地球物理測井

地球物理測井教材

目錄

緒論（2學時）....................................2

第一章自然電位測井（2學時）..........................6

第二章電阻率測井（8學時）...........................11

第三章聲波測井（6學時）............................26

第四章放射性測井（6學時）...........................39

第五章工程測井方法（6學時D..................................................61

第六章生產(chǎn)測井（8學時）............................82

第七章測井資料綜合解釋（10學時）...................93

緒論（2學時）

一、測井學和測井技術(shù)的發(fā)展

測井學是一個邊緣科學，是應(yīng)用地球物理的一個分支，它是用物理學的原理解決地

質(zhì)學的問題，并已在石油、天然氣、金屬礦、煤田、工程及水文地質(zhì)等許多方面得到應(yīng)

用。30年代首先開始電阻率測井，到50年代普通電阻率發(fā)展的比較完善，當時利用一套

長短不同的電極距進行橫向測井，用以較準確地確定地層電阻率。60年代聚焦測井理論

得以完善，孔隙度形成了系列測井，各類聚焦電阻率測井儀器也得到了發(fā)展，精度也相

應(yīng)得以提高。測井資料的應(yīng)用也有了長足的發(fā)展，隨著計算機的應(yīng)用，車載計算機和數(shù)

字測井儀也被廣泛的應(yīng)用。到現(xiàn)在又發(fā)展了各種成像測井技術(shù)。

二、測井技術(shù)在勘探及開發(fā)中的應(yīng)用

無論是金屬礦床、非金屬礦床、石油、天然氣、煤等，在勘探過程中在地殼中只要

富集，就具有一定特點的物理性質(zhì)，那我們就可以用地球物理測井的方法檢測出來。特

別是石油和天然氣，往往埋藏很深，只要具有儲集性質(zhì)的巖石，就有可能儲藏有流體礦

物。它不用像挖煤一樣。面是只要打一口井，確定出那段地層能出油，打開地層就可以

開采。由于用測井資料可以解決巖性，即什么礦物組成的巖石，它的孔隙度如何，滲透

率怎么樣，含油氣飽和度大小。沉積時是處于什么環(huán)境，是深水、淺水、還是急流河相,

有無有機碳，有沒有生油條件，能不能富集。在勘探過程中，可以解決生油巖，蓋層問

題，也可以對儲層給予評價，找到目的層，解釋出油、氣、水。

在油氣田開發(fā)過程中，用測井可以監(jiān)測生產(chǎn)動態(tài)，解決工程方面的問題。井中產(chǎn)出

的流體性質(zhì)，是油還是水，出多少水，油水比例如何，用流體密度，持水率都可以說明。

注水開發(fā)過程中，分層的注入量，有沒有竄流，用注入剖面測井都可以解決。生產(chǎn)過程

中，套管是否變形，有沒有損壞、脫落或變位，管外有無竄槽，射孔有沒有射開，都需

要測井來解決。對于設(shè)計開發(fā)方案，計算油層有效厚度，尋找剩余油富集區(qū)都離不開測

井。測井對石油天然氣勘探開發(fā)來說，自始至終都是不可缺少的，是必要的技術(shù)。它服

務(wù)于勘探開發(fā)的全過程。

三、儲層分類及需要確定的參數(shù)

1.儲集層的分類及特點

石油、天然氣和有用的流體都是儲存在儲集層中，儲集層是指具有一定儲集空間的，

并彼此相互連通，存在一定滲透能力的的巖層。儲層性質(zhì)分析與評價是測井解釋的主要

任務(wù)。

1）碎屑巖儲集層

2

它包括礫巖、砂巖、粉砂巖和泥質(zhì)粉砂巖等。世界上有40%的油氣儲集在碎屑巖儲

集層。碎屑巖由礦物碎屑，巖石碎屑和膠結(jié)物組成。最常見的礦物碎屑為石英，長石和

其他碎屑顆粒；膠結(jié)物有泥質(zhì)、鈣質(zhì)、硅質(zhì)和鐵質(zhì)等。控制巖石儲集性質(zhì)是以粒徑大小、

分選好壞、磨圓度以及膠結(jié)物的成分，含量和膠結(jié)形式有關(guān)。一般粒徑大，分選和磨圓

度好，膠結(jié)物少，則孔隙空間大，連通性好，為儲集性質(zhì)好。

2)碳酸鹽巖儲集層

世界上油氣50%的儲量和60%的產(chǎn)量屬于這一類儲集層。我國華北震旦、寒武及奧

陶系的產(chǎn)油層，四川的震旦系，二疊系和三疊系的油氣層，均屬于這類儲層。

碳酸鹽巖屬于水化學沉積的巖石，主要的礦物有石灰石、白云石和過渡類型的泥灰

巖。它的儲集空間有晶間孔隙、粒間孔隙、酶狀或鐘孔狀孔隙、生物腔體孔隙、裂縫、

溶洞等。從儲層評價和測井解釋的觀點出發(fā)，將碳酸鹽巖儲集層的儲集空間歸為二類：

一類為原生孔隙，如晶間、粒間、細狀孔隙等。另一類為次生孔隙如裂縫、溶洞等。前

者孔隙較小分布均勻。后者孔隙較大，形狀不規(guī)則，分布不均勻。按孔隙結(jié)構(gòu)特點碳酸

鹽巖儲集層可分為三類：孔隙型、裂縫型和溶洞型等。

(1)孔隙型碳酸鹽巖儲集層：它是粒間、晶間、生物腔體孔隙等，還有石灰?guī)r白云巖

化后重結(jié)晶形成的均勻分布的孔隙。它們都是孔隙性的碳酸鹽巖儲集層。它們適用的測

井方法和解釋方法與碎屑巖儲集層基本相同，也是目前測井資料應(yīng)用最成功的一類儲集

層O

(2)裂縫型碳酸鹽巖儲集層：這類儲層的儲集空間主要由構(gòu)造裂縫和層間裂縫組成，

由于裂縫的數(shù)量，形狀和分布可能極不均勻，故孔隙度和滲透率也可能有很大變化，油

氣分布也不規(guī)律，并且裂縫發(fā)育帶滲透率高。

(3)洞穴型碳酸鹽巖儲集層：這類儲集層主要山溶蝕作用產(chǎn)生的。洞穴形狀大小不一，

分布不均勻，往往具有偶然性。用常規(guī)測井方法進行解釋有很大困難。

2.儲集層的基本參數(shù)

