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文檔簡介

CCSH80T/SHXCL0021—2024CrystalbarforthermoelectricrefT/SHXCL0021—2024本文件按照GB/T1.1-2020《標準化工作導則第1部分:標準化文件的結(jié)構(gòu)和起草規(guī)則》的規(guī)定起草。請注意本文件的某些內(nèi)容可能涉及專利。本文件的發(fā)布機構(gòu)不承擔識別專利的責任。本文件由上海市新材料協(xié)會提出。本文件由上海市新材料協(xié)會標準化技術(shù)委員會歸口。本文件起草單位:上海申和投資有限公司,杭州大和熱磁電子有限公司、中國科學院上海硅酸鹽研究所、浙江先導熱電科技股份有限公司、浙江漢恒熱電材料科技有限公司。本文件首批承諾執(zhí)行單位:上海申和投資有限公司,杭州大和熱磁電子有限公司、中國科學院上海硅酸鹽研究所、浙江先導熱電科技股份有限公司、浙江漢恒熱電材料科技有限公司。本文件起草人:吳燕青、周帥、吳永慶、柏勝強、廖錦城、宋慶峰、唐澤豐、宋君強。3T/SHXCL0021—2024溫差電致冷組件用晶棒本文件規(guī)定了溫差電致冷組件用晶棒的命名和分級、材料、技術(shù)要求、試驗方法、檢驗規(guī)則及標志、包裝、運輸和貯存。本文件適用于以碲化鉍為基體材料,采用粉末熱擠出法或區(qū)熔法制備而成的晶棒。產(chǎn)品主要用于溫差電致冷組件。2規(guī)范性引用文件下列文件中的內(nèi)容通過文中的規(guī)范性引用而構(gòu)成本文件必不可少的條款。其中,注日期的引用文件,僅該日期對應的版本適用于本文件;不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改單)適用于本文件。GB/T191-2008包裝儲運圖示標志GB/T915-2010鉍GB/T2829-2002周期檢驗計數(shù)抽樣程序及表(適用于對過程穩(wěn)定性的檢驗)GB/T4472-2011化工產(chǎn)品密度和相對密度的測定GB/T6388-1986運輸包裝收發(fā)標志GB/T7314-2017金屬材料室溫壓縮試驗方法GB/T22588-2008閃光法測量熱擴散系數(shù)或?qū)嵯禂?shù)SJ2855-1988溫差電致冷名詞術(shù)語、型號命名及其性能測試方法SJ2857.2-1988溫差電致冷材料性能的測試方法電導率測試方法SJ2857.3-1988溫差電致冷材料性能的測試方法溫差電動勢率測試方法YS/T222-2010碲錠YS/T674-20084N銻YS/T816-2012高純硒3術(shù)語和定義SJ2855-1988界定的以及下列術(shù)語和定義適用于本文件。3.1粉末熱擠出法powderhotextrusionmethod一種結(jié)合粉末冶金和熱擠出成形工藝,在熱和機械力的共同作用下將粉末或者毛坯擠出成型的加工方法。4T/SHXCL0021—20243.2區(qū)熔法zonemeltingmethod一種制備晶體和提純晶體的方法,熔區(qū)從錠的一端通過整個錠料至另一端。[來源:SJ2855-1988,3.19]3.3再生原料recycledrawmaterials前次制備過程中產(chǎn)生的廢棄材料或者剩余材料。3.4摻雜劑dopant少量添加到碲化鉍基體中,用于調(diào)節(jié)導電類型、載流子濃度、遷移率或晶格熱導率等的元素或化合物。3.5晶棒crystalbar由Te、Bi、Sb、Se和摻雜劑按一定化學計量比組成的材料,經(jīng)粉末熱擠出法或區(qū)熔法加工成棒狀的熱電材料。4命名和分級溫差電致冷組件用晶棒型號如下:XXX/XX/XX等級:不添加再生料為A,添加再生料為B組份:準二元為2,準三元為3晶棒的標稱直徑或等效截面直徑/mm類別,分N和P晶棒代號(ZM:區(qū)熔法生產(chǎn)的晶棒;EX:粉末熱擠出法生產(chǎn)晶棒)示例:EXN/28/2A表示粉末熱擠出法生產(chǎn)晶棒、N型、標稱直徑為φ28mm、二元組成、不含再生原料配制而成的晶棒。4.2等級4.2.1A級品采用半導體元素材料按規(guī)定的化學比配制而成,符合本文件規(guī)定的電、熱物理性能和機械性能要求的為A級品。4.2.2B級品添加了再生原料,使之符合本文件規(guī)定的電、熱物理性能和機械性能要求的為B級品。5材料T/SHXCL0021—20245.1成分溫差電致冷組件用晶棒主要原材料有碲、銻、鉍、硒和摻雜劑。5.2原料5.2.1碲所選原材料碲的純度不低于99.99%,其他要求應符合YS/T222的規(guī)定。5.2.2銻所選原材料銻的純度不低于99.99%,其他要求應符合YS/T674的規(guī)定。5.2.3鉍所選原材料鉍為純度99.99%鉍,其他要求應符合GB/T915的規(guī)定。5.2.4硒所選原材料硒的牌號為純度不低于99.999%高純硒,其他要求應符合YS/T816的規(guī)定。