標準解讀

《GB/T 12085.5-2010 光學和光學儀器 環(huán)境試驗方法 第5部分：低溫、低氣壓綜合試驗》與《GB/T 12085.5-1989 光學和光學儀器 環(huán)境試驗方法 綜合低溫、低氣壓》相比，主要存在以下幾方面的更新和調(diào)整：

  1. 標準名稱結(jié)構(gòu)調(diào)整：新標準在名稱中明確標示了“第5部分”，這表明該標準屬于一個系列標準的一部分，更便于用戶識別其在系列中的位置及與其他部分的關(guān)系。而舊標準未進行此類細分。

  2. 內(nèi)容與技術(shù)要求更新：雖然具體的技術(shù)細節(jié)變化需要查閱標準全文以獲取詳細信息，但通常情況下，新版標準會根據(jù)技術(shù)進步和行業(yè)實踐發(fā)展，對試驗條件、測試方法、評價指標等方面進行修訂和完善，以確保試驗結(jié)果的準確性和適用性。例如，可能包括對低溫和低氣壓具體參數(shù)的調(diào)整，或引入新的測量技術(shù)和數(shù)據(jù)分析方法。

  3. 規(guī)范性引用文件更新：新標準會引用最新的國家標準、國際標準或技術(shù)規(guī)范，以保證標準的先進性和與國際接軌。這意味著在進行低溫、低氣壓綜合試驗時，所依據(jù)的相關(guān)標準和測試設(shè)備要求將更加現(xiàn)代化和精確。

  4. 試驗程序和操作指導細化：為了提高試驗的可重復性和可操作性，新標準可能會對試驗的準備步驟、執(zhí)行過程、數(shù)據(jù)記錄及分析等環(huán)節(jié)給出更詳細的操作指南和要求。

  5. 適應性增強：考慮到光學和光學儀器技術(shù)的快速發(fā)展，新標準可能會增加對新型光學材料、組件或系統(tǒng)在極端環(huán)境下的測試指導，確保標準能夠覆蓋更廣泛的產(chǎn)品類型和技術(shù)應用。

  6. 語言表述和格式優(yōu)化：按照國家標準制定的最新要求，新標準在文字表述、圖表設(shè)計、章節(jié)編排等方面進行了規(guī)范化處理，使得標準文本更加清晰易懂，便于使用者理解和執(zhí)行。

請注意，以上分析基于標準修訂的一般規(guī)律，具體變動內(nèi)容需參考標準原文。


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  • 被代替
  • 已被新標準代替，建議下載現(xiàn)行標準GB/T 12085.23-2022
  • 2011-01-14 頒布
  • 2011-05-01 實施
?正版授權(quán)
GB/T 12085.5-2010光學和光學儀器環(huán)境試驗方法第5部分：低溫、低氣壓綜合試驗_第1頁
GB/T 12085.5-2010光學和光學儀器環(huán)境試驗方法第5部分：低溫、低氣壓綜合試驗_第2頁
GB/T 12085.5-2010光學和光學儀器環(huán)境試驗方法第5部分：低溫、低氣壓綜合試驗_第3頁
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文檔簡介

ICS37.020N30中華人民共和國國家標準GB/T12085.5—2010代替GB/T12085.5—1989光學和光學儀器環(huán)境試驗方法第5部分：低溫、低氣壓綜合試驗Opticsandopticalinstruments-Environmentaltestmethods-Part5:Combinedcold,lowairpressure(ISO9022-5:1994.MOD)2011-01-14發(fā)布2011-05-01實施中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局發(fā)布中國國家標準化管理委員會

