基于ATmega 8單片機(jī)的電子元件測試儀畢業(yè)設(shè)計(jì)論文

1、 本科畢業(yè)設(shè)計(jì) 基于 atmega 8 單片機(jī)的電子元件測試儀 學(xué)生姓名： 學(xué) 號： 專 業(yè)： 電子信息工程 年 級： 2008 級 2 班 指導(dǎo)教師： the atmega 8 microcontroller-based electronic components tester student name student number major electronic information engineering supervising teacher university 摘 要 隨著電子科技的發(fā)展，電子元器件的廣泛應(yīng)用，電子元器件的測量顯得愈來愈重 要。因此，設(shè)計(jì)可靠、安全、便捷的電子元

2、件測試儀具有極大的現(xiàn)實(shí)必要性。 在系統(tǒng)的硬件設(shè)計(jì)中，以atmega 8單片機(jī)為核心的電子元件測試儀，使用對應(yīng)的 震蕩電流對被測元件進(jìn)行充放電計(jì)算實(shí)現(xiàn)各個(gè)參數(shù)的測量。該系統(tǒng)通過測試電路進(jìn)行 信號輸入，取平均等技術(shù)獲得較理想的測試結(jié)果。目前能夠完成對電阻器電容器這些 基本電子元件測試，還能對大部分半導(dǎo)體器件參數(shù)的測試。論文詳細(xì)說明該系統(tǒng)的基 本原理、硬件框架、主要電路以及軟件框架。 對該課題的研究有助于了解電子元件的各個(gè)參數(shù)與電子元件的優(yōu)劣。在應(yīng)用設(shè)計(jì) 實(shí)踐中，電子元件的測量是一個(gè)重要的發(fā)展方向。 關(guān)鍵詞：atmega 8單片機(jī)；測試儀；lcd1602 abstract with the deve

3、lopment of electronic technology, electronic components widely used in the measurement of the electronic components are increasingly important. therefore, the design is reliable, safe, and convenient electronic components tester has a great practical necessity. in the hardware design of the system t

4、o atmega 8 microcontroller as the core of the electronic component tester, the shock current charge and discharge the measurement of various parameters on the measured components. the system passed the test circuit, the signal input, take the average and other technology to get better test results.

5、able to complete these basic electronic components resistor capacitor test, but also most of the semiconductor device parameters of the test. the paper detailed the basic principles of the system, the hardware framework, the main circuit and software framework. on the subject of research helps to un

6、derstand the performance of the various parameters of the electronic components and electronic components. in the large-scale equipment design practice, the measurement of electronic components is an important direction of development. key words: atmega 8 mcu; tester; lcd1602 目 錄 摘 要.i abstract.ii 目

7、 錄.i 第 1 章 電子元件測試系統(tǒng)的背景、意義及技術(shù)路線.1 第 1 節(jié) 電子元件測試系統(tǒng)的背景.1 第 2 節(jié) 電子元件測試系統(tǒng)的意義.1 第 3 節(jié) 技術(shù)路線.1 第 2 章 系統(tǒng)硬件電路設(shè)計(jì)與軟件設(shè)計(jì).4 第 1 節(jié) 電子元件測試系統(tǒng)功能說明與組成.4 第 2 節(jié) 系統(tǒng)硬件配置及說明.4 第 3 節(jié) 電子元件的測量原理.8 第 4 節(jié) 主程序軟件流程圖.8 第 3 章 測試結(jié)果.10 第 1 節(jié) 參數(shù)測試結(jié)果.10 第 2 節(jié) 誤差分析.11 結(jié) 論.12 參考文獻(xiàn).13 附 錄.14 致 謝.20 第 1 章 電子元件測試系統(tǒng)的背景、意義及技術(shù)路線 第 1 節(jié) 電子元件測試系統(tǒng)的背

