第三章-射線檢測技術(shù)-無損檢測技術(shù)及缺陷評價課件

第三章射線檢測技術(shù)射線的種類射線的特點射線檢測原理及方法射線檢測照相工藝射線檢測應(yīng)用第三章射線檢測技術(shù)1射線的種類1.1X射線1.1.1X射線的產(chǎn)生射線的種類2

x射線是由x射線管產(chǎn)生，它的基本結(jié)構(gòu)是一個具有高真空度的二極管，由陰極、陽極和保持高真空度的玻璃外殼構(gòu)成：x射線是由x射線管產(chǎn)生，它的基本結(jié)構(gòu)3第三章--射線檢測技術(shù)-無損檢測技術(shù)及缺陷評價課件4第三章--射線檢測技術(shù)-無損檢測技術(shù)及缺陷評價課件5第三章--射線檢測技術(shù)-無損檢測技術(shù)及缺陷評價課件6第三章--射線檢測技術(shù)-無損檢測技術(shù)及缺陷評價課件7

陰極陰極的作用是發(fā)射電子和聚焦電子。陰極是由鎢絲和陰極頭構(gòu)成的。當鎢絲通過電流加熱時，就放出熱電子，熱電子在高壓電場作用下，高速飛向陽極轟擊靶而產(chǎn)生x射線。根據(jù)要求的焦點形狀，鎢絲繞成螺繞環(huán)形(圓焦點)或螺線管形(線焦點)。陰極頭具有一定凹面形狀，它對燈絲發(fā)射的電子具有聚焦作用。陰極8第三章--射線檢測技術(shù)-無損檢測技術(shù)及缺陷評價課件9

陽極陽極是產(chǎn)生x射線的主體，它一般由陽極靶、陽極體和陽極罩三部分組成。

陽極10第三章--射線檢測技術(shù)-無損檢測技術(shù)及缺陷評價課件11陽極的作用：x射線機通常使用的是鎢靶，可產(chǎn)生較硬的x射線，或者用鉬靶，可產(chǎn)生較軟的x射線。陽極靶通常是由熔點較高原子序數(shù)較大的金屬制成，這種金屬產(chǎn)生x射線的效率較高。陽極體選用熱容量大，導(dǎo)熱率高的金屬制作，一般用銅。金屬靶一般鑄焊在銅陽極體上，使靶上的熱量及時通過陽極體散發(fā)出去。陽極罩也是銅做的，它的作用是吸收在陽極附近產(chǎn)生的二次電子，銅陽極罩與靶面相對的一邊開有窗口，裝有原子序數(shù)小的鈹板(Z＝4)，使射線從窗口射出，并濾除了一部分軟x射線。陽極的作用：12第三章--射線檢測技術(shù)-無損檢測技術(shù)及缺陷評價課件13第三章--射線檢測技術(shù)-無損檢測技術(shù)及缺陷評價課件14焦點實際焦點

陰極發(fā)射的電子束與陽極靶的傾斜面相交所形成的一塊面積是陽極靶受電子束轟擊產(chǎn)生x射線的部分，稱之為x射線管的實際焦點。有效焦點實際焦點在垂直于管軸線方向(即射線束中心方向)的投影稱為有效焦點。探傷機說明書上提供的焦點尺寸即是有效焦點。焦點15第三章--射線檢測技術(shù)-無損檢測技術(shù)及缺陷評價課件16第三章--射線檢測技術(shù)-無損檢測技術(shù)及缺陷評價課件17

焦點的要求x射線管有效焦點的大小是x射線機主要性能之—，為影響透照清晰度和靈敏度的主要因素。從探傷靈敏度、清晰度要求來說希望焦點越小越好。但焦點小了射線管承受的功率就小，輻射強度低，在同樣工件厚度下就要延長曝光時間。否則靶容易被擊穿。焦點的要求181.1.2X射線強度的影響因素射線強度正比于陰極電子（管電流）；射線強度正比于管電壓的平方（電壓高波長短）；射線強度正比于陽極材料的原子序數(shù)Z。1.1.2X射線強度的影響因素191.2γ射線1.2.1產(chǎn)生放射性同位素的原子核自然衰變時產(chǎn)生的電磁波，波長比X射線短，穿透能力更強。

半衰期T放射性物質(zhì)的原子數(shù)目因衰變而減少到原來一半時所需要的時間。T=0.693/λλ為衰變常數(shù)，衰變的速度為恒定值。1.2γ射線20放射性物質(zhì)的活性N單位時間內(nèi)的衰變數(shù)，單位為居里，1居里為3.7×1010原子衰變/每秒。對不同種類的γ射線源，即使放射性活度相同，所輻射γ射線的強度是不同的。

γ射線源的活度是隨時間而改變，且隨時間的增加呈指數(shù)規(guī)律衰減的對同一種γ射線源，放射性活度大的源，在單位時間內(nèi)將輻射更多的γ射線。放射性物質(zhì)的活性N21射線劑量D某點在一定時間內(nèi)造成的劑量：D=KNt/R2h射線劑量D221.2.2常用γ射線源及主要特性常用的同位素有Co-60（鈷）、Cs-137（銫）、Ir-192（銥）、Tm-170（銩）和Se-75（硒）等。1.2.2常用γ射線源及主要特性23第三章--射線檢測技術(shù)-無損檢測技術(shù)及缺陷評價課件24驅(qū)動機構(gòu)：內(nèi)一套控制部件、控制導(dǎo)管、驅(qū)動部件構(gòu)成。

