超聲檢測(cè)復(fù)習(xí)題

超聲檢測(cè)復(fù)習(xí)題超聲檢測(cè)復(fù)習(xí)題超聲檢測(cè)復(fù)習(xí)題資料僅供參考文件編號(hào)：2022年4月超聲檢測(cè)復(fù)習(xí)題版本號(hào)：A修改號(hào)：1頁次：1.0審核：批準(zhǔn):發(fā)布日期：1、超聲檢測(cè)方法分類與特點(diǎn)（第五章）2、脈沖反射法超聲檢測(cè)通用技術(shù)（第六章）復(fù)習(xí)題一、是非題1、脈沖反射式和穿透式探傷，使用的探頭是同一類型.(×)2、聲束指向角較小且聲束截面較窄的探頭稱作窄脈沖探頭.(×)3、在液浸式檢測(cè)中，返回探頭的聲能還不到最初值的1%.(○)4、垂直探傷時(shí)探傷面的粗糙度對(duì)反射波高的影響比斜角探傷嚴(yán)重.(○)5、超聲脈沖通過材料后，其中心頻率將變低.(○)6、串列法探傷適用于檢查垂直于探側(cè)面的平面缺陷.(○)7、“靈敏度”意味著發(fā)現(xiàn)小缺陷的能力，因此超聲波探傷靈敏度越高越好.(×)8、所謂“幻影回波”，是由于探傷頻率過高或材料晶粒粗大引起的.(×)9、當(dāng)量法用來測(cè)量大于聲束截面的缺陷的尺寸.(×)10、半波高度法用來測(cè)量小于聲束截面的缺陷的尺寸.(×)11、串列式雙探頭法探傷即為穿透法.(×)12、厚焊縫采用串列法掃描時(shí)，如焊縫余高磨平，則不存在死區(qū).(×)13、曲面工件探傷時(shí)，探傷面曲率半徑愈大，耦合效果愈好.(○)14、實(shí)際探傷中，為提高掃描速度減少的干擾，應(yīng)將探傷靈敏度適當(dāng)降低.(×)15、采用當(dāng)量法確定的缺陷尺寸一般小于缺陷的實(shí)際尺寸.(○)16、只有當(dāng)工件中缺陷在各個(gè)方向的尺寸均大于聲束截面時(shí)，才能采用測(cè)長(zhǎng)法確定缺陷長(zhǎng)度.(×)17、絕對(duì)靈敏度法測(cè)量缺陷指示長(zhǎng)度時(shí)，測(cè)長(zhǎng)靈敏度高，測(cè)得的缺陷長(zhǎng)度大.(○)18、當(dāng)工件內(nèi)存在較大的內(nèi)應(yīng)力時(shí)，將使超聲波的傳播速度及方向發(fā)生變化.(○)19、超聲波傾斜入射至缺陷表面時(shí)，缺陷反射波高隨入射角的增大而增高.(×)二、選擇題1、采用什么超聲探傷技術(shù)不能測(cè)出缺陷深度（D）A．直探頭探傷法B．脈沖反射法C．斜探頭探傷法D．穿透法2、超聲檢驗(yàn)中，當(dāng)探傷面比較粗糙時(shí)，宜選用（D）A．較低頻探頭B．較粘的耦合劑C．軟保護(hù)膜探頭D．以上都對(duì)3、超聲檢驗(yàn)中，選用晶片尺寸大的探頭的優(yōu)點(diǎn)是（c）A．曲面探傷時(shí)可減少耦合損失B．可減少材質(zhì)衰減損失C．輻射聲能大且能量集中D．以上全部4、探傷時(shí)采用較高的探測(cè)頻率，可有利于（D）A．發(fā)現(xiàn)較小的缺陷B．區(qū)分開相鄰的缺陷C．改善聲束指向性D．以上全部5、工件表面形狀不同時(shí)耦合效果不一樣，下面的說法中，哪點(diǎn)是正確的（A）A．平面效果最好B．凹曲面居中C．凸曲面效果最差D．以上全部6、缺陷反射聲能的大小，取決于（D）A．缺陷的尺寸B．缺陷的類型C．缺陷的形狀和取向D．以上全部7、聲波垂直入射到表面粗糙的缺陷時(shí)，缺陷表面粗糙度對(duì)缺陷反射波高的影響是：（C）A.反射波高隨粗糙度的增大而增大B.無影響C.反射波高隨粗糙度的增大而下降D.以上A和C都可能8、如果在耦合介質(zhì)中的波長(zhǎng)為λ，為使透聲效果好，耦合層厚度為（D）A.λ/4的奇數(shù)倍B.λ/2的整數(shù)倍C.小于λ/4且很薄D.以上B和C9、表面波探傷時(shí)，儀器熒光屏上出現(xiàn)缺陷波的水平刻度值通常代表（B）A.缺陷深度B.缺陷至探頭前沿距離C.缺陷聲程D.以上都可以10、探頭沿圓柱曲面外壁作周向探測(cè)時(shí)，如儀器用平試塊按深度1：1調(diào)掃描，下面哪種說法正確（A）A.