GB/T 6463-2005金屬和其他無機覆蓋層厚度測量方法評述

ICS25.220.20A29中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T6463-2005/ISO3882：2003代替GB/T6463-1986金屬和其他無機覆蓋層厚度測量方法評述Metallicandotherinorganiecoatings-Reviewofmethodsofmeasurementofthickness（ISO3882:2003(E).IDT)2005-06-23發(fā)布2005-12-01實施中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局愛布中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會

GB/T6463-2005/1S03882：2003三次前言引言1范圍2規(guī)范性引用文件3術(shù)語和定義4非破壞法5破壞法參考文獻(xiàn)·

GB/T6463-2005/ISO3882:2003本標(biāo)準(zhǔn)是對GB/T6463-1986標(biāo)準(zhǔn)的修訂，等同采用ISO3882：2003（E)《金屬和其他無機覆蓋層厚度測量方法評述》。本標(biāo)準(zhǔn)按GB/T1.1的編輯要求，根據(jù)ISO3882標(biāo)準(zhǔn)重新起草。本標(biāo)準(zhǔn)對ISO3882作了如下修改：-取消了ISO3882前言，重新起草了本標(biāo)準(zhǔn)前言;用"本標(biāo)準(zhǔn)"代替“本國際標(biāo)準(zhǔn)”；-為便于使用,引用了部分采用國際標(biāo)準(zhǔn)的我國標(biāo)準(zhǔn)本標(biāo)準(zhǔn)由中國機械工業(yè)聯(lián)合會提出。本標(biāo)準(zhǔn)由全國金屬與非金屬覆蓋層標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會歸口。本標(biāo)準(zhǔn)起草單位：機械工業(yè)表面覆蓋層產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)督檢測中心。本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人：鐘立暢、姜新華、宋智玲本標(biāo)準(zhǔn)所代替標(biāo)準(zhǔn)的歷次版本發(fā)布情況為：-GB/T6463-1986。

GB/T6463-2005/IS03882：2003本標(biāo)準(zhǔn)概述了用于測量覆蓋層厚度的各種方法，并敘述了它們的工作原理。測量覆蓋層厚度的方法可以是破壞性的或非破壞性的(見表1)。表2給出的信息在選擇適合于特定用途的方法上有助于厚度的測量。對所有方法起作用的儀器.制造商應(yīng)在說明書中加以說明。使用不同方法測出的厚度，取決于覆蓋層材料、覆蓋層厚度、基體和使用的儀器(見表3)例如,雖然用X射線光譜法能測量鉻覆蓋層的厚度，但如果厚度大于20“m.測量則不準(zhǔn)確。同樣,用磁性法能測量磁性鋼鐵基體上金覆蓋層的厚度,但大多數(shù)磁性測厚儀不能精確地測量厚度小于2m的金覆蓋層。適于覆蓋層厚度測量的仲裁方法，應(yīng)進行必要的商議

GB/T6463-2005/ISO3882:2003金屬和其他無機覆蓋層厚度測量方法評述范圍本標(biāo)準(zhǔn)評述了金屬和非金屬基體上的金屬和其他無機覆蓋層厚度的測量方法（見表1、表2、表3）這些方法僅限于在國家標(biāo)準(zhǔn)中已經(jīng)規(guī)定或待規(guī)定的試驗，不包括某些特殊用途的試驗。表門蓋層厚度測量方法羊破壞法雙光來顯微鏡（光切)法（GB/T8015.2）顯微鏡(光學(xué))法(GB/T6462)磁性法（GB/T4956和GB/T13744)裴索多光來干涉法（ISO3868°）渦流法（GB/T4957）輪腳儀（觸針）法（GB/T11378°）X射線光譜方法（GB/T16921)掃描電子顯微鏡法（ISO9220）溶解法：B射線反向散射法（ISO3543）重量（剝離和稱重）法和重量（分析）法（ISO10111）庫侖法（GB/T4955)在某些應(yīng)用中可能是破壞的在某些應(yīng)用中可能是非破壞的。2！規(guī)范性引用文件下列文件中的條款通過本標(biāo)準(zhǔn)的引用而成為本標(biāo)準(zhǔn)的條款。凡是注日期的引用文件,其隨后所有的修改單(不包括勒誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本標(biāo)準(zhǔn).然而，鼓勵根據(jù)本標(biāo)準(zhǔn)達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本適用于本標(biāo)準(zhǔn)。GB/T4955金屬覆蓋層覆蓋層厚度測量陽極溶解庫侖法(idtISO2177)GB/T4956磁性基體上非磁性覆蓋層覆蓋層厚度測量磁性法(ISO2178.IDT)GB/T4957非磁性基體金屬上非導(dǎo)電覆蓋層覆蓋層厚度測量渦流法(ISO236O.IDT）GB/T6462金屬和氧化物覆蓋層厚度測量顯微鏡法(ISO1463.IDT)GB/T8015.2鋁及鋁合金陽極氧化膜厚度的試驗方法光束顯微鏡法(idtISO2128)GB/T11378金屬覆蓋層覆蓋層厚度測量輪席儀法(ISO4518,IDT)GB/T12334金屬和其他無機覆蓋層關(guān)于厚度測量的定義和一般規(guī)則(idtISO2064)GB/T13744磁性和非磁性基體上鎳電鍍層厚度的測量(idtISO2361)GB/T16921金屬覆蓋層厚度測量X射線光譜方法(eqvISO3497)ISO3543金屬和非金屬覆蓋層覆蓋層厚度測量8射線反向散射法ISO3868金屬和其他無機覆蓋層覆蓋層厚度測量裴索多光束干