驅(qū)動機構(gòu)：內(nèi)一套控制部件、控制導(dǎo)管、驅(qū)251.2.3γ射線機的特點。優(yōu)點：能量高、穿透力強、探測厚度大。設(shè)備較簡單、體積小、重量輕、不用水電，適宜于野外現(xiàn)場探傷和特殊場合的檢測。射線向空間全方位輻射，對球罐和環(huán)焊縫可進行全景曝光和周向曝光。不易損壞、設(shè)備故障率低。可以連續(xù)使用，性能穩(wěn)定且不受外界條件的影響。

1.2.3γ射線機的特點。26缺點：射線能量單一或集中在幾個波長，不能根據(jù)試件厚度進行調(diào)節(jié)。適用于—定厚度范圍的材料。固有不清晰度—般比x射線機大，在同樣的檢測條件下，靈敏度稍低于X射線機。所選用的γ射線源都有一定的半定期，有些半衰期短的射源如192Ir，換源頻繁。射線源的放射性輻射不受人為因素的控制，因此對安全防護的要求和管理更加嚴格。缺點：27

1.3高能射線高能射線（大于一百萬電子伏特）是由帶電粒子加速器產(chǎn)生?；驹硎抢秒姶艌黾铀賻щ娏Ｗ樱瑥亩@得高能量射線的裝置，用于透照較厚的材料。目前用于工業(yè)射線檢測的高能x射線的加速器主要有：電子感應(yīng)加速器、電子直線加速器、電子回旋加速器。1.3高能射線28電子感應(yīng)加速器電子在磁場中旋轉(zhuǎn)次數(shù)達106次，能獲得救百萬電子伏特的能量。當電子流達到額定能量后，在輔助線圈產(chǎn)生磁場的作用下，使電子偏離旋轉(zhuǎn)軌道而沖向陽極靶，從而產(chǎn)生高能x射線。電子感應(yīng)加速器29電子直線加速器

主要結(jié)構(gòu)是高功率的微波裝置和波導(dǎo)管。工作原理：利用高功率微波發(fā)生裝置，在波導(dǎo)管內(nèi)向電子輸送能量。利用微波的電場，加速電子。波導(dǎo)管越長，電子獲得的能量就越高。加速到一定能量的高速電子轟擊到靶面，產(chǎn)生高能x射線。

電子直線加速器30電子回旋加速器利用恒定磁場和高頻交變電場加速電子的裝置。

電子回旋加速器312.射線的特點χ射線、γ射線是波長極短的電磁波，因此它們具有其它幾種電磁波所沒有的特性。（1）不可見，依直線傳播。（2）不受電場和磁場的影響，它本身是不帶電的。（3）具有很強的穿透力。χ射線和γ射線能穿透可見光不能穿透的物質(zhì)（如肌肉、黑紙、金屬等），而且波長愈短，穿透能力愈強。2.射線的特點32（4）能使某些物質(zhì)起光化學(xué)作用。χ射線膠片，經(jīng)射線照射和暗室處理以后，可形成影象。（5）某些物質(zhì)被射線照射以后，能發(fā)出可見熒光。利用熒光增感屏進行射線探傷，可以大大減少曝光量。（6）能殺傷生物細胞，當人體受到過量的射線照射后，會引起各種病癥。（7）能使空氣電離?？梢允褂脤ｉT儀器，測定空氣經(jīng)射線照射以后被電離的程度，保證工作人員不致受到過量的射線照射。（4）能使某些物質(zhì)起光化學(xué)作用。χ射線膠片，經(jīng)射333.射線檢測原理及方法3.1射線的率減定律χ射線和γ射線通過物質(zhì)時其強度逐漸減弱，射線的衰減由以下公式表示：I＝I0e-μx

