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文檔簡(jiǎn)介

ICT夾具知識(shí)講解夾具的分類ICT夾具工作原理ICT夾具的幾種結(jié)構(gòu)ICT夾具的構(gòu)成結(jié)構(gòu)夾具制作的主要要求夾具制作的注意事項(xiàng)ICT夾具知識(shí)講解夾具的分類1測(cè)試夾具的分類夾具種類在線測(cè)試夾具ICTFixture功能測(cè)試夾具FunctioknalFixture光板測(cè)試夾具BareBoardTestFixture壓臺(tái)式吸真空式背板測(cè)試夾具BackPanelTestFixture針床式插卡式Agilent3070TERADYNEGENRAD(15行,18行,33行,19行)德律(TRI)TESCONScorpionCMACTestronicsTR8001Z18XX(320,640,1024,2048)Spectrum(1280,2560,5120)測(cè)試夾具的分類夾具種類在線測(cè)試夾具功能測(cè)試夾具光板測(cè)試夾具壓2ICT壓臺(tái)式測(cè)試機(jī)ICT壓臺(tái)式測(cè)試機(jī)3Agilent-3070真空夾具Agilent-3070真空夾具4GenRad真空式測(cè)試夾具GenRad真空式測(cè)試夾具5GenRad33行interfaces板GenRad33行interfaces板6TR8001interfaces板TR8001interfaces板7ICT夾具工作原理(1)

ICT定義

在線測(cè)試,ICT,In-CircuitTest,是通過(guò)對(duì)在線元器件的電性能及電氣連接進(jìn)行測(cè)試來(lái)檢查生產(chǎn)制造缺陷及元器件不良的一種標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試手段。它主要檢查在線的單個(gè)元器件以及各電路網(wǎng)絡(luò)的開、短路情況,具有操作簡(jiǎn)單、快捷迅速、故障定位準(zhǔn)確等特點(diǎn)。

ICT的范圍及特點(diǎn)

檢查制成板上在線元器件的電氣性能和電路網(wǎng)絡(luò)的連接情況。能夠定量地對(duì)電阻、電容、電感、晶振等器件進(jìn)行測(cè)量,對(duì)二極管、三極管、光藕、變壓器、繼電器、運(yùn)算放大器、電源模塊等進(jìn)行功能測(cè)試,對(duì)中小規(guī)模的集成電路進(jìn)行功能測(cè)試,如所有74系列、Memory類、常用驅(qū)動(dòng)類、交換類等IC。

它通過(guò)直接對(duì)在線器件電氣性能的測(cè)試來(lái)發(fā)現(xiàn)制造工藝的缺陷和元器件的不良。元件類可檢查出元件值的超差、失效或損壞,Memory類的程序錯(cuò)誤等。對(duì)工藝類可發(fā)現(xiàn)如焊錫短路,元件插錯(cuò)、插反、漏裝,管腳翹起、虛焊,PCB短路、斷線等故障。

測(cè)試的故障直接定位在具體的元件、器件管腳、網(wǎng)絡(luò)點(diǎn)上,故障定位準(zhǔn)確。對(duì)故障的維修不需較多專業(yè)知識(shí)。采用程序控制的自動(dòng)化測(cè)試,操作簡(jiǎn)單,測(cè)試快捷迅速,單板的測(cè)試時(shí)間一般在幾秒至幾十秒。

ICT夾具工作原理(1)ICT定義

在線測(cè)試,ICT,8ICT夾具工作原理(2)1基本測(cè)試方法1.1模擬器件測(cè)試

在器件的各腳上分別放置探針,利用運(yùn)算放大器進(jìn)行測(cè)試?!逫x=Iref

∴Rx=Vs/V0*Rref

Vs、Rref分別為激勵(lì)信號(hào)源、儀器計(jì)算電阻。測(cè)量出V0,則Rx可求出。

若待測(cè)Rx為電容、電感,則Vs交流信號(hào)源,Rx為阻抗形式,同樣可求出C或L。

1.2隔離(Guarding)上面的測(cè)試方法是針對(duì)獨(dú)立的器件,而實(shí)際電路上器件相互連接、相互影響,,測(cè)試時(shí)必須加以隔離(Guarding)。隔離是在線測(cè)試的基本技術(shù)。

1.3IC的測(cè)試

對(duì)數(shù)字IC,采用Vector(向量)測(cè)試。向量測(cè)試類似于真值表測(cè)量,激勵(lì)輸入向量,測(cè)量輸出向量,通過(guò)實(shí)際邏輯功能測(cè)試判斷器件的好壞。