GB/T12085.5—2010前GB/T12085《光學和光學儀器環(huán)境試驗方法》分為以下16個部分：第1部分：術(shù)語、試驗范圍：-第2部分：低溫、高溫、濕熱；-第3部分：機械作用力；第4部分：鹽霧；第5部分：低溫、低氣壓綜合試驗;第6部分：砂塵；-第7部分：滴水、淋雨；第8部分：高壓、低壓、浸沒；-第9部分：太陽輻射；第10部分：振動(正弦)與高溫、低溫綜合試驗；第11部分：長霉;第第12部分：污染；-第13部分：沖擊、碰撞或自由跌落與高溫、低溫綜合試驗：第14部分：露、霜、冰；第15部分：寬帶隨機振動(數(shù)字控制)與高溫、低溫綜合試驗；-第16部分：彈跳或恒加速度與高溫、低溫綜合試驗本部分為GB/T12085的第5部分。本部分修改采用ISO9022-5:1994光學和光學儀器環(huán)境試驗方法第第5部分：低溫、低氣壓綜合試驗》。本部分與ISO9022-5:1994的主要差異如下；-刪除國際標準的序言和前言；根據(jù)ISO9022-5第1章及我國標準用語習慣對標準范圍作了重新編寫：“國際標準本部分"一詞改為"本部分”。本部分代替GB/T12085.5—1989《光學和光學儀器環(huán)境試驗方法低溫、低氣壓綜合試驗》與GB/T12085.5-1989的主要差異為：修改了標準名稱：合并了范圍與試驗目的：增加了環(huán)境試驗的標記名稱,修改了相應標準號的編寫：增加了附錄A的總則及兩種條件試驗方法的說明本部分的附錄A為資料性附錄。本部分由中國機械工業(yè)聯(lián)合會提出，全國光學和光子學標準化技術(shù)委員會(SAC/TC103)歸口。本部分起草單位：寧波永新光學股份有限公司、上海理工大學本部分主要起草人：曾麗珠、章慧賢、馮瓊輝、杜群鋒本部分所代替標準的歷次版本發(fā)布情況為：GB/T12085.5-1989.

GB/T12085.5-2010光學和光學儀器環(huán)境試驗方法第5部分:低溫、低氣壓綜合試驗范圍本部分規(guī)定了低溫與低氣壓綜合試驗的試驗條件、條件試驗、試驗程序及環(huán)境試驗標記本部分適用于在高山地區(qū)或飛機儀表盤上或?qū)椛鲜褂玫墓鈱W儀器、裝有光學零部件的儀器和光學零部件。本試驗目的是研究試樣的光學、熱學、化學和電學等特性受到低溫與低氣壓影響的變化程度,包括測定水的冷凝和凍結(jié)對儀器或零部件的附加影響。2規(guī)范性引用文件下列文件中的條款通過GB/T12085的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文件·其隨后所有的修改單(不包括誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本部分·然而.鼓勵根據(jù)本部分達成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件.其最新版本適用于本部分。GB/T12085.1光學和光學儀器環(huán)境試驗方法第1部分：術(shù)語、試驗范圍（GB/T12085.1一2010.1SO9022-1:1994.MOD)3試驗條件3.1試驗箱(室)必須是空氣流通的低氣壓或是高空模擬試驗箱(室）它可以是低溫、低氣壓的綜合試驗箱（室）也可將低氣壓箱放在低溫室中。試驗箱（室的大小及試樣安放的位置，應能保證所有試樣都處于均勾的環(huán)境條件下。3.2在試驗箱(室)內(nèi)·試樣需先達到規(guī)定的試驗溫度，然后再把箱內(nèi)壓力降到有關(guān)標準的規(guī)定值。3.3按條件試驗方法51(見4.2)進行試驗時,在升壓期間，可用高純氮氣或?qū)υ嚇虞椛浼訜岱椒?，避免試樣上產(chǎn)生結(jié)霜和凝露。3.4試驗箱(室)內(nèi)的溫度和氣壓的變化應緩慢進行,以免引起試樣的損壞3.5試樣的各個部分都達到試驗箱(室)的溫度士3℃之內(nèi)和氣壓達到規(guī)定值時暴露周期開始。散熱試樣應冷卻到試驗溫度,在溫度穩(wěn)定的試驗箱(室)中試樣的溫度變化在1h內(nèi)不大于士1℃時,開始降低氣壓。在降壓過程中.允許試樣自身發(fā)熱.直到試驗壓力達到規(guī)定值時作為暴露時間開始。暴露結(jié)束后壓力和溫度的升高同時開始，箱（室)內(nèi)空氣和試樣的溫度都應測量。溫度傳感器在試樣上的位置應在有關(guān)標準中規(guī)定，用來測量箱(室)內(nèi)空氣溫度的溫度傳感器的位置應在試驗報告中說明。3.6按條件試驗方法50進行試驗后.試樣在壓力升高過程中產(chǎn)生結(jié)霜和凝露的方法應在相關(guān)標準中規(guī)定，可在下述方法中選用：“）在低氣壓條件下凝露的形成在溫度為－20℃～－10℃范圍內(nèi)和氣壓為40kPa

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