在儲集層的評價中，需要測井解釋確定的參數(shù)有儲層厚度、孔隙度、油氣飽和度和滲

透率。

1)孔隙度

巖石在形成過程及后期作用中會有粒間孔隙、晶間孔隙、裂縫及洞穴等。根據(jù)孔隙

流體在孔隙中能否流動，孔隙可分為總孔隙、有效孔隙。有效孔隙指互相聯(lián)通的孔隙。

總孔隙指所有的孔隙空間。孔隙度是指巖石中孔隙所占的體積與巖石的體積之比。通

常用百分數(shù)表示。

2)飽和度

3

孔隙中油氣所占孔隙的相對體積稱為含油氣飽和度，通常也用百分數(shù)表示。飽和度

又分為原狀地層含燃飽和度、沖洗帶殘余燒飽和度、侵人帶含燒飽和度，可動燃飽和度

等。

束縛水飽和度S“打。是另一個重要的飽和度概念，通過它與總含水飽和度的關(guān)系可

以知道儲集層是否能出水。

3）巖層厚度

主要指儲集層的巖層厚度，指的是有效孔隙，含燃飽和度下限所確定的巖層頂?shù)捉?/p>

所具有厚度。

4）滲透率

為了評價儲層的生產(chǎn)能力，應(yīng)了解油氣水流過巖石孔隙的難易程度。當粘度為

lX10：'Pa.s的流體，在單位時間1s鐘內(nèi)，兩端壓差為latm時，通過巖石單位截面1cm?

的流體體積為該巖石的滲透率為1um?.滲透率分絕對滲透率、有效滲透率和相對滲透率，

絕對滲透率為巖石孔隙中只有一種流體存在時對巖石所測量的滲透率。有效滲透率為巖

石孔隙存在二種或二種以上的流體時，對其中某一流體所測量的滲透率，為該流體在這

種巖石中的有效滲透率。相對滲透率為有效滲透率與絕對滲透率的比值，它表示某種流

體流過巖石的難易程度。

四、測井系列的選擇

合理和完善的測井系列是保障測井解釋準確的先決條件。合理的測井系列可以解決

巖性問題，層厚、孔隙度、滲透率、飽和度及泥質(zhì)含量問題。不同的地質(zhì)條件，需要不

同的測井系列組合，見表1。

1.泥質(zhì)指示和確定巖性的測井方法選擇

泥質(zhì)指示應(yīng)能劃分泥巖和非泥巖，并能確定泥質(zhì)含量?；旧细鞣N測井方法都能不

同程度的進行泥質(zhì)解釋。最常用的是自然伽馬、自然電位和微電極。另外巖性測井和自

然伽馬能譜測井也能解決這個問題。個別的地區(qū)，由于沉積速度快，自然電位不穩(wěn)定，

也可以用其他測井方法解決泥質(zhì)問題。在以后的泥質(zhì)砂巖解釋中有詳細說明。測井系列

選擇的標準是能準確的劃分鉆井剖面的巖性，能夠準確的確定孔隙度，能夠確定地層的

含水飽和度，或油氣飽和度。如碳酸鹽巖地層，三種孔隙度測井確定孔隙度，微球形聚

焦確定沖洗帶電阻率，雙側(cè)向確定深淺電阻率，井徑和自然伽馬確定泥質(zhì)含量。再如湖

泊相河流相的沉積地層，至少有一種孔隙度，微電極，深淺三側(cè)向，加井徑和自然電位，

有時加自然伽馬。

表1裸眼井測井系列

井內(nèi)流體研究參數(shù)推薦的測井項目

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巖性自然電位、自然伽馬、自然能譜、巖性一密度測井

Sw—Rw感應(yīng)測井或側(cè)向測井或電位一梯度電極系測井微球形聚集測井

淡水鉆井Sx?！猂mf（MSFL）或微側(cè)向測井（MLL）或微電極測井

液①一Vctey密度測井、中子測井和（或）聲波測井

K-P地層測試器（RFT）

幾何參數(shù)地層傾角測井，四臂井徑測井，井斜測量

巖性

自然伽馬、自然能譜、巖性一密度測井，自然電位

Sw-Rw

雙側(cè)向測井

鹽水鉆井Sxo—Rmf

微球形聚焦測井或微側(cè)向測井密度測井、中子測井和（或）聲

液①一Vclay

波測井地層測試器（RFT）

K-P

地層傾角測井，四臂井徑測井，井斜測量

幾何參數(shù)