如:與非門的測(cè)試

對(duì)模擬IC的測(cè)試,可根據(jù)IC實(shí)際功能激勵(lì)電壓、電流,測(cè)量對(duì)應(yīng)輸出,當(dāng)作功能塊測(cè)試。

ICT夾具工作原理(2)1基本測(cè)試方法9ICT夾具工作原理(3)2非向量測(cè)試

2.1DeltaScan模擬結(jié)測(cè)試技術(shù)2.2FrameScan電容藕合測(cè)試

FrameScan利用電容藕合探測(cè)管腳的脫開。每個(gè)器件上面有一個(gè)電容性探頭,在某個(gè)管腳激勵(lì)信號(hào),電容性探頭拾取信號(hào)。

1夾具上的多路開關(guān)板選擇某個(gè)器件上的電容性探頭。

2測(cè)試儀內(nèi)的模擬測(cè)試板(ATB)依次向每個(gè)被測(cè)管腳發(fā)出交流信號(hào)。

3電容性探頭采集并緩沖被測(cè)管腳上的交流信號(hào)。

4ATB測(cè)量電容性探頭拾取的交流信號(hào)。如果某個(gè)管腳與電路板的連接是正確的,就會(huì)測(cè)到信號(hào);如果該管腳脫開,則不會(huì)有信號(hào)。

GenRad類式的技術(shù)稱OpenXpress。原理類似。

此技術(shù)夾具需要傳感器和其他硬件,測(cè)試成本稍高。ICT測(cè)試要做到故障定位準(zhǔn)、測(cè)試穩(wěn)定,與電路和PCB設(shè)計(jì)有很大關(guān)系。原則上我們要求每一個(gè)電路網(wǎng)絡(luò)點(diǎn)都有測(cè)試點(diǎn)。電路設(shè)計(jì)要做到各個(gè)器件的狀態(tài)進(jìn)行隔離后,可互不影響。

ICT夾具工作原理(3)2非向量測(cè)試

10ICT夾具的幾種結(jié)構(gòu)結(jié)構(gòu)種類吸真空式壓氣式金屬壓蓋式密封蓋式密封圈式單面針床單面針床雙面針床雙面針床ICT夾具的幾種結(jié)構(gòu)結(jié)構(gòu)種類吸真空式壓氣式金屬壓蓋式密封蓋式11真空密封蓋式夾具真空密封蓋式夾具12真空密封圈測(cè)試夾具真空密封圈測(cè)試夾具13真空雙面測(cè)試夾具真空雙面測(cè)試夾具14真空金屬壓蓋式測(cè)試夾具真空金屬壓蓋式測(cè)試夾具15ICT夾具的構(gòu)成結(jié)構(gòu)Interface板(界面板,與測(cè)試機(jī)連接)針板(安裝針套,夾具的主要部件)載板(放置被測(cè)試板,使被測(cè)試板在很平整的狀態(tài)下與針點(diǎn)連接)壓板(安裝壓棒,壓棒帶動(dòng)被測(cè)板連接到針點(diǎn))底殼壓板框ICT夾具的構(gòu)成結(jié)構(gòu)Interface板(界面板,與測(cè)試機(jī)連16壓板底殼壓棒載板壓板框壓板底殼壓棒載板壓板框17針板接地板真空氣管Interfaces板底殼針板接地板真空氣管Interfaces板底殼18夾具制作的主要要求針點(diǎn)對(duì)位的準(zhǔn)確度,探針中心應(yīng)該在被測(cè)試點(diǎn)直徑的三分之二以內(nèi)或者更中心位置探針的行程達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)的要求,ICT夾具常用的探針行程為4.3mm,主要還是按照探針目錄里面的標(biāo)準(zhǔn)被測(cè)試板在測(cè)試過(guò)程中要求平整,不可有大的變型,要求載板和壓棒的平整度要高在放板、蓋壓蓋、測(cè)試過(guò)程中不可對(duì)PCB板上的器件造成損壞。壓棒、stopper(小豆丁)不可碰到被測(cè)PCB板上的元器件,要有一定的安全距離(約1.5-2.0mm)繞線要求開線部分繞線5-6圈,未開線部分繞線2-3圈,以確保線與針套之間的良好連接防靜電措施界面部分要求要與客戶機(jī)器良好連接夾具制作的主要要求針點(diǎn)對(duì)位的準(zhǔn)確度,探針中心應(yīng)該在被測(cè)試點(diǎn)直19夾具制作的注意事項(xiàng)夾具一定不能對(duì)被測(cè)板造成損傷,這是客戶最不愿意看到發(fā)生的事情。要做好預(yù)防措施,包括壓棒、stopper(小斗丁)的分布,探針行程過(guò)大,防被測(cè)PSB板放反裝置的制作等制作接地板完成后一定做好銅板的清潔工作,防止引起短路現(xiàn)象夾具在吸真空過(guò)程中不可以有跳動(dòng)的現(xiàn)象計(jì)算套高時(shí)是要控制針尖的高度而不是控制針套的高度,因?yàn)橛行┽樀拈L(zhǎng)度并不是一致的。制作真空壓蓋式夾具時(shí),由于壓板的變形,可能套高要做響應(yīng)的調(diào)整電源線一定要嚴(yán)格檢查,有些電源錯(cuò)誤會(huì)導(dǎo)致燒壞測(cè)試機(jī)。如果有幾種GND一定要分開,不能短路。品保部檢查應(yīng)該按照客戶的資料檢查而不要完全按照工程部的資料檢查夾具制作的注意事項(xiàng)夾具一定不能對(duì)被測(cè)板造成損傷,這是客戶最不20謝謝!

