標(biāo)準(zhǔn)解讀

《GB/T 16594-2008 微米級長度的掃描電鏡測量方法通則》相比于其前版《GB/T 16594-1996 微米級長度的掃描電鏡測量方法》,主要在以下幾個(gè)方面進(jìn)行了更新和調(diào)整:

  1. 技術(shù)內(nèi)容的更新:2008版標(biāo)準(zhǔn)融入了近年來掃描電鏡技術(shù)及測量理論的新進(jìn)展,對測量原理、儀器校準(zhǔn)、測量條件選擇等方面進(jìn)行了更詳細(xì)的闡述,以適應(yīng)科技進(jìn)步帶來的更高精度和更廣泛的應(yīng)用需求。

  2. 測量精度提升:新標(biāo)準(zhǔn)可能對測量誤差的評估方法和允許范圍進(jìn)行了修訂,旨在提高測量結(jié)果的準(zhǔn)確性和可重復(fù)性。這包括對測量不確定度的計(jì)算方法進(jìn)行了優(yōu)化,確保測量結(jié)果更加可靠。

  3. 適用范圍擴(kuò)展:2008版標(biāo)準(zhǔn)可能擴(kuò)大了適用的樣品類型和測量范圍,涵蓋了更多種類的材料和復(fù)雜結(jié)構(gòu),使得該標(biāo)準(zhǔn)能夠更好地服務(wù)于不同領(lǐng)域的科研與工業(yè)應(yīng)用。

  4. 操作流程規(guī)范:對掃描電鏡的操作步驟和測量流程進(jìn)行了細(xì)化和標(biāo)準(zhǔn)化,增加了對預(yù)處理、數(shù)據(jù)采集、圖像分析等環(huán)節(jié)的具體指導(dǎo),有助于提高實(shí)驗(yàn)操作的一致性和效率。

  5. 質(zhì)量控制加強(qiáng):新標(biāo)準(zhǔn)可能引入或強(qiáng)化了質(zhì)量控制措施,如定期校驗(yàn)設(shè)備、建立標(biāo)準(zhǔn)化的質(zhì)控體系等,確保測量結(jié)果的長期穩(wěn)定性和可靠性。

  6. 術(shù)語與定義更新:根據(jù)學(xué)科發(fā)展,對一些專業(yè)術(shù)語和定義進(jìn)行了修訂或新增,以保持與國際標(biāo)準(zhǔn)和行業(yè)實(shí)踐的接軌,便于技術(shù)人員準(zhǔn)確理解和執(zhí)行。

  7. 參考文獻(xiàn)與案例補(bǔ)充:2008版標(biāo)準(zhǔn)可能加入了最新的參考文獻(xiàn)和技術(shù)案例,為用戶提供更多的實(shí)操指導(dǎo)和理論支持,增強(qiáng)標(biāo)準(zhǔn)的實(shí)用性和指導(dǎo)意義。


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  • 現(xiàn)行
  • 正在執(zhí)行有效
  • 2008-09-18 頒布
  • 2009-05-01 實(shí)施
?正版授權(quán)
GB/T 16594-2008微米級長度的掃描電鏡測量方法通則_第1頁
GB/T 16594-2008微米級長度的掃描電鏡測量方法通則_第2頁
GB/T 16594-2008微米級長度的掃描電鏡測量方法通則_第3頁
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文檔簡介

犐犆犛71.040.99

犖53

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)

犌犅/犜16594—2008

代替GB/T16594—1996

微米級長度的掃描電鏡測量方法通則

犌犲狀犲狉犪犾狉狌犾犲狊犳狅狉犿犲犪狊狌狉犲犿犲狀狋狅犳犾犲狀犵狋犺犻狀犿犻犮狉狅狀狊犮犪犾犲犫狔犛犈犕

20080918發(fā)布20090501實(shí)施

中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局

發(fā)布

中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會

犌犅/犜16594—2008

前言

本標(biāo)準(zhǔn)代替GB/T16594—1996《微米級長度的掃描電鏡測量方法》。

本標(biāo)準(zhǔn)與GB/T16594—1996相比主要變化如下:

———將“測量方法”改為“測量方法通則”;

———將“誤差分析”改為“不確定度評定”;

———增加樣品變形產(chǎn)生的不確定度評定;

———改用實(shí)驗(yàn)方法獲取圖像測量的瞄準(zhǔn)不確定度量值;

———增加“被測長度方向的調(diào)整”附錄。

本標(biāo)準(zhǔn)的附錄A為規(guī)范性附錄,附錄B~附錄D為資料性附錄。

本標(biāo)準(zhǔn)由全國微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會提出。

本標(biāo)準(zhǔn)由全國微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會歸口。

本標(biāo)準(zhǔn)主要起草單位:上海元寶能源技術(shù)有限公司、上海理工大學(xué)、上海市計(jì)量測試技術(shù)研究院、同

濟(jì)大學(xué)、中國船舶重工集團(tuán)公司第725研究所。

本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人:張訓(xùn)彪、盧德生、鄧保慶、丁臻敏、劉悅、高文華、徐國照。

本標(biāo)準(zhǔn)所代替標(biāo)準(zhǔn)的歷次版本發(fā)布情況為:

———GB/T16594—1996。

犌犅/犜16594—2008

微米級長度的掃描電鏡測量方法通則

1范圍

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了用掃描電鏡測量微米級長度的通用原則。適用于測量(0.5~10)μm的長度。

2規(guī)范性引用文件

下列文件中的條款通過本標(biāo)準(zhǔn)的引用而成為本標(biāo)準(zhǔn)的條款。凡是注日期的引用文件,其隨后所有

的修改單(不包括勘誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用本標(biāo)準(zhǔn),然而,鼓勵(lì)根據(jù)本標(biāo)準(zhǔn)達(dá)成協(xié)議的各方研究是

否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本適用于本標(biāo)準(zhǔn)。

JJF1001—1998通用計(jì)量術(shù)語及定義

JJG550—1988掃描電子顯微鏡國家計(jì)量檢定規(guī)程

JJF1059—1999測量不確定度評定與表示

BIPMIECIFCCISOIUPACIUPAPOIML—1993測量不確定度表示指南(GuidetotheEx

pressionofUncertaintyinMeasurement)

3術(shù)語和定義、符號、縮略語

3.1術(shù)語和定義

JJF1001—1998確定的以及下列術(shù)語和定義適用于本標(biāo)準(zhǔn)。

3.1.1

標(biāo)準(zhǔn)長度狊狋犪狀犱犪狉犱犾犲狀犵狋犺

量值足夠穩(wěn)定,經(jīng)過精確標(biāo)定,獲得其測得值和不確定度,并由權(quán)威機(jī)構(gòu)批準(zhǔn)發(fā)布的客觀存在的

長度。

3.1.2

被測長度犿犲犪狊狌狉犲犱犾犲狀犵狋犺

通過測量獲得其測得值和不確定度的客觀存在的長度。

3.1.3

被測物質(zhì)犿犲犪狊狌狉犲犱犿犪狋狋犲狉

承載被測長度的物質(zhì)。

3.1.4

標(biāo)稱放大倍率狀狅犿犻狀犪犾犿犪犵狀犻犳犻犮犪狋犻狅狀

掃描電鏡自身顯示的放大倍率。

3.1.5

瞄準(zhǔn)不確定度犪犻犿狌狀犮犲狉狋犪犻狀狋狔

測量放大的圖像時(shí),瞄準(zhǔn)被測長度的標(biāo)記存在

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