無損檢測超聲波二級考試題庫

無損檢測超聲波題庫一.是非題：246題二.選擇題：256題三.問答題：70題四.計算題：56題一.是非題（在題后括弧內(nèi)，正確的畫。，錯誤的畫X）TOC\o"1-5"\h\z由于機械波是由機械振動產(chǎn)生的，所以超聲波不是機械波。 （X）只要有作機械振動的波源就能產(chǎn)生機械波。 （X）振動是波動的根源，波動是振動狀態(tài)的傳播。 （O）介質(zhì)中質(zhì)點的振動方向與波的傳播方向互相垂直的波稱為縱波。 （X）當介質(zhì)質(zhì)點受到交變剪切應(yīng)力作用時,產(chǎn)生切變形變，從而形成橫波。 （O）液體介質(zhì)中只能傳播縱波和表面波，不能傳播橫波。 （X）根據(jù)介質(zhì)質(zhì)點的振動方向相對于波的傳播方向的不同，波的波形可分為縱波、橫波、表面波和板波等。 （X）不同的固體介質(zhì)，彈性模量越大，密度越大，則聲速越大 （X）同一時刻,介質(zhì)中振動相位相同的所有質(zhì)點所聯(lián)成的面稱為波前。 （X）實際應(yīng)用超聲波探頭中的波源近似于活塞波振動，當距離波源的距離足夠大時，活塞波類似于柱面波。（X）超聲波檢測中廣泛采用的是脈沖波，其特點是波源振動持續(xù)時間很長，且間歇輻射。（X）次聲波、聲波、超聲波都是在彈性介質(zhì)中傳播的機械波，在介質(zhì)中的傳播速度相同，他們的主要區(qū)別主要在于頻率不同。 （O）同種波型的超聲波，在同一介質(zhì)中傳播時，頻率越低，其波長越長。 （O）分貝值差表示反射波幅度相互關(guān)系，在確定基準波高后，可以直接用儀器的衰減器讀數(shù)表示缺陷波相對波高。 （O）一般固體中的聲速隨介質(zhì)溫度升高而降低。 （O）超聲波在同一介質(zhì)中橫波比縱波檢測分辨力高，但對于材料的穿透能力差。（O）超聲波在同一固體材料中，傳播縱波、橫波時聲阻抗都相同。 （X）超聲場中任一點的聲壓與該處質(zhì)點傳播速度之比稱為聲阻抗。 （X）固體介質(zhì)的密度越小，聲速越大，則它的聲阻抗越大。 （X）在普通鋼焊縫檢測中，母材與填充金屬聲阻抗相差很小，若沒有任何缺陷，是不會產(chǎn)生界面回波的。（O）波的疊加原理說明，幾列波在同一介質(zhì)中傳播并相遇時,可以合成一個波繼續(xù)傳播。（X）超聲波垂直入射到光滑平界面時，聲強反射率等于聲強透過率，兩者之和等于1。（X）超聲波垂直入射到光滑平界面時，界面一側(cè)的總聲壓等于另一側(cè)的總聲壓，說明能量守恒。（X）超聲波垂直入射到光滑平界面時，在任何情況下，透射波聲壓總是小于入射波聲壓。（X）超聲波垂直入射到光滑平界面時，其聲壓反射率或透過率僅與界面兩種介質(zhì)的聲阻抗有關(guān)。（O）超聲波垂直入射到Z2>Z1的光滑平界面時，若聲壓透射率大于1,說明界面有增強聲壓的作用。（X）聲壓往復(fù)透射率高低直接影響檢測靈敏度高低，往復(fù)透射率高檢測靈敏度高，（O）TOC\o"1-5"\h\z超聲波垂直入射到光滑平界面時，聲壓往復(fù)透過率大于聲強透過率。 （X）超聲波垂直入射到光滑平界面時，界面兩側(cè)介質(zhì)聲阻抗相差愈小，聲壓往復(fù)透射率愈低。（X）※當鋼中氣隙（如裂紋）厚度一定時，超聲波頻率增加，反射波高也隨著增加。 （O）當超聲波聲束以一定角度傾斜入射到不同介質(zhì)的界面上，產(chǎn)生同類型的反射和折射波，這種現(xiàn)象就是波形轉(zhuǎn)換。 （X）超聲波傾斜入射到界面時，界面上入射聲束的折射角等于反射角。 （X）超聲波傾斜入射到界面在第一臨界角時，第二介質(zhì)中只有折射橫波。 （O）只有當?shù)谝唤橘|(zhì)為液體時，才會有第三臨界角。 （X）當橫波傾斜入射到固/固截面時，縱波反射角為900時所對應(yīng)的橫波入射角稱為第三臨界角。此時第一介質(zhì)中沒有反射橫波。（X）橫波傾斜入射到鋼/水界面，水中既無折射橫波，又無折射縱波。 （X）為使工件中只有單一的橫波，斜探頭入射角應(yīng)選擇為第一臨界角或第二臨界角。（X）超聲波入射到C1>C2的凸曲面時（從入射方向看），其折射波發(fā)散。 （X）以有機玻璃作聲透鏡的水浸聚焦探頭，有機玻璃/水界面為凸曲面。 （X）超聲波的擴散衰減主要取決于波陣面的形狀，與傳播介質(zhì)的性質(zhì)無關(guān)。 （O）引起超聲波衰減的主要原因波速擴散、晶粒散射、介質(zhì)吸收。 （O）超聲平面波不存在材質(zhì)衰減。 （X）對同一介質(zhì)而言，橫波的衰減系數(shù)比縱波大得多。 （O）在同一介質(zhì)中，傳播縱波、橫波時的聲阻抗不一樣。 （O）超聲波入射到C1>C2的凸界面時，其透射波聚集。 （O）超聲波垂直入射到光滑平界面時，入射聲壓等于透射聲壓和反射聲壓之和。 （X）超聲場近場區(qū)內(nèi)聲壓分布不均勻、起伏變化是由于波的干涉造成的。 （）超聲場近場區(qū)內(nèi)的缺陷一概不能發(fā)現(xiàn)。 （）聲源輻射的超聲能量，總是聲束中心線上的聲壓最高。 （）超聲波的半擴散角大，超聲能量集中，聲束的指向性好，檢測靈敏度高，對缺陷定位準確。（X）超聲場可分為近場區(qū)和遠場區(qū)，波源軸線上最后一個聲壓極大值的位置至波源的距離稱為超聲場的近場區(qū)長度。 （）2.6因為近場區(qū)內(nèi)處于聲壓極小值處的較大缺陷回波可能較低,而處于聲壓極大值處的較小的缺陷回波可能較高，應(yīng)盡可能避免在近場區(qū)檢測。 （）超聲頻率不變，晶片面積越大，超聲的近場長度越短。 （）超聲場遠場區(qū)聲壓隨距離增加單調(diào)減小是由于介質(zhì)衰減的結(jié)果。 （）在其他條件相同時，橫波聲束的指向性比縱波好，橫波的能量更集中一些，因橫波波波長比縱波短。（）同頻率的探頭其擴散角與探頭晶片尺寸成反比，近場區(qū)長度與晶片面積成正比。（）橫波斜探頭聲場假想聲源的面積大于實際聲源面積。 （）檢測時采用低頻是為了改善聲束指向性，提高檢測靈敏度。 （）因為超聲波存在擴散衰減，所以，檢測時應(yīng)盡可能在進場區(qū)進行。（）在實際超聲波檢測中，測定探頭聲速軸線偏離與橫波探頭的 K值應(yīng)規(guī)定在2N以外進行測定。（）

當其他條件一定時，若超聲波頻率增加，則近場區(qū)長度和半擴散角都增加。（橫波探頭晶片尺寸一定，當其他條件一定時，若超聲波頻率增加，則近場區(qū)長度和半擴散角都增加。（橫波探頭晶片尺寸一定，K值增大時，近場區(qū)長度減小。 （TOC\o"1-5"\h\z超聲波的能量主要集中在2竹以內(nèi)的錐形區(qū)域，此區(qū)域稱為主聲束。 （）一般聲束指向角越小，則主聲束越窄，聲能量越集中，從而可以提高對缺陷的分辨能力以及準確判斷缺陷的位置。 （）在超聲場的未擴散區(qū)，可將聲源輻射的超聲波近似看成平面波，其平均聲壓不變。（）頻率、晶片尺寸等條件相同時，在同一介質(zhì)中，橫波聲束指向性比縱波差。（）其它條件相同時，鋼中橫波聲場近場長度隨探頭的折射角增大而減小。 （）縱波聲場存在近場區(qū)，橫波聲場不存在近場區(qū)。 （）超聲波的聲束指向性不僅與頻率有關(guān)，而且與波形有關(guān)。 （）面積相同、頻率相同的圓晶片和方晶片，超聲場的近場區(qū)場區(qū)相同 （）面積相同、頻率相同的圓晶片和方晶片，聲束指向性也相同 （）在同樣的檢測條件下，當自然缺陷的反射回波，與某人工規(guī)則反射體的反射回波等高時，則該人工規(guī)則反射體的尺寸，就是此自然缺陷的實際尺寸。 （）短橫孔是長度明顯小于聲束截面積的橫孔，其孔徑和長度一定，波高與距離的變化規(guī)律與平底孔相同。（）檢測條件一定，平底孔的波高與其面積成正比，與距離成反比。（）長橫孔是長度大于聲束截面積的橫孔，其孔徑一定，距離增加一倍其回波下降9dB.（）對軸類工件作外圓徑向縱波檢測時，曲底面回波聲壓與同聲程理想大平底回波聲壓反射規(guī)律不同。（）當X三3N時，超聲波在內(nèi)孔檢測圓柱體，其回波聲壓小于同距離大平底回波聲壓。（）TOC\o"1-5"\h\z實用AVG曲線只適用于特定的探頭，使用時不需要進行歸一化處理。 （）在通用AVG曲線上，可直接查得缺陷的實際聲程和當量尺寸。 （）通用AVG曲線采用的距離是以近場長度為單位的歸一化距離，適用于不同規(guī)格的探頭。（）超聲波探傷儀的人型顯示、8型顯示、C型顯示都屬于波形顯示。 （）超聲波儀器的C型顯示能顯示工件中缺陷在探測方向上的面積投影，但不能顯示其深度。（O）探傷儀的掃描電路即為控制探頭在工件檢測面上掃查的電路。 （）調(diào)節(jié)超聲波探傷儀“延遲”旋鈕時，掃描線上回波信號間的距離也將隨之改變。