8、景 電子元件測試儀是電子設(shè)計(jì)中應(yīng)用廣泛的測試儀器之一。目前市場上存在多種電 子元件測試儀，普遍用于觀察及測量電子元件各種輸入輸出特性，其性能較好、精度 較高。但是這些儀器一般采用模擬電路制作，制作復(fù)雜，而且價(jià)格昂貴。一些小型的 電子元件測試儀采用數(shù)字電路制作，價(jià)格低廉，但測量精度較低，測量的參數(shù)種類較 少，而且一般只能測量輸出特性。因此本次設(shè)計(jì)了一個(gè)構(gòu)造簡單，使用方便，精度高， 自動化程度高及成本低的電子元件測試系統(tǒng)。 對于電阻器電容器這些基本電子元件通常采用電橋法測量其阻值，而對晶體二極 管、三極管、場效應(yīng)管、晶閘管這些半導(dǎo)體電子元器無法用電橋法測量其各項(xiàng)參數(shù)， 所以一般使用晶體管特性圖示儀

9、和晶體管直流參數(shù)測試儀測量半導(dǎo)體電子元器件的各 項(xiàng)參數(shù) 第 2 節(jié) 電子元件測試系統(tǒng)的意義 隨著人們生活水平的提高，電子產(chǎn)品 diy 的盛行，這些都需要對電子元件參數(shù)進(jìn) 行較準(zhǔn)確測量。對于普通的電子愛好者來說需要一個(gè)體積小巧價(jià)格便宜的測量設(shè)備， 所以就制作一個(gè)適合電子愛好者使用的測量儀器。 單片機(jī)為核心，測量電子元器件的參數(shù)，自動識別電子元器件的引腳并顯示在液 晶上，當(dāng)電子元器件取下后被測參數(shù)鎖定在液晶上，更能直觀的了解電子元器件的參 數(shù)及好壞情況，只需按一下測試按鈕，即可進(jìn)行下一次測量，完全實(shí)現(xiàn)了一鍵操作的 功能。 通過本次基于 atmega 8 單片機(jī)的電子元件測試儀的制作，可以了解、熟悉

10、有關(guān) 單片機(jī)開發(fā)設(shè)計(jì)的過程，提高單片機(jī)編程技巧，了解 i/o 控制情況和各個(gè)引腳的功能。 能更好的掌握單片機(jī)的編程算法，提高編程技巧。 第 3 節(jié) 技術(shù)路線 單片機(jī)在實(shí)現(xiàn)電子產(chǎn)品智能化方面扮演著重要的角色。本設(shè)計(jì)在眾多型號的單片 機(jī)中選用了 atmel 公司開發(fā) atmega 8 單片機(jī)。atmega 8 單片機(jī)繼承了 c51 單片 機(jī)和 pic 單片機(jī)，運(yùn)行速度快、功能強(qiáng)大的優(yōu)點(diǎn)，是一款面向 c 語言編程的單片機(jī)1。 本設(shè)計(jì)結(jié)構(gòu)非常簡單，除了能夠測量電阻器電容器等常用的基本元器件還能識別 多種常用的晶體管，如二極管、三極管、晶閘管及場效應(yīng)管的功能。 系統(tǒng)的選擇方案與論證如下： 3.1 核心模

11、塊的選擇 鑒于核心模塊在整個(gè)測量系統(tǒng)中的重要地位，這里給出了核心處理器的幾種設(shè)計(jì) 方案，對各方案進(jìn)行詳細(xì)介紹，并從中選擇了一種適用于本次設(shè)計(jì)的方案。 方案一：測試儀由 ne555 和 r1、r2、c1 組成無穩(wěn)態(tài)多諧振蕩器及待測晶體管 組成的驅(qū)動級構(gòu)成?？蓽y npn 三極管和 pnp 三極管的好壞，并估計(jì)其 值。振蕩器 的震蕩頻率 f=1.44/(r1+2r2)c1，圖示參數(shù)的震蕩頻率約為 850hz。若插上元件后無 聲，說明元件已壞；若是聲小，說明 低；聲音大，說明 高。其原理圖如圖 1-1 所 示。 trig 2 q 3 r 4 cvolt 5 thr 6 dis 7 vcc 8 gnd