謝謝!21ICT夾具知識(shí)講解夾具的分類ICT夾具工作原理ICT夾具的幾種結(jié)構(gòu)ICT夾具的構(gòu)成結(jié)構(gòu)夾具制作的主要要求夾具制作的注意事項(xiàng)ICT夾具知識(shí)講解夾具的分類22測(cè)試夾具的分類夾具種類在線測(cè)試夾具ICTFixture功能測(cè)試夾具FunctioknalFixture光板測(cè)試夾具BareBoardTestFixture壓臺(tái)式吸真空式背板測(cè)試夾具BackPanelTestFixture針床式插卡式Agilent3070TERADYNEGENRAD(15行,18行,33行,19行)德律(TRI)TESCONScorpionCMACTestronicsTR8001Z18XX(320,640,1024,2048)Spectrum(1280,2560,5120)測(cè)試夾具的分類夾具種類在線測(cè)試夾具功能測(cè)試夾具光板測(cè)試夾具壓23ICT壓臺(tái)式測(cè)試機(jī)ICT壓臺(tái)式測(cè)試機(jī)24Agilent-3070真空夾具Agilent-3070真空夾具25GenRad真空式測(cè)試夾具GenRad真空式測(cè)試夾具26GenRad33行interfaces板GenRad33行interfaces板27TR8001interfaces板TR8001interfaces板28ICT夾具工作原理(1)

ICT定義

在線測(cè)試,ICT,In-CircuitTest,是通過(guò)對(duì)在線元器件的電性能及電氣連接進(jìn)行測(cè)試來(lái)檢查生產(chǎn)制造缺陷及元器件不良的一種標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試手段。它主要檢查在線的單個(gè)元器件以及各電路網(wǎng)絡(luò)的開、短路情況,具有操作簡(jiǎn)單、快捷迅速、故障定位準(zhǔn)確等特點(diǎn)。

ICT的范圍及特點(diǎn)

檢查制成板上在線元器件的電氣性能和電路網(wǎng)絡(luò)的連接情況。能夠定量地對(duì)電阻、電容、電感、晶振等器件進(jìn)行測(cè)量,對(duì)二極管、三極管、光藕、變壓器、繼電器、運(yùn)算放大器、電源模塊等進(jìn)行功能測(cè)試,對(duì)中小規(guī)模的集成電路進(jìn)行功能測(cè)試,如所有74系列、Memory類、常用驅(qū)動(dòng)類、交換類等IC。

它通過(guò)直接對(duì)在線器件電氣性能的測(cè)試來(lái)發(fā)現(xiàn)制造工藝的缺陷和元器件的不良。元件類可檢查出元件值的超差、失效或損壞,Memory類的程序錯(cuò)誤等。對(duì)工藝類可發(fā)現(xiàn)如焊錫短路,元件插錯(cuò)、插反、漏裝,管腳翹起、虛焊,PCB短路、斷線等故障。

測(cè)試的故障直接定位在具體的元件、器件管腳、網(wǎng)絡(luò)點(diǎn)上,故障定位準(zhǔn)確。對(duì)故障的維修不需較多專業(yè)知識(shí)。采用程序控制的自動(dòng)化測(cè)試,操作簡(jiǎn)單,測(cè)試快捷迅速,單板的測(cè)試時(shí)間一般在幾秒至幾十秒。