缺陷實(shí)際徑向深度總是小于顯示值B.顯示的水平距離總是大于實(shí)際弧長(zhǎng)C.顯示值與實(shí)際值之差，隨顯示值的增加而減小D.以上都正確11、采用底波高度法（F/B百分比法）對(duì)缺陷定量時(shí)，以下哪種說法正確（B）A.F/B相同，缺陷當(dāng)量相同B.該法不能給出缺陷的當(dāng)量尺寸C.適于對(duì)尺寸較小的缺陷定量D.適于對(duì)密集性缺陷的定量12、在頻率一定和材料相同情況下，橫波對(duì)小缺陷探測(cè)靈敏度高于縱波的原因是：（C）A.橫波質(zhì)點(diǎn)振動(dòng)方向?qū)θ毕莘瓷溆欣鸅.橫波探傷雜波少C.橫波波長(zhǎng)短D.橫波指向性好13、采用下列何種頻率的直探頭在不銹鋼大鍛件超探時(shí)，可獲得較好的穿透能力：（A）14、在用5MHZΦ10晶片的直探頭作水浸探傷時(shí)，所測(cè)結(jié)果：（C）A.小于實(shí)際尺寸B.接近聲束寬度C.大于實(shí)際尺寸D.等于晶片尺寸15、使用半波高度法測(cè)定小于聲束直徑的缺陷尺寸時(shí)，所測(cè)的結(jié)果：（B）A.小于實(shí)際尺寸B.接近聲束寬度C.稍大于實(shí)際尺寸D.等于晶片尺寸16、棱邊再生波主要用于測(cè)定：（D）A.缺陷的長(zhǎng)度B.缺陷的性質(zhì)C.缺陷的位置D.缺陷的高度17、從A型顯示熒光屏上不能直接獲得缺陷性質(zhì)信息、超聲探傷對(duì)缺陷的定性是通過下列方法進(jìn)行：（D）A.精確對(duì)缺陷定位B.精確測(cè)定缺陷形狀C.測(cè)定缺陷的動(dòng)態(tài)波形D.以上方法須同時(shí)使用18、單斜探頭探傷時(shí)，在近區(qū)有幅度波動(dòng)較快，探頭移動(dòng)時(shí)水平位置不變的回波，它們可能時(shí)：（B）A.來自工件表面的雜波B.來自探頭的噪聲C.工件上近表面缺陷的回波D.耦合劑噪聲19、確定脈沖在時(shí)基線上的位置應(yīng)根據(jù)：（B）A.脈沖波峰B.脈沖前沿C.脈沖后沿D.以上都可以20、用實(shí)測(cè)折射角71°的探頭探測(cè)板厚為25mm的對(duì)接焊縫，熒光屏上最適當(dāng)?shù)穆暢虦y(cè)定范圍是：（D）21、用IIW2調(diào)整時(shí)間軸，當(dāng)探頭對(duì)準(zhǔn)R50圓弧面時(shí)，示波屏的回波位置（聲程調(diào)試）應(yīng)在：（B）ABCD題圖22、能使K2斜探頭得到圖示深度1：1調(diào)節(jié)波形的鋼半圓試塊半徑R為（C）23、在厚焊縫斜探頭探傷時(shí)，一般宜使用什么方法標(biāo)定儀器時(shí)基線（B）A．水平定位法B．深度定位法C．聲程定位法D．一次波法24、在中薄板焊縫斜探頭探傷時(shí)，使用什么方法標(biāo)定儀器時(shí)基線（A）A．水平定位法B．深度定位法C．聲程定位法D．二次波法25、對(duì)圓柱形簡(jiǎn)體環(huán)縫探測(cè)時(shí)的缺陷定位應(yīng)：（A）A．按平板對(duì)接焊縫方法B．作曲面修正C．使用特殊探頭D．視具體情況而定采用各種方法26、在探測(cè)球形封頭上焊縫中的橫向缺陷時(shí)，缺陷定位應(yīng)：（B）A．按平板對(duì)接焊縫方法B．作曲面修正C．使用特殊探頭D．視具體情況決定是否采用曲面修正27、在筒身外壁作曲面周向探傷時(shí)，缺陷的實(shí)際深度比按平板探傷時(shí)所得讀數(shù)：（B）A．大B．小C．相同D．以上都可以28、在筒身內(nèi)壁作曲面周向探傷時(shí)，所得缺陷的實(shí)際深度比按平板探傷時(shí)的讀數(shù)：（A）A．大B．小C．相同D．以上都可以29、在筒身外壁作曲面周向探傷時(shí)，實(shí)際的缺陷前沿距離比按平板探傷時(shí)所得讀數(shù)：（A）A．大B．小C．相同D．以上都可以30、在筒身內(nèi)壁作曲面周向探傷時(shí)，實(shí)際的缺陷前沿距離比按平板探傷時(shí)所得讀數(shù)：（B）A．大B．小C．相同D．