12、1 u1 ne555 r1 51k r2 100k c1 0.01u q1 pnp rp 100k ls b bt l1 圖 1-1 ne555 晶體管測量儀 方案二：采用 8 位單片機(jī) at89s52 作為系統(tǒng)核心。系統(tǒng)的輸入輸出特性測量和 頻率特性測量部分各使用一片單片機(jī)控制。由芯片 adc0809、運(yùn)放 opa27 和 ina120 構(gòu)成電壓采樣電路，數(shù)控電流源采用了 da 轉(zhuǎn)換芯片 dac0832，在電路中應(yīng) 用了 cmos 電流開關(guān)和控制電路來測量元件。并且采用 dds 芯片 ad9852 形成單片 機(jī)控制的數(shù)控頻率源。經(jīng)過這些部分的鏈接將示波器的兩個(gè)通道 y1、y2 接到電路上 就

13、可以實(shí)現(xiàn)晶體管頻率特性的測量。 方案三：選用 atmega 8 單片機(jī)，在測量時(shí)使用其內(nèi)部 adc 端口采集數(shù)據(jù)后對 數(shù)據(jù)進(jìn)行判斷，進(jìn)而得出被測對象類型及具體參數(shù)。 方案選擇論證：在本次設(shè)計(jì)中，為了讓測量得更準(zhǔn)確、更穩(wěn)定，系統(tǒng)的核心制作 應(yīng)具有電路簡單、功能強(qiáng)大、可靠性高、便于擴(kuò)展等優(yōu)點(diǎn)，顯然用 atmega 8 單片機(jī) 來制作的晶體管測試儀符合了體積小、使用方便可靠性高等要求，可以滿足人們的要 求。因此方案三更適合本次設(shè)計(jì)。 3.2 顯示模塊方案 顯示部分是測量系統(tǒng)中實(shí)現(xiàn)人機(jī)交互的重要模塊，準(zhǔn)確實(shí)時(shí)的顯示元件參數(shù)。常 用的顯示方案有以下幾種： 方案一：通過電平轉(zhuǎn)換芯片 max232 使該設(shè)計(jì)

14、與電腦進(jìn)行數(shù)據(jù)之間的傳輸，在 上位機(jī)界面顯示測量結(jié)果。 方案二：lcd1602 液晶能顯示 162 個(gè)字符，并且有串行和并行數(shù)據(jù)傳輸方式， 可以通過 1602 液晶顯示元件的參數(shù)，可以滿足本設(shè)計(jì)的基本需求。 方案選擇論證：在方案一中，通過串口實(shí)現(xiàn)在電腦上顯示元件參數(shù)使設(shè)計(jì)對電腦 的依賴性很大，違背了簡單方便的原則。lcd1602 可以實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)在其屏幕上用英文的 形式顯示出來。本設(shè)計(jì)采用 lcd1602 串行控制方法對其測量結(jié)果進(jìn)行顯示。 3.3 供電模式的選擇 電，是一個(gè)系統(tǒng)的能量來源，因此對供電的選擇也是十分的重要。供電模式分為 以下三種方案： 方案一：使用外接電源供電。 方案二：使用內(nèi)部電

15、池供電。 方案三：外接電源與內(nèi)部電池并用。 方案選擇論證：通過長時(shí)間的實(shí)踐經(jīng)驗(yàn)，我選擇了方案三，既使用外部電源和電 池并用的方法給系統(tǒng)供電，在正常的情況下使用外接電源，在戶外或不便時(shí)通過 9v 電池對系統(tǒng)供電使用起來非常方便。 第 2 章 系統(tǒng)硬件電路設(shè)計(jì)與軟件設(shè)計(jì) 第 1 節(jié) 電子元件測試系統(tǒng)功能說明與組成 1.1 電子元件測試儀的主要功能如下： 1電阻器和電容器的測量 2自動檢測 npn 和 pnp 三晶體管，n 溝道和 p 溝道 mosfet，二極管（包括 雙二極管） ，晶閘管 3自動檢測和測試元件的引腳 4測量 mosfet 的柵極閾值電壓和柵電容 5使用液晶 lcd1602 顯示數(shù)據(jù)

