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掃描近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡匯報(bào)人:主要內(nèi)容1.概述2.SNOM的發(fā)展歷史3.基本原理及相關(guān)技術(shù)4.應(yīng)用前景

掃描近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡(SNOM——ScanningNear-fieldOpticalMicroscopy)是依據(jù)近場(chǎng)探測(cè)原理發(fā)展起來(lái)的一種光學(xué)掃描探針顯微(SPM)技術(shù)。其分辯率突破光學(xué)衍射極限,達(dá)到10~200nm。在技術(shù)應(yīng)用上,SNOM為單分子探測(cè),生物結(jié)構(gòu)、納米微結(jié)構(gòu)的研究,半導(dǎo)體缺陷分析及量子結(jié)構(gòu)研究等多個(gè)領(lǐng)域提供了一種有力的工具;在物理上,它將量子光學(xué)、波導(dǎo)光學(xué)、介關(guān)物理等多個(gè)學(xué)科聯(lián)系在一起,并由此開(kāi)辟了一個(gè)新的光學(xué)研究領(lǐng)域——近場(chǎng)光學(xué)(Near-fieldOptics)。概述SNOM的發(fā)展歷史

及國(guó)內(nèi)外的研究現(xiàn)狀1928年,E.H.Synge提出“近場(chǎng)探測(cè)原理”1972年,E.A.Ash等人在微波波段(λ=3cm)實(shí)現(xiàn)了λ/60(0.5mm)的分辨率1981年,IBM的G.Binnig發(fā)明了STM1982年,D.W.Plhl實(shí)現(xiàn)了SNOM分辨率為25nm90年代后,Bell實(shí)驗(yàn)室的E.Betzig解決了鍍Al膜的光纖超微探針制備和針尖-樣品間距控制這兩個(gè)難題目前,在我國(guó)較有影響的國(guó)外產(chǎn)品有:美國(guó)ThermoMicroscopes,Inc公司的SNOM,德國(guó)OMICRONVakuunphysikGmbH公司的Twin-SNOM等。國(guó)內(nèi)已有清華大學(xué)、北京大學(xué)、大連理工大學(xué)以及上海光學(xué)儀器研究所等多家研究小組在開(kāi)發(fā)或研制掃描近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡,研制光纖探針的小組更多。SNOM的原理常規(guī)的光學(xué)方法:探測(cè)元件(如鏡頭)則位于遠(yuǎn)遠(yuǎn)大于波長(zhǎng)的遠(yuǎn)場(chǎng)中,由于衍射效應(yīng),只能獲得由傳播場(chǎng)攜帶的大于波長(zhǎng)一半的結(jié)構(gòu)信息。近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡:光學(xué)探針尖端的孔徑遠(yuǎn)小于光的波長(zhǎng)。當(dāng)把這樣的亞波長(zhǎng)光孔放置在近場(chǎng)區(qū)域時(shí),可以探測(cè)到豐富的亞微米光學(xué)信息。隱失波及隱失場(chǎng)在近場(chǎng)中,一方面它包括可以向遠(yuǎn)處傳播的分量,又包括了僅僅限于物體表面一個(gè)波長(zhǎng)以內(nèi)的成分。它的特征是“依附”于物體表面,強(qiáng)度隨離開(kāi)表面的距離增加而迅速衰減,不能在自由空間存在,因而被稱為隱失波。它的特點(diǎn)是沿x-y方向傳播,而沿z方向迅速消失,并且以光的頻率振蕩。由隱失波構(gòu)成的場(chǎng)稱為隱失場(chǎng)或者非傳播場(chǎng)。當(dāng)一個(gè)亞波長(zhǎng)的微小光源,在一物體的近場(chǎng)范圍內(nèi)照射物體時(shí),照射光斑的面積只和孔徑大小有關(guān),而與波長(zhǎng)無(wú)關(guān)。這樣,在反射光或透射光中,將攜帶物體亞波長(zhǎng)尺寸結(jié)構(gòu)的信息,通過(guò)采集樣品各“點(diǎn)”的信號(hào)光,即可得到分辨率小于半波長(zhǎng)的樣品的近場(chǎng)圖象。有關(guān)SNOM的幾個(gè)技術(shù)問(wèn)題光學(xué)“探針”的制作

Tip-Sample間距的控制不同的SNOM模式SNOM系統(tǒng)總體結(jié)構(gòu)光學(xué)探針A樣品臺(tái)B探針掃描控制C(包括T-S間距控制)光輸入系統(tǒng)D信號(hào)采集處理系統(tǒng)E光學(xué)探針光學(xué)探針是SNOM中的一個(gè)關(guān)鍵元件,它的質(zhì)量決定了SNOM系統(tǒng)圖象的分辨率和信噪比(這里所謂的“探針”指具有亞波長(zhǎng)尺度的微小光源或信號(hào)接收器)。一般講,用于SNOM中的探針要求“小而亮”。探針尖端孔徑越小,SNOM的分辨率越高;但另一方面,信號(hào)光又必須足夠強(qiáng),才能有足夠的信噪比。