以上都可以31、為保證易于探出垂直于焊縫表面的平面型缺陷，凹曲面周向斜探頭探傷應(yīng)選用（B）A．小K值探頭B．大K值探頭C．軟保護(hù)膜探頭D．高頻探頭32、在鍛件直探頭探傷時(shí)可能定不準(zhǔn)近側(cè)面缺陷的位置，其原因是：（A）A．側(cè)面反射波帶來干涉B．探頭太大，無法移至邊緣C．頻率太高D．以上都不是33、在斜探頭厚焊縫探傷時(shí)，為提高缺陷定位精度可采取措施是：（D）A．提高探頭聲束指向性B．校準(zhǔn)儀器掃描線性C．提高探頭前沿長(zhǎng)度和K值測(cè)定精度D．以上都對(duì)34、當(dāng)量大的缺陷實(shí)際尺寸：（A）A．一定大B．不一定大C一定不大D．等于當(dāng)量尺寸35、當(dāng)量小的缺陷實(shí)際尺寸：（B）A．一定小B．不一定小C一定不小D．等于當(dāng)量尺寸36、在超聲探傷時(shí)，如果聲束指向不與平面缺陷垂直，則缺陷尺寸一定時(shí)，缺陷表面越平滑反射回波越：（B）A．大B．小C．無影響D．不一定37、當(dāng)聲束指向不與平面缺陷垂直時(shí)，在一定范圍內(nèi)，缺陷尺寸越大，其反射回波強(qiáng)度越：（B）A．大B．小C．無影響D．不一定38、焊縫探傷中一般不宜選用較高頻率是因?yàn)轭l率越高：（D）探頭及平面缺陷型缺陷指性向越強(qiáng)，缺陷方向不利就不易探出裂紋表面不光滑對(duì)回波強(qiáng)度影響越大雜波太多D．AB都對(duì)39、厚度為600mm的鋁試件，用直探頭測(cè)得一回波的傳播時(shí)間為165μs，若縱波在鋁中聲速為6300m/s則此回波是：（C）A．底面回波B．底面二次回波C．缺陷回波D．遲到回波40、直探頭縱波探傷時(shí)，工件上下表面不平行會(huì)產(chǎn)生：（A）A．底面回波降低或消失B．底面回波正常C．底面回波變寬D．底面回波變窄41、直探頭探測(cè)厚100mm和400mm的兩平底面鍛件，若后者探測(cè)面粗糙，與前者耦合差為5db，材質(zhì)衰減均為mm（雙程），今將前者底面回波調(diào)至滿幅(100%)高，則后者的底面回波應(yīng)是滿幅度的：（C）A．40％B．20％C．10%D．5％42、厚度均為400mm，但材質(zhì)衰減不同的兩個(gè)鍛件，采用各自底面校正400/Φ2靈敏度進(jìn)行分別探測(cè)，現(xiàn)兩個(gè)鍛件中均發(fā)現(xiàn)缺陷，且回波高度和缺陷聲程均相同，則：（B）A．兩個(gè)缺陷當(dāng)量相同B．材質(zhì)衰減大的鍛件中缺陷當(dāng)量小C．材質(zhì)衰減小的鍛件中缺陷當(dāng)量小D．以上都不對(duì)43、在脈沖反射法探傷中可根據(jù)什么判斷缺陷的存在（D）A．缺陷回波B．底波或參考回波的減弱或消失C．接收探頭接收到的能量的減弱D．AB都對(duì)44、在直接接觸法直探頭探傷時(shí)，底波消失的原因是：（D）A．耦合不良B．存在與聲束不垂直的平面缺陷C．存在與始脈沖不能分開的近表面缺陷D．以上都是45、在直探頭探傷時(shí)，發(fā)現(xiàn)缺陷回波不高，但底波降低較大，則該缺陷可能是：（C）A．與表面成較大角度的平面缺陷B．反射條件很差的密集缺陷C．AB都對(duì)D．AB都不對(duì)46、影響直接接觸法耦合損耗的原因有：（D）耦合層厚度，超聲波在耦合介質(zhì)中的波長(zhǎng)及耦合介質(zhì)聲阻抗探頭接觸面介質(zhì)聲阻抗工件被探測(cè)面材料聲阻抗以上都對(duì)47、被檢工件晶粒粗大，通常會(huì)引起：（D）A．草狀回波增多B．信噪比下降C．底波次數(shù)減少D．以上全部48、為減少凹面探傷時(shí)的耦合損耗，通常采用以下方法：（D）A．使用高聲阻抗耦合劑B．使用軟保護(hù)膜探頭C．使用較低頻率和減少探頭耦合面尺寸D．以上都可以49、在平整．