幾種轉(zhuǎn)換波靜校正方法的研究

幾種轉(zhuǎn)換波靜校正方法的研究

1一些波靜態(tài)重建方法的基本原則1.1基于表面模型的波靜態(tài)轉(zhuǎn)換方法1.1.1檢波點(diǎn)靜校正量的計(jì)算通過對多波微井的解釋，可以暫時(shí)得到表面的縱和橫波速度。如果確定了縱波采集點(diǎn)的靜校正，可以根據(jù)模型法求出改革波采集點(diǎn)的長波靜校正。對于同一控制點(diǎn)的多波微測井資料,假設(shè)探測深度為H(m),縱波的平均速度和旅行時(shí)間分別為v那么這樣就可以得到隨探測深度H變化的v1.1.2靜校正數(shù)值的計(jì)算這是一種在共接收點(diǎn)(CRP)疊加剖面上通過優(yōu)化模型道與所求道之間的相關(guān)值而得出的求取大的短波長接收點(diǎn)靜校正量初始值的穩(wěn)健算法式中:s炮點(diǎn)靜校正量s另外,使用經(jīng)過炮點(diǎn)靜校正之后的數(shù)據(jù),式(3)中關(guān)于炮點(diǎn)靜校正量的項(xiàng)就不存在了。因此,式(3)可以簡化為從式(5)可以看出,對大的轉(zhuǎn)換波初始剩余靜校正量的估計(jì)應(yīng)該集中在解決短波長接收點(diǎn)靜校正量的問題上根據(jù)式(5),在CRP疊加剖面上,道與道之間的靜校正量近似等于接收點(diǎn)的真實(shí)靜校正量式中:G1.2短波長靜校正量的計(jì)算該方法的假設(shè)前提是縱波的靜校正問題已完全解決,其主要原理是在同一個(gè)層上縱波和橫波具有相似的特征,利用速度比值將縱波拉伸(或者橫波壓縮)到同一時(shí)間上,校正匹配相應(yīng)的PS波(或者PP波)數(shù)據(jù),最后用互相關(guān)方法計(jì)算PS波的短波長靜校正量1.2.1轉(zhuǎn)換橫波短波長短時(shí)方程假設(shè)縱波垂直速度為v由式(7)可以得到令P-SV波長波長靜校正量可通過如下步驟實(shí)現(xiàn)。(1)通過層析靜校正方法求取PP波炮點(diǎn)和檢波點(diǎn)靜校正量后,在轉(zhuǎn)換波ACCP(漸進(jìn)共轉(zhuǎn)換點(diǎn))道集上針對P-SV波目的層作NMO(正常時(shí)差校正),選取中大偏移距道集作共檢波點(diǎn)疊加。(2)在PP波共檢波點(diǎn)疊加剖面上拾取淺層目的層反射層位,得到PP波構(gòu)造時(shí)間。在P-SV波共檢波點(diǎn)疊加剖面上拾取相同層位的同相軸,得到P-SV波構(gòu)造時(shí)間。選擇能夠代表PP波和PS波構(gòu)造層位的點(diǎn),匹配PP波和PS波相同的層位時(shí)間,得到稀疏γ(3)通過稀疏γ1.2.2求取p-sv波短波長靜校正量盡管P-SV波共檢波點(diǎn)疊加剖面上消除了長波長靜校正和大部分中長波長靜校正的影響,但P-SV波檢波點(diǎn)靜校正量遠(yuǎn)大于縱波檢波點(diǎn)靜校正量,實(shí)際疊加剖面上P-SV波構(gòu)造層位的道與道之間還存在一定的時(shí)差,可以針對該構(gòu)造時(shí)間采用互相關(guān)方法來消除這種時(shí)差,得到P-SV波短波長靜校正量1.3根據(jù)長度和短波長的靜態(tài)校正，提出了兩種轉(zhuǎn)換波的靜校正方法根據(jù)多分量微測井資料求取低速層縱橫波平均速度比,利用縱波檢波點(diǎn)靜校正量和該速度比來求取轉(zhuǎn)換波長波長靜校正量1.3.1靜校正量的計(jì)算縱波靜校正量的求取可依據(jù)常規(guī)方法,利用縱波初至層析反演表層縱波速度,進(jìn)而求取縱波炮點(diǎn)和檢波點(diǎn)靜校正量。轉(zhuǎn)換波靜校正量包括炮點(diǎn)靜校正量和檢波點(diǎn)靜校正量,炮點(diǎn)靜校正量用縱波炮點(diǎn)靜校正量代替,而檢波點(diǎn)長波長靜校正量可以通過以下步驟實(shí)現(xiàn):(1)首先根據(jù)多波微測井資料求取單點(diǎn)的表層橫波平均速度比,然后通過樣板插值,利用該速度比求取全研究區(qū)的縱橫波平均速度比;(2)分“下?lián)堋焙汀盎靥睢?步求取轉(zhuǎn)換波檢波點(diǎn)長波長靜校正量?！跋?lián)堋膘o校正量用縱波檢波點(diǎn)靜校正量乘以縱橫波平均速度比;“回填”靜校正量用橫波替換速度計(jì)算,即式中:t1.3.2反射波時(shí)間的計(jì)算在轉(zhuǎn)換波ACCP(漸進(jìn)共轉(zhuǎn)換點(diǎn))道集上針對目的層進(jìn)行常規(guī)雙曲線速度分析,利用該速度對限制偏移距(只利用小偏移距)的單炮進(jìn)行動(dòng)校,在動(dòng)校炮集上加上炮點(diǎn)靜校正量和檢波點(diǎn)長波長靜校正量,最后拾取動(dòng)校炮集上最清楚的同一層反射時(shí)間。