式中I----通過物體后的射線強度；I0----未通過物體前的射線強度；μ----物質(zhì)的衰減系數(shù)，x----物體厚度。3.射線檢測原理及方法34衰減系數(shù)μ，隨射線的種類和線質(zhì)的變化而變化，也隨穿透物質(zhì)的種類和密度而變化。對χ射線和γ射線來說，假如穿透物質(zhì)相同，則波長越長μ就越大（低電壓，反差大，靈敏度高）。假如波長相等，則穿透物質(zhì)的原子序數(shù)越大μ越大，物質(zhì)密度越大μ也越大。假如對于波長相同的χ射線或者γ射線來說，μ是按水、鋁、鐵、銅、鉛這樣的順序增大的。衰減系數(shù)μ，隨射線的種類和線質(zhì)的變化而變化，353.2射線檢測原理射線照檢測是利用射線透過物體時，產(chǎn)生吸收和散射這一特性，通過測量材料中因缺陷存在，產(chǎn)生的射線吸收差異來探測缺陷。3.2射線檢測原理363.3射線檢測方法3.3.1照相記錄法3.3.2電離檢測法3.3.3熒光屏顯示法3.3.4X射線工業(yè)電視實時檢測3.3.5射線CT技術(shù)3.3.6計算機輔助射線成像（CR）3.3射線檢測方法373.3.1射線照相記錄法射線照相記錄法是利用射線對膠片的感光作用，在膠片上用形成影象的方法，記錄射線通過被檢工件后的強弱差異，從而完成對工件評價。膠片影象直觀，膠片可保存。3.3.1射線照相記錄法38第三章--射線檢測技術(shù)-無損檢測技術(shù)及缺陷評價課件39第三章--射線檢測技術(shù)-無損檢測技術(shù)及缺陷評價課件40第三章--射線檢測技術(shù)-無損檢測技術(shù)及缺陷評價課件41第三章--射線檢測技術(shù)-無損檢測技術(shù)及缺陷評價課件42第三章--射線檢測技術(shù)-無損檢測技術(shù)及缺陷評價課件43RadiographicImagesRadiographicImages44周向透照技術(shù)周向透照布置時，顯然，透照厚度在一周焊縫上都是相同的，透照厚度比在各點都是１。周向透照技術(shù)45雙壁單影透照技術(shù)雙壁單影透照技術(shù)，即為了檢驗一層壁的缺陷，射線束必須穿過工件的雙層壁，這時底片上形成的影象，僅對靠近膠片側(cè)的一層壁是有效的。雙壁單影透照技術(shù)46雙壁雙影透照技術(shù)雙壁雙影透照技術(shù)，即射線束穿過工件的雙層壁、并在底片上同時形成雙壁的影象，并且雙壁的影象均是有效的。雙壁雙影透照技術(shù)47第三章--射線檢測技術(shù)-無損檢測技術(shù)及缺陷評價課件48第三章--射線檢測技術(shù)-無損檢測技術(shù)及缺陷評價課件493.3.2電離檢測法射線穿透氣體可引起電離。實驗結(jié)果表明，被電離的氣體所產(chǎn)生的離子總數(shù)與其吸收的射線能量成正比。電離檢測法借助于電離探測器，使被電離的氣體形成電離電流，通過測量電離電流的大小，顯示穿透材料后射線強度的變化，從而發(fā)現(xiàn)工件中的缺陷。電離探測器有電離室和計數(shù)器。可用來測厚，精度可達1-2絲。3.3.2電離檢測法50第三章--射線檢測技術(shù)-無損檢測技術(shù)及缺陷評價課件513.3.3熒光屏顯示法將貫穿工件后強度不等的輻射圖像投射到涂布有熒光物質(zhì)的熒光屏上激發(fā)出亮度不同的熒光。從而在熒光屏上顯示出熒光檢測圖像。它與射線照相法不同之處是缺陷圖象不是底片上的黑色圖像而是熒光屏上亮度大的圖象。熒光屏觀察裝置由x射線機、熒光屏、觀察設(shè)備或記錄設(shè)備、防護及傳送工件的裝置等組成。3.3.3熒光屏顯示法52第三章--射線檢測技術(shù)-無損檢測技術(shù)及缺陷評價課件533.3.4X射線工業(yè)電視實時檢測x射線工業(yè)電視檢測是熒光屏顯示方法的發(fā)展。熒光屏觀察法的缺點是人眼直接觀察不安全，成像亮度差，靈敏度低。隨著光電子學(xué)技術(shù)的發(fā)展，微光圖象增強器、X射線敏感攝像器和數(shù)字圖象處理技術(shù)的應(yīng)用，熒光屏觀察方法已經(jīng)發(fā)展成為x射線工業(yè)電視實時成像系統(tǒng)。3.3.4X射線工業(yè)電視實時檢測54第三章--射線檢測技術(shù)-無損檢測技術(shù)及缺陷評價課件55第三章--射線檢測技術(shù)-無損檢測技術(shù)及缺陷評價課件56第三章--射線檢測技術(shù)-無損檢測技術(shù)及缺陷評價課件57第三章--射線檢測技術(shù)-無損檢測技術(shù)及缺陷評價課件58第三章--射線檢測技術(shù)-無損檢測技術(shù)及缺陷評價課件593.3.5射線CT技術(shù)CT是計算機控制的射線層析掃描成像技術(shù)的簡稱。CT技術(shù)利用射線在物體不同橫斷面的投影數(shù)據(jù)，經(jīng)過計算機運算得到不同橫斷面上衰減系數(shù)在各點的分布，之后由計算機根據(jù)計算數(shù)據(jù)進行圖象重建，獲得一個能夠顯示物體內(nèi)部結(jié)構(gòu)尺寸、方向和位置的三維立體圖象3.3.5射線CT技術(shù)60第三章--射線檢測技術(shù)-無損檢測技術(shù)及缺陷評價課件61第三章--射線檢測技術(shù)-無損檢測技術(shù)及缺陷評價課件62系統(tǒng)描述3)掃描模式:一代掃描

掃描檢測效率低適于原理教學(xué)無散射、串擾問題缺點優(yōu)點系統(tǒng)描述3)掃描模式:一代掃描掃描檢測效率63第三章--射線檢測技術(shù)-無損檢測技術(shù)及缺陷評價課件64試驗結(jié)果2)應(yīng)用檢測葉片檢測高速鋼裂紋葉片三維重構(gòu)圖像試驗結(jié)果2)應(yīng)用檢測葉片檢測高速鋼裂紋葉片三維重構(gòu)圖像65鋁鑄件斷層掃描、三維重組研究與內(nèi)部測量檢測鋁鑄件斷層掃描、三維重組研究與內(nèi)部測量檢測66陶瓷內(nèi)部密度分析、缺陷分析與與內(nèi)部測量檢測陶瓷內(nèi)部密度分析、缺陷分析與與內(nèi)部測量檢測673.3.6計算機輔助射線成像

ComputedRadiography(CR)與DR(DigitalRadiography)技術(shù)一樣，CR也是一種不用膠片直接將射線透照影像數(shù)字化的技術(shù)。該技術(shù)有二個重要的技術(shù)步驟：第一步是將影像數(shù)字化其作用相當于將一張射線底片通過掃描或數(shù)碼相機拍攝獲得數(shù)字影像；第二步通過強大的軟件支持，對數(shù)字影像進行各種處理獲得更多的被檢測件內(nèi)部質(zhì)量信息。