巖性自然伽馬、自然能譜、巖性一密度測井

Sw—Rw感應(yīng)測井

油基鉆井

①一Vclay密度測井、中子測井和（或）聲波測井地

液

K—P層測試器（RFT）

幾何參數(shù)四臂井徑測井，井斜測量

巖性自然伽馬、自然能譜、巖性一密度測井

Sw_Rw感應(yīng)測井

空井①一Vclay密度測井、中子測井

K-P溫度測井

幾何參數(shù)四臂井徑測井、井斜測井

2.電阻率測井方法的選擇

由于鉆井后測井是在井眼中進行，井眼的大小。鉆井液性能的差別，使得滲透層受

不同程度的污染，存在沖洗帶、侵人帶和原狀地層的電阻率上的差異。電阻率測井應(yīng)能

反應(yīng)沖洗帶、淺、中、深的電阻率數(shù)值上的變化。巖層的電阻率高低，巖層的厚薄，影

響地層真電阻率數(shù)值。所以選用的測井方法也不盡相同。這需要掌握各種方法的線性范

圍、探測半徑、聚焦的強弱、圍巖和井的影響大小。對低電阻率地層一般選用雙感應(yīng)一

八側(cè)向、微球形聚焦。對高電阻率地層一般選用，雙側(cè)向一鄰近側(cè)向、微側(cè)向電阻率系

列。對于較薄的地層微電極，三側(cè)向或普通電阻率測井也可以很好的解決地質(zhì)問題。

3.孔隙度測井方法的選擇

孔隙度測井一般探測深度較淺，對于儲集層一般僅限于沖洗帶。聲速測井方法適用

于粒間和晶間孔隙，不能反映次生孔隙中的裂縫溶洞，適用于均勻分布的孔隙度。中子

孔隙度測井只反映巖層的含氫量的大小，并隨含氫量的增加探測深度減小。密度測井反

映的是巖石的總孔隙度，分不清原生孔隙和次生孔隙。天然氣對三種孔隙度都有影晌，

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巖性對孔隙度也有影響。

第一章自然電位測井（2學時）

在生產(chǎn)實踐中發(fā)現(xiàn)，在沒有人工供電的情況下，測量電極M在井內(nèi)移動時，仍測量

與巖性有關(guān)的電位隨井深的變化曲線。山于這個電位是自然電位產(chǎn)生的，所以稱為自然

電位，用SP表示。

第一節(jié)井內(nèi)自然電位產(chǎn)生的原因

井內(nèi)自然電位產(chǎn)生的原因是復(fù)雜的，對于油井來說，主要有以下兩個原因：地層水

礦化度與泥漿礦化度不同，引起離子擴散作用和巖石顆粒對離子的吸附作用；地層壓力

與鉆井泥漿柱壓力不同時，在地層的微孔隙中產(chǎn)生過濾作用。

實踐證明：油井的自然電位主要由擴散作用產(chǎn)生的，只有在泥漿柱和地層間的壓力

差很大的情況下，過濾作用才成為較重要的因素。

一、擴散電位

井內(nèi)自然電位的產(chǎn)生也是兩種不同濃度的溶液相接觸的產(chǎn)物。由于砂巖的滲透性較

好，當?shù)貙铀疂舛群湍酀{濾液濃度不同時（通常?！?gt;。時）并在井壁附近接觸

時，離子在滲透壓力作用下，高濃度溶液的離子要穿過砂巖向溶液濃度較低的地層中擴

散，由于。廠的遷移速率大于N/,經(jīng)過一段時間的聚集后，地層內(nèi)富集正電荷，泥漿

濾液中富集負電荷，見圖l-lo當擴散最終達到動態(tài)平衡時，在砂巖中兩種不同濃度溶液

的接觸面上產(chǎn)生自然電場，產(chǎn)生自然電位差。此時的電動勢稱為擴散電動勢或擴散電位。

經(jīng)實驗測定擴散電動勢（燈,）可由下式進行表示：

C

當溶液濃度不很大時，溶液濃度與電阻率成反比，所以

E/=K/g幺（1-2）

d

"Rw

式中K”一擴散電位系數(shù)；

R時一泥漿濾液電阻率；

R,,一地層水電阻率.

二、擴散吸附電動勢（EQ

在井內(nèi)泥巖表面附近，由于泥漿濾液濃度與地層水的濃度不同（G,>C時），離子

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在滲透壓力作用下，仍然要由高濃度溶液向低溶液濃度中擴散，由于泥巖具有選擇吸附

陰離子的能力，在粘土顆粒表面可以大量地吸附陰離子，而Na+可以自由擴散，擴散結(jié)

果是在泥漿濾液中富集大量正電荷，而在地層中富集了負電荷，見圖l-lo這樣就在泥巖

表面處形成擴散吸附電位，記為后加，其表達式為：

￡”“=長"炮昔=（’“愴（優(yōu)）（1-3）

式中：K^一擴散吸附電位系數(shù)；

C”,一地層水濃度；

C,“一泥漿濾液濃度

三、過濾電位

在巖石中，顆粒和顆粒之間有很多孔隙，它們彼此連通，形成很細的孔道，稱為毛

細管。當泥漿柱的壓力大于地層的壓力時，泥漿向地層過渡，泥漿濾液通過井壁在巖石

孔道中流過。由于巖石顆粒的選擇吸附性，孔道壁上吸附泥漿濾液中的負離子僅有正離

子向地層中移動，這樣在井壁附近聚集了大量負離子，圖1-2過濾電位形成示意圖

在地層內(nèi)部聚集了大量正離子，這樣在地層和泥漿接觸面兩端形成的電位稱為過濾電動

勢，用E/表示，如圖「2所示。在泥漿壓力大于地層壓力的條件下，滲透層處，過濾電

位與擴散吸附電位方向一致，其數(shù)值與地層和泥漿柱之間的壓力差及過濾溶液的電阻率

成正比，與過濾溶液的粘度成反比，即：

△p-Rmf

E-Kf—~業(yè)（1-4）

式中：Ap一壓力差，atm；

K/一過濾電位系數(shù)，與溶液的成分濃度有關(guān)；

/?時一過濾溶液的電阻率，。?根

〃一過濾溶液粘度，10-3Pa-5o

過濾電位只有當?shù)貙优c泥漿柱壓力差很懸殊時，而且在泥餅形成以前，才有較大的

顯示。但一般鉆井時要求泥漿柱壓力只能稍大于地層壓力，相差不是很大，而且在測井

時已形成泥餅，因此?般井內(nèi)過濾電位的作用可忽略不計。在砂泥巖剖面的井中的自然

電場主要由擴散電位和擴散吸附電位組成。

第二節(jié)自然電位測井曲線特征

由于泥巖（或頁巖層）巖性穩(wěn)定，在自然電位測井曲線上顯示為一條電位不變的直

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線，將它稱為自然電位的泥巖基線；在滲透性砂巖段，自然電位曲線偏離泥巖基線，在

足夠厚的砂巖層中，曲線達到固定的偏轉(zhuǎn)幅度，定為砂巖線。自然電位曲線的異常幅度

△USP就是地層中點的自然電位與基線的差值。如圖卜3所示，圖1-3為含水純砂巖的自

然電位理論曲線。通常把井中巨厚純水層砂巖井段的自然電位幅度近似地認為是靜自然

電位SSP,其值等于擴散電動勢與擴散吸附電動勢之和。橫坐標為自然電位與靜自然電

位之比AUsp/SSP,縱坐標為地層厚度〃，曲線號碼為層厚與井徑之比力/d。當上下圍

巖巖性相同時，曲線特征為：

（1）當?shù)貙幽酀{是均勻的，上下圍巖巖性相同時，自然電位曲線關(guān)于目的地層中心對稱,

地層中心處異常值最大；

（2）地層越厚，AUsp越接近SSP,地層厚度變小，AUsp下降，曲線頂部變尖，底部

變寬AU.SP<SSP；

（3）當?shù)貙虞^厚（〃>4d）時，的半幅點對應(yīng)地層的界面，因此較厚地層可用曲

線半幅點確定地層界面，隨著厚度的變小，對應(yīng)界面處的曲線幅度值離開半幅點向曲線

峰值移動。

實測曲線與理論曲線特點基本相同，但由于測井時受多方面因素的影響，實測曲線

不如理論曲線規(guī)則，見圖―4。滲透性砂巖的自然電位對泥巖基線而言，可向左或向右偏

移，它主要取決于地層水和泥漿溶液的相對礦化度。當C,,〉。時時，砂巖層段自然電位

出現(xiàn)負異常，當時，砂巖層段出現(xiàn)正異常；當時，不存在造成自然電

場的條件，則沒有自然電位異常出現(xiàn)。和的差別越大，造成自然電場的電動勢越

大。

第三節(jié)自然電位曲線影響因素

一、滲透層自然電位異常幅度的計算

對于砂泥巖層段來說，自然電流回路的總自然電位E,經(jīng)推導為：

C

E,=Klg/（1-5）

。mf

式中：K=K”+K而一自然電位系數(shù)；

G,一砂巖的地層水礦化度，

C時一泥漿濾液的礦化度。

自然電位AUSP實際上是自然電流在井內(nèi)泥漿電阻上的電位降，即：

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EE

△%=13“=-上七——=--^―(1-6)

