【正版授權(quán)-英語版】 ISO 18563-2:2024 EN Non-destructive testing - Characterization and verification of ultrasonic phased array equipment - Part 2: Array probes

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標準號：ISO 18563-2:2024 EN
標準名稱：無損檢測——超聲相控陣設(shè)備的特性與驗證——第2部分：陣列探頭
英文名稱：Non-destructive testing — Characterization and verification of ultrasonic phased array equipment — Part 2: Array probes
標準狀態(tài)：現(xiàn)行
發(fā)布日期：2024-09-24

陣列探頭ISO18563-2:2024規(guī)定了非破壞性測試中超聲相控陣設(shè)備的特性和驗證，特別是陣列探頭的相關(guān)要求和驗證方法。

詳細解釋如下：

超聲波檢測是一種廣泛使用的無損檢測（NDT）技術(shù)，用于檢查材料或結(jié)構(gòu)的完整性。超聲相控陣是一種特殊類型的超聲波掃描技術(shù)，它通過控制每個陣元（即探頭上的每個傳感器）的發(fā)射和接收時間，相位和強度來實現(xiàn)。

在ISO18563-2:2024中，主要關(guān)注的是陣列探頭的設(shè)計和制造。陣列探頭通常由多個超聲波傳感器組成，這些傳感器可以同時發(fā)射和接收超聲波。通過控制每個傳感器的發(fā)射和接收時間、相位和強度，可以實現(xiàn)復雜的聲場形狀和掃描模式。

以下是對ISO18563-2:2024中的一些關(guān)鍵點的詳細解釋：

***探頭設(shè)計**：ISO18563-2關(guān)注的是陣列探頭的設(shè)計，包括其幾何形狀、材料選擇、傳感器間距、相位和強度控制等。這些因素都影響探頭的性能和掃描精度。

***制造過程**：ISO18563-2還關(guān)注探頭的制造過程，包括材料的選擇和處理、制造工藝、裝配精度等。這些因素都影響探頭的性能和可靠性。

***性能驗證**：ISO18563-2還規(guī)定了如何驗證陣列探頭的性能，包括測試其靈敏度、分辨率、掃描精度、頻率響應等。這些性能參數(shù)對于確定探頭的適用性和準確性至關(guān)重要。

***兼容性和互換性**：ISO18563-2還關(guān)注探頭與其他設(shè)備（如超聲波發(fā)射和接收器）的兼容性和互換性。如果探頭的設(shè)計和制造不正確，可能會導致設(shè)備之間的兼容性問題，影響檢測結(jié)果的準確性。

ISO18563-2:2024EN規(guī)定了陣列探頭的設(shè)計、制造和性能驗證標準，對于確保超聲相控陣設(shè)備的可靠性和準確性至關(guān)重要

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