3.3.6計算機輔助射線成像ComputedRadio68第三章--射線檢測技術(shù)-無損檢測技術(shù)及缺陷評價課件69第三章--射線檢測技術(shù)-無損檢測技術(shù)及缺陷評價課件70C：鋁合金彎管初始影像可見裂紋；D：圖像處理后的圖C裂紋顯示；CDC：鋁合金彎管初始影像可見裂紋；D：圖像處理后的圖C裂紋顯714.射線檢測照相工藝探傷位置編號選擇膠片，增感屏并裝片焦距選擇（影響幾何不清晰度）有效膠片范圍確定底片標記及放置確定曝光量確定透照方法并透照暗室處理評片4.射線檢測照相工藝72確定透照布置的基本考慮射線源、工件、膠片的相對位置常規(guī)射線照相檢驗時，射線源和膠片應(yīng)分別置于工件的兩側(cè)。一般情況下都應(yīng)選擇能夠使缺陷更靠近膠片的方式進行布置。減少缺陷與膠片的距離，減小幾何不清晰度，從而提高缺陷影象的可識別性。在進行透照布置時應(yīng)盡量使膠片貼近工件表面。確定透照布置的基本考慮73射線中心束的方向中心射線束在一般情況下應(yīng)指向有效透照區(qū)的中心，這主要是為了使整個有效透照區(qū)的透照厚度變化較小，使射線的照射角較小，以提高整個透照范圍內(nèi)缺陷的可檢驗性。對一些特殊的情況應(yīng)按照具體情況考慮，例如，主要希望檢驗焊縫坡口未熔合則應(yīng)使中心射線束指向坡口角度方向。射線中心束的方向74射線照相檢驗的基本透照布置如下圖射線照相檢驗的基本透照布置如下圖75圖中，d是射線源的焦點；T是工件厚度；F是射線源焦點至膠片的距離，一般稱為焦距；f是射線源焦點至工件源側(cè)表面的距離；L是一次透照區(qū)(有效透照區(qū))；θ是射線中心束與透照區(qū)邊區(qū)射線束構(gòu)成的角度，常稱為照射角。。象質(zhì)計（圖像質(zhì)量指示器）用于測定射線照相靈敏度，象質(zhì)計放置的位置應(yīng)使得到的靈敏度能夠代表整個有效透照區(qū)的靈敏度，其位置應(yīng)選在有效透照區(qū)內(nèi)靈敏度預(yù)計最差的部位。只要這個部位的靈敏度達到了規(guī)定的要求，則其他部分也應(yīng)達到了要求。一般放置在有效透照區(qū)的邊區(qū)的源側(cè)表面。圖中，d是射線源的焦點；T是工件厚度76鉛增感屏和熒光增感屏增感屏的作用

射線通過膠片時，通常只有1％以下的能量被膠片吸收。99％以上的可用能量都白白浪費了。但底片上的影象主要是靠吸收射線，并產(chǎn)生光化學(xué)作用造成的。為提高排片效率，同時提高影象質(zhì)量，常用增感屏來增強射線對膠片的感光作用。鉛增感屏和熒光增感屏77第三章--射線檢測技術(shù)-無損檢測技術(shù)及缺陷評價課件78增感屏的種類和性能

常用的增感屏有金屬增感屏、熒光增感屏和金屬熒光增感屏三種。金屬增感屏所得底片象質(zhì)最佳，熒光增感屏最差，但增感系數(shù)以熒光增感屏最高，金屬屏最低。金屬增感屏一般是將薄薄的金屬箔粘合在優(yōu)質(zhì)紙基或膠片片基上制成的。多用鉛合金（加5％左右的銻和錫作金屬箔）。增感屏的種類和性能79第三章--射線檢測技術(shù)-無損檢測技術(shù)及缺陷評價課件80焦距焦距：射線源與膠片之間的距離。焦距直接影響射線照相的幾何不清晰度值，進而可影響總的不清晰度值和小細節(jié)的射線照相對比度。選取焦距時必須考慮二點：必須滿足射線照相對幾何不清晰度的規(guī)定，必須給出一定大小的均勻透照區(qū)。前者限定了可采用的焦距最小值，后者是有效透照區(qū)所要求的焦距。焦距81第三章--射線檢測技術(shù)-無損檢測技術(shù)及缺陷評價課件82有效透照區(qū)有效透照區(qū)主要是控制一次透照中透照厚度變化的范圍。有效透照范圍內(nèi)，在射線照片上形成的影象滿足下面要求：a.黑度處于規(guī)定的黑度范圍；b.射線照相靈敏度符合規(guī)定的要求。