光潔表面上作直探頭探傷是宜使用硬保護(hù)膜探頭，因?yàn)檫@樣：（B）雖然耦合損耗大，但有利于減小工件中噪聲脈沖窄，探測(cè)靈敏度高探頭與儀器匹配較好以上都對(duì)50、應(yīng)用有人工反射體的參考試塊主要目的是：（A）作為探測(cè)時(shí)的校準(zhǔn)基準(zhǔn)，并為評(píng)價(jià)工件中缺陷嚴(yán)重程度提供依據(jù)為探傷人員提供一種確定缺陷實(shí)際尺寸的工具為檢出小于某一規(guī)定的參考反射體的所有缺陷提供保證提供一個(gè)能精確模擬某一臨界尺寸自然缺陷的參考反射體51、下面那種參考反射體與入射聲束角度無關(guān)：（C）平底孔平行于探測(cè)面且垂直于聲束的平底槽平行于探測(cè)面且垂直于聲束的橫通孔平行于探測(cè)面且垂直于聲束的V型缺口52、測(cè)定材質(zhì)衰減時(shí)所得結(jié)果除材料本身衰減外，還包括：（D）A．聲束擴(kuò)散損失B．耦合損耗C．工件幾何形狀影響D．以上都是53、沿細(xì)長(zhǎng)工件軸向探傷時(shí)，遲到波聲程△X的計(jì)算公式是：（D）A．B.C.D.54、換能器尺寸不變而頻率提高時(shí)：（C）A．橫向分辨力降低B．聲束擴(kuò)散角增大C．近場(chǎng)區(qū)增大D．指向性變鈍55、在確定缺陷當(dāng)量時(shí)，通常在獲得缺陷的最高回波時(shí)加以測(cè)定，這是因?yàn)椋海―）只有當(dāng)聲束投射到整個(gè)缺陷發(fā)射面上才能得到反射回波最大值只有當(dāng)聲束沿中心軸線投射到缺陷中心才能得到反射回波最大值只有當(dāng)聲束垂直投射到工件內(nèi)缺陷的反射面上才能得到反射回波最大值人為地將缺陷信號(hào)的最高回波規(guī)定為測(cè)定基準(zhǔn)56、考慮靈敏度補(bǔ)償?shù)睦碛墒牵海―）A．被檢工件厚度太大B．工件底面與探測(cè)面不平行C．耦合劑有較大聲能損耗D．工件與試塊材質(zhì)，表面光潔度有差異57、探測(cè)粗糙表面的工件時(shí)，為提高聲能傳遞，應(yīng)選用：（C）A．聲阻抗小且粘度大的耦合劑B．聲阻抗小且粘度小的耦合劑C．聲阻抗大且粘度大的耦合劑D．以上都不是58、超聲容易探測(cè)到的缺陷尺寸一般不小于：（A）A．波長(zhǎng)的一半B．一個(gè)波長(zhǎng)C．四分之一波長(zhǎng)D．若干個(gè)波長(zhǎng)59、與探測(cè)面垂直的內(nèi)部平滑缺陷，最有效的探測(cè)方法是：（C）A．單斜探頭法B．單直探頭法C．雙斜探頭前后串列法D．分割式雙直探頭法60、探測(cè)距離均為100mm的底面，用同樣規(guī)格直探頭以相同靈敏度探測(cè)時(shí)，下列哪種底面回波最高、（C）與探測(cè)面平行的大平底面R200的凹圓柱底面R200的凹球底面R200的凸圓柱底面61、鍛件探傷中，熒光屏上出現(xiàn)“林狀波”時(shí)，是由于（B）A．工件中有大面積傾斜缺陷B．工件材料晶粒粗大C．工件中有密集缺陷D．以上全部62、下面有關(guān)“幻象波”的敘述哪點(diǎn)是不正確的（C）幻象回波通常在鍛件探傷中出現(xiàn)幻象波會(huì)在掃描線上連續(xù)移動(dòng)幻象波只可能出現(xiàn)在一次底波前降低重復(fù)頻率，可消除幻象波63、下面有關(guān)610反射波的說法，哪一點(diǎn)是錯(cuò)誤的（C）A．產(chǎn)生610反射時(shí)，縱波入射角與橫波反射角之和為900B．產(chǎn)生610反射時(shí)，縱波入射角為610橫波反射角為290C．產(chǎn)生610反射時(shí)，橫波入射角為290縱波反射角為610D．產(chǎn)生610反射時(shí)，其聲程是恒定的64、長(zhǎng)軸類鍛件從斷面作軸向探測(cè)時(shí)，容易出現(xiàn)的非缺陷回波是（D）A．三角反射波B．61反射波C．輪廓回波D．遲到波65、方形鍛件垂直法探傷時(shí)，熒光屏上出現(xiàn)一游動(dòng)缺陷回波，其波幅較低但底波降低很大、該缺陷取向可能是（C）A．平行且靠近探測(cè)面B．與聲束方向平行C．與探測(cè)面成較大角度D．平行且靠近底面66、缺陷反射聲壓的大小取決于：（D）A．缺陷反射面大小B．缺陷性質(zhì)C．缺陷取向D．以上全部三、問答題1、何謂缺陷定量簡(jiǎn)述缺陷定量方法有幾種答：超聲波探傷中，確定工件中缺陷大小和數(shù)量，稱為缺陷定量。