16、 6一鍵操作，自動測量 1.2 電子元件測試儀的系統(tǒng)組成 該智能晶體管測量儀主要由主控制器模塊、晶體管測試模塊、顯示模塊、測試按 鍵模塊、電源模塊組成。系統(tǒng)框圖如圖 2-1。 主控制器 atmega 8 單片機(jī) 顯示模塊 lcd1602 鍵盤 測試模塊 晶體管 檢測模塊 系統(tǒng)電源模塊 圖 2-1 系統(tǒng)整體框圖 第 2 節(jié) 系統(tǒng)硬件配置及說明 2.1 電子元件測試系統(tǒng)原理圖 圖 2-2 為系統(tǒng)原理圖，原理圖中 atmega 8 單片機(jī)為整個(gè)系統(tǒng)的核心部分，系統(tǒng) 中，程序是假設(shè) io 口輸出 1 時(shí)，其端口電壓肯定為 0，無論其輸出多少電流。但實(shí)際 上如果被拉的電流多了，該點(diǎn)電壓會下降的。所以系統(tǒng)

17、程序是依賴于電源供電，必需 要帶+5v 穩(wěn)壓，并用一個(gè) ad 通道監(jiān)測輸入電壓以保證穩(wěn)壓芯片兩端有足夠壓降。使 用 lcd1602 作為顯示輸出，s1 為測試按鍵。r11 為檢測供電電壓，r12 用來校準(zhǔn) atmega 8 單片機(jī)內(nèi)部 adc。根據(jù)實(shí)際測量值計(jì)算轉(zhuǎn)換因子。采樣電阻 r1r7 對結(jié)果 影響很大，所以需要每個(gè)電阻的阻值盡量接近 680 和 470k。 pc6 (reset) 1 pd0 (rxd) 2 pd1 (txd) 3 pd2 (int0) 4 pd3 (int1) 5 pd4 (xck/t0) 6 vcc 7 gnd 8 pb6 (xtal1/tosc1) 9 pb7 (x

18、tal2/tosc2) 10 pd5 (t1) 11 pd6 (ain0) 12 pd7 (ain1) 13 pb0 (icp) 14 pb1 (oc1a) 15 pb2 (ss/oc1b) 16 pb3 (mosi/oc2) 17 pb4 (miso) 18 pb5 (sck) 19 avcc 20 aref 21 gnd 22 pc0 (adc0) 23 pc1 (adc1) 24 pc2 (adc2) 25 pc3 (adc3) 26 pc4 (adc4/sda) 27 pc5 (adc5/scl) 28 u1 atmega8-16pi gnd 1 vcc 2 vl 3 rs 4 rw

19、5 e 6 d1 7 d2 8 d3 9 d4 10 d5 11 d6 12 d7 13 d8 14 vcc 15 gnd 16 p2 lcd1602 r12 680r vcc c2 104 c1 104 1 1 2 2 3 3 q278l05vcc 9v r7 33k r11 27k ds1led r13 27k r15 100k c3 104 s1 s w r1010k r8 3k3 r9 10k vcc vcc vcc r1 680r r2 470k r3 680r r4 470k r5 680r r6 470k r14 680r vcc 1 2 p4 9v in 9v 2 3 1 s2