（）調(diào)節(jié)超聲波探傷儀“深度細調(diào)”旋鈕時，可連續(xù)精確的調(diào)節(jié)時基線代表的檢測范圍以對缺陷準確定位。（）衰減器是用來調(diào)節(jié)檢測靈敏度的，衰減器讀數(shù)按衰減方式標出的，讀數(shù)越大，靈敏度越高。（）TOC\o"1-5"\h\z調(diào)節(jié)探傷儀“抑制”旋鈕時，抑制越大，儀器動態(tài)范圍越大。 （）脈沖重復(fù)頻率的調(diào)節(jié)與被探工件厚度有關(guān)，對厚度大的工件，應(yīng)采用較低的重復(fù)頻率。（）所謂數(shù)字式超聲波探傷儀主要是指發(fā)射，接受電路的參數(shù)控制和接收信號的處理、顯示均采用數(shù)字化方式的儀器。 （）數(shù)字式超聲波探傷與模擬式超聲波探傷儀最根本的區(qū)別是，探頭接收的超聲信號需經(jīng)數(shù)/模轉(zhuǎn)換，將數(shù)字信號轉(zhuǎn)換為模擬信號，處理后顯示出來。 （）在數(shù)字式超聲波探傷儀中，脈沖重復(fù)頻率又稱為采樣頻率。 （）超聲波探頭中的關(guān)鍵部件是晶片，它的作用是電能和聲能的互換。 （）超聲波探頭發(fā)射超聲波時產(chǎn)生正壓電效應(yīng)，接收超聲波時產(chǎn)生逆壓電效應(yīng)。（）壓電材料中，單晶材料發(fā)射靈敏度較高，多晶材料接受靈敏度較高。 （）超聲波探頭所使用晶片的壓電效應(yīng)不受溫度的影響。 （）焊接接頭超聲波檢測用斜探頭，當楔塊底面后部磨損較大時，其折射角將變大。（）雙晶直探頭由于延遲塊的存在，避免了始脈沖引起的盲區(qū)問題，可以檢測近表面缺陷和進行薄板檢測。（）縱波雙晶直探頭檢測工件時，對位于菱形聲束會聚區(qū)內(nèi)缺陷的檢測靈敏度高。（）TOC\o"1-5"\h\z雙晶探頭只能用于縱波檢測。 （）聚集探頭根據(jù)焦點形狀不同分為點聚焦和線聚焦。 （）與普通探頭相比，聚焦探頭的分辨力較高。 （）使用聚焦透鏡能提高靈敏度和分辨力，但減小了探測范圍。 （）由于水中只能傳播縱波，所以水浸探頭只能進行縱波檢測。 （）水浸聚焦探頭檢測工件時，實際焦距比理論計算值大。 （）工件表面比較粗糙時，為防止探頭磨損和保護晶片，宜選用硬保護膜。 （）探頭的工作頻率是指探頭每秒鐘內(nèi)發(fā)射超聲脈沖的次數(shù)。 （）標準試塊的材質(zhì)、形狀、尺寸及精度，使用單位可以根據(jù)自行確定。 （）用雙晶直探頭檢測厚度不大于20mm的鋼板時，應(yīng)采用CB-II標準試塊對檢測系統(tǒng)進行校準。（）CSIII試塊是一種適用于檢測面為曲面的鍛件檢測標準試塊。 （）CSK-IA試塊上@50、@44、@40三孔的臺階，可用來測定斜探頭的分辨力。（）CSK-IA、CSK-IIIA、CSK-W試塊主要用于制作橫波距離-波幅曲線、校準斜探頭的K值、橫波掃描速度和檢測靈敏度等。 （）CSK-IIA試塊上的人工反射體是①1X6。 （）斜探頭的入射點是指其主聲束軸線與檢測面的交點。 （）測定探頭的K值或Bs應(yīng)在近場區(qū)內(nèi)進行，因為近場內(nèi)聲壓最高點在聲束軸線上，測試誤差小。（）斜探頭的K值常用CSK-IA試塊上的e50和少橫孔來測定。 （）測定組合靈敏度時，可先調(diào)節(jié)儀器的“抑制”旋鈕，使電噪聲電平W10%,再進行測試。（）測定“始脈沖寬度”時，應(yīng)將儀器的靈敏度調(diào)至最大。 （）儀器的垂直線性是指儀器顯示屏上時基線顯示的水平刻度與實際聲程之間成正比的程度。（）調(diào)節(jié)探傷儀的“水平”旋鈕，將會改變儀器的水平線性。 （）靈敏度余量就是儀器與探頭的綜合靈敏度。 （）盲區(qū)是指從探測面到能發(fā)現(xiàn)缺陷的最小距離，與儀器的阻塞時間和始脈沖寬度有關(guān)。（）盲區(qū)內(nèi)缺陷一概不能發(fā)現(xiàn)。 （）為提高分辨力，在滿足探傷靈敏度要求情況下，儀器的發(fā)射強度應(yīng)盡量調(diào)得低一些。（）脈沖反射法可分為缺陷反射法、底波高度法、多次底波法。 （）多次底波法缺陷檢出靈敏度低于缺陷回波法。 （）液浸法檢測適用于表面粗糙的試件，探頭不易磨損，耦合穩(wěn)定，檢測結(jié)果重復(fù)性好，便于實現(xiàn)自動化檢測。 （）縱波法實質(zhì)上就是使用直探頭進行垂直入射檢測的方法。 （）管材和焊接接頭的超聲檢測方法主要是垂直入射法，而橫波法是垂直入射法的一種有效的輔助檢測方法。 （）手工超聲檢測法與自動超聲檢測法相比具有檢測結(jié)果準確，重復(fù)性好的優(yōu)點。（）超聲檢測方法中的單探頭法和雙探頭法對于工件中缺陷的檢出效果是一樣的，兩者的區(qū)別主要在探頭的TOC\o"1-5"\h\z數(shù)量。 （）儀器水平線性的好壞直接影響到對缺陷當量大小的判斷。 （）超聲檢測前應(yīng)根據(jù)被檢對象的形狀、對超聲波的衰減和檢測技術(shù)要求等來選擇探頭。（）探頭的選擇包括探頭的型式、頻率、晶片尺寸、靈敏度余量和斜探頭K值等。（）一般根據(jù)工件的形狀和可能出現(xiàn)缺陷的部位、方向等條件來選擇探頭的型式，使聲束軸線盡量與缺陷平行。 （）實際檢測中，檢測面積大的工件時，為了提高檢測效率宜采用小晶片探頭。 （）檢測小型工件時，為了提高缺陷定位定量精度宜選用小晶片探頭。 （）超聲耦合是指超聲波在檢測面上的聲強透射率。 （）曲面工件檢測時，檢測面曲率半徑越小，耦合效果越好。 （）對于表面不太平整,曲率較大的工件,為了減小耦合損失,宜選用大晶片探頭。（）超聲檢測前，探傷儀校準的主要內(nèi)容是儀器的掃描速度和檢測系統(tǒng)的水平線性校準。（）橫波掃查速度的校準方法有兩種：水平調(diào)節(jié)法和深度調(diào)節(jié)法。 （）模擬式超聲波探傷儀橫波檢測較厚工件焊縫常用深度調(diào)節(jié)法進行校準。 （）按水平距離校準橫波掃描速度必須在CSK-IA試塊上進行。 （）數(shù)字超聲檢測系統(tǒng)校準實際上就是探頭入射零點的校準和K值測量。 （）檢測靈敏度意味著發(fā)現(xiàn)小缺陷的能力，因此超聲檢測的靈敏度越高越好。 （）靈敏度的基本要素是基準反射體的幾何尺寸、基準反射體的最大探測距離、基準反射體的基準反射波高。（）在超聲檢測中，校準檢測靈敏度的常用方法有波高比較法和曲線對比法。兩者相比，波高比較法實際應(yīng)用很方便，定量快速、準確。 （）鍛件利用試塊法校準靈敏度主要應(yīng)用于無底波、厚度尺寸小于3N的工件檢測。（）用底波法校準靈敏度時，如底面粗糙或粘有水跡，將會使底波降低，這樣利用底波校準的靈敏度將會降低，缺陷定量將會偏小。 （）基準靈敏度和定量靈敏度是一回事， （）在焊接接頭的超聲檢測中通常初始檢測采用掃查靈敏度進行粗掃查，這個掃查靈敏度不得低于定量線靈敏度。 （）實際探傷中，為提高掃查速度減少雜波的干擾，應(yīng)將檢測靈敏度降低。 （）在選擇掃查方式時，應(yīng)保證工件的整個檢測區(qū)域有足夠的聲束覆蓋，并使掃查過程中聲束盡量與缺陷垂直。 （）當工件內(nèi)存在較大的內(nèi)應(yīng)力時，將使超聲波的傳播速度及方向發(fā)生變化。 （）儀器及探頭的性能、耦合與衰減、工件幾何形狀和尺寸、缺陷自身及缺陷位置都影響缺陷的定量。（）超聲波傾斜入射至缺陷表面時，缺陷反射波高隨入射角的增大而減小。 （）在焊接接頭超聲檢測中,依據(jù)缺陷的靜態(tài)波形可準確地判斷缺陷性質(zhì)。 （）板材加工過程中產(chǎn)生的缺陷有分層、非金屬夾雜物、折疊、重皮、白點、裂紋等。（）在板材超聲檢測中，若出現(xiàn)缺陷的多次反射波，則說明板內(nèi)一定有白點。 （）在板材超聲檢測中，其耦合方式有直接接觸法和液浸法。 （）為提高工作效率，應(yīng)采用較大直徑的探頭對較薄的鋼板進行檢測。 （）由于板材在軋制過程中，缺陷往往沿壓延方向延伸，因此探頭移動方向應(yīng)與壓延方向垂直。（）JB/—2005標準規(guī)定,對板厚不大于20mm碳素鋼鋼板超聲波檢測時,用CBI試塊將工件等厚度部位第一次底波高度調(diào)整到滿刻度的50%,再提高14dB作為基準靈敏度。（）JB/—2005標準規(guī)定，板厚大于10mm到40mm鋼板的超聲檢測探頭，應(yīng)選用探頭晶片尺寸為。14?TOC\o"1-5"\h\z20mm，公稱頻率為MHz的單晶直探頭。 （）鋼板常用的掃查方式為全面掃查、列線掃查、邊緣掃查、格子線掃查。 （）鋼板檢測時，通常只根據(jù)缺陷波情況判定缺陷。 （）JB/-2005標準規(guī)定，對鋼板進行超聲檢測時，如發(fā)現(xiàn)缺陷指示面積小于9cm2鋼板可評為H級。