&+Q,+乙1?%+〃

r?,

二、曲線影響因素

由（1-6）式可以看出，測量的自然電位幅度值與造成自然電場的總電動勢

SSP、井內(nèi)泥漿電阻）、泥巖電阻力以及砂巖電阻〃有關(guān)。

1）巖性和礦化度比值的影響

自然電位異常幅度值A(chǔ)USP與總自然電動勢生成正比，E,取決于巖性和鉆井液

濾液電阻率凡”與地層水電阻率的比值/?時/此，（即C“,/C的），所以巖性和地層水

礦化度與鉆井液濾液礦化度的比值G./G”直接影響。卬的異常幅度。在砂泥巖剖面，

自然電位曲線以泥巖為基線。在含水純砂巖層中，自然電位幅度最大，AU*SSP；

隨泥質(zhì)含量的增加，SSP下降，導致下降。

2）地層厚度和井徑的影響

圖1-3為不同的地層厚度純水砂巖的自然電位理論曲線，主要說明在其他條件完全相

同的情況下，地層厚度（h/d）對自然電位幅度和形狀的影響。AU"為記錄的自然電位

異常幅度值，SSP為靜自然電位，從圖中可以看出，當?shù)貙雍穸萮>4d時，自然電位異

常幅度近似等于靜自然電位；當?shù)貙雍穸萮<4d時，自然電位異常幅度小于靜自然電位，

厚度越小，差別越大，異常頂部變窄，底部變寬，這時不能用半幅點確定地層界面。其

原因是：地層厚度減小，地層電阻4增大，井內(nèi)鉆井液電阻&減小，所以減小。

若地層厚度一定時，井徑減小，h/d增大，井內(nèi)鉆井液電阻與增大，則AU”增大。

3）地層電阻率，鉆井液電阻率以及圍巖電阻率的影響

隨著a/R“，的增大，自然電位幅度值降低。這是由于R,增大（或R,“減?。?，〃增大

（或r?,減?。?則AUsp減小。

圍巖電阻率4的變化，同樣對自然電位異常幅度值有影響。圍巖電阻率凡增大，

則rv增大使自然電位異常幅度值減小。

4）鉆井液侵入帶的影響

在滲透性地層，鉆井液濾液滲入到地層孔隙中，使鉆井液濾液與地層水的接觸面向

地層方向移動了一個距離。鉆井液侵入帶的存在，相當于井徑擴大，因而是自然電位異

常幅度值降低，因此鉆井液的侵入增大，自然電位異常幅度減小。

第四節(jié)自然電位曲線的應(yīng)用

一、判斷巖性，確定滲透性地層

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自然電位主要是離子在巖石中的擴散吸附作用產(chǎn)生的，而巖石的擴散吸附作用與巖

石的成分、組織結(jié)構(gòu)、膠結(jié)物成分及含量有密切的關(guān)系，所以可根據(jù)自然曲線的變化判

斷巖性和分析巖性的變化。

在砂泥巖剖面中，當&<段曠(G,.>c時)時，在SP曲線上，以泥巖為基線，出現(xiàn)

負異常的井段，可認為是滲透性巖層，其中純砂巖井段出現(xiàn)最大的負異常；含泥質(zhì)的砂

巖層，負異常幅度較低，而且隨泥質(zhì)含量的增多，異常幅度下降；此外，含水砂巖的

還取決于砂巖滲透層孔隙中所含流體的性質(zhì)，?般含水砂巖的AU會比含油砂巖的△。工

要同。

在識別出滲透層后，可用“半幅點”法確定滲透層的上下界面位置(條件：h>4d,d為

井徑)。如果h〈4d,用“半幅點”法確定的滲透層厚度一般要大于實際地層的厚度，結(jié)果會

產(chǎn)生較大的誤差。

二、計算地層水電阻率

在求地層水電阻率時，要選擇剖面中較厚的飽含水的純凈砂巖層，讀出該層的，

近似認為是靜自然電位SSP,并根據(jù)泥漿資料確定與“/,由下式計算地層水電阻率：

R

SSP=—K1g0(1-7)

三、估計地層的泥質(zhì)含量

泥質(zhì)含量和其存在狀態(tài)對砂巖產(chǎn)生的擴散吸附電動勢有直接影響，因此可根據(jù)自然

電位曲線估計泥質(zhì)含量。如果在一個地區(qū)使用這種方法，必須進行大量的試驗工作，通

過建立卬和泥質(zhì)含量K*之間的定量關(guān)系，然后才能利用自然電位曲線估計巖層的泥

質(zhì)含量V*。有以下兩種方法：

(1)對某一地區(qū)，通過試驗，應(yīng)用數(shù)理統(tǒng)計方法建立K%與AU”,之間的關(guān)系曲線，

再根據(jù)自然電位曲線確定地層的泥質(zhì)含量。

(2)利用經(jīng)驗公式估算：

(1-8)

式中：PSP含泥質(zhì)砂巖的靜自然電位；SSP為本地區(qū)含水純砂巖的靜自然電位.

