電鍍層厚度測(cè)量方法

關(guān)于電鍍層厚度測(cè)量方法第1頁(yè)，講稿共14頁(yè)，2023年5月2日，星期三測(cè)量電鍍層厚度意義電鍍層厚度是衡量鍍層質(zhì)量的重要指標(biāo)。很大程度影響著產(chǎn)品的可靠性和使用壽命。是鍍層物理性能測(cè)試中的一個(gè)重要項(xiàng)目。

第2頁(yè)，講稿共14頁(yè)，2023年5月2日，星期三

檢測(cè)方法分類破壞性檢測(cè)點(diǎn)滴法、液流法、溶解法、電量法（庫(kù)侖法）和金相法非破壞性檢測(cè)磁性法、渦流法、X射線法第3頁(yè)，講稿共14頁(yè)，2023年5月2日，星期三

鍍層厚度和電位差同時(shí)測(cè)定

（庫(kù)侖儀）

原理庫(kù)侖法又稱電量法.在被測(cè)鍍層表面的已知面積上,以恒定電流密度在相應(yīng)試液中鍍件作為陽(yáng)極來溶解鍍層.當(dāng)鍍層金屬溶解完畢,裸露出基體或中間鍍層時(shí),電解池電壓發(fā)生突變,以此作為測(cè)量終點(diǎn).根據(jù)庫(kù)侖定律,以溶解鍍層金屬消耗的電量、溶解鍍層面積、鍍層金屬的電化當(dāng)量、密度以及陽(yáng)極溶解的電流效率計(jì)算鍍層的局部厚度。應(yīng)用

1、測(cè)定各種金屬鍍層的厚度。

2、測(cè)定多層金屬鎳之間的電位差。第4頁(yè)，講稿共14頁(yè)，2023年5月2日，星期三測(cè)試槽cell

去膜電解液

電解槽測(cè)試槽銀/氯化銀參比電極攪拌

墊圈試樣第5頁(yè)，講稿共14頁(yè)，2023年5月2日，星期三四層鎳電位差及厚度圖示第6頁(yè)，講稿共14頁(yè)，2023年5月2日，星期三金相法(cross-section)原理利用光學(xué)原理，對(duì)物體進(jìn)行放大，可以觀察到物體表面或斷面的金相顯微結(jié)構(gòu)。應(yīng)用通過對(duì)電鍍用的底材、電鍍層的橫截面和表面的結(jié)構(gòu)放大觀察，可分析電鍍品的品質(zhì)和找出缺陷（如氣孔、裂紋、夾雜物、剝皮等）產(chǎn)生的原因及測(cè)量鍍層厚度。第7頁(yè)，講稿共14頁(yè)，2023年5月2日，星期三鋁輪轂典型鍍層結(jié)構(gòu)第8頁(yè)，講稿共14頁(yè)，2023年5月2日，星期三ABS基材工件產(chǎn)生麻點(diǎn)第9頁(yè)，講稿共14頁(yè)，2023年5月2日，星期三X-ray測(cè)厚什么是X射線?RADIO

MICRO

IR

VISIBLE

UV

‘X-RAY’GAMMA-RAYX射線是一種能量形態(tài)，是電磁波譜中特定一段區(qū)域。第10頁(yè)，講稿共14頁(yè)，2023年5月2日，星期三探測(cè)器X射線管樣品PrimaryX-RayFluorescentX-RayX射線的產(chǎn)生第11頁(yè)，講稿共14頁(yè)，2023年5月2日，星期三X-ray測(cè)厚原理及其應(yīng)用原理X射線射到電鍍層表面，產(chǎn)生X射線熒光，根據(jù)熒光譜線出現(xiàn)能量位置及其強(qiáng)度可以得到鍍層組成及厚度的信息。應(yīng)用用于各種金屬鍍層厚度的測(cè)量和成份的分析。第12頁(yè)，講稿共14頁(yè)，2023年5月2日，星期三

典型的分析精度和準(zhǔn)確度ThicknessToleranceLevelI(1stlayer)ToleranceLevelII(2ndlayer)ToleranceLevelIII(3rdlayer)Lessthan20μin(0.5um)+1μinorbetter+2μinorbetter+3μinorbetterGreaterthan20μin+5%orbetter+10%orbette