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文檔簡介

高分子鏈在晶體中的形態(tài)

——晶格缺陷由于高分子體積龐大，分子結(jié)構(gòu)不是很規(guī)整，大分子體系粘度又大，不利于質(zhì)點(diǎn)運(yùn)動，這就妨礙了分子鏈的規(guī)整堆砌排列。因此，大分子的結(jié)晶除用特殊方法獲得的單晶外，一般卻不夠規(guī)整完善，缺陷較多。所謂晶格缺陷：即晶格點(diǎn)陣的周期性在空間的中斷。2典型的高分子晶格缺陷是由端基、鏈扭結(jié)、鏈扭轉(zhuǎn)引起的局部構(gòu)象錯誤所致。當(dāng)結(jié)晶缺陷嚴(yán)重影響晶體的完善程度時，便導(dǎo)致所謂準(zhǔn)晶結(jié)構(gòu)，即存在畸變的點(diǎn)陣結(jié)構(gòu)，甚至成為非晶區(qū)。見圖2-7。34不管是取平面鋸齒形構(gòu)象還是螺旋構(gòu)象，它們在結(jié)晶中作規(guī)整密堆積時，都只能采取使其主鏈的中心軸相互平行的方式排列。主鏈中心軸方向就是晶胞的主軸，通常約定為C方向。顯然，在C方向上，原子間以化學(xué)鍵鍵合，而在空間其它方向上，則只有分子間力。在分子間力的作用下，分子鏈將相互靠近到鏈外原子或取代基之間接近范德華力所能吸引的距離。5由于各個方向的受力不同，就產(chǎn)生了各向異性。因此在合成高聚物的晶體中不出現(xiàn)立方晶系（a＝b＝c），而其它六種晶系均存在（三方，四方，六方，單斜，三斜，正交）。6

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