（）JB/-2005標準規(guī)定,鋼板進行橫波檢測時,對板厚超過50mm的鋼板,應(yīng)在試塊的上下底面各加工一個尖角槽。 （）JB/-2005標準規(guī)定，鋼板檢測時若單個缺陷的指示長度小于40mm時，可不作記錄。（O）JB/-2005標準規(guī)定，若1mX1m鋼板中只有10mm長的一處裂紋，該鋼板可評定為I級。（）TOC\o"1-5"\h\z利用雙晶直探頭確定缺陷邊界或指示長度時,探頭移動方向應(yīng)與探頭分割面平行。（）復(fù)合鋼板超聲檢測時，可以從基板一側(cè)檢測，也可從復(fù)板一側(cè)檢測。 （）復(fù)合鋼板超聲波檢測主要對象是檢測基板和復(fù)板層各自的缺陷。 （）復(fù)合鋼鋼板缺陷的等級評定主要是針對未貼合缺陷而言的。 （）復(fù)合板進行沿鋼板寬度方向掃查時，間隔為100mm的平行線。 （）JB/-2005標準規(guī)定，將探頭置于復(fù)合板完全結(jié)合部位調(diào)節(jié)第一次底波高度為顯示屏滿刻度的80%,以此作為基準靈敏度。 （）JB/-2005標準規(guī)定，復(fù)合板檢測時，第一次底波低于示波屏滿刻度的5%,且未結(jié)合缺陷反射波大于20%時，該部位稱為未結(jié)合。 （）無縫鋼管中常見缺陷有裂紋、折疊、分層等。 （）小徑管采用液浸法進行超聲檢測時，以橫向缺陷檢測為主。 （）小徑管采用液浸法進行超聲檢測時，水層距離應(yīng)根據(jù)聚焦探頭的焦距確定。 （）@20X的無縫鋼管可以按照JB/-2005標準進行超聲波檢測。（）JB/-2005標準規(guī)定，無縫鋼管的超聲檢測時，每根鋼管應(yīng)從管子兩端沿相反方向各檢測一次。（）TOC\o"1-5"\h\z鍛件缺陷主要有縮孔、疏松、夾雜、白點、折疊、裂紋等。 （）軸類鍛件，一般來說用縱波直探頭作軸向探測，檢測效果最佳。 （）使用斜探頭對軸類鍛件作圓柱面軸向探測時，探頭應(yīng)用正反兩個方向掃查。 （）對餅形鍛件采用縱波直探頭作徑向探測是最佳的檢測方法。 （）對筒類鍛件采用縱波直探頭從端面檢測主要發(fā)現(xiàn)與軸線平行的徑向缺陷。 （）筒類鍛件為檢測與檢測面成一定傾角的徑向缺陷，應(yīng)采用橫波斜探頭進行檢測。（）鍛件的晶粒比較細小，單晶直探頭常采用頻率?5MHz,雙晶直探頭常采用頻率5MHz。（）鍛件檢測時如出現(xiàn)“林狀回波”，應(yīng)選用頻率較高的探頭，如5MHz探頭。 （）JB/-2005標準規(guī)定，壓力容器用碳鋼和低合金鋼鍛件超聲波檢測時，若工件檢測距離小于45mm,則應(yīng)采用CBII標準試塊檢測。 （）模擬式超聲波探傷儀可利用已知尺寸的試塊或鍛件用始波和一次反射波進行掃描速度的校準。（）鍛件超聲檢測時，波高比較法的檢測靈敏度校準方法有兩種，一種是試塊法，另一種是底波法。（）用底波法校準鍛件檢測靈敏度適用于鍛件被檢部位厚度小于3N鍛件。 （）用底波法校準鍛件檢測靈敏度與實際掃查在同一面上，可不用考慮表面耦合補償。（）用試塊法校準鍛件檢測靈敏度，當試塊表面形狀、粗糙度與鍛件不同時，要進行耦合補償。（）利用工件底波校準檢測靈敏度，由于是同材質(zhì)，所以在對缺陷定量時不需考慮材質(zhì)衰減。（）在鍛件檢測中,對于尺寸大于聲束截面的缺陷一般采用當量法定量。 （）在鍛件檢測中，對于尺寸小于聲束截面的缺陷一般采用測長法來測定缺陷的指示面積。（）在鍛件檢測中，對于尺寸大于聲束截面的缺陷一般采用半波高度法測定缺陷的指示長度或面積。（）在鍛件檢測中，顯示屏上的反射波可分為單個、分散、密集、游動缺陷反射波及底面回波。（）TOC\o"1-5"\h\z鍛件超聲檢測中，當缺陷回波很高、并有多次重復(fù)反射而底波嚴重下降甚至消失,說明鍛件中存在平行于檢測面的大面積缺陷。 （）鍛件超聲檢測中，常見的非缺陷回波分為三角反射波、遲到波、密集缺陷反射波。 （）JB/-2005標準規(guī)定,檢測面是曲面時，應(yīng)采用CSII試塊來測定由于曲率不同引起的聲能損失。（）JB/-2005《承壓設(shè)備無損檢測》標準規(guī)定，碳鋼和低合金鋼鍛件超聲檢測時，應(yīng)記錄當量直徑超過①3mm的單個缺陷的波幅和位置。 （）JB/-2005標準規(guī)定，碳鋼和低合金鋼各類鍛件超聲檢測時，應(yīng)記錄大于或等于①4mm當量直徑的缺陷密集區(qū)。 （）JB/-2005標準規(guī)定，碳鋼和低合金鋼鍛件的缺陷等級評定包括單個缺陷的等級評定，缺陷引起的底波降低量等級評定和密集區(qū)缺陷等級評定。 （）JB/-2005標準規(guī)定，缺陷引起底波降低量劃分鍛件質(zhì)量等級的方法不適用于近場區(qū)內(nèi)的缺陷。（）JB/-2005標準規(guī)定，在靠近缺陷處的無缺陷完好區(qū)內(nèi)第一次底波幅度BG與缺陷區(qū)域內(nèi)的第一次底波幅度BF之比值BG/BF（dB）稱為由缺陷引起的底波降低量。（）鍛件檢測時，如缺陷被檢測人員判定為白點，則應(yīng)按照密集缺陷評定鍛件等級。（）鑄件中主要缺陷有孔洞類缺陷、裂紋冷隔類缺陷、夾渣類缺陷以及成分類缺陷。（）在鑄件超聲檢測中，檢測靈敏度根據(jù)一組系列平底孔試塊測定的距離 一一波幅曲線進行調(diào)節(jié)。（）焊接接頭中的氣孔是體積型缺陷，而裂紋、未熔合、未焊透、夾渣是面積型缺陷。（）超聲檢測時基掃描速度的調(diào)整方法可分為聲程顯示調(diào)整法、水平距離顯示調(diào)整法、深度顯示調(diào)整法。（）在顯示屏上繪制距離一波幅曲線時，在檢測范圍內(nèi)不低于顯示屏滿刻度的20%。（）在焊接接頭超聲檢測中，根據(jù)在試塊上測得的數(shù)據(jù)繪制而成的距離一一波幅曲線，若要計入表面補償TOC\o"1-5"\h\z3dB，則應(yīng)將三條線同時上移3dB。 （）在焊接接頭超聲檢測中，可以用降低檢測面光潔度要求，而用提高耦合補償量的方法來達到檢測目的。（）干擾回波的幅度及其數(shù)量不僅與回波源的形狀、大小、高低有關(guān)，而且還與檢測靈敏度的高低及選用的探頭K值大小有關(guān)。 （）在焊接接頭超聲檢測中，探頭前端部可能堆積耦合劑而引起回波，若抹掉探頭前端部耦合劑則此波消失。（）無論遠距探頭一側(cè)，還是近距探頭一側(cè)，上、下焊角都會產(chǎn)生干擾回波。 （）在焊接接頭超聲檢測中，為了確定是否焊角干擾回波,可用手指沾上耦合劑敲打焊角位置。（）JB/-2005《承壓設(shè)備無損檢測》標準規(guī)定，鋼制承壓設(shè)備對接焊接接頭超聲檢測檢測面曲率半徑RWW2/4時，距離一波幅曲線的繪制應(yīng)在與檢測面曲率相同的對比試塊上進行。（）端點6dB法適用于測長過程中缺陷波中只有一個高點的情況。 （）在焊接接頭超聲檢測中，波幅在判廢線或判廢線以上的缺陷予以判廢和返修，因此無需測長。（）JB/-2005《承壓設(shè)備無損檢測》標準規(guī)定，鋼制對接焊接接頭超聲波檢測定量時，若相鄰兩缺陷在一TOC\o"1-5"\h\z條直線上，其間距小于其中較小的缺陷長度時，應(yīng)作為一條缺陷處理，以兩缺陷的指示長度之和作為其指示長度（間距不計入缺陷長度）。 （）JB/-2005《承壓設(shè)備無損檢測》標準規(guī)定，為了防止缺陷漏檢，檢測焊縫中縱、橫向缺陷必須采用相同的掃查靈敏度。 （）板厚為20mm的對接焊接接頭，采用K=2的探頭進行水平1:1掃描調(diào)節(jié)檢測時，若顯示屏上讀出缺陷的水平距離為50mm,則缺陷深度為15mm。（）JB/-2005《承壓設(shè)備無損檢測》標準規(guī)定，鋼制對接焊接接頭超聲檢測中，最大反射波幅低于定量線的非裂紋類缺陷均應(yīng)評為I級。 （）JB/-2005《承壓設(shè)備無損檢測》標準規(guī)定，曲面工件縱向?qū)雍附咏宇^超聲檢測時，對比試塊的曲率半徑與檢測面曲球半徑之差應(yīng)小于10%。 （）JB/-2005《承壓設(shè)備無損檢測》標準規(guī)定，曲面工件環(huán)向?qū)雍附咏宇^超聲檢測時時，對比試塊的曲率半徑應(yīng)與檢測面曲率半徑一致。 （）JB/-2005《承壓設(shè)備無損檢測》標準規(guī)定,對堆焊層檢測應(yīng)從母材或堆焊層一側(cè)進行。如對檢測結(jié)果有懷疑時，也可從另一測進行補充檢驗。 （）JB/-2005《承壓設(shè)備無損檢測》標準規(guī)定，對@60X8的承壓設(shè)備管子和壓力管道環(huán)向?qū)雍附咏宇^超聲檢測可采用GS-2型試塊。 （）JB/-2005《承壓設(shè)備無損檢測》標準適用于壁厚大于或等于6mm，外徑為32mm?159mm或壁厚為4mm?6mm,外徑大于或等于159mm的承壓設(shè)備管子和壓力管道環(huán)向?qū)咏宇^的超聲檢測。（）JB/-2005《承壓設(shè)備無損檢測》標準規(guī)定，對在用壓力管道環(huán)向焊縫對接接頭超聲檢測時，應(yīng)根據(jù)在用工業(yè)管道定期檢驗規(guī)程等技術(shù)規(guī)程的要求對缺陷的超聲檢測結(jié)果進行記錄。（O）JB/-2005《承壓設(shè)備無損檢測》標準規(guī)定，超聲檢測技術(shù)等級分為A、B、C三個檢測級別，超聲檢測技術(shù)等級選擇應(yīng)符合制造、安裝、在用等有關(guān)規(guī)范、標準及設(shè)計圖樣規(guī)定。（）TOC\o"1-5"\h\z按照JB/-2005《承壓設(shè)備無損檢測》規(guī)定，當采用兩種或兩種以上的檢測方法對承壓設(shè)備的同一部位進行檢測時,應(yīng)按照各自的方法評定級別。 （）超聲波焊縫橫波檢測時采用液態(tài)耦合劑，說明橫波可以通過液態(tài)介質(zhì)薄層。（）焊縫檢測所用的斜探頭，當楔塊底面前部磨損較大時，其K值將變小。 （）為了減少雜波對對檢測的干擾應(yīng)盡可能降低被檢測管道的表面粗糙度，減少補償量。（）焊縫橫波檢測在滿足靈敏度要求的情況下，應(yīng)盡可能選用K值較大的探頭。 （）探頭環(huán)繞掃查時，回波高度幾乎不變化，則可判定為點狀缺陷。 （）由于管座角焊縫中危害最大的是未熔合和裂紋等縱向缺陷，因此一般以縱波直探頭探測為主。（）焊縫橫波檢測時，裂紋等危害性缺陷的反射回波一般很高并且包絡(luò)較寬。 （）超聲檢測工藝按照相應(yīng)法規(guī)、標準的要求進行編制，不能僅限于本單位的特點和檢測能力。 （）按照《特種設(shè)備無損檢測人員考核與監(jiān)督管理規(guī)則》的要求I級超聲檢測人員可在n、m級超聲檢測人員的指導下進行超聲檢測操作、記錄檢測數(shù)據(jù)、整理檢測資料、評定檢測結(jié)果、簽發(fā)檢測報告。（）超聲通用工藝應(yīng)當對超聲檢測中的技術(shù)檔案資料的格式要求、傳遞要求、保管要求作出要求。（）

是非題答案XXOXOXXXXXXOOOOOXXXOXXXXOXOXXOXXOXXXXXXOOXOOOXOXXXOOXXOOXXXOXOOOOXOXOOXXOXOXXOXOXOXXOXXOOXXOXXXOOOXOOOXXXXXXOOOXOXOXXXXOOOOOOOXXXXXOOXXOOXXXXOXOXOXOXXXXOOOOXOXOXOXXOXXOOXXOXOXOXOXOXOOXOXXOOXXXOXOOXXXOOOXXXXOOOXOOXOOXXOOXOOXXOXOOOXOOXOOOXOOOOOOXXO二.選擇題（將正確答案序號填在括號內(nèi)）以下關(guān)于諧振動的敘述，哪一條是錯誤的（A）。A.諧振動就是質(zhì)點在作勻速圓周運動B.任何復(fù)雜振動都可視為多個諧振動的合成C.在諧振動中，質(zhì)點在位移最大處受力最大，速度為零D.在諧振動中，質(zhì)點在平衡位置速度最大，受力為零波動過程中，波在單位時間內(nèi)所傳播的距離稱為（c）。A.波長 B.周期C.波速 D.頻率超聲波的波速C,波長入與頻率f之間的關(guān)系為（A）。A.C=Xf B.f=CXC.入=fC D.C=f2X頻率f在（d ）范圍內(nèi)的機械波稱為超聲波。A.fW20000赫茲 B.f<20000赫茲C.f三20000赫茲 D.f>20000赫茲在波動中，橫波又稱為（C）。A.蘭姆波 B.疏密波C.切變波 D.瑞利波哪種類型波在固體、液體、氣體介質(zhì)中均能傳播。（C）A.橫波 B.縱波、橫波C.縱波 D.縱波、橫波、表面波超聲波在介質(zhì)中的傳播速度與（D）有關(guān)。A.介質(zhì)的彈性 B.介質(zhì)的密度C.超聲波波型 D.超聲波形狀固體介質(zhì)的彈性模量越小，密度越大，則聲速（C）。A.越大 B.不變C.越小 D.無關(guān)在同種固體材料中，聲速與波的類型之間的關(guān)系為（B）。A. Cl < Cs < CR B. Cl>Cs>CrC. CL > CR > CS D.以上都不對在相同的聲壓下，，材料的聲阻抗越大，質(zhì)點振動速度就越小，因此聲阻抗表示（A）。A.超聲場中介質(zhì)對質(zhì)點振動的阻礙作用B.超聲場中材質(zhì)的晶粒對超聲波的衰減作用C.反射波和透過波的聲能分配比例

D.以上都對在同一固體材料中，當分別傳播縱波、A.不變 B.C.ZR>ZS>ZL D.超聲波探傷儀垂直線性好，說明（橫波及表面波時ZL>ZS>ZRD.以上都對在同一固體材料中，當分別傳播縱波、A.不變 B.C.ZR>ZS>ZL D.超聲波探傷儀垂直線性好，說明（橫波及表面波時ZL>ZS>ZRZs>Zl>ZRA)。該物質(zhì)的聲阻抗將（b）。A.任意兩波高之比H1接近于聲壓p之比，一般情況下可認為二者相等B.任意兩波之比今反比于聲壓之比pH2 P2C.任意兩波之比H1大于聲壓之比pH P\o"CurrentDocument"2 2D.任意兩波之比H1小于聲壓之比pH2 P2一臺垂直線性好的超聲波探傷儀，在顯示屏上的回波由60%降至%（顯示屏垂直刻度），應(yīng)衰減(D6dB）。24dB12dBD.18dB顯示屏上有一波高為80%，另一個波高比它低16dBA.74%B.%C.%,則另一個波高為（C）。%惠更斯原理的作用是（c）。A.可以確定超聲波的類型C.確定不同波源輻射的超聲波的傳播方向

當兩列相干波在某處相遇，二者的波程差為（B.D.)可以描述波型轉(zhuǎn)換原理可以判斷超聲波的強弱時,合成振幅最大.九A.4C.入當超聲波在介質(zhì)中傳播遇到障礙物時

入一超聲波波長）3D.一九2在（a）情況下，波的繞射強，反射弱。（Df—障礙物尺寸“ 、 、、 八、 九A.Df<<入B.Df三人 C.Df二入 D.Df=-2超聲波傳播過程中，遇到尺寸與波長相當?shù)恼系K物時將發(fā)生（C）。A.無繞射只反射 B.只繞射無反射C.既繞射又反射 D,以上都可能超聲波垂直入射到Z1/Z2光滑平界面時，聲壓反射率的公式是r=（A）。z，-z1 B. 2z2 C. z2+z1 D. 4zzZ2+z1 z2+z1 下 （Z2+4”在同一界面上，聲強透過率T與聲壓反射率r之間的關(guān)系是（B）。A.T=r2T=A.T=r2T=1+r D.T=1—r在同一界面上，聲強反射率R與聲強透過率T之間的關(guān)系是（D）。A.R+T=1 B.T=1-RC.R=1-T D.以上全對縱波垂直入射到水/鋼界面時的聲壓反射率為94%,則聲強透過率為（b）。A.% B.%C.6% D.94%超聲波垂直入射到均勻介質(zhì)中的異質(zhì)薄層，當薄層厚度d2與薄層內(nèi)波長A2符合（b）時，超聲波

入—2入—24C.d=—九=4人2 4252超聲波傾斜入射到異質(zhì)介面時,可能發(fā)生：d)。A.反射B.折射C.波型轉(zhuǎn)換D.端角反射A.d2=B.d2入—22在反射、折射定律中，任何一種波的反射波或折射波所對應(yīng)角度的正弦與相應(yīng)的聲速之比是（a）。A.血％=Si鄧s B.SinaL Sin氏CLCs C：<CsC SinaL SinBs d 5訪。工豐SinBs?CCs ?CCs在同一介質(zhì)中，縱波反射角（a）橫波反射角。A.大于 B.等于C.小于 D.以上都不一定對CL1為第一介質(zhì)縱波聲速，CL2為第二介質(zhì)縱波聲速，根據(jù)反射、折射定律，第一臨界角％產(chǎn)生的條件是（a）。A.a=arcSinCA.a=arcSinCL1TC.a=arctanCL1_C2第一臨界角是（c）。A.折射縱波等于90。時的橫波入射角B.折射橫波等于90。時的縱波入射角C.折射縱波等于90。時的縱波入射角D.入射縱波接近90。時的折射角第二臨界角是（b）。A.折射縱波等于900時橫波入射角B.折射橫波等于900時的縱波入射角C.折射縱波等于900時的縱波入射角D.入射縱波接近900時的折射角B.3=arcCos1rD.CL2a=arcSinCL2CL1aL—縱波入射角。aL—縱波入射角。ara]]、']]分別為第一、第二、第三臨界角aL—縱波入射角。&「&ram分別為第一、第二、第三臨界角，縱波傾斜入射時，使第二介質(zhì)中只存在折射橫波的條件是c）。A.aL<aiC.a<a<aaj分別為縱波、橫波入射角，aL使縱波全反射的條件是（c）。aL<aiC.aNa第一介質(zhì)為有機玻璃（CL=2730m/s）,表達式為（b）。