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1、電連接器常規(guī)的檢測技術作者:顏家跳 編號:A不論是塑封或玻封高頻電連接器,還是塑封或玻封低頻電連接器,絕緣電阻、抗電強度和接觸電阻都是保證電連接器正??煽康毓ぷ髯罨镜碾姎鈪?shù),通常在電連接器產(chǎn)品技術條件的質量一致性檢驗A、B組常規(guī)交收檢驗項目中都列有明確的技術指標要求和試驗方法。這三個檢驗項目也是用戶判別電連接器質量和可靠性優(yōu)劣的重要依據(jù)。但根據(jù)本人多年來從事電連接器檢驗的實踐發(fā)現(xiàn),目前各生產(chǎn)廠之間以及生產(chǎn)廠和使用廠之間,在具體執(zhí)行有關技術條件時尚存在許多不一致和差異,往往由于采用的儀器、測試工裝、操作方法、樣品處理和環(huán)境條件等因素不同,直接影響到檢驗準確和一致。我認為,針對目前這三個常規(guī)電

2、性能檢驗項目和實際操作中存在的問題進行一些專題研討,對提高電連接器檢驗可靠性是十分有益的。1、絕緣電阻檢驗1.1作用原理絕緣電阻是指在連接器的絕緣部分施加電壓,從而使絕緣部分的表面或內(nèi)部產(chǎn)生漏電流而呈現(xiàn)出的電阻值。即絕緣電阻(M)=加在絕緣體上的電壓(V)/泄漏電流(A)。通過絕緣電阻檢驗,確定連接器的絕緣性能能否符合電路設計的要求,或在經(jīng)受高溫、潮濕等環(huán)境應力時,其絕緣電阻是否符合有關技術條件的規(guī)定。 絕緣電阻是設計高阻抗電路的限制因素。絕緣電阻低,意味著漏電流大,這將破壞電路和正常工作。如形成反饋回路,過大的漏電流所產(chǎn)生的熱和直流電解,將使絕緣破壞或使連接器的電性能變劣。1.2影響因素主要

3、受絕緣材料、溫度、濕度、污損、試驗電壓及連續(xù)施加測試電壓的持續(xù)時間等因素影響。2、介質耐壓檢驗2.1作用原理介質耐壓檢驗又稱抗電強度檢驗。它是在連接器接觸件與接觸件之間、接觸件與殼體之間,在規(guī)定時間內(nèi)施加規(guī)定的電壓,以此來確定連接器額定電壓下能否安全工作,能否耐受由于開關浪涌及其它類似現(xiàn)象所導致的過電位的能力,從而評定電連接器絕緣材料或絕緣間隙是否合格。如果絕緣體內(nèi)有缺陷,在施加試驗電壓后,則必然產(chǎn)生擊穿放電或損壞。擊穿放電表現(xiàn)為飛弧(表面放電)、火花放電(空氣放電)或擊穿(擊穿放電)現(xiàn)象。過大漏電流可能引起電參數(shù)或物理性能的改變。由于過電位,即使是在低于擊穿電壓時也可能有損于絕緣或降低其安全

4、系數(shù),所以應當慎重地進行介質耐壓檢驗。在例行試驗中,如果需要連續(xù)施加試驗電壓時,最好在進行隨后的試驗時降低電位。2.2影響因素主要受絕緣材料、潔凈度、濕度、大氣壓力、接觸件間距、爬電距離和耐壓持續(xù)時間等因素影響。3、接觸電阻檢驗3.1作用原理接觸電阻檢驗目的是確定電流流經(jīng)接觸件的接觸表面時產(chǎn)生的電阻。大電流通過高阻觸點時,有可能產(chǎn)生過分的能量消耗,并使觸點產(chǎn)生危險的過熱現(xiàn)象。在很多應用中要求接觸電阻低且穩(wěn)定,以使觸點上的電壓降不致影響電路的精度。在實際測量接觸電阻時,常使用按開爾文電橋四端法原理設計的接觸電阻測試儀(毫歐計),其專用夾具夾在被測接觸件端接部位兩端,故實際測量的總接觸電阻R由以下

5、三部分組成,可由下式表示:R=Rsubc/sub+Rsubf/sub+Rsubp/sub式中:Rsubc/sub為集中電阻,它是電流通過接觸件界面時因導電截面收縮(或稱集中)而顯示出來的電阻;Rsubf/sub為膜層電阻,它是由接觸表面膜層及其他污染物所構成的電阻;Rsubp/sub為導體電阻,它是插配接觸件和引出線本身的歐姆電阻。除用毫歐計外,也可用伏-安計法、安培-電位計法測量接觸電阻。3.2影響因素主要受接觸件材料、正壓力、表面狀態(tài)、使用電壓和電流等因素影響。3.3單孔分離力檢驗為確保接觸件插合接觸可靠,保持穩(wěn)定的正壓力是關鍵。正壓力是接觸壓力的一種直接指標,明顯影響接觸電阻,但鑒于接觸件插合狀態(tài)的正壓力很難測量。故一般用測量插合狀態(tài)的接觸件由靜止變?yōu)檫\動的單孔分離力來間接測算正壓力。通常電連接器技術條件規(guī)定的分離力要求是用實驗方法確定的。其理論值可用下式表達:F=FsubN/sub 式中,F(xiàn)subN/sub為正壓力, 為摩擦系數(shù)。由于分離力受正壓力和摩擦系數(shù)兩者制約,故決不能認為分離力大,正壓力就大,接觸就可靠?,F(xiàn)在隨著接觸件制作精度和表面鍍層質量的提高,將分離力控制在一個恰當?shù)乃缴霞纯杀WC接觸可靠。本人在實踐中發(fā)現(xiàn):單孔分離力過小,在受振

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