缺陷的大小包括缺陷的面積和長(zhǎng)度。缺陷的定量方法很多，常用的有當(dāng)量法，底波高度法和測(cè)長(zhǎng)法。2、什么是當(dāng)量尺寸缺陷的當(dāng)量定量法有幾種答:將工件中自然缺陷的回波與同聲程的某種標(biāo)準(zhǔn)反射體的回波進(jìn)行比較。兩者的回波等高時(shí)，標(biāo)準(zhǔn)反射體的尺寸就是該自然缺陷的當(dāng)量尺寸。當(dāng)量?jī)H表示反射體對(duì)聲波的反射能力相當(dāng)，并非尺寸相等。當(dāng)量法包括：（1）試塊比較法：將缺陷回波與試塊上人工缺陷回波作比較對(duì)缺陷定量的方法。（2）計(jì)算法：利用規(guī)則反射體放人理論回波聲壓公式進(jìn)行計(jì)算來確定缺陷當(dāng)量尺寸的定量方法。（3）AVG曲線法：利用通用AVG或?qū)嵱肁VG曲線確定缺陷當(dāng)量尺寸的方法.3、什么是缺陷的指示長(zhǎng)度測(cè)定缺陷指示長(zhǎng)度的方法分為哪兩大類答：按規(guī)定的靈敏度基準(zhǔn)，根據(jù)探頭移動(dòng)距離測(cè)定的缺陷長(zhǎng)度稱為缺陷的指示長(zhǎng)度。測(cè)定缺陷長(zhǎng)度的方法分為相對(duì)靈敏度法和絕對(duì)靈敏度法兩大類。（1）相對(duì)靈敏度法：是以缺陷最高回波為相對(duì)基準(zhǔn)，沿缺陷長(zhǎng)度方向移動(dòng)探頭，以缺陷波幅降低一定的dB值的探頭位置作為缺陷邊界來測(cè)定缺陷長(zhǎng)度的方法。（2）絕對(duì)靈敏度法：是沿缺陷長(zhǎng)度方向移動(dòng)探頭，以缺陷波幅降到規(guī)定的測(cè)長(zhǎng)靈敏度的探頭位置作為缺陷邊界來測(cè)定長(zhǎng)度的方法。4、超聲波探傷的分辨力與哪些因素有關(guān)答：超聲波探傷分辨力可分為近場(chǎng)分辨力（盲區(qū)），遠(yuǎn)場(chǎng)分辨力，縱向分辨力，橫向分辨力。近場(chǎng)分辨力主要取決于始脈沖占寬和儀器阻塞效應(yīng)?？v向分辨力主要取決于脈沖寬度及探測(cè)靈敏度。橫向分辨力主要取決于聲束擴(kuò)散角、探測(cè)靈敏度、測(cè)試方法等。5、怎樣選擇超聲波的頻率答:超聲頻率在很大程度上決定了超聲波探傷的檢測(cè)能力。頻率高、波長(zhǎng)短、聲束窄、擴(kuò)散角小，能量集中，因而發(fā)現(xiàn)小缺陷的能力強(qiáng)，分辨力高，缺陷定位準(zhǔn)確，但缺點(diǎn)是在材料中衰減大，穿透能力差，對(duì)細(xì)晶粒材料，如鍛件、焊縫等，常用頻率為～5MHz，只有在對(duì)很薄工件探傷，并對(duì)小缺陷檢出要求很高時(shí)，才使用10MHz頻率。對(duì)粗晶材料，為減少晶界反射，避免林狀回波，增大穿透能力，常使用低頻。另外，當(dāng)試件表面粗糙度較大時(shí)，選擇低頻有助減少耦合時(shí)的側(cè)向散射。一般對(duì)鑄鋼，奧氏體不銹鋼焊縫，可采用～1MHZ的頻率，對(duì)鑄鐵、非金屬材料，甚至使用幾十千HZ的低頻。6、超聲波探傷時(shí)，缺陷狀況的、對(duì)回波高度有哪些影響答：缺陷回波高度受缺陷的形狀、方位、大小、性質(zhì)等因素的影響。（1）形狀的影響：工作中實(shí)際缺陷的形狀是各種各樣的，通常可簡(jiǎn)化為圓片形，球形，圓柱形三種，回波高度H是缺陷直徑（），缺陷到聲源的距離X，波長(zhǎng)的函數(shù)：（2）方位的影響：聲波垂直缺陷表面時(shí)，反射波最高，當(dāng)聲波與缺陷表面不垂直時(shí)，回波隨傾角的增大而急劇下降。例如，對(duì)光滑反射面，傾角時(shí)，波高降至垂直入射的1/10;傾角為時(shí)，波高降為1/1000缺陷已不能檢出。