aLNaiD.a>aI、a；a^「分別為第一、第二、第三臨界角，橫波斜入射時，B.aLNa][D.a<a第二介質(zhì)為鋁(CL=6300m/s,CS=3100m/s),則第]臨界角的A.a=arcSin2A.a=arcSin273011 6300B.%=arcSinW3100D.以上都不對a^=arcSinD.以上都不對Cs鋼=3200m/s；Cl鋼=5900m/s；Cl水=1480m/s,超聲波橫波傾斜入射到鋼/水界面，則（d）。A：縱波折射角大于入射角 L7B.橫波折射角小于入射角C.橫波折射角大于入射角 D.縱波反射角大于橫波入射角平面波入射到曲界面上折射波產(chǎn)生聚焦或發(fā)散的依據(jù)是（d）。A.與曲面的凹凸有關(guān)B.與界面兩側(cè)介質(zhì)的波速有關(guān)對于凹面C.與界面兩側(cè)介質(zhì)的波速無關(guān)A和B平面波入射到（b）上，其反射波聚焦。A.凸曲面 B.凹曲面C.平界面 D.與界面形狀無關(guān)平面波在曲界面上透射情況，正確的圖是（b）。題圖B.不變D.按照反比例關(guān)系遞減d）。B.不變D.按照反比例關(guān)系遞減d）。B.晶粒散射D.以上全部a）。A.增大C.減小引起超聲波衰減的主要原因是（A.聲速的擴散C.介質(zhì)吸收超聲波的擴散衰減主要取決于（A.波陣面的幾何形狀 B.材料的晶粒度C.材料的粘滯性 D.散射衰減由材料晶粒粗大而引起的衰減屬于（b）。A.擴散衰減 B.散射衰減C.吸收衰減 D.介質(zhì)吸收在同一固體介質(zhì)中，縱、橫波聲速之比，與材料的（b）有關(guān)D.介質(zhì)的彈性A.密度 B.彈性模量 C.D.介質(zhì)的彈性脈沖反射波超聲波檢測主要利用超聲波的傳播過程中（b）特性A.散射 A.散射 B.反射超聲波在彈性介質(zhì)中傳播時，有A.質(zhì)點振動的和質(zhì)點的移動C.介質(zhì)的彈性發(fā)生變化C.透射 D.擴散（d）B.介質(zhì)的能量轉(zhuǎn)換D.質(zhì)點振動和能量傳播聲阻抗是：（c）A.超聲波振動的參數(shù)B.界面的參數(shù)C.傳聲介質(zhì)的參數(shù)D.反應(yīng)聲速的參數(shù)超聲波傾斜入射到異質(zhì)界面時的反射聲壓與透射聲壓與（d）無關(guān)A.反射波波型 A.反射波波型 8.入射角度C.界面兩側(cè)的聲阻抗D.入射波聲速超聲波傾斜入射至異質(zhì)界面，其傳播方向的改變主要取決于界面兩測（c）。A.介質(zhì)的聲阻抗 B.介質(zhì)的衰減系數(shù)C.介質(zhì)的聲速 D.反射的波型一般要求橫波斜探頭楔塊材料的縱波聲速小于被檢材料的縱波聲速，主要是因為只有這樣才有可能(a)。A.在工件中得到純橫波 B.得到良好的聲束指向性C.實現(xiàn)聲束聚焦 D.實現(xiàn)波型轉(zhuǎn)換

橫波斜探頭直接接觸法探測鋼板焊縫時，其橫波在（d）產(chǎn)生。A.有機玻璃楔塊中 B.從晶片中C.有機玻璃與耦合界面上 D.耦合層與鋼板界面上與超聲波頻率無關(guān)的衰減是（b）。A.散射衰減 B.擴散衰減 C.吸收衰減 D.材質(zhì)衰減超聲場近場區(qū)出現(xiàn)聲壓極大值、極小值是由于（ ）造成的。A.波的繞射 B.波的干涉C.波的衰減 D.波的傳播波源軸線上最后一個聲壓極小值到波源距離為（N為近場區(qū)長度）（ ）。A.NRNB.A.NRNB.—2c-7D.超聲場的近場區(qū)長度與波源面積及波長的關(guān)系（）。A.近場區(qū)長度與波源面積及波長成正比B.近場區(qū)長度與波源面積及波長成反比C.近場區(qū)長度與波源面積成正比，與波長成反比D.近場區(qū)長度與頻率成正比，與波源面積成反比TOC\o"1-5"\h\z當波源直徑一定，探頭頻率增加時，其近場區(qū)長度（ ）。A.增加 B.減少C.不變 D.與頻率無關(guān)下列四種直探頭中，近場區(qū)長度最小的是（ ）。B.A.B.C.5P20Z D.5P14Z超聲波檢測中避免在近場區(qū)定量的原因是（ ）。A.近場區(qū)的回波聲壓很高，定量不準確B.在近場區(qū)檢測時，由于探頭存在盲區(qū)，易形成漏檢C.在近場區(qū)檢測時，處于聲壓極小值處較大缺陷回波可能較低；處于聲壓極大值處的較小缺陷可能回波較高，容易出現(xiàn)誤判D.以上都對在超聲場中，（ ）聲壓隨距離增加單調(diào)減少。A.近場區(qū) B.遠場區(qū)C.盲區(qū) D.未擴散區(qū)下面有關(guān)的敘述，（ ）點是錯誤的。A.半擴散角用零值輻射角表示B.未擴散區(qū)聲速不擴散，不存在擴散衰減C.未擴散區(qū)聲速擴散，存在擴散衰減D.半擴散角是主聲束輻射錐角之半超聲場未擴散區(qū)與近場區(qū)長度之間的關(guān)系是（）。B.b=A.bB.b=C.b= D.b=3N當探頭頻率一定，波源直徑增加時，半擴散角將（ ）。A.增加 B.減少C.不變 D.與直徑無關(guān)下列直探頭，在鋼中指向性最好的是（ ）。A. B.3P14ZC.4P20Z D.5P14ZTOC\o"1-5"\h\z直徑①12mm、頻率5MHz縱波直探頭在鋼中的指向角是（ ）。A. B.D.下列說法哪些是正確的（ ）。A.實際聲場的波源是非均勻激發(fā),波源中心振幅大,邊源振幅小B.理想聲場是脈沖波，實際聲場是連續(xù)波C.理想聲場是連續(xù)波，實際聲場是脈沖波A和C斜探頭橫波聲場近場區(qū)分布在兩種介質(zhì)中，在晶片尺寸和頻率相同時近場區(qū)長度隨橫波探頭K值的增大而（）。A.增大 B.不變C.減小 D.都有可能以下四種斜探頭中，鋼中近場區(qū)長度最大的是（）。A.X13K1 B.X13K2C.X13Kl D.X13K2TOC\o"1-5"\h\z頻率和晶片尺寸相同時，橫波與縱波相比，其指向性（ ）。A.較好 B.較壞C.一樣 D.以上都不對當X三3N時，在檢測條件相同的情況下，平底孔直徑增加一倍，其回波（ ）。A.下降6dB B.下降12dBC.上升6dB D.上升12dB當X三3N時，在檢測條件相同的情況下，平底孔距離增加一倍，其回波（ ）。A.下降6dB B.下降12dBC.上升6dB D.上升12dB當X三3N時，在檢測條件相同的情況下，回波聲壓與平底孔直徑的關(guān)系是（ ）。A.與直徑成正比 B.與直徑的平方根成正比C.與直徑的平方成正比 D.以上都不對當X三3N時，在檢測條件相同的情況下，面積比為2的兩個平底孔，其反射波高相差（ ）。A. 6dB B. 12dBC. 9dB D. 3dB當X三3N時，在檢測條件相同的情況下，比①3平底孔回波小7dB的同聲程平底孔直徑是（ ）。A.①1mm B.①2mmC.①4mm D.①當X三3N時，在檢測條件相同的情況下，長橫孔距離增加一倍其回波（）。A.下降6dB B.上升12dBC.上升3dB D.下降9dB當X三3N時，在檢測條件相同的情況下，長橫孔直徑增加一倍，其回波（ ）。A.下降3dB B.上升3dBC.下降6dB D.上升6dB當XN3N時，在檢測條件相同的條件下，孔徑比為4的兩個球形人工缺陷，其反射波相差（）。A.6dB B.12dBC.24dB D.18dB當X三3N時，在檢測條件相同的情況下，直徑比為3的實心圓柱體，其曲底面回波相差（ ）。A. B.12dBC.6dB D.24dBTOC\o"1-5"\h\z當X三3N時，在檢測條件相同的情況下，大平底面距離增加一倍，其回波（ ）。A.下降3dB B.上升3dBC.下降6dB D.上升6dB外徑為D，內(nèi)徑為d的空心圓柱體，以相同的靈敏度在內(nèi)壁和外圓檢測。如忽略耦合差異，則底波高度比為（ ）。A.D-d B.：DD+d d dC.、D—d D.d22 d遠場范圍的超聲波可視為（ ）的變化規(guī)律A.平面波 B.柱面波 C.球面波 D.脈沖波焊縫超聲波檢測中常用的規(guī)則反射體是（ ）A.平底孔B.長橫孔C.球孔D.大平底在同樣的檢測條件下，當自然缺陷反射回波與某人工規(guī)則反射體回波等高時，則該人工規(guī)則反射體的尺寸就是此自然缺陷的（ ）。A.實際尺寸 B.檢測尺寸 C.顯示尺寸 D.當量尺寸A型顯示中，顯示屏上縱坐標顯示是（ ）。A.反射波幅度大小 B.缺陷的位置C.被檢材料的厚度 D.超聲波傳播時間A型顯示中，橫坐標顯示是（ ）。A.反射波幅度大小 B.探頭移動距離C.反射波傳播時間（或距離） D.缺陷尺寸大小一種超聲波探傷儀可直觀地顯示被檢工件任一縱截面上缺陷的分布及缺陷的深度，這種顯示是（）。A.A型顯示 B.8型顯示C.C型顯示 D.以上都是超聲波探傷儀中的同步電路，其主要作用是（）。A.每秒鐘產(chǎn)生數(shù)十至數(shù)千個脈沖，用來觸發(fā)儀器中其它電路，使之能夠步調(diào)一致，有條不紊地工作B.用來產(chǎn)生鋸齒波電壓，使示波屏上的光點沿水平方向作等速運動C.根據(jù)超聲波的傳播時間及幅度來判斷工件中缺陷位置的大小D.以上都對發(fā)射電路輸出的電脈沖，其電壓通常可達（ ）。A.1伏 B.幾伏C.幾十伏 D.幾百伏到上千伏脈沖反射式超聲波探傷儀中，產(chǎn)生時基線的電路單元叫做（）。A.掃描電路 B.觸發(fā)電路C.同步電路 D.發(fā)射電路使用儀器的《抑制》可以抑制草狀雜波，但將破壞儀器的（）。A.水平線性B.垂直線性 C.分辨力D.盲區(qū)下列（ ）是脈沖反射式超聲波探傷儀中接收部分旋鈕。A.深度粗調(diào)旋鈕 B.頻率選擇旋鈕B.延遲旋鈕 D.工作方式選擇旋鈕下列可定量調(diào)節(jié)顯示回波高度,用于調(diào)節(jié)檢測靈敏度，評定缺陷反射波大小的旋鈕是（ ）。

