標準解讀

《GB/T 23886-2009 珍珠珠層厚度測定方法 光學(xué)相干層析法》是一項國家標準，旨在提供一種基于光學(xué)相干層析技術(shù)（OCT）來測量珍珠珠層厚度的方法。該標準適用于各種類型和大小的珍珠樣品，包括天然珍珠與養(yǎng)殖珍珠。其主要目的是為了保證珍珠質(zhì)量評價的一致性和準確性。

標準中詳細規(guī)定了使用OCT技術(shù)進行測量的具體步驟、儀器要求以及數(shù)據(jù)處理方法。首先，在準備階段，需要確保待測珍珠表面清潔無污染，并放置于適當?shù)臏y試環(huán)境中。接著，利用OCT設(shè)備對珍珠進行掃描，通過調(diào)整焦距使圖像達到最佳清晰度。在此過程中，重要的是要保持珍珠穩(wěn)定不動，以獲得準確的數(shù)據(jù)。OCT能夠生成高分辨率的橫截面圖像，從而直觀地顯示出珍珠內(nèi)部結(jié)構(gòu)及其各層邊界。

根據(jù)所得圖像，可以識別出珍珠核與外層之間的分界線，進而計算出珠層的實際厚度。此過程可能涉及手動或自動化的邊界檢測算法。最后，依據(jù)多次測量結(jié)果取平均值作為最終的珠層厚度報告值，并按照標準給出的精度要求來評估測量誤差范圍。

整個測量流程強調(diào)了實驗條件控制的重要性，比如環(huán)境溫度、濕度等因素都可能影響到測量結(jié)果的準確性。此外，對于不同類型的珍珠，可能還需要考慮特定的操作指南或參數(shù)設(shè)置建議，以確保測試的有效性。


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  • 正在執(zhí)行有效
  • 2009-06-01 頒布
  • 2010-01-01 實施
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文檔簡介

犐犆犛３９．０６０

犇５９

中華人民共和國國家標準

犌犅／犜２３８８６—２００９

珍珠珠層厚度測定方法

光學(xué)相干層析法

犇犲狋犲狉犿犻狀犪狋犻狅狀狅犳狀犪犮狉犲狋犺犻犮犽狀犲狊狊—

犗狆狋犻犮犪犾犮狅犺犲狉犲狀犮犲狋狅犿狅犵狉犪狆犺狔

２００９０６０１發(fā)布２０１００１０１實施

中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局

發(fā)布

中國國家標準化管理委員會

書

犌犅／犜２３８８６—２００９

前言

本標準由中華人民共和國國土資源部提出。

本標準由全國珠寶玉石標準化技術(shù)委員會歸口。

本標準起草單位：國家珠寶玉石質(zhì)量監(jiān)督檢驗中心、清華大學(xué)、深圳市莫廷影像技術(shù)有限公司。

本標準主要起草人：張蓓莉、柯捷、沈美冬、魏然、曾楠、何永紅、馬輝、王輝。

本標準為首次發(fā)布。

Ⅰ

書

犌犅／犜２３８８６—２００９

珍珠珠層厚度測定方法

光學(xué)相干層析法

１范圍

本標準規(guī)定了使用光學(xué)相干層析技術(shù)無損測量珍珠珠層厚度的方法。

本標準適用于珍珠珠層厚度的測定。

２規(guī)范性引用文件

下列文件中的條款通過本標準的引用而成為本標準的條款。凡是注日期的引用文件，其隨后所有

的修改單（不包括勘誤的內(nèi)容）或修訂版均不適用于本標準，然而，鼓勵根據(jù)本標準達成協(xié)議的各方研究

是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本適用于本標準。

ＧＢ／Ｔ１６５５２珠寶玉石名稱

ＧＢ／Ｔ１６５５３珠寶玉石鑒定

ＧＢ／Ｔ１８７８１珍珠分級

３術(shù)語和定義

下列術(shù)語和定義適用于本標準。

３．１

光學(xué)相干層析狅狆狋犻犮犪犾犮狅犺犲狉犲狀犮犲狋狅犿狅犵狉犪狆犺狔（犗犆犜）

一種對光的背向散射信號經(jīng)過相干處理后獲得透明或半透明物質(zhì)內(nèi)部結(jié)構(gòu)圖像的成像技術(shù)。

３．２

相干光犮狅犺犲狉犲狀狋犾犻犵犺狋

兩束滿足相干條件的光。

３．３

低相干光犾狅狑犮狅犺犲狉犲狀狋犾犻犵犺狋

相干長度短的相干光。

３．４

背向散射犫犪犮犽狊犮犪狋狋犲狉犻狀犵

光波進入物體后產(chǎn)生的向光源方向傳播的散射，也稱后散射。

３．５

光程狅狆狋犻犮犪犾狆犪狋犺

光在媒質(zhì)中所經(jīng)歷的幾何路徑折合成光在真空中的路程，光程的大小等于光在媒質(zhì)中經(jīng)歷的幾何

路程與媒質(zhì)折射率的乘積。

４原理

利用光學(xué)相干層析儀

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