有效透照區(qū)83有效透照區(qū)控制：(1)規(guī)定透照厚度比透照厚度比定義為有效透照區(qū)邊區(qū)的透照厚度與中心射線束的透照厚度之比。透照厚度比k可以表示為：k＝T＇/TT----中心射線束的透照厚度；T‘----有效透照區(qū)邊區(qū)射線束的透照厚度。有效透照區(qū)控制：84第三章--射線檢測技術(shù)-無損檢測技術(shù)及缺陷評價課件85(2)規(guī)定f/L比直接規(guī)定射線源與工件源側(cè)表面距離和有效透照區(qū)大小的比，控制有效透照區(qū)。美國軍標和以前的日本工業(yè)標準常采用這種方式。(2)規(guī)定f/L比86第三章--射線檢測技術(shù)-無損檢測技術(shù)及缺陷評價課件87識別標記和定位標記識別標記通常包括：工件編號、部位編號、透照部門、透照時間、透照人員等。定位標記通常包括：中心標記、搭接標記。標記的布置，應(yīng)保證它的影象能提供它應(yīng)提供的有關(guān)數(shù)據(jù)，并且不干擾對缺陷影象的識別和評定。識別標記和定位標記88第三章--射線檢測技術(shù)-無損檢測技術(shù)及缺陷評價課件89曝光曲線曝光曲線是在—定條件下繪制的透照參數(shù)與透照厚度之間的關(guān)系曲線。通常只選擇工件厚度、管電壓和曝光量作為可變參數(shù)，而其他條件必須保持固定不變。特定的曝光曲線只能在實際照相所選用的條件與制作此曝光曲線的條件相一致的情況下才能直接使用。曝光曲線90制作曝光曲線需要固定不變的條件包括如下內(nèi)容：(1)固定的X射線機或Y射線源；(2)固定的焦距；(3)固定的暗室處理條件；(4)固定的膠片類型；(5)固定的增感方式及增感屏規(guī)格；(6)固定的底片黑度。制作曝光曲線需要固定不變的條件包括如下內(nèi)容：91曝光曲線的類型(1)厚度—曝光量(T-E)曝光曲線橫坐標表示厚度，縱坐標表示曝光量(采用對數(shù)形式)，以管電壓作為參數(shù)，這種曝光曲線的形式是直線。(2)厚度—管電壓(T-KV)曝光曲線橫坐標表示厚度，縱坐標表示管電壓。以曝光量作為參數(shù)。曝光曲線的類型92第三章--射線檢測技術(shù)-無損檢測技術(shù)及缺陷評價課件93第三章--射線檢測技術(shù)-無損檢測技術(shù)及缺陷評價課件945.射線檢測的應(yīng)用5.射線檢測的應(yīng)用95第三章--射線檢測技術(shù)-無損檢測技術(shù)及缺陷評價課件96第三章--射線檢測技術(shù)-無損檢測技術(shù)及缺陷評價課件97第三章--射線檢測技術(shù)-無損檢測技術(shù)及缺陷評價課件98第三章--射線檢測技術(shù)-無損檢測技術(shù)及缺陷評價課件99第三章--射線檢測技術(shù)-無損檢測技術(shù)及缺陷評價課件100第三章--射線檢測技術(shù)-無損檢測技術(shù)及缺陷評價課件101復(fù)習(xí)思考題試比較X射線、γ射線產(chǎn)生的條件有何差別？畫圖說明X射線管的內(nèi)部結(jié)構(gòu)，并簡述各部分的作用。射線探傷工藝準備有哪些內(nèi)容？焊縫透照中必須確定的事項和幾何參數(shù)，以及需要考慮的相關(guān)因素有哪些？簡述金屬絲象質(zhì)計的構(gòu)造特點，象質(zhì)計有什么作用？象質(zhì)計的指示靈敏度與實際缺陷的顯示靈敏度之間有何關(guān)系？影響輻射損傷的因素是什么？試述外照防護有哪幾種方法？復(fù)習(xí)思考題102第三章射線檢測技術(shù)射線的種類射線的特點射線檢測原理及方法射線檢測照相工藝射線檢測應(yīng)用第三章射線檢測技術(shù)103射線的種類1.1X射線1.1.1X射線的產(chǎn)生射線的種類104

x射線是由x射線管產(chǎn)生，它的基本結(jié)構(gòu)是一個具有高真空度的二極管，由陰極、陽極和保持高真空度的玻璃外殼構(gòu)成：x射線是由x射線管產(chǎn)生，它的基本結(jié)構(gòu)105第三章--射線檢測技術(shù)-無損檢測技術(shù)及缺陷評價課件106第三章--射線檢測技術(shù)-無損檢測技術(shù)及缺陷評價課件107第三章--射線檢測技術(shù)-無損檢測技術(shù)及缺陷評價課件108第三章--射線檢測技術(shù)-無損檢測技術(shù)及缺陷評價課件109

陰極陰極的作用是發(fā)射電子和聚焦電子。陰極是由鎢絲和陰極頭構(gòu)成的。當鎢絲通過電流加熱時，就放出熱電子，熱電子在高壓電場作用下，高速飛向陽極轟擊靶而產(chǎn)生x射線。根據(jù)要求的焦點形狀，鎢絲繞成螺繞環(huán)形(圓焦點)或螺線管形(線焦點)。陰極頭具有一定凹面形狀，它對燈絲發(fā)射的電子具有聚焦作用。陰極110第三章--射線檢測技術(shù)-無損檢測技術(shù)及缺陷評價課件111

陽極陽極是產(chǎn)生x射線的主體，它一般由陽極靶、陽極體和陽極罩三部分組成。

陽極112第三章--射線檢測技術(shù)-無損檢測技術(shù)及缺陷評價課件113陽極的作用：x射線機通常使用的是鎢靶，可產(chǎn)生較硬的x射線，或者用鉬靶，可產(chǎn)生較軟的x射線。陽極靶通常是由熔點較高原子序數(shù)較大的金屬制成，這種金屬產(chǎn)生x射線的效率較高。陽極體選用熱容量大，導(dǎo)熱率高的金屬制作，一般用銅。金屬靶一般鑄焊在銅陽極體上，使靶上的熱量及時通過陽極體散發(fā)出去。陽極罩也是銅做的，它的作用是吸收在陽極附近產(chǎn)生的二次電子，銅陽極罩與靶面相對的一邊開有窗口，裝有原子序數(shù)小的鈹板(Z＝4)，使射線從窗口射出，并濾除了一部分軟x射線。陽極的作用：114第三章--射線檢測技術(shù)-無損檢測技術(shù)及缺陷評價課件115第三章--射線檢測技術(shù)-無損檢測技術(shù)及缺陷評價課件116焦點實際焦點