6要求6.1外觀晶棒表面無明顯裂紋、缺損,無明顯雜質(zhì)。表面應無下列情況之一的裂紋:a)裂紋走向與晶棒軸線近似垂直的裂紋;b)機械損傷造成的裂縫。6.2尺寸晶棒尺寸可由供需雙方商定,其徑向尺寸偏差不大于所商定規(guī)格尺寸的4%。6.3技術(shù)要求晶棒的技術(shù)要求應符合表1和表2的規(guī)定。表1晶棒的技術(shù)要求(粉末熱擠出法工藝)10.80×10~1.20×100.80×10~1.20×102345676T/SHXCL0021—2024表2晶棒的技術(shù)要求(區(qū)熔法工藝)10.80×10~1.20×100.80×10~1.20×102345677試驗方法7.1一般規(guī)定晶棒初始測量和最后測量的條件應相同,由于溫度誤差和測量儀器的誤差而引起的全部誤差不應超出10%。除非另有規(guī)定,試驗在室溫和常壓下進行。7.2外觀在照度不低于300Lux工作臺燈、5倍的放大燈下目視觀察晶棒表面。7.3尺寸外形尺寸:徑向尺寸用量程為0mm-150mm,精度為0.02mm的游標卡尺測量。7.4電阻率試驗7.4.1試驗條件試驗應在測試區(qū)域進行,試驗條件應符合如下要求:——應避免陽光直射且應無明顯的空氣流動;——環(huán)境溫度為25℃±5℃。7.4.2試驗儀器試驗儀器應配置如下:a)毫伏表;b)數(shù)字源表;c)多通道數(shù)據(jù)采集器;d)數(shù)字式游標卡尺:量程0~150mm,分辨率0.02mm;e)電阻率測試夾具。7.4.3試驗原理電阻率的測量原理參見SJ2857.2-1988中第1章。當環(huán)境溫度偏離規(guī)定值(25℃)時,可用下式進行修正:ρ=ρT(1+0.0524)25-TT──測試環(huán)境溫度值,℃。7.4.4試驗程序測量程序參照SJ2857.2-1988標準第4章。7.5溫差電動勢率試驗7.5.1試驗條件T/SHXCL0021—2024I除符合7.1條的規(guī)定外,還需符合以下要求:——環(huán)境溫度:25℃±5℃;——冷熱端電極溫差ΔT不大于10℃。7.5.2試驗儀器試驗儀器應配置如下:a)41/2數(shù)字直流毫伏表,量程0mV~19.999mV,分辨率1×10-3mV;b)精密數(shù)字溫度計,顯示精度±0.1℃;c)精密數(shù)字溫度控制儀,控制精度±0.1℃;d)溫度傳感器;e)溫差電動勢率測試夾具。7.5.3試驗原理溫差電動勢率的測量原理見SJ2857.3-1988第1章原理。7.5.4試驗程序測量程序參照SJ2857.3-1988第4章。7.6功率因子根據(jù)所測得的溫差電動勢率和電阻率,經(jīng)下式計算所到的功率因子值PF。(2)式中:α──溫差電動勢率,V/K;7.7熱導率試驗按GB-T22588-2008規(guī)定進行。7.8品質(zhì)因素8T/SHXCL0021—2024根據(jù)所測得的溫差電動勢率、電阻率、熱導率,經(jīng)下式計算所到的品質(zhì)因素值Z。(3)式中:α──溫差電動勢率,V/K;κ──熱導率,W/(m·K)。7.9抗壓強度試驗按GB/T7314-2017規(guī)定進行。7.10密度試驗按GB/T4472-2011規(guī)定進行。8檢驗規(guī)則8.1檢驗分類晶棒的檢驗分為出廠檢驗和型式檢驗。8.2出廠檢驗8.2.1檢驗項目檢驗項目為外觀、電阻率、溫差電動勢率和功率因子。8.2.2抽樣方案出廠檢驗為全檢。8.3型式檢驗8.3.1檢驗項目型式檢驗為全項目檢驗。8.3.2抽樣方案型式檢驗按GB/T2829-2002規(guī)定進行,采用判定水平Ⅱ、樣本大小n=6的一次抽樣方案,不合格質(zhì)量水平和判定數(shù)組按表3的規(guī)定。表3不合格質(zhì)量水平和判定01T/SHXCL0021—2024128.3.3周期晶棒型式檢驗的周期為24個月。當晶棒停止生產(chǎn)一個周期以上又恢復生產(chǎn),或者晶棒的設(shè)計、工藝、原料有重大變動時,必須進行型式檢驗。只有當型式檢驗合格后,才能進行正常批量生產(chǎn)和出廠檢驗。9標志、標簽9.1晶棒上標志晶棒上的標識應有型號、電阻率及批次號。9.2包裝包上的標志包裝包上應有標志、標簽,內(nèi)容如下:a)產(chǎn)品的名稱、分類、型號、批次號;b)制造廠名稱;c)執(zhí)行標準代號;d)檢驗人員姓名或代號。9.3包裝箱的標志包裝外表面上的收發(fā)標志\包裝儲運圖示標志應符合GB/T6388-1986和GB/T191-2008的有關(guān)規(guī)10包裝、運輸、貯存10.1包裝10.1.1最小包裝(包裝包)除非另有規(guī)定,應以單根晶棒為最小包裝單位,每一根晶棒均應附有質(zhì)量檢查表,用塑料袋包裝。10.1.2運輸包裝箱運輸時應裝入防震周轉(zhuǎn)箱,箱內(nèi)應有裝箱單,內(nèi)容如下

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