• 現(xiàn)行
  • 正在執(zhí)行有效
  • 1996-07-09 頒布
  • 1997-01-01 實施
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GB/T 8976-1996膜集成電路和混合膜集成電路總規(guī)范_第1頁
GB/T 8976-1996膜集成電路和混合膜集成電路總規(guī)范_第2頁
GB/T 8976-1996膜集成電路和混合膜集成電路總規(guī)范_第3頁
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文檔簡介

ICS.31.200155中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T8976-1996IEC748-20-1988QC763000膜集成電路和混合膜集成電路總規(guī)范Genericspecificationforfiimintegratedcircuitsandhybridfilmintegratedcircuits1996-07-09發(fā)布1997-01-01實施國家技術(shù)監(jiān)督局發(fā)布

CB/T8976-19961范圍、目的和分類………………1.1范圍1.2目的1.3F&HFICs的技術(shù)分類2.1優(yōu)先順序2.2有關(guān)文件2.3單位和符號2.4術(shù)語·………2.5標(biāo)準(zhǔn)值和優(yōu)先值2.6標(biāo)志·……·3質(zhì)量評定程序3.1,制造的初始階段3.22制造工序和轉(zhuǎn)包3.3制造廠的批準(zhǔn)3.4膜集成電路和混合膜集成電路的批準(zhǔn)3.5鑒定批準(zhǔn)3.6能力批準(zhǔn)3.7放行批合格記錄·3.8延遲交貨……3.9經(jīng)受破壞性或非破壞性試驗的F8.HFICs的交貨3.10交貨的補充程序…·3.11補充內(nèi)容·…………·4試驗和測量程序……4.1總則………·4.2試驗的標(biāo)準(zhǔn)條件4.3目檢…·4.4電測量程序……4.5環(huán)境試驗程序

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)膜集成電路和混合膜集成電路總規(guī)范CB/T8976-1996IEC748-20-1988GenericspeciricationforfilmintegratedQC763000cireuitsandhybridfilmintegratedcircuits代替GB8976-88本規(guī)范等效采用國際標(biāo)準(zhǔn)IEC748-20/QC763000(1988)《膜集成電路和混合膜集成電路總規(guī)范》。范圍、目的和分類范圍本總規(guī)范適用于膜集成電路和混合膜集成電路(F&.HFICs),包括GB/T16464—1996第W章第2.4條中的無源和有源的F&HFICs.本規(guī)范適用于供用戶繼續(xù)加工的半成品F&HFICs,也適用于裝有一個以上芯片的片式載體電路,而且這些芯片應(yīng)作為分立的單元用膜互連技術(shù)互連起來。本規(guī)范不包括印制電路板,但適用于包括印制電路板的F&HFICs.1.22目的本規(guī)范規(guī)定了質(zhì)量評定程序以及電氣、氣候、機械和耐久性試驗方法、本規(guī)范概述了使用鑒定批準(zhǔn)程序或能力批準(zhǔn)程序時對產(chǎn)品放行提出的要求。這些程序的要求分別在3.5條和3.6條中給出。1.3FB.HFICs的技術(shù)分類F&.HFICs按其結(jié)構(gòu)和制造工藝分類如表1。表11)厚膜2)海膜3)其他1)無源薄膜電路和無源厚膜電路2)有源薄膜電路和有源厚膜電路電路結(jié)構(gòu)3)混合膜集成電路4)多基片組合0)無外貼元件1)各種類型的無源元件和(或)已封裝的有源器件2)各種類型的無源元件和有源器件,包括未封裝的半導(dǎo)體芯

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