（3）表面粗糙度的影響：缺陷表面凹凸＜1/3λ時(shí)，可認(rèn)為缺陷是光滑平面，當(dāng)表面凹凸度＞1/3λ時(shí)，是粗糙平面，垂直入射時(shí)，聲束被散亂反射，產(chǎn)生干涉，回波高度隨粗糙度增大而下降；傾斜入射時(shí)，缺陷回波隨粗糙度增大而增高；當(dāng)凹凸度接近波長(zhǎng)時(shí)，即使傾角較大，也能接收到一定高度的回波；缺陷回波指向性的影響：當(dāng)缺陷直徑為波長(zhǎng)的2～3倍時(shí)，反射波具有較好的指向性，隨缺陷直徑的減小，指向性變差。當(dāng)缺陷直徑小于1/2λ時(shí)，反射波能量呈球形分布，強(qiáng)度降低，此時(shí)垂直入射和傾斜入射的反射特性大致相同。當(dāng)缺陷直徑大于3λ時(shí)，可視為鏡面反射，當(dāng)入射傾角大時(shí)就不易接收到缺陷回波。缺陷性質(zhì)的影響：通常含氣體的缺陷，如鋼中的白點(diǎn)，氣孔，裂紋，未焊透等，其界面聲阻抗差很大，可近似認(rèn)為聲波全反射，回波高度大；而相同尺寸的含有非金屬夾雜物的缺陷，界面聲阻抗差異小，透過部分聲能，反射回波相應(yīng)降低。7、怎樣選擇超聲波探傷的探頭答：超聲波探頭種類很多，性能各異，應(yīng)根據(jù)檢測(cè)對(duì)象，合理選擇探頭。頻率選擇：對(duì)大厚工件，粗晶材料，或探測(cè)表面粗糙的工件，應(yīng)選擇低頻率；對(duì)薄工件，細(xì)晶粒材料，或?qū)π∪毕輽z出要求高時(shí)，應(yīng)選擇較高頻率。應(yīng)注意的是：裂紋等表面狀缺陷，有顯著的反射指向性，如果超聲波不是近于垂直入射，在探頭方向就不會(huì)產(chǎn)生足夠大的回波，頻率越高，這種現(xiàn)象越顯著，所以應(yīng)避免使用不必要的高頻。一般來說，頻率上限由衰減和草狀回波信噪比決定，下限由檢出靈敏度，脈沖寬度，和指向性決定。晶片尺寸選擇：晶片尺寸大，發(fā)射能量大，擴(kuò)散角遠(yuǎn)距離探測(cè)靈敏度高，適用于大型工件探傷，晶片尺寸小，近距離范圍聲束窄，有利于缺陷定位，對(duì)凹凸度大曲率半徑小的工件，宜采用尺寸較小的探頭。探頭角度選擇：角度選擇原則是，盡量使聲束相對(duì)于缺陷垂直入射。鋼板，鍛件內(nèi)缺陷多平行于表面，常選用直探頭。焊縫中危險(xiǎn)性缺陷多垂直于表面，常選用斜探頭。特殊探頭選擇：探測(cè)平行于探測(cè)面的近表面缺陷用雙晶直探頭。探測(cè)薄壁管焊縫根部缺陷用雙晶斜探頭。探測(cè)管材、棒材用水浸聚焦探頭。探測(cè)薄板（δ＜6mm）用板波探頭。用延時(shí)法檢測(cè)表面裂紋深度用表面波探頭。探測(cè)奧氏體不銹鋼焊縫用縱波斜探頭。探測(cè)角焊縫近表面缺陷和層狀撕裂用爬波探頭為實(shí)現(xiàn)聲能集中，有利于缺陷定位，用點(diǎn)聚焦或線聚焦探頭。8、試比較橫波探傷幾種缺陷長(zhǎng)度測(cè)定方法的特點(diǎn)答：橫波探傷常用的測(cè)長(zhǎng)方法有絕對(duì)靈敏度測(cè)長(zhǎng)法和相對(duì)靈敏度測(cè)長(zhǎng)法，后者包括6dB法，端點(diǎn)6dB法，20dB法等。應(yīng)用范圍和特點(diǎn)如下：對(duì)小于聲束橫截面的缺陷，宜采用當(dāng)量法定量，如采用測(cè)長(zhǎng)法，所得結(jié)果一般比缺陷實(shí)際尺寸偏大。對(duì)缺陷回波波高包絡(luò)線只是一個(gè)極大值的缺陷，應(yīng)采用6dB法定量。對(duì)缺陷回波波高包絡(luò)線有數(shù)個(gè)極大值的缺陷，可采用端點(diǎn)6dB法。對(duì)條形氣孔，未焊透等缺陷，6dB法和端點(diǎn)6dB法測(cè)的結(jié)果較為準(zhǔn)確；對(duì)裂紋，未熔合等細(xì)長(zhǎng)條狀缺陷，6dB法和端點(diǎn)6dB法測(cè)的結(jié)果往往比實(shí)際尺寸偏小，此時(shí)可考慮采用絕對(duì)靈敏度法。20dB法測(cè)量準(zhǔn)確性與其他方法不相上下，但使用時(shí)需進(jìn)行聲場(chǎng)尺寸修正，比較麻煩。9、測(cè)定缺陷自身高度的方法有哪幾種試說明每種方法的原理、特點(diǎn)和應(yīng)用。