GB/T 17573-1998半導體器件分立器件和集成電路第1部分：總則

ICs31.080.01L40中華人民共和國國家標準GB/T.17573-1998idtIEC747-1:1983半導體器件分立器件和集成電路第1部分：總則SemiconductordevicesDiscretedevicesandintegratedcircuitsPart1:General1998-11-17發(fā)布1999-06-01實施國家質(zhì)量技術監(jiān)督局發(fā)布

GB/T17573-1998次前育eoooooooooooooooooooooIEC前言第I篇IEC747和IEC748標準的范圍和說明11EC747標準IEC748標準第I篇IEC747-1標準的目的和說明百的1。····12說明······第工篇IEC747-2、IEC747-3等標準的目的、說明和要求每個標準的目的對每個標準的說明2···?！ぁ?對每個標準各篇的要求第W篇名詞術語（通用部分1·32物理學術語34器件類型有關額定值和特性的術語……小5脈沖術語和定義……·翰人至輸出脈沖開關時間，通用術語19第V篇文字符號(通用部分電流、電壓和功辜的文字符號221電參數(shù)的文字符號….3小其他量的文字符號·以對數(shù)標度單位dB表示的信號比的文字符號27第篇基本頰定值和特性（通用部分）引膏····28介紹發(fā)布資料的標準格式……·228定義…·3

GB/T17573-1998冷卻條件的定義…·.295推薦的溫度一覽表……推薦的電壓、電流一覽表………·630機械額定值、特性和其他資料32半導體器件管座上引出端位置的標準化………….3.3半導體器件引出端的色碼……………349910用于具有公用封裝的復合半導體器件的通用資料3511產(chǎn)品的離散性和一致性3612印制導線和印制電路36第篇一般測試方法和基準測試方法(通用部分)第1節(jié)一般測試方法36。oooooooo。-般注意事項………·236第2節(jié)基準測試方法基準測試方法導則·1_38電基準測試方法的熱條件……….2_38第亞篇分立器件的接收和可靠性第1節(jié)述·…·第2節(jié)一般原理40電耐久性試驗第3節(jié)40日的和注意事項…………40一般要求…侍珠要求(通用部分)…343第區(qū)篇靜電敏感器件44標志和符號…244對短電壓脈沖敏感的電子器件的試驗方法……….46

GB/T17573-1998三本標準等同采用國際標準IEC747-1：1983《半導體器件分立器件和集成電路第1部分：總則》1991年9月,IEC747-1作了第一次修訂；1993年10月，IEC747-1作了第二次修訂。本標準包括了這兩次修訂的內(nèi)容。由于IEC747-1作了兩次修訂，使圖號的顧序打亂，本標準根據(jù)圖出現(xiàn)的先后順序重新編排了圖本標準的第I篇至第篇是對IEC747和IEC748這兩套標準的范圍、說明和要求，不涉及具體內(nèi)容，為便于和IEC標準等同，仍保留這三篇。但因我國標準給號與IEC不同，不便于敘述，故仍直接使用IEC標準號敘述。IEC標準與國家標準對應如下：IEC747-1GB/T17573-1998IEC747-2GB/T4023-1997IEC747-3GB/T6571-1995IEC748-1GB/T16464-1996IEC748-2GB/T17574-1998本標準由中華人民共和國電子工業(yè)部提出：本標準由全國半導體器件標準化技術委員會歸口本標準由電子工業(yè)部標準化研究所負責起草。本標準主要起草人：王長福、顧振球、吳連、干麗芬

GB/T17573-1998IEC前育1）IEC(國際電工委員會)在技術問題上的正式?jīng)Q議或協(xié)議，是由對這些問題特別關切的國家委員會參加的技術委員會制定的，對所涉及的問題盡可能地代表了國際上的一致意見。2）這些決議或協(xié)議，以推薦標準的形式供國際上使用，并在此意義上為各國家委員會所認可。3）為了促進國際間的統(tǒng)一,IEC希塑各國家委員會在木國條件許可的情況下,采用IEC標準的文本作為其國家標準,IEC標準與相應國家標準之間的差異，應盡可能在國家標準中指明。本標準是國際電工委員會第47技術委員會（半導體器件和集成電路)制定的。1EC747-1標準構成半導體器件通用標準的第一部分,它給出的是通用條文。IEC747-2、1EC747-3等標準中的每一個標準，是給某一種類型的器件提出補充條文。1982年9月在倫敦舉行的第47技術委員會會議上批準了將IEC147和IEC148標準改編成現(xiàn)行的按器件編排的建議。由于所有的組成部分都已預先按“六個月法"或"二個月程序"表決批準，因而無需重新表決。1EC147和IEC148標準中有關集成電路的內(nèi)容已包括在JEC747-1和IEC748標準中。IEC147-5和IEC147-5A標準中有關機械和氣候試驗方法的內(nèi)容，已包括在IEC749標準中

中華人民共和國國家標準半導體器件分立器件和集成電路GB/T17573-1998idtIEc747-1:1983第1部分：總則SemiconductordevicesDiscretedevicesandintegratedcircuitsPart1:General第I篇IEC747和IEC748標準的范圍和說明1IEC747標準1.1范圍IEC747標準包括如下內(nèi)容：分立器件和集成電路的通用標準;-為完善分立器件標準用的補充標準1.2說明IEC747標準由單行本IEC747-1、IEC747-2等幾個標準組成。通過發(fā)布補充件，例如IEC747-1A，來跟上時代的發(fā)展。2IEC748標準2.1范圍IEC748標準應與IEC747-1標準一起使用。IEC748標準給出了有關集成電路的標準，2.2！說明IEC748標準由單行本IEC748-1.IEC748-2等幾個標準組成，通過發(fā)布補充件，例如IEC748-1A來限上時代的發(fā)展。第工篇IEC747-1標準的目的和說明1目的-提供有關IEC747和IEC748標準（見第篇)的范圍和說明的通用內(nèi)容：提