陰極發(fā)射的電子束與陽極靶的傾斜面相交所形成的一塊面積是陽極靶受電子束轟擊產(chǎn)生x射線的部分，稱之為x射線管的實際焦點。有效焦點實際焦點在垂直于管軸線方向(即射線束中心方向)的投影稱為有效焦點。探傷機說明書上提供的焦點尺寸即是有效焦點。焦點117第三章--射線檢測技術(shù)-無損檢測技術(shù)及缺陷評價課件118第三章--射線檢測技術(shù)-無損檢測技術(shù)及缺陷評價課件119

焦點的要求x射線管有效焦點的大小是x射線機主要性能之—，為影響透照清晰度和靈敏度的主要因素。從探傷靈敏度、清晰度要求來說希望焦點越小越好。但焦點小了射線管承受的功率就小，輻射強度低，在同樣工件厚度下就要延長曝光時間。否則靶容易被擊穿。焦點的要求1201.1.2X射線強度的影響因素射線強度正比于陰極電子（管電流）；射線強度正比于管電壓的平方（電壓高波長短）；射線強度正比于陽極材料的原子序數(shù)Z。1.1.2X射線強度的影響因素1211.2γ射線1.2.1產(chǎn)生放射性同位素的原子核自然衰變時產(chǎn)生的電磁波，波長比X射線短，穿透能力更強。

半衰期T放射性物質(zhì)的原子數(shù)目因衰變而減少到原來一半時所需要的時間。T=0.693/λλ為衰變常數(shù)，衰變的速度為恒定值。1.2γ射線122放射性物質(zhì)的活性N單位時間內(nèi)的衰變數(shù)，單位為居里，1居里為3.7×1010原子衰變/每秒。對不同種類的γ射線源，即使放射性活度相同，所輻射γ射線的強度是不同的。

γ射線源的活度是隨時間而改變，且隨時間的增加呈指數(shù)規(guī)律衰減的對同一種γ射線源，放射性活度大的源，在單位時間內(nèi)將輻射更多的γ射線。放射性物質(zhì)的活性N123射線劑量D某點在一定時間內(nèi)造成的劑量：D=KNt/R2h射線劑量D1241.2.2常用γ射線源及主要特性常用的同位素有Co-60（鈷）、Cs-137（銫）、Ir-192（銥）、Tm-170（銩）和Se-75（硒）等。1.2.2常用γ射線源及主要特性125第三章--射線檢測技術(shù)-無損檢測技術(shù)及缺陷評價課件126驅(qū)動機構(gòu)：內(nèi)一套控制部件、控制導(dǎo)管、驅(qū)動部件構(gòu)成。

驅(qū)動機構(gòu)：內(nèi)一套控制部件、控制導(dǎo)管、驅(qū)1271.2.3γ射線機的特點。優(yōu)點：能量高、穿透力強、探測厚度大。設(shè)備較簡單、體積小、重量輕、不用水電，適宜于野外現(xiàn)場探傷和特殊場合的檢測。射線向空間全方位輻射，對球罐和環(huán)焊縫可進行全景曝光和周向曝光。不易損壞、設(shè)備故障率低?？梢赃B續(xù)使用，性能穩(wěn)定且不受外界條件的影響。

1.2.3γ射線機的特點。128缺點：射線能量單一或集中在幾個波長，不能根據(jù)試件厚度進行調(diào)節(jié)。適用于—定厚度范圍的材料。固有不清晰度—般比x射線機大，在同樣的檢測條件下，靈敏度稍低于X射線機。所選用的γ射線源都有一定的半定期，有些半衰期短的射源如192Ir，換源頻繁。射線源的放射性輻射不受人為因素的控制，因此對安全防護的要求和管理更加嚴格。缺點：129

1.3高能射線高能射線（大于一百萬電子伏特）是由帶電粒子加速器產(chǎn)生。基本原理是利用電磁場加速帶電粒子，從而獲得高能量射線的裝置，用于透照較厚的材料。目前用于工業(yè)射線檢測的高能x射線的加速器主要有：電子感應(yīng)加速器、電子直線加速器、電子回旋加速器。1.3高能射線130電子感應(yīng)加速器電子在磁場中旋轉(zhuǎn)次數(shù)達106次，能獲得救百萬電子伏特的能量。當電子流達到額定能量后，在輔助線圈產(chǎn)生磁場的作用下，使電子偏離旋轉(zhuǎn)軌道而沖向陽極靶，從而產(chǎn)生高能x射線。電子感應(yīng)加速器131電子直線加速器

主要結(jié)構(gòu)是高功率的微波裝置和波導(dǎo)管。工作原理：利用高功率微波發(fā)生裝置，在波導(dǎo)管內(nèi)向電子輸送能量。利用微波的電場，加速電子。波導(dǎo)管越長，電子獲得的能量就越高。加速到一定能量的高速電子轟擊到靶面，產(chǎn)生高能x射線。

電子直線加速器132電子回旋加速器利用恒定磁場和高頻交變電場加速電子的裝置。

電子回旋加速器1332.射線的特點χ射線、γ射線是波長極短的電磁波，因此它們具有其它幾種電磁波所沒有的特性。（1）不可見，依直線傳播。（2）不受電場和磁場的影響，它本身是不帶電的。（3）具有很強的穿透力。χ射線和γ射線能穿透可見光不能穿透的物質(zhì)（如肌肉、黑紙、金屬等），而且波長愈短，穿透能力愈強。2.射線的特點134（4）能使某些物質(zhì)起光化學(xué)作用。χ射線膠片，經(jīng)射線照射和暗室處理以后，可形成影象。（5）某些物質(zhì)被射線照射以后，能發(fā)出可見熒光。利用熒光增感屏進行射線探傷，可以大大減少曝光量。（6）能殺傷生物細胞，當人體受到過量的射線照射后，會引起各種病癥。（7）能使空氣電離?？梢允褂脤ｉT儀器，測定空氣經(jīng)射線照射以后被電離的程度，保證工作人員不致受到過量的射線照射。（4）能使某些物質(zhì)起光化學(xué)作用。χ射線膠片，經(jīng)射1353.射線檢測原理及方法3.1射線的率減定律χ射線和γ射線通過物質(zhì)時其強度逐漸減弱，射線的衰減由以下公式表示：I＝I0e-μx

