邊規(guī)格： 單邊上限規(guī)格：Cp=U

15、SL-CL/3 單邊下限規(guī)格：Cp=CL-LSL/3Cp：離散度準確度差準確度好準確度差準確度差準確度好準確度好準確度好準確度差34Cp等級斷定原那么等級Cp值處理原則Cp1.67過程能力過高（視具體情況而定）1.33Cp1.67過程能力充分，表示技術管理能力已很好，應繼續(xù)維持1.0 Cp 1.33過程能力充足，但技術管理能力較勉強，應設法提高為級0.67 Cp 1.0過程能力不足，表示技術管理能力已很差，應采取措施立即改善Cp 0.67過程能力嚴重不足，表示應采取緊急措施和全面檢查，必要時可停工整頓通常要求Cp大于1.33，Cpk大于1.0當分布中心與公差中心重合時，工序才干指數(shù)記為Cp。當

16、分布中心與公差中心重合時，工序才干指數(shù)記為Cp，故又稱為無偏移短期過程才干指數(shù)。35綜合制程才干指數(shù)CPKComplex Process Capability index ：用于表示制程才干的目的，是一種表示制程程度高低的方便方法，其本質(zhì)作用是反映制程合格率的高低。CPK值越大表示質(zhì)量越佳。當分布中心與公差中心有偏離時，工序才干指數(shù)記為Cpk，故又稱為有偏短期過程才干指數(shù)。單邊規(guī)格時：由于沒有規(guī)格中心值，故Ca =0，故定義Cpk=CpCpk計算公式：雙邊規(guī)格：Cpk=1-|Ca|*Cp單邊規(guī)格: Cpk=CpCa思索的是制程中心值的偏移程度，Cp思索的是制程才干，即制程控制的變異大??；Ca決

17、議曲線中心偏移程度，Ca越小，制程偏移越少，中心值與規(guī)格值越接近，制程才干越好，反之相反。Cp決議曲線形狀，Cp越大，曲線越瘦越高，闡明數(shù)據(jù)越集中，變異越小，制程穩(wěn)定度越好，反之相反。然后如何綜合評價制程才干要結(jié)合以上兩個要素，中心偏移越小，曲線越瘦高，制程才干越好，于是誕生了Cpk綜合思索了以上兩個因子，Cpk越大，制程才干越好。 36Cpk等級斷定原那么等級Cpk 值評價A+Cpk 2.0可考慮成本的降低A+2.0 Cpk 1.67應當保持之A1.67 Cpk 1.33 應盡力提升為A級B1.33 Cpk 1利用各種資源及方法將其提升為 A級 C1 Cpk 0.67制程不良較多，必須提升其

18、能力D0.67 Cpk其能力太差，應考慮重新整改設計制程Cpk是Ca及Cp兩者的中和反響，Ca反響的是位置關系(集中趨勢)，、Cp反響的是分布關系(離散趨勢) 37光圣科技品保部教育訓練CP&CPK與預估不良率對比表38中心值沒偏離目標值SigmaCP良率%不良率PPM10.33 68.27%31740020.67 95.45%4560031.00 99.73%270041.33 99.994%6351.67 99.99994%0.5762.00 99.9999998%0.00239中心值偏離目標1.5SigmaCPK良率%不良率PPM1-0.17 30.23%69767020.17 69.13%30877030.50 93.3