A.重復(fù)頻率旋鈕B.增益微調(diào)旋鈕C.A.重復(fù)頻率旋鈕B.增益微調(diào)旋鈕C.衰減器旋鈕以下哪一條，不屬于數(shù)字超聲波探傷儀的優(yōu)點（ ）。A.控制和接收信號處理和顯示采用數(shù)字化B.頻帶寬C.可記錄存貯信號表示壓電晶體發(fā)射性能的參數(shù)是（A.機電耦合系數(shù)KC.壓電電壓常數(shù)表示壓電晶體發(fā)射性能的參數(shù)是（A.機電耦合系數(shù)KC.壓電電壓常數(shù)g33根據(jù)波型不同，探頭分為（ ）。A.接觸式探頭和液浸探頭C.聚焦探頭和非聚焦探頭探頭（）的性能，A.晶片C.保護膜縱波直探頭主要用于檢測（A.對接焊縫C.鍛件和板材）。B.介電常數(shù)&D.壓電應(yīng)變常數(shù)4B.縱波探頭和橫波探頭D.單晶探頭和雙晶探頭決定著探頭的性能。B.D.）。阻尼塊隔聲層B.無縫鋼管D.以上都是國產(chǎn)斜探頭上標出的國產(chǎn)斜探頭上標出的K值是針對檢測（A.鋼C.銅國產(chǎn)斜探頭上標出的K值是（ ）。A. 縱波入射角的正切值,即K=tanaLC. 橫波折射角的正切值,即K=tan￡以下哪一條，不屬于雙晶探頭的優(yōu)點（A.檢測范圍大C.工件中近場長度小雙晶直探頭的最主要用途是（ ）。A.探測近表面缺陷C.精確測定缺陷高度線聚焦探頭聲透鏡的形狀為（ ）。A.球面C.柱面探頭上標的是指探頭的（）。A.重復(fù)頻率TOC\o"1-5"\h\z超聲波探頭對晶片要求，下列說法哪種是正確的（ ）。A.機電耦合系數(shù)K較大，以便獲得較高的轉(zhuǎn)換效率，壓電電壓常數(shù)g33和壓電應(yīng)變常數(shù)%較大B.機械品質(zhì)因子0m較小，以便獲得較高分辨力和較小的盲區(qū) " "C.頻率常數(shù)Nt較大，介電常數(shù)￡較小，以便獲得較高的頻率D.以上都是單晶直探頭接觸法檢測中，與探測面十分接近的缺陷往往不能有效地檢出，這是因為（ ）。B.衰減AB.衰減C.盲區(qū)C.盲區(qū)）制工件而言的。B.鋁D.非金屬B.縱波入射角的正弦值,即K=sinaLD.橫波折射角的正弦值,即K=sin8s）。B.盲區(qū)小D.雜波小B.精確測定缺陷長度D.用于表面缺陷檢測B.平面D.以上都可以B.工作頻率

C.觸發(fā)脈沖頻率探頭上X13K2中“2”的含義是（）。A.探頭的工作頻率為2MHzC.探頭的種類為2D.以上都不是B.探頭的KD.以上都不是B.探頭的K值為2D.以上都不是）。A.工作頻率C.探測深度下列哪組是焊接接頭標準試塊（A.CSI、CBIC.CSm、CSK-IAB.晶片尺寸D.近場長度）。B.CSK-mA、CSK-IAD.RB-I、CSIICSK-IA試塊的的R50、R100圓弧面，可用來測定（ ）。A.直探頭的的遠場分辨力C.A.直探頭的的遠場分辨力C.斜探頭的入射點B.D.斜探頭的K值斜探頭的聲束偏斜角超聲波探傷儀水平線性的好壞直接會影響（ ）。A.缺陷性質(zhì)判斷A.缺陷性質(zhì)判斷C.缺陷的定位B.缺陷大小判斷D.以上都是儀器的垂直線性好壞會影響（A儀器的垂直線性好壞會影響（A.缺陷的當量比較C.缺陷的定位）。B.AVG曲線面板的使用D.以上都對超聲波檢測中，顯示屏上有用的最小缺陷信號幅度與無用的噪聲雜波幅度比稱為（）。A信噪比B盲區(qū)C分辨率D靈敏度聲波探傷儀與探頭組合性能的指標有：（ ）。A.水平線性、垂直線性、衰減器精度B.靈敏度余量、盲區(qū)與始脈沖寬度、分辨率C.動態(tài)范圍、頻帶寬度、檢測深度D.垂直線性、水平線性、重復(fù)頻率超聲檢測系統(tǒng)的靈敏度（ ）。A.取決于探頭、高頻脈沖發(fā)生器和放大器B.取決于同步脈沖發(fā)生器C.取決于換能器機械阻尼D.隨分辨力提高而提高TOC\o"1-5"\h\z下幾種試塊中，能用于估計盲區(qū)范圍的是（ ）。A.CSK-IA B.CSK-mAC.CBn D.CS-2A型掃描顯示中，盲區(qū)是指（ ）。B.聲束擴散角以外的區(qū)域D.B.聲束擴散角以外的區(qū)域D.以上都不是C.從檢測面到能夠發(fā)現(xiàn)缺陷的最小距離超聲波探傷儀與探頭組合系統(tǒng)在顯示屏上區(qū)分相鄰兩缺陷的能力稱為（ ）。A.檢測系統(tǒng)B.時基線性C.垂直線性D.分辨率增加發(fā)射強度，分辨力將（ ）。A.提高B.不變C.降低D.相同變化超聲波檢測方法按原理分類，可分為（）。A.脈沖反射法 B.穿透法C.共振法 D.以上都對在脈沖反射法檢測中可根據(jù)（ ）判斷缺陷的存在A.端角反射波 B.缺陷回波、底波或參考回波的減弱或消失C.接收探頭接收到的能量的減弱 D.界面反射回波對接焊接接頭焊縫超聲波檢測最常采用的是（）。A.縱波法 B.蘭姆波法C.橫波法 D.爬波法E.瑞利波法橫波檢測最常用于（ ）。A.焊縫、管材檢測 B.檢測表面光滑工件的近表面缺陷C.檢測厚板的分層缺陷 D.薄板測厚超聲檢測的單探頭法難以檢出的缺陷是 （ ）。A.與波束軸線垂直的片狀缺陷 B.立體型缺陷C.與波束軸線平行的片狀缺陷 D. A和B主要用來發(fā)現(xiàn)與探測面平行的片狀缺陷的雙探頭法是（）。A.交叉式 B.丫型串列式C. K型串列式 D.串列式超聲檢測時對于定量要求高的情況應(yīng)選則（）的儀器。A.水平線性誤差小 B.垂直線性好、衰減器精度高C.盲區(qū)小、分辨率好 D.靈敏度余量高、信噪比高、功率大探頭的晶片尺寸增加對探頭的（ ）有不利影響。A.聲束的指向性 B.近場區(qū)長度C.遠距離缺陷檢出能力 D.以上都是TOC\o"1-5"\h\z檢測時采用較高的檢測頻率，可有利于（ ）。A.發(fā)現(xiàn)較小的缺陷 B.區(qū)分開相鄰的缺陷C.改善聲束指向性 D.以上都對采用頻率（）的直探頭在不銹鋼大鍛件超探時，可獲得較好的穿透能力。A. B.C.5MHZ D.10MHZ被檢工件晶粒粗大，通常會引起（ ）。A.草狀回波增多 B.信噪比下降C.底波次數(shù)減少 D.以上的全部或部分現(xiàn)象發(fā)生超聲檢測中，選用晶片尺寸大的探頭優(yōu)點是（ ）。A.曲面檢測時可減少耦合損失 B.可減少材質(zhì)衰減損失C.輻射聲能大 D.聲束能量耦合劑的最重要作用是（ ）。A.便于探頭移動 B.防止探頭磨損工件表面C.使超聲波能傳入工件 D.減少摩擦不是影響聲耦合的主要因素有（ ）。A.耦合層的厚度 B.耦合劑的聲阻抗C.工件表面粗糙度和工件表面形狀 D.耦合劑的涂刷超聲耦合層的厚度為（ ），透聲效果好，反射回波高。，，…， 1，，…，A.7波長的整數(shù)倍 B.7波長的奇數(shù)倍4C.1波長的奇數(shù)倍 D.1倍波長的奇數(shù)倍8如果聲波在耦合介質(zhì)中的波長為入，為使透聲效果好，耦合層厚度為（）。A.人/4的奇數(shù)倍 B.入/2整數(shù)倍C.小于人/4且很薄 D.以上B和C檢測粗糙表面的工件時，為提高聲能傳遞，應(yīng)選用（ ）。A.聲阻抗小且粘度大的耦合劑 B.聲阻抗小且粘度小的耦合劑C聲阻抗大且粘度大的耦合劑 D.聲阻抗適中黏度適中的耦合劑工件表面形狀不同時，對耦合效果將產(chǎn)生不同影響，下面的說法中（ ）是正確的。A.平面最好，凸曲面居中，凹曲面效果最差B.凹曲面最好，平面居中，凸曲面效果最差C.凸曲面最好，凹曲面居中，平面效某最差D.粗糙表面比平滑表面更容易實現(xiàn)耦合TOC\o"1-5"\h\z為減少凹面檢測時的耦合損耗，通常采用以下方法：（ ）A.使用高聲阻抗耦合劑 B.使用軟保護膜探頭C減少探頭耦合面尺寸 D.使用高頻率探頭由于工件表面粗糙，而造成聲波傳播的損耗，其表面補償應(yīng)為（ ）。