式中I----通過物體后的射線強度；I0----未通過物體前的射線強度；μ----物質(zhì)的衰減系數(shù)，x----物體厚度。3.射線檢測原理及方法136衰減系數(shù)μ，隨射線的種類和線質(zhì)的變化而變化，也隨穿透物質(zhì)的種類和密度而變化。對χ射線和γ射線來說，假如穿透物質(zhì)相同，則波長越長μ就越大（低電壓，反差大，靈敏度高）。假如波長相等，則穿透物質(zhì)的原子序數(shù)越大μ越大，物質(zhì)密度越大μ也越大。假如對于波長相同的χ射線或者γ射線來說，μ是按水、鋁、鐵、銅、鉛這樣的順序增大的。衰減系數(shù)μ，隨射線的種類和線質(zhì)的變化而變化，1373.2射線檢測原理射線照檢測是利用射線透過物體時，產(chǎn)生吸收和散射這一特性，通過測量材料中因缺陷存在，產(chǎn)生的射線吸收差異來探測缺陷。3.2射線檢測原理1383.3射線檢測方法3.3.1照相記錄法3.3.2電離檢測法3.3.3熒光屏顯示法3.3.4X射線工業(yè)電視實時檢測3.3.5射線CT技術(shù)3.3.6計算機輔助射線成像（CR）3.3射線檢測方法1393.3.1射線照相記錄法射線照相記錄法是利用射線對膠片的感光作用，在膠片上用形成影象的方法，記錄射線通過被檢工件后的強弱差異，從而完成對工件評價。膠片影象直觀，膠片可保存。3.3.1射線照相記錄法140第三章--射線檢測技術(shù)-無損檢測技術(shù)及缺陷評價課件141第三章--射線檢測技術(shù)-無損檢測技術(shù)及缺陷評價課件142第三章--射線檢測技術(shù)-無損檢測技術(shù)及缺陷評價課件143第三章--射線檢測技術(shù)-無損檢測技術(shù)及缺陷評價課件144第三章--射線檢測技術(shù)-無損檢測技術(shù)及缺陷評價課件145RadiographicImagesRadiographicImages146周向透照技術(shù)周向透照布置時，顯然，透照厚度在一周焊縫上都是相同的，透照厚度比在各點都是１。周向透照技術(shù)147雙壁單影透照技術(shù)雙壁單影透照技術(shù)，即為了檢驗一層壁的缺陷，射線束必須穿過工件的雙層壁，這時底片上形成的影象，僅對靠近膠片側(cè)的一層壁是有效的。雙壁單影透照技術(shù)148雙壁雙影透照技術(shù)雙壁雙影透照技術(shù)，即射線束穿過工件的雙層壁、并在底片上同時形成雙壁的影象，并且雙壁的影象均是有效的。雙壁雙影透照技術(shù)149第三章--射線檢測技術(shù)-無損檢測技術(shù)及缺陷評價課件150第三章--射線檢測技術(shù)-無損檢測技術(shù)及缺陷評價課件1513.3.2電離檢測法射線穿透氣體可引起電離。實驗結(jié)果表明，被電離的氣體所產(chǎn)生的離子總數(shù)與其吸收的射線能量成正比。電離檢測法借助于電離探測器，使被電離的氣體形成電離電流，通過測量電離電流的大小，顯示穿透材料后射線強度的變化，從而發(fā)現(xiàn)工件中的缺陷。電離探測器有電離室和計數(shù)器?？捎脕頊y厚，精度可達1-2絲。3.3.2電離檢測法152第三章--射線檢測技術(shù)-無損檢測技術(shù)及缺陷評價課件1533.3.3熒光屏顯示法將貫穿工件后強度不等的輻射圖像投射到涂布有熒光物質(zhì)的熒光屏上激發(fā)出亮度不同的熒光。從而在熒光屏上顯示出熒光檢測圖像。它與射線照相法不同之處是缺陷圖象不是底片上的黑色圖像而是熒光屏上亮度大的圖象。熒光屏觀察裝置由x射線機、熒光屏、觀察設(shè)備或記錄設(shè)備、防護及傳送工件的裝置等組成。3.3.3熒光屏顯示法154第三章--射線檢測技術(shù)-無損檢測技術(shù)及缺陷評價課件1553.3.4X射線工業(yè)電視實時檢測x射線工業(yè)電視檢測是熒光屏顯示方法的發(fā)展。熒光屏觀察法的缺點是人眼直接觀察不安全，成像亮度差，靈敏度低。隨著光電子學(xué)技術(shù)的發(fā)展，微光圖象增強器、X射線敏感攝像器和數(shù)字圖象處理技術(shù)的應(yīng)用，熒光屏觀察方法已經(jīng)發(fā)展成為x射線工業(yè)電視實時成像系統(tǒng)。3.3.4X射線工業(yè)電視實時檢測156第三章--射線檢測技術(shù)-無損檢測技術(shù)及缺陷評價課件157第三章--射線檢測技術(shù)-無損檢測技術(shù)及缺陷評價課件158第三章--射線檢測技術(shù)-無損檢測技術(shù)及缺陷評價課件159第三章--射線檢測技術(shù)-無損檢測技術(shù)及缺陷評價課件160第三章--射線檢測技術(shù)-無損檢測技術(shù)及缺陷評價課件1613.3.5射線CT技術(shù)CT是計算機控制的射線層析掃描成像技術(shù)的簡稱。CT技術(shù)利用射線在物體不同橫斷面的投影數(shù)據(jù)，經(jīng)過計算機運算得到不同橫斷面上衰減系數(shù)在各點的分布，之后由計算機根據(jù)計算數(shù)據(jù)進行圖象重建，獲得一個能夠顯示物體內(nèi)部結(jié)構(gòu)尺寸、方向和位置的三維立體圖象3.3.5射線CT技術(shù)162第三章--射線檢測技術(shù)-無損檢測技術(shù)及缺陷評價課件163第三章--射線檢測技術(shù)-無損檢測技術(shù)及缺陷評價課件164系統(tǒng)描述3)掃描模式:一代掃描