如果在同一炮的多個(gè)排列上拾取的不是同一層反射時(shí)間,在進(jìn)行曲線擬合時(shí)誤差就會比較大。解決辦法是將每個(gè)排列都置成與之對應(yīng)的一個(gè)炮號,這樣相當(dāng)于增加了炮數(shù),而每一炮就只對應(yīng)一個(gè)排列,在每個(gè)排列上拾取最清楚的反射層時(shí)間。如果同一排列的前、后排列最清楚的反射層不是同一層,那么前、后排列可分別拾取不同反射層中最清楚的反射段。在單炮上采用雙曲線動(dòng)校,動(dòng)校后加上炮點(diǎn)靜校正量和檢波點(diǎn)長波長靜校正量,此時(shí)反射波時(shí)間t(x)可以表示為式中:t對式(11)在x=0處進(jìn)行泰勒展開并取前3項(xiàng),整理后得到如下拋物線方程對拾取的每個(gè)排列的反射時(shí)間采用式(12)與拋物線擬合。在進(jìn)行拋物線擬合時(shí),去掉一些明顯錯(cuò)誤的值,而且要設(shè)置道與道之間時(shí)差的最大值(比如150ms),將超過該值的點(diǎn)去掉。2實(shí)際應(yīng)用2.1靜校正效果分析圖1a是只應(yīng)用炮點(diǎn)靜校正量的CRP疊加剖面,其反射波同相軸雜亂,相鄰檢波點(diǎn)反射時(shí)間起伏較大,同相軸一致性較差。圖1b為加上炮點(diǎn)靜校正量和檢波點(diǎn)長波長靜校正量的CRP疊加剖面,反射波同相軸得到了一定的改善,但大的短波長靜校正比較嚴(yán)重。圖1c是加上全部靜校正量的動(dòng)校記錄,可以看出,反射波同相軸連續(xù)光滑,一致性大大提高。圖1a中的800~900ms的有效反射波在圖1c中得到了明顯改善;圖1a中900ms左右的隱約同相軸在圖1c中也出現(xiàn)了較好的反射同相軸。當(dāng)然,圖1c中某些地方的同相軸還存在小的短波長靜校正量,可通過剩余靜校正方式來解決。2.2靜校正試驗(yàn)結(jié)果圖2a為應(yīng)用了炮點(diǎn)和檢波點(diǎn)靜校正量的PP波共檢波點(diǎn)疊加剖面,從其拾取的構(gòu)造層位中可看出,由于消除了炮點(diǎn)和檢波點(diǎn)靜校正的影響,PP波在2.4s左右目的層的同相軸一致性較好。圖2b為炮點(diǎn)應(yīng)用了PP波炮點(diǎn)靜校正量的P-SV波共檢波點(diǎn)疊加剖面,由于P-SV波存在嚴(yán)重的檢波點(diǎn)靜校正問題,3.65s左右構(gòu)造層位的同相軸上下抖動(dòng)劇烈,道與道之間存在較大的時(shí)差。圖2c是在圖2b的基礎(chǔ)上消除了長波長和中長波長靜校正量的P-SV波共檢波點(diǎn)疊加剖面,從中可以看出,P-SV波靜校正量問題得到了較好的解決,基本消除了同相軸抖動(dòng)和道與道之間的劇烈時(shí)差,同相軸的連續(xù)性和一致性得到了很大提高。圖2d為在3.65s左右的構(gòu)造時(shí)間采用互相關(guān)方法消除短波長和剩余靜校正量后的P-SV波共檢波點(diǎn)疊加剖面,可以看出,目的層構(gòu)造層位的道與道之間較小的時(shí)差得到了校正,同相軸連續(xù)光滑,該構(gòu)造與圖2a中的PP波構(gòu)造具有形態(tài)上的一致性。2.3靜校正效果的改善圖3a是未加靜校正量的原始單炮動(dòng)校記錄,其反射波同相軸雜亂,相鄰檢波點(diǎn)反射時(shí)間起伏較大。圖3b為加上炮點(diǎn)靜校正量和檢波點(diǎn)長波長靜校正量的動(dòng)校記錄,反射波同相軸連續(xù)性得到了一定的改善,但大的短波長靜校正比較嚴(yán)重。圖3c是加上全部靜校正量的動(dòng)校記錄,從中可以看出,反射波同相軸連續(xù)性提高很多。圖3a中的300~600ms的有效反射波在圖3c中得到了明顯改善;圖3a中900ms左右的隱約同相軸,在圖3c中也得到了一定體現(xiàn)。盡管如此,圖3c中某些地方的同相軸還存在小的短波長靜校正量,可以通過剩余靜校正方式來解決。3長、短波長靜校正量采用基于表層模型的轉(zhuǎn)換波靜校正方法來解決小的短波長靜校正量效果較好,而對于大的短波長靜校正量效果有限。若使用該方法后仍存在小的短波長靜校正量,可以通過剩余靜校正方式來解決?；跇?gòu)造時(shí)間控制的轉(zhuǎn)換波靜校正方法,解決PS波長波長和中長波