A.2dB B.4dBC.用實驗方法測定的補償dB值 D.任意規(guī)定補償?shù)膁B值考慮檢測靈敏度補償?shù)睦碛墒牵?）。A.被檢工件厚度太大 B.工件底面與檢測面不平行C.耦合劑有較大聲能損耗 D.工件與試塊材質(zhì)、表面光潔度有差異對接焊接接頭超聲檢測時應(yīng)正確校準儀器掃描比例，其目的是（）。A.對缺陷準確定位 B.判斷缺陷波幅C.判斷結(jié)構(gòu)的反射波和缺陷波 D.以上A和C模擬式超聲波探傷儀按水平法校準后，顯示屏上的水平刻度值直接顯示反射體的（）。A.聲程距離 B.水平距離C.深度距離 D.以上都不對有一個厚度為300mm的鍛件需做直探頭縱波掃查，現(xiàn)欲利用CSK-I試塊厚100mm的底面將儀器的掃描速度調(diào)節(jié)為1：4,使底波B2、B4分別對準熒光屏的水平刻度（）就可以實現(xiàn)。A.25、100 B.50、100C.25、50 D.25、75模擬式超聲波探傷儀用的橫波斜探頭用CSK-I試塊按深度1：1進行掃描速度校TOC\o"1-5"\h\z準，R50、R100圓弧面的回波應(yīng)分別對準水平刻度（ ）A.、 B.、C.、 D.、在較薄對接焊接接頭超聲檢測中，一般宜使用（ ）方法校準橫波掃描速度。A.水平調(diào)節(jié)法 B.深度調(diào)節(jié)法C.聲程調(diào)節(jié)法 D.以上都是在厚焊縫斜探頭檢測時，一般宜使用（）校準儀器時基線A.水平法 B.深度法C.聲程法 D.二次波法用的直探頭檢測厚度90mm的餅型鍛件，校準靈敏度的方法錯誤的是（ ）。A.試塊調(diào)整法 B.底波調(diào)整法C.距離-波幅-當量曲線法 D.AVG曲線法為觀察缺陷動態(tài)波形和區(qū)分缺陷信號或偽缺陷信號，確定缺陷的位置、方向和形狀，可采用（）等探頭基本掃查方式A.前后、左右 B.轉(zhuǎn)角C.環(huán)繞 D.以上都是利用A型脈沖反射式超聲波探傷儀對缺陷定位時，影響缺陷定位的主要因素有（）。A.儀器和探頭 B.操作人員的影響C.工件的影響 D.耦合劑的影響橫波探頭在檢測過程中，斜楔將會磨損。下列說法錯誤的是（ ）。A.探頭磨損會使入射點發(fā)生變化B.探頭磨損可能導致探頭K值的增大或減小C.探頭磨損可能導致儀器的水平線性的變化D.探頭磨損可能導致掃描速度的變化超聲檢測中需經(jīng)常校驗探頭K值的原因是（ ）。K值是不穩(wěn)定的數(shù)據(jù)K值隨電壓的變化而變化K值常因磨損而發(fā)生變化D.以上都對缺陷反射聲壓的大小取決于（ ）。A.缺陷反射面大小 B.缺陷性質(zhì)C.缺陷取向 D.以上全部使用半波高度法測定小于聲束直徑的缺陷尺寸時，所測的結(jié)果（）。A.小于實際尺寸 B.接近聲束寬度C.稍大于實際尺寸 D.等于晶片尺寸對接焊接接頭斜探頭檢測時，與主聲束垂直的缺陷，缺陷表面狀態(tài)對回波高度的影響是（）。A.缺陷回波波高隨粗糙度增大而下降 B.無影響C.缺陷回波波高隨粗糙度增大而增大 D.以上都對超聲檢測時，缺陷的特征是指缺陷的（ ）。A.形狀 B.大小C.密集程度 D.以上都對下面有關(guān)61°反射波說法，（）是錯誤的A.產(chǎn)生61°反射時，縱波入射角與橫波反射角之和為90°B.產(chǎn)生61°反射時，縱波入射角為61°,橫波反射角為29°C.產(chǎn)生61°反射時，橫波入射角為29°,縱波反射角為61°D.產(chǎn)生61°反射時，其聲程是恒定直徑為d的鋼棒徑向檢測時，遲到波出現(xiàn)的位置是（ ）。A.和 B-和C,和 D.以上都不是單斜探頭檢測時，在近區(qū)有幅度波動較快，探頭移動時水平位置不變的回波，它們可能是（ ）。A.來自工件表面的雜波 B.來自探頭的噪聲C.工件上近表面缺陷的回波 D.耦合劑噪聲縱波直探頭在檢測工件時，有時會產(chǎn)生側(cè)壁干涉。側(cè)壁干涉對檢測結(jié)果的影響（ ）。A.影響缺陷的定量 B.影響缺陷的定位C.影響缺陷的定量、定位 D.檢測結(jié)果評級的影響在直接接觸法直探頭檢測時，底波消失的原因是（）。A.耦合不良 B.存在與聲束不垂直的平面缺陷C.存在與始脈沖不能分開的近表面缺陷 D.以上都可能造成底波消失TOC\o"1-5"\h\z鋼板缺陷的主要分布方向是：（ ）。A.平行于或基本平行于鋼板表面 B.垂直于鋼板表面C.分布方向無傾向性 D.以上都可能鋼板超聲波檢測主要應(yīng)采用：（ ）。A.縱波直探頭 B.表面波探頭C.橫波直探頭 D.聚焦探頭在鋼板液浸法檢測時，四次重合波法是（ ）。A.第四次界面回波^與第二次底波B2重合B.第四次底波’與第二次界面回波S：重合C.第四次底波B：與第一次界面回波S：重合D.第四次底波B：與第四次界面回波S：重合TOC\o"1-5"\h\z用充水探頭，采用三次波重合法檢測T=60mm厚鋼板，水層厚度應(yīng)調(diào)節(jié)約為（ ）mm。A.60 B.30C.45 D.JB/—2005標準適用于板厚為（ ）的碳素鋼及低合金鋼制承壓設(shè)備用板材的超聲檢測和質(zhì)量分級。A.6~250mm B. 6~300mmC.4~300mm D. 6~400mmJB/-2005標準規(guī)定，鋼板超聲檢時,探頭沿垂直于鋼板壓延方向，間距不大于（ ）的平行線進行掃查。A.400mm B.300mmC.200mm D.100mm鋼板超聲檢測中，校準檢測靈敏度的方法是（）。A.6dB法 B.試塊法或底波調(diào)節(jié)法C. 距離一波幅曲線法 D.以上都對在JB/標準中，（ ）試塊是承壓設(shè)備用鋼板超聲檢測所用到的。A.CSI B.CBIC.CSII D.RBJB/-2005標準規(guī)定,板厚大于20mm的靈敏度試塊平底孔直徑為（ ）。A.也 B.也5mmC.也2mm D.也4mmJB/-2005標準規(guī)定，檢測厚度為12mm鋼板，采用（ ）。A.單晶直探頭 B.斜探頭C.雙晶直探頭 D.以上都對JB/-2005標準規(guī)定，鋼板超聲檢測時，若底面第一次反射波B1V100%,而缺陷第一次反射波高F1和底面第一次反射波波高81波高之比（?）,則可判為缺陷。A.>40% B.<30%C.三50% D.<50%按JB/-2005標準規(guī)定，鋼板的評定與質(zhì)量分級是根據(jù)缺陷的（）。A.缺陷的性質(zhì) B.缺陷的指示長度C.缺陷的指示面積、缺陷面積率 D. 以上都是按JB/-2005標準規(guī)定，鋼板缺陷大小的測定，一般使用（）測定缺陷的長度。A.絕對靈敏度法 B.相對靈敏度法C. 端點峰值法 D.以上都是在1mXlm的鋼板上有兩處缺陷，其間距為80mm,一塊缺陷面積為40cm2,另一塊面TOC\o"1-5"\h\z積為70cm2,按照JB/—2005標準規(guī)定，該鋼板應(yīng)評為（ ）。A.I級 B.II級c.m級 d.w級在lmXlm的鋼板上，有一處指示長度為70mm的缺陷，其面積為40cm2,按照JB/—2005標準規(guī)定（不考慮坡口預(yù)定線問題），則該鋼板應(yīng)評為（ ）。A.I級 B.II級c.m級 d.w級lmX1m的鋼板上，有40處面積為10cm2的分層缺陷，間距均大于100mm。按照JB/—2005標準規(guī)定，則該鋼板應(yīng)評為（ ）。A.I級 B.II級c.m級 d.不合格檢測厚度為46mm的鋼板，在坡口預(yù)定線一側(cè)30mm處，發(fā)現(xiàn)一條指示長度為55mm的缺陷，按JB/—2005標準規(guī)定，該鋼板評為（ ）。a.II級 b.m級C.w級 D.V級JB/—2005標準規(guī)定，II級鋼板所允許存在的單個缺陷指示長度小于（）。A.80mm B.100mmC.120mm D.150mm在JB/—2005標準中，對壓力容器鋼板超聲檢測缺陷等級劃分的說法哪些是正確的是（ ）。a.鋼板缺陷等級劃分為i、n、m、w四個級別,W級質(zhì)量最高B.按單個缺陷等級劃分為，按單個缺陷指示面積和在任一1mX1m檢測面積內(nèi)存在的缺陷面積百分比分別評級，以最高級別作為鋼板缺陷等級C.所有單個缺陷指示面積都不記錄d.鋼板缺陷等級劃分為i、n、m、w四個級別,w級質(zhì)量最低JB/—2005標準規(guī)定，進行復(fù)合板檢測時，在坡口預(yù)定線兩側(cè)各50mm范圍內(nèi)應(yīng)進行（ ）掃查。A.50% B.20%C.100% D.不能確定JB/—2005標準規(guī)定，進行復(fù)合板坡口預(yù)定線兩側(cè)各50mm范圍內(nèi)檢測時,發(fā)現(xiàn)未結(jié)合的指示長度為30mm,該復(fù)合板應(yīng)評為（ ）。