GB/T 6463-1986金屬和其他無機(jī)覆蓋層厚度測量方法評述

UDC669.058:531.717.1中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)GB6463-86金屬和其它無機(jī)覆蓋層厚度測量方法評述Metallicandotherccoatingsrnon-organicReviewfmeasurementofmethods0fthicknesss0f1986-06-11發(fā)布1987-05-01實(shí)施家標(biāo)準(zhǔn)批準(zhǔn)

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)UDC669.058:531金屬和其它無機(jī)覆蓋層.717.1GB6463-86厚度測量方法評述Metallicandothernon-organiccoatings-Reviewofmethodsofmeasurementofthickness本標(biāo)準(zhǔn)評述了金屬或非金屬基體上的金屬和其它無機(jī)覆蓋層厚度的測最方法測量方法分為無損法和破壞法兩類。本標(biāo)準(zhǔn)介紹了不同方法的工作原理，允許測量誤差以及某些儀器測量方法的適用范圍。標(biāo)準(zhǔn)中列出的方法，只包括國家標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定的一些試驗(yàn)方法，不包括某些特殊情況下使用的方法。本標(biāo)準(zhǔn)可以作為選擇金屬和其它無機(jī)覆蓋層厚度測量方法的依據(jù)。本標(biāo)準(zhǔn)等效采用國際標(biāo)準(zhǔn)ISO3882一—1986《金屬和其它無機(jī)覆蓋層一厚度測量方法評述》1測量方法1.1無損法1.1.1磁性法本方法使用的儀器有兩種類型：一種是測量一磁體與基體金屬之間的磁引力，該磁引力由于覆蓋層的存在而受到影響；另一種是測量通過覆蓋層和基體金屬磁通路的磁阻。本方法的測量誤差通常小于待測厚度的10%或1.5m兩個(gè)數(shù)值中較大的一個(gè)數(shù)實(shí)際上，本方法只用于測量磁性基體上非磁性覆蓋層的厚度和磁性或非磁性基體上電鍍鎳層的厚國家標(biāo)準(zhǔn)（B4956—85《磁性金屬基體上非磁性覆蓋層厚度測鼠磁性方法》，說明了使用磁性測厚儀，無損測量磁性基體金屬上非磁性（包括釉瓷和塘瓷）覆蓋層厚度的方法和要求。1.1.2潤流法本方法使用的儀器其工作原理是，儀器的測頭裝置產(chǎn)生了一個(gè)高頻磁場，使置于測頭下的導(dǎo)體產(chǎn)生渦流，渦流的振幅是測頭和導(dǎo)體之間的非導(dǎo)電覆蓋層厚度的函數(shù)。本方法主要用于測量非磁性金屬上非導(dǎo)電蓋層的厚度以及非導(dǎo)體上單層金屬覆蓋層的厚度。本方法的測量誤差通常小于待測厚度的10%或1.5um兩個(gè)數(shù)值中較大的一個(gè)數(shù)。國家標(biāo)準(zhǔn)GB4957一85《非磁性金屬些體上非導(dǎo)電覆蓋層厚度測量渦流方法》，說明了使用渦流測厚儀無損測最非磁性基體金屬上非導(dǎo)電覆蓋層厚度的方法和要求。1.1.3X射線光譜測定法本方法利用發(fā)射和吸收義射線光譜的裝置確定金屬覆蓋層的厚度。其儀器的工作原理是，使X射線照射到一定面積的覆蓋層表面時(shí)，覆蓋層要發(fā)射二次射線，或者是由基體發(fā)射而被覆蓋層減弱了的二次射線。該射線的強(qiáng)度可以被測量到。利用X射線的二次射線強(qiáng)度和覆蓋層厚度之間存在的一定關(guān)系，確定做蓋層的厚度。X射線法在一般情況下是適用的，但在下述情況下此精度偏低：當(dāng)基體金屬中存在慢蓋層的成分或者置蓋層中存在基體金屬成分時(shí)