錐形光纖微探針

其中,為了防止光信號(hào)泄漏,在連接部針尖外圍鍍有幾十納米層的金屬膜。將激光傳導(dǎo)到10-100nm微區(qū),在樣品激發(fā)的信號(hào)被光學(xué)鏡頭接受、記錄。當(dāng)探針做二維掃描時(shí)同時(shí)得到樣品形貌和近場(chǎng)光分布。探針和樣品間距保持在10-50納米的近場(chǎng)范圍。

Tip-Sample間距的控制主要有三種方法:等高模式(Constantaltitudemode)等光強(qiáng)模式(Constantintensitymode)剪切力控制模式(Shear-forcecontrolmode)等高模式針尖在一個(gè)固定水平高度上掃描,光信號(hào)強(qiáng)度的起伏反映了表面形貌的起伏,這種模式適用于表面極為平整的樣品,目前較少采用。等光強(qiáng)模式針尖按照設(shè)定的光強(qiáng)值,隨表面光強(qiáng)的起伏而上下起伏,反饋信號(hào)反映了表面光強(qiáng)的變化。由于在近場(chǎng)范圍中,光強(qiáng)與間距的關(guān)系并不是單調(diào)變化的,因此反饋信號(hào)的起伏并不嚴(yán)格反映表面的形貌。剪切力模式由于針尖與樣品之間存在一些長(zhǎng)程力(如粘滯力等),并存在一個(gè)共振頻率f(d),當(dāng)探針在按等光強(qiáng)模式掃描的同時(shí),沿一水平方向以這一共振頻率作微小振蕩,針尖在這一方向上的振動(dòng)將受到阻礙而容易被觀測(cè)到。這樣,針尖可以按照固定的T-S間距上下起伏。不同的SNOM模式第一類為孔徑型掃描近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡(ApetureSNOM),采用亞波長(zhǎng)的小孔(或針尖)作微光源或微探測(cè)器,而且激發(fā)光與被探測(cè)的信號(hào)光的方向是平行的。第二類是光子掃描隧道顯微鏡(PSTOM又稱STOM),激發(fā)光斜射入樣品,通過(guò)全內(nèi)反射在樣品表面形成消逝場(chǎng),置于消逝場(chǎng)的光探針實(shí)際是一個(gè)散射中心,它將非輻射場(chǎng)通過(guò)轉(zhuǎn)換成傳輸波而被探測(cè)。

接收模式照射模式光子隧道模式反射模式應(yīng)用前景1.單分子觀測(cè)2.細(xì)胞和細(xì)胞器精細(xì)結(jié)構(gòu)3.高密度信息存儲(chǔ)單分子觀測(cè)利用SNOM,E.betzig小組已在室溫下成功地觀察到固化在PMMA有機(jī)膜中的啞鈴形碳花青染料分子及其取向。細(xì)胞和細(xì)胞器的精細(xì)結(jié)構(gòu)94年,美國(guó)太平洋西北實(shí)驗(yàn)室的謝曉亮等人利用SNOM技術(shù),發(fā)現(xiàn)葉綠素系統(tǒng)中的一些獨(dú)立蛋白合成物在thylakoid膜上分布情況。Thylakoid膜是植物發(fā)生光合作用的地方,蛋白合成物嵌在膜中,吸收陽(yáng)光并通過(guò)一系列的反應(yīng)轉(zhuǎn)化為植物自己的能量。它們?cè)谀ど系姆植记闆r有助于了解不同合成物之間能量的處理機(jī)制,從而在分子水平上研究光合作用中包含的化學(xué)反應(yīng),包括電子轉(zhuǎn)移、質(zhì)子轉(zhuǎn)移、能量轉(zhuǎn)移以及蛋白質(zhì)構(gòu)型變化。高密度信息存儲(chǔ)

目前使用的光盤采用的是遠(yuǎn)場(chǎng)技術(shù),讀寫斑的尺寸被衍射極限控制在1mm左右,存儲(chǔ)密度約為50MB/cm2。若采用近場(chǎng)技術(shù)使讀寫斑的尺寸減小到20nm,則密度可提高到125GB/cm2。按此密度計(jì)算,一張30cm光盤的總?cè)萘靠蛇_(dá)1014bit,相當(dāng)于美國(guó)國(guó)會(huì)100年檔案信息量的總和,接近人腦的總存儲(chǔ)能力(1015bit)。參考文獻(xiàn)鄧江東,掃描近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡原理及其應(yīng)用,激光與電子學(xué)進(jìn)展,1997年第2期朱星,近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡,現(xiàn)代科學(xué)儀

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