GB/T 6463-2005金屬和其他無機(jī)覆蓋層厚度測量方法評述

ICS25.220.20A29中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T6463-2005/ISO3882：2003代替GB/T6463-1986金屬和其他無機(jī)覆蓋層厚度測量方法評述Metallicandotherinorganiecoatings-Reviewofmethodsofmeasurementofthickness（ISO3882:2003(E).IDT)2005-06-23發(fā)布2005-12-01實(shí)施中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局愛布中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會

GB/T6463-2005/1S03882：2003三次前言引言1范圍2規(guī)范性引用文件3術(shù)語和定義4非破壞法5破壞法參考文獻(xiàn)·

GB/T6463-2005/ISO3882:2003本標(biāo)準(zhǔn)是對GB/T6463-1986標(biāo)準(zhǔn)的修訂，等同采用ISO3882：2003（E)《金屬和其他無機(jī)覆蓋層厚度測量方法評述》。本標(biāo)準(zhǔn)按GB/T1.1的編輯要求，根據(jù)ISO3882標(biāo)準(zhǔn)重新起草。本標(biāo)準(zhǔn)對ISO3882作了如下修改：-取消了ISO3882前言，重新起草了本標(biāo)準(zhǔn)前言;用"本標(biāo)準(zhǔn)"代替“本國際標(biāo)準(zhǔn)”；-為便于使用,引用了部分采用國際標(biāo)準(zhǔn)的我國標(biāo)準(zhǔn)本標(biāo)準(zhǔn)由中國機(jī)械工業(yè)聯(lián)合會提出。本標(biāo)準(zhǔn)由全國金屬與非金屬覆蓋層標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會歸口。本標(biāo)準(zhǔn)起草單位：機(jī)械工業(yè)表面覆蓋層產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)督檢測中心。本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人：鐘立暢、姜新華、宋智玲本標(biāo)準(zhǔn)所代替標(biāo)準(zhǔn)的歷次版本發(fā)布情況為：-GB/T6463-1986。

GB/T6463-2005/IS03882：2003本標(biāo)準(zhǔn)概述了用于測量覆蓋層厚度的各種方法，并敘述了它們的工作原理。測量覆蓋層厚度的方法可以是破壞性的或非破壞性的(見表1)。表2給出的信息在選擇適合于特定用途的方法上有助于厚度的測量。對所有方法起作用的儀器.制造商應(yīng)在說明書中加以說明。使用不同方法測出的厚度，取決于覆蓋層材料、覆蓋層厚度、基體和使用的儀器(見表3)例如,雖然用X射線光譜法能測量鉻覆蓋層的厚度，但如果厚度大于20“m.測量則不準(zhǔn)確。同樣,用磁性法能測量磁性鋼鐵基體上金覆蓋層的厚度,但大多數(shù)磁性測厚儀不能精確地測量厚度小于2m的金覆蓋層。適于覆蓋層厚度測量的仲裁方法，應(yīng)進(jìn)行必要的商議

GB/T6463-2005/ISO3882:2003金屬和其他無機(jī)覆蓋層厚度測量方法評述范圍本標(biāo)準(zhǔn)評述了金屬和非金屬基體上的金屬和其他無機(jī)覆蓋層厚度的測量方法（見表1、表2、表3）這些方法僅限于在國家標(biāo)準(zhǔn)中已經(jīng)規(guī)定或待規(guī)定的試驗(yàn)，不包括某些特殊用途的試驗(yàn)。表門蓋層厚度測量方法羊破壞法雙光來顯微鏡（光切)法（GB/T8015.2）顯微鏡(光學(xué))法(GB/T6462)磁性法（GB/T4956和GB/T13744)裴索多光來干涉法（ISO3868°）渦流法（GB/T4957）輪腳儀（觸針）法（GB/T11378°）X射線光譜方法（GB/T16921)掃描電子顯微鏡法（ISO9220）溶解法：B射線反向散射法（ISO3543）重量（剝離和稱重）法和重量（分析）法（ISO10111）庫侖法（GB/T4955)在某些應(yīng)用中可能是破壞的在某些應(yīng)用中可能是非破壞的。2！規(guī)范性引用文件下列文件中的條款通過本標(biāo)準(zhǔn)的引用而成為本標(biāo)準(zhǔn)的條款。凡是注日期的引用文件,其隨后所有的修改單(不包括勒誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本標(biāo)準(zhǔn).然而，鼓勵根據(jù)本標(biāo)準(zhǔn)達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本適用于本標(biāo)準(zhǔn)。GB/T4955金屬覆蓋層覆蓋層厚度測量陽極溶解庫侖法(idtISO2177)GB/T4956磁性基體上非磁性覆蓋層覆蓋層厚度測量磁性法(ISO2178.IDT)GB/T4957非磁性基體金屬上非導(dǎo)電覆蓋層覆蓋層厚度測量渦流法(ISO236O.IDT）GB/T6462金屬和氧化物覆蓋層厚度測量顯微鏡法(ISO1463.IDT)GB/T8015.2鋁及鋁合金陽極氧化膜厚度的試驗(yàn)方法光束顯微鏡法(idtISO2128)GB/T11378金屬覆蓋層覆蓋層厚度測量輪席儀法(ISO4518,IDT)GB/T12334金屬和其他無機(jī)覆蓋層關(guān)于厚度測量的定義和一般規(guī)則(idtISO2064)GB/T13744磁性和非磁性基體上鎳電鍍層厚度的測量(idtISO2361)GB/T16921金屬覆蓋層厚度測量X射線光譜方法(eqvISO3497)ISO3543金屬和非金屬覆蓋層覆蓋層厚度測量8射線反向散射法ISO3868金屬和其他無機(jī)覆蓋層覆蓋層厚度測量裴索多光束干