答：1、表面波波高法表面波入射到上表面開口缺陷時(shí)，會(huì)產(chǎn)生一個(gè)反射回波，其波高與缺陷深度有關(guān)，當(dāng)缺陷深度較小時(shí)，波高隨缺陷深度增加而升高，實(shí)際探測(cè)中，常加工一些具有不同深度的人工缺陷試塊，利用試塊比較法來確定缺陷的深度。這種方法只適用于測(cè)試深度較小的表面開口缺陷，當(dāng)缺陷深度超過兩倍波長(zhǎng)時(shí)，測(cè)試誤差大。表面波延時(shí)法儀器按表面波聲程1：n調(diào)節(jié)比例，利用表面波在缺陷開口處和尖端處會(huì)產(chǎn)生兩個(gè)反射波來確定缺陷的深度，以及利用表面波在無缺陷和有缺陷度表面波繞過而產(chǎn)生的時(shí)間差出現(xiàn)的波的不同位置來確定缺陷深度的方法，有單探頭和雙探頭法兩種，適用于表面開口缺陷。缺陷表面過于粗糙，缺陷中充滿油或水時(shí)誤差較大。端部回波峰值法當(dāng)聲波主聲束軸線入射到缺陷上下端點(diǎn)時(shí)，會(huì)產(chǎn)生強(qiáng)回波F1、F2，據(jù)上、下端點(diǎn)的聲程和探頭的K值可求的缺陷自身高度h=(x2-x1)?同樣，利用探頭在兩點(diǎn)的距離也求得h=a/k。橫波端部回波法是目前應(yīng)用比較廣泛的一種方法，其測(cè)試誤差與K值有關(guān)，采用點(diǎn)聚焦探頭來測(cè)試，精度可明顯提高。橫波端角反射法橫波入射到下表面開口缺陷時(shí)產(chǎn)生端角反射回波，其回波高度與缺陷高度h同波長(zhǎng)之比h/λ有關(guān)，因此實(shí)測(cè)中常用對(duì)比試塊來測(cè)定缺陷的深度。橫波串列式雙探頭法對(duì)于表面光潔且垂直于探測(cè)面的缺陷，單探頭接收不到缺陷反射波，需用兩個(gè)同K值的斜探頭進(jìn)行串列式探測(cè)來確定缺陷的高度，兩個(gè)探頭作一收一發(fā)，當(dāng)工件中無缺陷時(shí)，接收探頭接收不到回波。當(dāng)工件中存在缺陷時(shí)，發(fā)射探頭發(fā)出的波從缺陷反射到底面，再?gòu)牡酌娣瓷渲两邮仗筋^，在示波屏上產(chǎn)生一個(gè)回波，該回波位置固定不動(dòng)，而探頭前后平行掃查，確定聲束軸線入射到缺陷上下端點(diǎn)時(shí)的位置，根據(jù)探頭位置的距離和K值，求得缺陷深度，此方法適用于測(cè)試表面未開口缺陷高度。相對(duì)靈敏度10dB法先用一次波找到缺陷最高回波，前后移動(dòng)探頭，確定缺陷回波下降10dB時(shí)探頭的位置，根據(jù)兩次位置的聲程和K值求得缺陷的高度，h=x2cosβ2-x1cosβ1相對(duì)靈敏度法也可采用6dB，20dB法測(cè)定，方法同10dB法。散射波法（衍射法）將兩個(gè)K值相同的斜探頭置于缺陷兩側(cè)，作一收一發(fā)，發(fā)射探頭發(fā)出的波在缺陷端部產(chǎn)生散射衍射，被接收探頭接收，平行對(duì)稱移動(dòng)探頭找到最高回波，這時(shí)缺陷深度h為：這種方法適用于檢測(cè)高度≥3mm的表面開口缺陷。10、分析缺陷性質(zhì)的基本原則是什么答：缺陷定性在實(shí)際工作中常常是根據(jù)經(jīng)驗(yàn)結(jié)合工件的加工工藝，缺陷特征，缺陷波形和底波情況來分析缺陷的性質(zhì)。根據(jù)加工工藝分析工件中可形成的各種缺陷與加工工藝密切相關(guān)，在探傷前應(yīng)查閱有關(guān)工件的圖紙和資料，了解工件中的材料，結(jié)構(gòu)特點(diǎn)，幾何尺寸和加工工藝，這對(duì)于正確判定缺陷的特質(zhì)是十分有益的。根據(jù)缺陷特征分析缺陷特征是指缺陷的形狀、大小和密集程度。在不同方向上探測(cè)平面形、立體形、點(diǎn)狀及密集形缺陷，其缺陷回波的高度及缺陷波的密集程度會(huì)發(fā)生不同的變化。根據(jù)缺陷波形分析缺陷波形分為靜態(tài)和動(dòng)態(tài)波形兩大類，靜態(tài)波形是指探頭不動(dòng)時(shí)缺陷波的高度、形狀和密集程度。動(dòng)態(tài)波形是指探頭在探測(cè)面上的移動(dòng)過程中，缺陷波的變化情況。