標準解讀

《GB/T 5095.5-1997 電子設備用機電元件 基本試驗規(guī)程及測量方法 第5部分：撞擊試驗(自由元件)、靜負荷試驗(固定元件)、壽命試驗和過負荷試驗》相較于《GB 5095.5-1986》，主要在以下幾個方面進行了調(diào)整或更新：

  1. 標準編號的變化。新標準的編號由GB變更為GB/T，表明該標準從強制性國家標準轉變?yōu)橥扑]性國家標準。

  2. 在內(nèi)容上，《GB/T 5095.5-1997》對原有試驗項目如撞擊試驗、靜負荷試驗、壽命試驗以及過負荷試驗的具體要求進行了細化，并增加了更多關于如何準確執(zhí)行這些測試的指導信息。例如，在撞擊試驗中可能更加詳細地定義了沖擊波形、頻率等參數(shù)；對于靜負荷試驗，則可能明確了不同條件下所需施加的最大力值及其作用時間；此外，還可能為壽命試驗設定了更嚴格的環(huán)境條件（如溫度范圍）和循環(huán)次數(shù)以確保測試結果的一致性和可靠性。

  3. 新版標準可能引入了一些新的技術術語或者改進了舊版中的某些定義，使得表述更加科學準確。同時，也有可能根據(jù)行業(yè)發(fā)展趨勢和技術進步情況，刪除了不再適用的部分內(nèi)容。

  4. 針對安全性和環(huán)保性要求，《GB/T 5095.5-1997》或許加強了相關方面的規(guī)定，比如限制使用有害物質(zhì)的規(guī)定，這反映了當時社會對環(huán)境保護意識的提高以及法律法規(guī)的要求變化。


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  • 現(xiàn)行
  • 正在執(zhí)行有效
  • 1997-12-26 頒布
  • 1998-10-01 實施
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GB/T 5095.5-1997電子設備用機電元件基本試驗規(guī)程及測量方法第5部分：撞擊試驗(自由元件)、靜負荷試驗(固定元件)、壽命試驗和過負荷試驗_第1頁
GB/T 5095.5-1997電子設備用機電元件基本試驗規(guī)程及測量方法第5部分：撞擊試驗(自由元件)、靜負荷試驗(固定元件)、壽命試驗和過負荷試驗_第2頁
GB/T 5095.5-1997電子設備用機電元件基本試驗規(guī)程及測量方法第5部分：撞擊試驗(自由元件)、靜負荷試驗(固定元件)、壽命試驗和過負荷試驗_第3頁
GB/T 5095.5-1997電子設備用機電元件基本試驗規(guī)程及測量方法第5部分：撞擊試驗(自由元件)、靜負荷試驗(固定元件)、壽命試驗和過負荷試驗_第4頁

文檔簡介

ICS31.220L23中華人民共和國國家標準GB/T5095.5一1997idtIEC512-5:1992電子設備用機電元件基本試驗規(guī)程及測量方法第5部分:撞擊試驗(自由元件）、靜負荷試驗(固定元件)壽命試驗和過負荷試驗ElectromechanicalcomponentsforelectronicequipmentBasictestingproceduresandmeasuringmethodsPart5：1mpacttests（freecomponents）.staticloadtests（fixedcomponents）,endurancetestsandoverloadtests1997-12-26發(fā)布1998-10-01實施國家技術監(jiān)督局發(fā)布

GB/T5095.5-1997前本標準等同采用IEC512-5:1992《電子設備用機電元件基本試驗規(guī)程及測量方法第5部分：撞擊試驗(自由元件)、靜負荷試驗(固定元件）、壽命試驗和過負荷試驗》,是對GB5095.5—86進行的第-歡修訂。本標準由中華人民共和國電子工業(yè)部提出本標準由全國電子設備用機電元件標準化技術委員會歸口。本標準由電子工業(yè)部標準化研究所負責起草本標準主要起草人：余玉芳、汪其龍、張菊華、王玉堂。

GB/T5095.5-1997IEC前育1）IEC(國際電工委員會)在技術問題上的正式?jīng)Q議或協(xié)議，是由對這些間題特別關切的國家委員會參加的技術委員會制定的，對所莎及的間題盡可能地代表了國際上的一致意見。2）這些決議或協(xié)議以標準，技術報告或導則的形式發(fā)布，以推薦的形式供國際上使用,并在此意義上，為各國家委員會認可。3）為了促進國際上的統(tǒng)一，各IEC國家委員會有責任使其國家和地區(qū)標準盡可能采用IEC標準IEC標準與相應國家或地區(qū)標準之間的任何差異應在國家或地區(qū)標準中指明。國際標準IEC512-4由IEC/TC48(電子設備用機電元件和機械結構)制定的。本標準第二版取代了1977年出版的第一版及其第一次補充IEC512-5A(1980年)及其修訂1(1987年)以及第二次補充IEC512-5B(1981年)。本標準與第1部分：總則(IEC512-1:1984)一同使用、整套標準包括的其他試驗項目在IEC512-1的附錄A中給出了總的計劃。這些試驗項目在制定后就發(fā)布。本標準預定取代IEC130-1《頻率低于3MHz連接器第1部分：一般要求和試驗方法》中相應的試驗項目。本標準文本以第一版IEC512-5(1977年）第一次補充IEC512-5A(1980年)及其修訂1(1987年)、第二次補充IEC512-5B(1981年)和下列文件為依據(jù);DIS表決報告48（C0）30248（C0)30848（C031448（C0）324表決批準本標準的詳細資料可在上表列出的表決報告中查閱，

中華人民共和國國家標準電子設備用機電元件基本試驗規(guī)程及測量方法第5部分：撞擊試驗(自由元件）靜負荷試驗（固定元件）壽命試驗和過負荷試驗CBTElectromechanicalcomponentsforelectronicequipment代替GB5095.5-86BasictestingproceduresandmeasuringmcthodsPart5：mpacttests（freecomponents）staticIoadtests（fixedcomponents）.endurancetestsandoverloadtests第0篇總0.1范圍本標準規(guī)定的試驗方法，在TC48范圍內(nèi)·的電子設備用機電元件的詳細規(guī)范要求時，應給以采用。類似元件的詳細規(guī)范要求時，也可以采用。0.2引用標準下列標準所包含的條文，通過在本標準中引用而構成為本標準的條文。本標準出版時，所示版本均為有效。所有標準都會被修訂，使用本標準的各方應探討使用下列標準最新版本的可能性。GB/T5095.1—1997電子設備用機電元件t基本試驗規(guī)程及測最方法第1部分：總則(idtIEC5122:1984）IEC65:1985電網(wǎng)電源供電的家用和類似一般用途的電子及有關設備的安全要求IEC68-2-13:1983環(huán)境試驗規(guī)程第2部分：試驗一試驗M:低氣壓試驗IEC130-1:1988頻率低于3MHz連接器—第1部分：一般要求和測量方法*TC48的范圍：制定用于通信設備和采用類似技術的電子裝置的具有機電連接和開關功能的相關元件的

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