四、判斷水淹層位

為提高油田采收率，在油田開發(fā)過程中，采取分片切割注水采油的方法。山于油層

滲透率不同，注入水推進的速度也不一樣。如果一口井的某個油層見了水，這個層就稱

水淹層。水淹層在自然電位曲線上顯示特點較多，由于各地區(qū)的儲集層特點不同，故水

淹層在自然電位曲線上的特點不盡相同，所以要根據(jù)本地區(qū)的曲線變化規(guī)律判斷水淹層。

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對部分水淹層（油層底部或頂部見水），自然電位曲線的基線在該層上下發(fā)生偏移，出現(xiàn)

臺階，見圖15。這是一種比較普遍的現(xiàn)象，據(jù)此可判斷水淹層；另外，根據(jù)基線偏移的

大小，可以估算水淹程度。

第二章電阻率測井（8學時）

電阻率法測井是地球物理測井中最基本、最常用的測井方法，它包括普通電阻率測

井、微電極測井、側(cè)向測井、感應(yīng)測井和自然電位測井等，盡管這些方法的具體特點和

所要解決的問題各不相同，但它們的實質(zhì)都是進行地層電阻率測量。在井孔中測量地層

電阻率時，必須向巖層通入一定的電流，在地層中形成電場，電場分布的特點取決于周

圍介質(zhì)的電阻率和供電電極及測量電極間的位置。因此，只要測量出各種介質(zhì)的電場分

布特點就可確定介質(zhì)的電阻率，所以電阻率測井實質(zhì)是研究各種介質(zhì)中電場的分布問題。

第一節(jié)普通電阻率測井

普通電阻率法測井是把?個普通的電極系（由三個電極組成）放入井內(nèi)，另一個電

極留在地面，測量井內(nèi)巖石電阻率變化的曲線。在測量地層電阻率時，要受井徑、泥漿

電阻率、上下圍巖及電極距等因素的影響，測得的參數(shù)不等于地層的真電阻率，而是被

稱為地層的視電阻率。因此普通電阻率測井又稱為視電阻率測井。

埋臧在地卜一的巖石的電阻率，是一個既不能直接觀察又不能直接測量的物理量，只

有當電流通過它的時候才能間接地測出來。因此，在測量電阻率時，必須山供電電極A、

B供電，向巖層通入一定的電流，在井內(nèi)建立電廠，然后用測量電極M、N進行電位差

測量，研究巖石電阻率不同對電場分布的影響，從而進一步找出電位差A(yù)UMN與巖石電

阻率之間的關(guān)系。A、B、M、N四個電極中的三個形成一個相對位置不變的體系，稱為

電極系，見圖2-1。測井時電極系放入井中，而另一個電極放在地面，當電極系由井底向

井口移動時，便可測量出一條巖石電阻率曲線。

一、均勻介質(zhì)電阻率的測量

假定井眼所穿過的地層是均勻各向同性的無限大介質(zhì)，即巖性相同，且電阻率都是R。

以點電源A（電流強度為I）,空間任取一點P,它到A的距離為r,以r為半徑作一球，

求球面上任一點P的電位。

球面上的電流密度為：

由歐姆定律的微分形式可知:

II

廠n.

E=Rj=——R1(2-2)

4m~7

廠du

而E=-----(2-3)

dr

所以

U=-JEdr=-Jdr=^—+C

4加24m(2-4)

當時r->oo,U->0,CH）故，則均勻介質(zhì)中任一點的電位為：

t/=—（2-5）

4"

（1）若將點電源放在P點，則它在A點產(chǎn)生的電位也是U=旦，電場的這種性質(zhì)稱為

電位的互換原理。對于非均勻介質(zhì)，這個原理也是適用的。

（2）如果在均勻介質(zhì)中放置人,4…A“個點電源，其電流強度分別為12-1?,

它們距P點的距離分別為八，r2-r?,那么所有點電源在P點所產(chǎn)生的電位是各個點電

源單獨在P點產(chǎn)生的電位的代數(shù)和，即：

〃="+處+…+空(2-6)

4肛4肛4勿；

電場的這種性質(zhì)稱為電位的疊加原理。在均勻介質(zhì)中，電阻率R與電位U之間存在著簡

單的關(guān)系，由即可求出R,普通電阻率測井正式利用了這一原理。

圖2-1是普通電阻率測井的測量原理線路.將由供電電極和測量電極組成的電極系

A、M、N或M、A、B放入井內(nèi)，而把另一個電極B或N放在地面泥漿池中，作為接地回路

電極，電極系通過電纜與地面上的電源和記錄儀相連接。當電極系由井內(nèi)向井口移動時,

供電電極A、B供給電流I,測量M、N電極間的電位差。通過地面記錄儀可將電位差轉(zhuǎn)換

為地層視電阻率

對圖a,供電電極A的電流I和電極B的電流T對測量電極M點的電位都有貢獻。

/?/1/?/1

UM=〃+UD一.---------■---------(2-7)

4%AM4%BM

N點離A,B點很遠，則

RIAB

因此：△UMN=UM(2-8)

441M~BM

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兀吧必維

R=4-ABM=K5（2.9）

AB1I

K—電極系系數(shù)，它的大小與電極系中三個電極之間的距離有關(guān)。

對如果用圖b的線路進行測量，可以證明R的表達式與（2-9）式完全相同，但這時的電

極系系數(shù)為：

,,47T-AM-AN

K=-----------（2-10）

MN

由此可見，均勻介質(zhì)中的電阻率與測量電極系的結(jié)構(gòu)、供電電流以及測量電位差有

關(guān)，當電極系結(jié)構(gòu)和供電電流大小定時，均勻介質(zhì)的電阻率與測量電位差成正比。

二、視電阻率

以上的分析，都是假定電極系處在均勻介質(zhì)中，但實際測井遇到的情況要復(fù)雜得多。

石油勘探的目的層具有較好的孔隙性和滲透能力，鉆井過程中，由于泥漿柱的壓力大于

地層壓力，泥漿的濾液向滲透層的孔隙中滲透，在滲透層靠近井壁的部分形成泥漿濾液

的侵入帶，并在井壁上形成泥餅。侵入帶內(nèi)泥漿濾液的分布是不均勻的，靠近井壁的部

分，泥漿濾液把孔隙中原有的液體全部趕跑，占據(jù)了整個孔隙空間，這部分叫泥漿沖洗

帶，靠近沖洗帶地層孔隙中是泥漿濾液和地層流體的混合物，該部分稱為過渡帶。而地

層中未被泥漿干擾的地層稱為原狀地層。

另外，滲透層的厚度也是有限的，其頂部和底部都為非滲透的地層，稱為目的層的

上下圍巖。以上各個部分（原狀地層，泥漿侵入帶，泥餅，上下圍巖，井內(nèi)泥漿），其電

阻率R,、K（沖洗帶電阻率用七“表示）、R,“c、R,和R,“通常是不同的。在這種井剖

面的情況下，測量的電位差除了受地層真電阻率凡影響外，還要受《、&"、尺、R,K，

井徑d,侵入帶直徑。，以及地層厚度h和電極系結(jié)構(gòu)等因素的影響，因此不能用（2-9）

式簡單地求解地層的真電阻率。但是在井中實際測量的電位差，仍然可以代入公式（2-9）

中計算電阻率，在這種復(fù)雜情況下求出的電阻率稱為地層的視電阻率，用&表示，則：

R（2-11）

°/

?般來說，地層的視電阻率不同于地層的真電阻率，但是選擇適當?shù)碾姌O系和測量

條件，可以使測量的視電阻率主要反映地層電阻率的變化。因而可以利用在井內(nèi)測量的

視電阻率曲線，來研究鉆井剖面地層電阻率的相對變化。

三、電極系

電極相對位置不同，會形成不同的電場，也就組成了不同的電極系。在電極系的三

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個電極中，有兩個在同一線路（供電線路或測量線路）中，叫成對電極或同名電極，另外