A.I級 B.II級c.m級 d.w級JB/—2005標準規(guī)定，適用于外徑為（ ）、壁厚大于或等于2mm的承壓設(shè)備用碳鋼和低合金無縫鋼管超聲檢測。A.12mm?400mm B.20mm?300mmC.12mm?660mm D.20mm?400mmJB/—2005標準規(guī)定適用于檢測無縫鋼管的（ ）缺陷。A.縱向 B.橫向C.分層 D.A和B小口徑無縫鋼管超聲檢測中，多采用聚焦探頭，其主要目的是（）。A.克服表面曲率引起超聲聲束嚴重擴散 B.提高檢測效率C.提高檢測靈敏度 D.以上都對JB/—2005標準規(guī)定，無縫鋼管的接觸法檢測應(yīng)使用與鋼管表面吻合良好的（）。A.雙晶探頭 B.雙斜探頭C.斜探頭或聚焦斜探頭 D.縱波斜探頭下面有關(guān)鋼管水浸檢測的敘述中，（ ）是錯誤的A.使用水浸式縱波探頭 B.探頭偏離管材中心線C.無缺陷時，熒光屏上只顯示始波和1~2次底波D.水層距離應(yīng)大于鋼中一次波聲程的1/2JB/—2005標準規(guī)定，無縫鋼管對比試樣中丫型槽的角度為（ ）。A.150 B.300C.450 D.600大口徑鋼管手工接觸法檢測時，對平行于管軸的縱向缺陷，應(yīng)選擇的探頭和掃查方法是（）。A.直探頭作徑向掃查 B.斜探頭作周向掃查C.直探頭作軸向掃查 D.以上都不對JB/—2005標準規(guī)定，無縫鋼管超聲檢測時，掃查靈敏度一般應(yīng)比基準靈敏度高（ ）。A.3dB B.6dB10dB D.12dBJB/—2005標準規(guī)定，無縫鋼管超聲檢測中，若缺陷回波幅度（）時，則判為不合格。A.等于或大于對比試塊人工缺陷1/2回波高B.等于或大于對比試塊人工缺陷回波高C.等于或大于對比試塊人工缺陷2倍回波高以上都不對鍛造缺陷主要有（ ）。A.折疊 B.夾雜C.縮孔 D.疏松鍛件中的（ ）缺陷，在鑄錠、鍛造、熱處理過程中都可能產(chǎn)生。A. 夾雜 B.折疊C.白點 D.裂紋TOC\o"1-5"\h\z軸類鍛件最主要檢測方向是（ ）。A.軸向直探頭檢測 B.徑向直探頭檢測C.斜探頭外圓面軸向檢測 D.斜探頭外圓面周向檢測餅類鍛件最主要探測方向是（ ）A.直探頭端面檢測 B,直探頭側(cè)面檢測C.斜探頭端面檢測 D,斜探頭側(cè)面檢測長方體鍛件最主要檢測方向是（ ）。A.直探頭端面檢測 B.直探頭側(cè)面檢測C.斜探頭端面檢測 D.直探頭垂直的兩端面檢測筒類鍛件最主要檢測方向是（ ）。A.直探頭端面和外圓面檢測 B.斜探頭外圓面軸向檢測C.斜探頭外圓面周向檢測 D.以上都是壁厚較厚的筒類鍛件，為發(fā)現(xiàn)與軸線平行的徑向缺陷，須增加（ ）。A.直探頭端面和外圓面檢測 B.斜探頭外圓面軸向檢測TOC\o"1-5"\h\zC.斜探頭外圓面周向檢測鍛件中的粗大晶?？赡芤穑?）A.底波降低或消失C.超聲嚴重衰減鍛件超聲檢測時機應(yīng)選擇在（ ）。A.熱處理前，孔、槽、臺階加工前C.熱處理前，孔、槽、臺階加工后鍛鋼件探測靈敏度的校準方式是：（ ）A.沒有特定的方式C.采用試塊方式利用試塊法校準檢測靈敏度的優(yōu)點是（A.校準方法簡單C.可以克服檢測面形狀對靈敏度的影響D.以上都是B.噪聲或雜波增大D.以上都有B.熱處理后，孔、槽、臺階加工前D.熱處理后，孔、槽、臺階加工后B.采用底波方式D.采用底波方式和試塊方式）。B.適用對缺陷小于3N的鍛件D.不必考慮材質(zhì)差異用底波調(diào)節(jié)法校準鍛件檢測靈敏度時,下面有關(guān)缺陷定量的敘述中哪點是錯誤的。（ ）。A.可不考慮檢測耦合差補償B.缺陷定量可采用計算法或AVG曲線法C.可不使用試塊D.缺陷定量可不考慮衰減差修正超聲波檢測某餅形鍛件，檢測靈敏度為e2,已知底波比同距離處@2回波高44dB,衰減器預(yù)衰減54dB,當將底波81調(diào)至80%基準高時，再用〈衰減器〉（ ），這時①2靈敏度就調(diào)好了。A.增益54dB B.增益44dBC.衰減54dB D.衰減44dBTOC\o"1-5"\h\z超聲波檢測鍛件時，當缺陷尺寸小于聲束截面時，一般可采用（ ）。A.6dB法 B.絕對靈敏度法C.當量法 D.以上都對密集缺陷可能是（ ）A.疏松 B.縮孔B.夾層 D.以上都可能用直探頭檢測鍛件時，引起底波明顯降低或消失的因素是（ ）。A.底面與檢測面不平行B.工件內(nèi)部有傾斜的大缺陷C.工件內(nèi)部有材質(zhì)率減大的部位D.以上都對碳鋼和低合金鋼鍛件檢測厚度小于45mm時，按照JB/—2005標準，應(yīng)采用（ ）檢測。A.縱波直探頭 B.縱波斜探頭C.縱波雙晶直探頭 D.橫波斜探頭JB/—2005標準規(guī)定，（ ）鍛件應(yīng)增加橫波檢測。A.餅形 B.碗形C.筒形 D.以上都是JB/—2005標準規(guī)定，鍛件超聲檢測靈敏度不應(yīng)低于（）。A.e2當量平底孔 B.e3當量平底孔C.e4當量平底孔 D.e2當量長橫孔JB/—2005標準規(guī)定，計算缺陷當量時，當材質(zhì)衰減系數(shù)超過（ ）時，應(yīng)考慮衰減系數(shù)修正。A.4dB/mm B.4dB/mC.mm D.m在鍛件檢測中當使用底面兩次回波計算衰減系數(shù)時，底面回波聲程應(yīng)：（ ）A.大于非擴散區(qū) B.大于近場區(qū)C.大于3倍近場區(qū) D.以上全部JB/—2005淮規(guī)定，在鍛件超聲檢測中，橫波斜探頭周向檢測適用于內(nèi)外徑之比（ ）的環(huán)形和筒形鍛件。A.<80% B.三80%C.<60% D.三60%鍛件檢測，如果用試塊比較法對缺陷定量，對于表面粗糙的缺陷，缺陷實際尺寸會（）A.大于當量尺寸 B,等于當量尺寸C.小于當量尺寸 D,以上都可能低合金鋼筒形鍛件中有一塊缺陷密集區(qū)，缺陷波幅均三①3當量直徑，其面積占檢測總面積的8%,按照JB/—2005標準，該鍛件可評為（）鍛件。A.I級 B.II級c.m級 d.iv級碳鋼和低合金鋼鍛件中有一單個缺陷，其當量e4+10dB,按照JB/—2005標準，該鍛件可評為（ ）鍛件。A.I級 B.II級c.m級 d.w級檢測厚度大于45mm碳鋼和低合金鋼鍛件時，按照JB/—2005標準,應(yīng)采用（ ）標準試塊。A.CSK-IA B.CSK-HACSII D.CSI碳鋼和低合金鋼鍛件超聲檢測時，按照JB/-2005標準,應(yīng)記錄當量直徑三（ ）的單個缺陷的波幅和位置。A.①2mm B.①3mmC.①4mm D.①5mm碳鋼和低合金鋼鍛件檢測時，按照JB/-2005標準,對于餅形鍛件應(yīng)記錄三（ ）當量直徑的缺陷密集區(qū)。A.①2mm B.①3mmC.①4mm D.①5mm碳鋼和低合金鋼鍛件檢測時，按照JB/-2005標準,對于除餅形鍛件以外的其他鍛件應(yīng)記錄三（ ）當量直徑的缺陷密集區(qū)。A.①2mm B.①3mmC.①4mm D.①5mm碳鋼和低合金鋼鍛件檢測時，發(fā)現(xiàn)由缺陷引起的底波降低量BG/BF為12dB,按照JB/-2005標準，該鍛件的質(zhì)量應(yīng)評為（ ）。A.I級 B.II級c.m級 d.w級JB/-2005標準規(guī)定：該標準所劃分的碳鋼和低合金鋼鍛件三種缺陷等級應(yīng)（ ）。A.對應(yīng)使用 B.作為獨立的等級分別使用C.可不受此條文的限制 D.以上都對JB/-2005《承壓設(shè)備無損檢測》標準規(guī)定，承壓設(shè)備用碳鋼和低合金鋼鍛件缺陷密集區(qū)的定義說法，哪些是錯誤的（）。A.熒光屏掃描線相當于50mm聲程范圍內(nèi)同時有5個或5個以上的缺陷反射信號B.或是在50mmX50mm的檢測面上發(fā)現(xiàn)在同一深度范圍內(nèi)有5個或5個以上的缺陷反射信號C.其反射波幅均大于某一特定當量缺陷基準反射波幅D.熒光屏掃描線相當于50mm聲程范圍內(nèi)同時有4個或4個以上的缺陷反射信號以下有關(guān)鍛件白點缺陷的敘述，哪一條是錯誤的（）。A.白點是一種非金屬夾雜物 B.白點通常發(fā)生在鍛件中心部位C.白點的回波清晰、尖銳，往往有多個波峰同時出現(xiàn)一旦判斷是白點缺陷，該鍛件即為不合格鑄件超聲檢測不利影響是（）。A.透聲性差 B.聲耦合差C.干擾雜波嚴重 D.以上都是鑄件超聲檢測頻率一般選擇（）。A.? B.1?5MHzC.?5MHz D.5?10MHz下面有關(guān)鑄件檢測條件選擇的敘述中，哪點是正確的？（B）。A.宜選用檢測頻率5MHz B.采用透聲性好粘度大的耦合劑C.使用晶片尺寸小的探頭 D.以上都對通常要求對含有一定數(shù)