根據(jù)底波分析工件內(nèi)存在不同缺陷時(shí)，超聲波被缺陷反射，使到達(dá)底面的聲能減少，底波高度降低，甚至消失，不同性質(zhì)的缺陷，反射面不同，底波高度也不一樣，因此在某些情況下，可以利用底波狀況來分析缺陷的性質(zhì)。11、什么是遲到波遲到波是怎樣產(chǎn)生的遲到波有何特點(diǎn)答：當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長(zhǎng)（或扁長(zhǎng)）工件或試塊上時(shí)，擴(kuò)散縱波波束在側(cè)壁產(chǎn)生波形轉(zhuǎn)換為橫波，此橫波在另一側(cè)又轉(zhuǎn)換為縱波，最后經(jīng)底面反射回到探頭，被探頭接收，從而在示波屏上出現(xiàn)一個(gè)回波，由于轉(zhuǎn)換橫波聲程長(zhǎng)、波速小、傳播時(shí)間較直接從底面反射的縱波長(zhǎng)，因此轉(zhuǎn)換后的波總出現(xiàn)在第一次底波B1之后，故稱為遲到波，又由于變型橫波可能在兩側(cè)壁產(chǎn)生多次反射，每反射一次就會(huì)出現(xiàn)一個(gè)遲到波，因此遲到波往往有很多個(gè)。由于遲到波總是位于B1之后，并且位置特定，而缺陷波一般位于B1之前，因此遲到波不會(huì)干擾缺陷波的判別。12、什么是三角反射波三角反射波有何特點(diǎn)答：當(dāng)縱波直探頭徑向探測(cè)實(shí)心圓柱體時(shí)，由于探頭平面與柱面接觸面積小，使波束擴(kuò)散角增加，這樣擴(kuò)散波就會(huì)在圓柱面上形成三角反射路徑，從而在示波屏上出現(xiàn)三角反射波，這種反射稱為三角反射。三角反射有不發(fā)生波型轉(zhuǎn)換的等邊三角形反射和發(fā)生波型轉(zhuǎn)換的等腰三角形反射，其反射波總是位于第一次底波B1之后，位置特定，而缺陷波一般位于B1之前，因此三角反射波也不會(huì)干擾缺陷波的判別。13、什么是反射反射有什么特點(diǎn)試舉例說明反射在實(shí)際探傷中的應(yīng)用答：當(dāng)探頭置于直角三角形試件的直邊時(shí)，若縱波入射角α與橫波反射角β的關(guān)系為α+β=90°則會(huì)在高波屏上出現(xiàn)位置特定的反射波由β=90°-α得sinβ=由反射定律得對(duì)于鋼=，即α=61°故這種反射稱為61°反射。61°反射的聲程為：=BE+EC=BC當(dāng)探頭在AB邊上移動(dòng)時(shí)，反射波位置不變，其聲程恒等于直角三角形61°角所對(duì)的直邊邊長(zhǎng)BC。對(duì)于結(jié)構(gòu)比較復(fù)雜的工件，如焊接結(jié)構(gòu)的汽輪機(jī)大軸，為了有效的探測(cè)焊縫根部缺陷，特加工61°的斜面，利用61°反射來探測(cè)，從而獲得較高的探傷靈敏度。14、超聲波探傷中常見非缺陷信號(hào)回波有哪幾種如何鑒別缺陷回?fù)芎头侨毕莼夭ù穑撼暡ㄌ絺校Ｒ姷姆侨毕莼夭ㄓ惺疾?、底波、遲到波、61°反射、三角反射，還有可能有探頭雜波、工件輪廓回波，耦合劑反射波、幻象波、草狀回波及其它一些非缺陷回波。在超聲波探傷過程中可能會(huì)出現(xiàn)各種各樣的非缺陷回波，干擾對(duì)缺陷波的判別，探傷人員應(yīng)注意用超聲波反射、折射和波型轉(zhuǎn)換理論，并計(jì)算相應(yīng)回波的聲程來分析判別示波屏上可能出現(xiàn)的各種非缺陷回波，從而達(dá)到正確探傷的目的，此外還可采用更換探頭來鑒別探頭雜波，用手指沾油觸摸法來鑒別輪廓界面回波。15、什么是側(cè)壁干涉?zhèn)缺诟缮鎸?duì)探傷有何不利于影響避免側(cè)壁干涉的條件是什么答：側(cè)壁干涉是指當(dāng)縱波探傷時(shí)，探頭若靠近側(cè)壁，則經(jīng)側(cè)壁反射的縱波或橫波與直接傳播的縱波相遇產(chǎn)生干涉，對(duì)于靠近側(cè)壁的缺陷，探頭靠近側(cè)壁正對(duì)缺陷探傷，缺陷回波低，探頭原理側(cè)壁探傷反而缺陷回波，當(dāng)缺陷位置一定時(shí)，存