一個和地面電極在同一線路（測量線路或供電線路）中，叫不成對電極或單電極。根據(jù)

電極間的相時位置的不同，可以分為梯度電極系和電位電極系。

1.電位電極系：不成對電極到靠近它的那個成對電極之間的距離小于成對電極間距

離的電極系。電位電極系中成對電極之間的距離（麗或血）較大，即而〈而或

MA<AB,電位電極系的電極距為單電極（不成對電極）到最近它那個成對電極之間的

距離，即1=而7。而的中點o稱為深度記錄點，表示電極在井內(nèi)的深度位置，在某

一深度位置上測得的&可看作記錄點處的Rao當成對電極系中的一個電極放到無限遠

處時，即麗-8,可認為N電極對測量無影響，只有A、M對測量是有意義的，這種

電位電極系稱為理想電位電極系。對理想電位電極系其所求得電阻率為：

—u

R.44.4/十(2-12)

從式中可看出視電阻率和測量點M的電位成正比，故此電極系稱為電位電極系。此

外，電位電極系又可分為：

正裝電位電極系：成對電極在不成對電極之下的電位電極系。

倒裝電位電極系：成對電極在不成對電極之上的電位電極系。

另外，根據(jù)供電電極的多少，電位電極系又分為單極供電電位電極系和雙極供電電

位電極系。

2.梯度電極系：不成對電極到靠近它的那個成對電極之間的距離大于成對電極間距

離的電極系。電極系的三個電極之間有三個距離：而，前，麗或而，BM,AB

這三個距離當中，梯度電極系中成對電極之間的距離（礪或而）最小，即刀礪

或加〉而，梯度電極系又分為正裝梯度電極系和倒裝梯度電極系兩種：

正裝梯度：成對電極在不成對電極之下的梯度電極系。山于正裝梯度電極系測出的

R?曲線在高陽層底界面出現(xiàn)極大值，所以也叫底部梯度電極系。

倒裝梯度：成對電極在不成對電極之上的梯度電極系。山于倒裝梯度電極系測出的

R”曲線在高阻層頂界面出現(xiàn)極大值，所以也叫頂部梯度電極系。另外，根據(jù)供電電極的

多少，梯度電極系又分為單極供電梯度電極系和雙極供電梯度電極系。

梯度電極系的電極距為不成對電極到成對電極中點之間的距離，即1=亞。麗的

中點0稱為深度記錄點。當成對電極間的距離無限?。ㄔ跇O限情況下等于0）時的梯度

電極系叫理想梯度電極系。對理想梯度電極系其所求得電阻率為：

-----2E

Ra=44?AO—(2-13)

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從式中可看出視電阻率&和深度記錄點0的電位梯度成正比，故此電極系稱為梯度

電極系。

此外，電極系的表示方法：通常按照電極在井中的次序，由上到下寫出代表電極的

字母，字母間寫出相應(yīng)電極間的距離，(以米為單位)表示電極系的類。如：AO.4M0.1N

表示電極距為0.45m的底部梯度電極系，電極A、M之間的距離為0.4m,M、N之間的距

離為0.Imo

不同電極系的探測深度也是不同的。探測深度通常以探測半徑r來表示，在均勻介

質(zhì)中，以供電電極為中心，以某一半徑劃一假想球面，若假想球面內(nèi)包含的介質(zhì)對電極

系測量結(jié)果的貢獻占整個測量結(jié)果的50%,則此半徑r就是該電極系的探測深度或探測半

徑。一般梯度電極系的探測范圍是1.4倍電極距L,而電位電極系的r=2L。由此可知，L

越大探測深度也越大。

第二節(jié)視電阻率曲線的影響因素

一、視電阻率曲線特征

假定只有一個高電阻率地層，上下圍巖的電阻率相等，并且沒有井的影響，采用理

想電極系進行測量。來看一下視電阻率的理論曲線。

1.電位電極系視電阻率曲線特征

(1)當上下圍巖電阻率相等時，電位電極系的視電阻率曲線關(guān)于地層中心對稱

(2)當?shù)貙雍穸却笥陔姌O距時，對應(yīng)高電阻率地層中心，視電阻率曲線顯示極大值;

地層厚度越大，極大值越接近于地層真電阻率(圖2-3)；當?shù)貙雍穸刃∮陔姌O距時，對

應(yīng)高阻層中心，曲線出現(xiàn)極小值。

(3)在地層界面處，曲線上出現(xiàn)“小平臺”，其中點正對著地層的界面，隨層厚降

低，“小平臺”發(fā)生傾斜；當〃<而時，“小平臺”靠地層外側(cè)一點為高值點，出現(xiàn)

假極大值。

(4)對厚層取曲線的極大值作為電位電極系的視電阻率數(shù)值。

2.梯度電極系視電阻率曲線特征

(1)曲線與地層中點不對稱，對著高阻層，底部梯度電極曲線在地層底界面出現(xiàn)極

大值，頂界面出現(xiàn)極小值；頂部梯度電極曲線在高阻層頂界面出現(xiàn)極大值，底界面出現(xiàn)

極小值，而且兩者的曲線形狀正好倒轉(zhuǎn)。這是確定地層界面的重要特征，由此可用來確

定高阻層的頂?shù)捉缑妫妶D2-4。

(2)地層厚度很大時，在地層中點附近，有一段視電阻率曲線和深度軸平行的直線,

其值等于地層的真電阻率曲線(用來確定地層的真電阻率)。

(3)對于h>I.的中厚度巖層，其視電阻率曲線與厚地層的視電阻率曲線形狀相似，

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但隨著厚度的減小，地層中部視電阻率曲線的平直段變小直到消失，見圖2-4。