掃描檢測效率低適于原理教學(xué)無散射、串擾問題缺點優(yōu)點系統(tǒng)描述3)掃描模式:一代掃描掃描檢測效率165第三章--射線檢測技術(shù)-無損檢測技術(shù)及缺陷評價課件166試驗結(jié)果2)應(yīng)用檢測葉片檢測高速鋼裂紋葉片三維重構(gòu)圖像試驗結(jié)果2)應(yīng)用檢測葉片檢測高速鋼裂紋葉片三維重構(gòu)圖像167鋁鑄件斷層掃描、三維重組研究與內(nèi)部測量檢測鋁鑄件斷層掃描、三維重組研究與內(nèi)部測量檢測168陶瓷內(nèi)部密度分析、缺陷分析與與內(nèi)部測量檢測陶瓷內(nèi)部密度分析、缺陷分析與與內(nèi)部測量檢測1693.3.6計算機輔助射線成像

ComputedRadiography(CR)與DR(DigitalRadiography)技術(shù)一樣，CR也是一種不用膠片直接將射線透照影像數(shù)字化的技術(shù)。該技術(shù)有二個重要的技術(shù)步驟：第一步是將影像數(shù)字化其作用相當于將一張射線底片通過掃描或數(shù)碼相機拍攝獲得數(shù)字影像；第二步通過強大的軟件支持，對數(shù)字影像進行各種處理獲得更多的被檢測件內(nèi)部質(zhì)量信息。

3.3.6計算機輔助射線成像ComputedRadio170第三章--射線檢測技術(shù)-無損檢測技術(shù)及缺陷評價課件171第三章--射線檢測技術(shù)-無損檢測技術(shù)及缺陷評價課件172C：鋁合金彎管初始影像可見裂紋；D：圖像處理后的圖C裂紋顯示；CDC：鋁合金彎管初始影像可見裂紋；D：圖像處理后的圖C裂紋顯1734.射線檢測照相工藝探傷位置編號選擇膠片，增感屏并裝片焦距選擇（影響幾何不清晰度）有效膠片范圍確定底片標記及放置確定曝光量確定透照方法并透照暗室處理評片4.射線檢測照相工藝174確定透照布置的基本考慮射線源、工件、膠片的相對位置常規(guī)射線照相檢驗時，射線源和膠片應(yīng)分別置于工件的兩側(cè)。一般情況下都應(yīng)選擇能夠使缺陷更靠近膠片的方式進行布置。減少缺陷與膠片的距離，減小幾何不清晰度，從而提高缺陷影象的可識別性。在進行透照布置時應(yīng)盡量使膠片貼近工件表面。確定透照布置的基本考慮175射線中心束的方向中心射線束在一般情況下應(yīng)指向有效透照區(qū)的中心，這主要是為了使整個有效透照區(qū)的透照厚度變化較小，使射線的照射角較小，以提高整個透照范圍內(nèi)缺陷的可檢驗性。對一些特殊的情況應(yīng)按照具體情況考慮，例如，主要希望檢驗焊縫坡口未熔合則應(yīng)使中心射線束指向坡口角度方向。射線中心束的方向176射線照相檢驗的基本透照布置如下圖射線照相檢驗的基本透照布置如下圖177圖中，d是射線源的焦點；T是工件厚度；F是射線源焦點至膠片的距離，一般稱為焦距；f是射線源焦點至工件源側(cè)表面的距離；L是一次透照區(qū)(有效透照區(qū))；θ是射線中心束與透照區(qū)邊區(qū)射線束構(gòu)成的角度，常稱為照射角。。象質(zhì)計（圖像質(zhì)量指示器）用于測定射線照相靈敏度，象質(zhì)計放置的位置應(yīng)使得到的靈敏度能夠代表整個有效透照區(qū)的靈敏度，其位置應(yīng)選在有效透照區(qū)內(nèi)靈敏度預(yù)計最差的部位。只要這個部位的靈敏度達到了規(guī)定的要求，則其他部分也應(yīng)達到了要求。一般放置在有效透照區(qū)的邊區(qū)的源側(cè)表面。圖中，d是射線源的焦點；T是工件厚度178鉛增感屏和熒光增感屏增感屏的作用

射線通過膠片時，通常只有1％以下的能量被膠片吸收。99％以上的可用能量都白白浪費了。但底片上的影象主要是靠吸收射線，并產(chǎn)生光化學(xué)作用造成的。為提高排片效率，同時提高影象質(zhì)量，常用增感屏來增強射線對膠片的感光作用。鉛增感屏和熒光增感屏179第三章--射線檢測技術(shù)-無損檢測技術(shù)及缺陷評價課件180增感屏的種類和性能

常用的增感屏有金屬增感屏、熒光增感屏和金屬熒光增感屏三種。金屬增感屏所得底片象質(zhì)