ICT夾具工作原理(1)ICT定義

在線測(cè)試,ICT,29ICT夾具工作原理(2)1基本測(cè)試方法1.1模擬器件測(cè)試

在器件的各腳上分別放置探針,利用運(yùn)算放大器進(jìn)行測(cè)試。∵Ix=Iref

∴Rx=Vs/V0*Rref

Vs、Rref分別為激勵(lì)信號(hào)源、儀器計(jì)算電阻。測(cè)量出V0,則Rx可求出。

若待測(cè)Rx為電容、電感,則Vs交流信號(hào)源,Rx為阻抗形式,同樣可求出C或L。

1.2隔離(Guarding)上面的測(cè)試方法是針對(duì)獨(dú)立的器件,而實(shí)際電路上器件相互連接、相互影響,,測(cè)試時(shí)必須加以隔離(Guarding)。隔離是在線測(cè)試的基本技術(shù)。

1.3IC的測(cè)試

對(duì)數(shù)字IC,采用Vector(向量)測(cè)試。向量測(cè)試類似于真值表測(cè)量,激勵(lì)輸入向量,測(cè)量輸出向量,通過(guò)實(shí)際邏輯功能測(cè)試判斷器件的好壞。

如:與非門的測(cè)試

對(duì)模擬IC的測(cè)試,可根據(jù)IC實(shí)際功能激勵(lì)電壓、電流,測(cè)量對(duì)應(yīng)輸出,當(dāng)作功能塊測(cè)試。

ICT夾具工作原理(2)1基本測(cè)試方法30ICT夾具工作原理(3)2非向量測(cè)試

2.1DeltaScan模擬結(jié)測(cè)試技術(shù)2.2FrameScan電容藕合測(cè)試

FrameScan利用電容藕合探測(cè)管腳的脫開。每個(gè)器件上面有一個(gè)電容性探頭,在某個(gè)管腳激勵(lì)信號(hào),電容性探頭拾取信號(hào)。

1夾具上的多路開關(guān)板選擇某個(gè)器件上的電容性探頭。

2測(cè)試儀內(nèi)的模擬測(cè)試板(ATB)依次向每個(gè)被測(cè)管腳發(fā)出交流信號(hào)。

3電容性探頭采集并緩沖被測(cè)管腳上的交流信號(hào)。

4ATB測(cè)量電容性探頭拾取的交流信號(hào)。如果某個(gè)管腳與電路板的連接是正確的,就會(huì)測(cè)到信號(hào);如果該管腳脫開,則不會(huì)有信號(hào)。

GenRad類式的技術(shù)稱OpenXpress。原理類似。

此技術(shù)夾具需要傳感器和其他硬件,測(cè)試成本稍高。ICT測(cè)試要做到故障定位準(zhǔn)、測(cè)試穩(wěn)定,與電路和PCB設(shè)計(jì)有很大關(guān)系。原則上我們要求每一個(gè)電路網(wǎng)絡(luò)點(diǎn)都有測(cè)試點(diǎn)。電路設(shè)計(jì)要做到各個(gè)器件的狀態(tài)進(jìn)行隔離后,可互不影響。

ICT夾具工作原理(3)2非向量測(cè)試

31ICT夾具的幾種結(jié)構(gòu)結(jié)構(gòu)種類吸真空式壓氣式金屬壓蓋式密封蓋式密封圈式單面針床單面針床雙面針床雙面針床ICT夾具的幾種結(jié)構(gòu)結(jié)構(gòu)種類吸真空式壓氣式金屬壓蓋式密封蓋式32真空密封蓋式夾具真空密封蓋式夾具33真空密封圈測(cè)試夾具真空密封圈測(cè)試夾具34真空雙面測(cè)試夾具真空雙面測(cè)試夾具35真空金屬壓蓋式測(cè)試夾具真空金屬壓蓋式測(cè)試夾具36ICT夾具的構(gòu)成結(jié)構(gòu)Interface板(界面板,與測(cè)試機(jī)連接)針板(安裝針套,夾具的主要部件)載板(放置被測(cè)試板,使被測(cè)試板在很平整的狀態(tài)下與針點(diǎn)連接)壓板(安裝壓棒,壓棒帶動(dòng)被測(cè)板連接到針點(diǎn))底殼壓板框ICT夾具的構(gòu)成結(jié)構(gòu)Interface板(界面板,與測(cè)試機(jī)連37壓板底殼壓棒載板壓板框壓板底殼壓棒載板壓板框38針板接地板真空氣管Interfaces板底殼針板接地板真空氣管Interfaces板底殼39夾具制作的主要要求針點(diǎn)對(duì)位的準(zhǔn)確度,探針中心應(yīng)該在被測(cè)試點(diǎn)直徑的三分之二以內(nèi)或

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