（4）當用底部梯度電極系時，在薄的高阻層下方出現(xiàn)一個假極大值，它距高阻層底

界面為一個電極距，見圖2-5。

視電阻率曲線的主要應(yīng)用有劃分巖性剖面，計算儲層的孔隙度和含油飽和度，定性

判斷油水層和進行地層對比。

二、視電阻率曲線影響因素

前面討論的（理論曲線是在理想條件下作出來的，即地層是水平的，采用理想電極

系，不考慮井的影響。實測曲線由于受井的影響變得平緩且曲線幅度降低，為正確使用

視電阻率曲線，有必要研究各種條件對視電阻率曲線的影響。

（1）井徑、層厚的影響

當?shù)貙与娮杪?、電極距、泥漿電阻率等因素一定時，隨著h/d降低（井徑加大或地

層厚度減?。?，視電阻率曲線變得平滑。所以在其它條件相同時，高阻薄層視電阻率曲線

的幅度值比厚層要偏低。井徑變化對視電阻率曲線的影響，歸根結(jié)底是由于井內(nèi)泥漿的

影響。通常泥漿電阻率低于地層電阻率，井徑擴大，井的擴大，井的分流作用增大，視

電阻率值降低。為了使視電阻率曲線具有很好的劃分地層的能力，要求鉆井泥漿的電阻

率要大于五倍地層水電阻率。

（2）電極系的影響

從理論曲線分析中可知，電極系類型不同，所測視電阻率曲線形狀不同。即使同一

類型的電極系在同樣的測量條件下，電極系的尺寸不同，所測的視電阻率曲線的形狀及

幅度也不一樣。

（3）侵入影響

采用不同電阻率的泥漿鉆井時，會對滲透性地層產(chǎn)生泥漿高侵和泥漿低侵現(xiàn)象，視

電阻率會受到影響。

泥漿高侵（增阻泥漿侵入）：地層孔隙中原來含有的流體的電阻率較低，電阻率較高

的泥漿濾液侵入后，使侵入帶巖石電阻率升高。這種情況多出現(xiàn)在水層。

泥漿低侵（減阻泥漿侵入）：地層孔隙中原來含有的流體的電阻率比滲入地層中的泥

漿濾液的電阻率高時;泥漿濾液侵入后，使侵入帶巖石電阻率降低。這種情況一般出現(xiàn)

在地層水礦化度不很高的油層。泥漿侵入對于測量和確定巖層真電阻率均是一種因素，

但也可根據(jù)侵入類型粗略地估計滲透層含油、水情況。

（4）高阻鄰層的屏蔽影響

以上討論的是單一高電阻率地層的視電阻率曲線。實際測井工作中，經(jīng)常碰到的是

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許多高電阻率地層和低電阻率地層交互出現(xiàn)。如果各高阻層之間的距離小于2個電極距,

則相鄰高阻層對供電電極發(fā)出的電流產(chǎn)生屏蔽作用，因而使曲線形態(tài)發(fā)生畸變，見圖2-6。

實踐證明，高阻鄰層的屏蔽作用，不僅與地層厚度，地層電阻率有關(guān)，而且還和電極系

類型，電極距，夾層厚度有關(guān)。在定性分析屏蔽影響時，要考慮以下幾點：

a、位于單電極方向的高阻層，可對另一高阻層產(chǎn)生屏蔽影響，但后者對前者的讀數(shù)

基本上不產(chǎn)生影響.

b、當兩個高阻層之間的距離小于電極距時，可產(chǎn)生減阻屏蔽。

c、當兩個高阻層之間的距離大于電極距時，可產(chǎn)生增阻屏蔽。

（5）地層傾斜的影響

理論曲線是在水平巖層中得出的結(jié)果，而實際上大部分巖層總有些傾斜，所以實測

曲線與理論曲線形狀和幅度都有所不同，見圖2-7o其它條件均相同，只改變地層傾角a,

所測的梯度電極系視電阻率曲線發(fā)生變化。若把利用傾斜地層中所測的R“劃分巖層所得

到的厚度定義為視厚度幻。其曲線特點為：

隨地層傾角。增大，極大值向地層中心移動，使曲線變得較對稱；曲線的極大值隨。

增大而降低，曲線變得平緩，極小值模糊不清；ha>h,a越大，兒和力差別越大。

a<60°時，曲線還保持曲線的基本特征，只是確定的巖層厚度偏高。因此，在用視電阻

率曲線來確定地層真電阻率時，必須經(jīng)過多次校正。

三、標準測井

在一個地區(qū)或一個油田，為了研究巖性變化、構(gòu)造形態(tài)和大段油層的劃分和對比工

作，常用相同的深度比例（一般為1：500）及相同的橫向比例，采用相同的測井系列，

作為劃分標準層及進行地層對比的基本圖件。標準測井包括有2.5米梯度電極系視電阻率

測井和自然電位測井以及井徑測井。

第三節(jié)側(cè)向測井

為了評價含油性，必須較準確的求出地層的電阻率，在地層厚度較大、地層電阻率

和泥漿電阻率相差不太懸殊的情況下，可以采用普通電極系測井來求地層電阻率；但在

地層較薄、電阻率很高，或者在鹽水泥漿的情況下，由于泥漿電阻率很低，使得電極流

出的電流大部分都在井和圍巖中流過，進入測量層的電流很少。因此測量的視電阻率曲

線變化平緩，不能用來劃分地層、判斷巖性。另外，在存在砂泥巖交互層的地區(qū)，高阻

鄰層對普通電極系的屏蔽影響很大，使其難以求出地層真電阻率。

一、三電極側(cè)向測井基本原理

三側(cè)向測井電極系是一個長的金屬圓柱體，它被絕緣材料（絕緣環(huán)）分隔成三部分，

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如圖2-8。中間的A0為主電極，兩端的％、A2為屏蔽電極，它們對稱地排列在主電極

兩側(cè)，且相互短路。在電極系上方較遠處設(shè)有對比電極N和回路電極B,電極系在井中的

工作狀態(tài)和電流分布特點如圖2-9。測井過程中，主電極上和屏蔽電極4、4分別通

以相同極性的電流和，保持為一常數(shù)，通過自動調(diào)節(jié)裝置調(diào)節(jié)，使4、A2的電位始終保

持和A。的電位相等，沿縱向的電位梯度為零。這就保證了電流不會沿井軸方向流動，而

絕大部分呈水平層狀進入地層，這樣大大減小了井和圍巖的影響，使三側(cè)向具有較高的

分層能力。測量的是主電極（或任一屏蔽電極）上的電位值。因為主電流保持恒定，故

測得的電位依賴于地層電阻率的大小。三側(cè)向電極系的深度記錄點在主電極的中點，測

得的視電阻率可表示為：

U

R“=K(2-14)

三側(cè)向測井由主電極為流出的電流在屏蔽電極電流的作用下，呈水平層狀進入地

層，這樣大大減小了井和圍巖的影響，使三側(cè)向具有較高的分層能力，適合在高礦化度

泥漿中使用。

上述三側(cè)向測井的分層能力較強，并且探測深度較深，通常把這種三側(cè)向測井稱為

深三側(cè)向測井，它主要反映原狀地層的電阻率變化。在三側(cè)向測井測井中，為了準確了

解徑向電阻率（如侵入帶電阻率和原狀地層電阻率）的變化，提出了淺三側(cè)向測井。淺

三側(cè)向測井的探測深度較淺，其電極系結(jié)構(gòu)如圖2-8所示。其特點是：屏蔽電極4、A2

的尺寸比深三側(cè)向測井要短，減弱了屏蔽電流對主電流的控制作用，并在A和4外面加

上一兩個極性相反的電極片和^2,作為主電流和屏蔽電流的回路電極，使主電流徑向

流入地層不遠處即發(fā)散。所測出的視電阻率主要反映井壁附近巖層電阻率的變化。在滲

透層井段就反映侵入帶R,的變化。圖2-8所給的是一種實際應(yīng)用的深、淺三側(cè)向電極系,

電極系尺寸如下（單位為m）（其中電極上面的數(shù)值表示該電極的長度，兩個電極之間的

數(shù)值表示電極之間相隔的距離）。淺三側(cè)向：

—0.2—0.025^e*0.4^1.1

0.025——0.2—

AAA）A?A?

深三側(cè)向:

1」“04…=0.15c…04cJ」

——0.2——0.025——0.025—0.2—

BjA〕為A2B2

儀器全長3.6m,儀器直徑為0.089m。

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二、影響三側(cè)向測井視電阻率的因素

1.曲線的影響因素

三側(cè)向測井的視電阻率理論曲線特征與電位電極系的視電阻率曲線相似，當上下圍

巖電阻率相等時，曲線關(guān)于地層中心對稱，在高阻地層中，視電阻率出現(xiàn)極大值；當上、

下圍巖電阻率不等時，則R”曲線呈不對稱形狀，且極大值移向高阻圍巖一方。R”的影

響因素包括兩方血，電極系參數(shù)和地層參數(shù)。前者影響電極系K,后者影響電極系的電位。

電極系參數(shù)包括電極系長度、主電極長度及電極系直徑。電極系愈長，主電流聚焦越好,

主電流進入地層的深度也越深。

計算表明，當電極系尺寸大到一定程度后，該改變電極系長度，對探測深度幾乎沒

有什么影響。另外，主電極長圖2-9深三側(cè)向測井的電流分布

度對曲線的縱向分層能力有影響，主電極越短，分層能力越強。所以，為劃分地層剖面,

應(yīng)選擇合適的主電極長度。下面討論地層參數(shù)的影響。

（1）層厚和圍巖的影響

當層厚大于4L（L為主電極長度）時，圍巖對測量的此基本上沒有影響，然而對厚

度小于或接近于L的地層，R“受圍巖影響比較明顯，層厚較薄時，電流層受低阻圍巖影

響而分散，使尺值降低，地層越薄，圍巖電阻率越小，&值降低越多。

（2）侵入帶的影響

侵入帶的影響與電極系的聚焦能力、侵入深度和侵入帶電阻率有關(guān)，侵入越深或電

極系的聚焦能力越差，侵入帶的影響則相對增加。在侵入深度相同條件下，隨著侵入帶

電阻率的增加，它對R”的影響也相對增加，并且增阻侵入比減阻侵入對R”影響更大些。

2.曲線的主要應(yīng)用

三側(cè)向測井實質(zhì)上是視電阻率測井的-一種，它能解決的問題與普通電阻率測井相同。

但是它受井眼、層厚、圍巖的影響較小，分層能力較強，是劃分不同電阻率地層的有效

方法，特別是劃分高阻薄層，比普通電極系視電阻率曲線要清楚得多。

（1）深淺三側(cè)向曲線重疊法判斷油水層。

由于三側(cè)向的視電阻率曲線受泥漿侵入帶的影響，而油層和水層侵入的性質(zhì)一般情

況下是不同的。油層多為減阻侵入，而水層多為增阻侵入。一些油田曾采用兩種不同探

測深度（深淺）的三側(cè)向視電阻率曲線，進行重疊比較的方法判斷油水層。在油層（泥漿

低侵）處，一般深三側(cè)向的視電阻率扁值大于淺三側(cè)向的視電阻率（的值，曲線出現(xiàn)正

異常，在水層（泥漿高侵）處，一般深三側(cè)向的視電阻率值小于淺三側(cè)向的視電阻率（

值，曲線出現(xiàn)負異常。

（2）劃分地質(zhì)剖面（分層）

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三側(cè)向測井受井眼、層厚、鄰層的影響較小，縱向分層能力較強，通常在R“曲線開

始急劇上升的位置為地層界面。

（3）確定地層電阻率

利用三側(cè)向的視電阻率確定地層電阻率時和普通電極系一樣，仍然遇到三個未知數(shù)

K（地層真電阻率），與（侵入帶電阻率）和D（侵入半徑）。結(jié)合微側(cè)向測井求得&,

再利用深淺三側(cè)向的侵入校正圖版就可求出R,和Do

三、雙側(cè)向視電阻率曲線特點及應(yīng)用

雙側(cè)向測井是在三側(cè)向和七側(cè)向的基礎(chǔ)上發(fā)展起來的，它采用兩個柱狀電極和七個

體積較小的環(huán)狀電極，電極系結(jié)構(gòu)如圖2-10。其中是主電極，兩對監(jiān)督電極和A/2、

M和N?以及兩對屏蔽電極片和4、和,每對電極對稱地分布在4兩側(cè)，并短

A2A2

路相接。電極系深度記錄點為主電極的中心，為增加探測深度，和A?不是環(huán)狀而是柱

狀電極，與三側(cè)向的屏蔽電極相同。

測量時4電極供以恒定電流10,兩對屏蔽電極A和和A?流出相同極性的

屏蔽電流/,、通過自動調(diào)節(jié)電路保持監(jiān)督電極例1和乂（或“2和N2）間的電位

差為零，柱狀屏蔽