20、 power q1 8550 q3 8050 q4 8050 1 2 3 j1 con3 圖 2-2 系統(tǒng)原理圖 2.2 主控制芯片 atmega8 單片機(jī)的介紹 avr 的單片機(jī)可以廣泛應(yīng)用于計(jì)算機(jī)外部設(shè)備、工業(yè)實(shí)時(shí)控制、儀器儀表、通訊 設(shè)備、家用電器等各個(gè)領(lǐng)域。atmega 8 單片機(jī)是 atmel 公司在 2002 年第一季度推 出的一款新型 avr 高檔單片機(jī)。atmega 8 單片機(jī)的芯片內(nèi)部集成了較大容量的存儲 器和豐富強(qiáng)大的硬件接口電路，具備 avr 高檔單片機(jī) mege 系列的全部性能和特點(diǎn)。 但由于采用了小引腳封裝，所以其價(jià)格僅與低檔單片機(jī)相當(dāng)，同時(shí)也為單片機(jī)的初學(xué) 者提供了

21、非常方便和簡捷的學(xué)習(xí)開發(fā)環(huán)境2。 atmega8 單片機(jī)的特點(diǎn)如下：高性能、低功耗的 8 位 avr 微控制器，先進(jìn)的 risc 精簡指令集結(jié)構(gòu)先進(jìn)的 risc 結(jié)構(gòu)，130 條功能強(qiáng)大的指令，大多數(shù)為單時(shí)鐘周 期指令，32 個(gè) 8 位通用工作寄存器工作在 16mhz 時(shí)，具有 16mips 的性能片內(nèi)集成 硬件乘法器片內(nèi)集成了較大容量的非易失性程序和數(shù)據(jù)存儲器以及工作存儲器。具有 豐富強(qiáng)大的外部接口性能有 16 位定時(shí)計(jì)數(shù)器 1 個(gè)具有獨(dú)立振蕩器的異步實(shí)時(shí)時(shí)鐘， 8 通道 a/d 轉(zhuǎn)換（tqfp、mlf 封裝） ，6 路 10 位 a/d+2 路 8 位 a/d，6 通道 a/d 轉(zhuǎn) 換（p

22、dip 封裝） ，4 路 10 位 a/d+2 路 8 位 a/d，帶片內(nèi) rc 振蕩器的可編程看門狗定 時(shí)器，片內(nèi)模擬比較器，可控制的上電復(fù)位延時(shí)電路和可編程的欠電壓檢測電路，外 部和內(nèi)部的中斷源 18 個(gè)。最多 23 個(gè)可編程 i/o 口，可任意定義 i/o 的輸入輸出方向； 輸出時(shí)為推挽輸出，驅(qū)動能力強(qiáng)；輸入口可定義為三態(tài)輸入，可以設(shè)定內(nèi)部帶上拉電 阻，省去外接電阻3。 2.3 atmega 8 單片機(jī)的引腳配置 圖 2-3 atmega 8 引腳圖 atmega 8 單片機(jī)引腳說明：端口 c(pc7pc0)作為 a/d 轉(zhuǎn)換器的模擬輸入端。 端口 c 為 8 位雙向 i/o 口，具有可

23、編程的內(nèi)部上拉電阻。其輸出緩沖器具有對稱的驅(qū) 動特性，可以輸出和吸收大電流。作為輸入使用時(shí)，若內(nèi)部上拉電阻使能，端口被外 部電路拉低時(shí)將輸出電流。在復(fù)位過程中，即使系統(tǒng)時(shí)鐘還未起振，端口 c 處于高阻 狀態(tài)。端口 b(pb7pb0)為 8 位雙向 i/o 口，具有可編程的內(nèi)部上拉電阻。其輸出 緩沖器具有對稱的驅(qū)動特性，可以輸出和吸收大電流。作為輸入使用時(shí)，若內(nèi)部上拉 電阻使能，端口被外部電路拉低時(shí)將輸出電流。在復(fù)位過程中，即使系統(tǒng)時(shí)鐘還未起 振，端口 b 處于高阻狀態(tài)。也可以用做其他不同的特殊功能。端口 d(pd7pd0) 為 8 位雙向 i/o 口，具有可編程的內(nèi)部上拉電阻。其輸出緩沖器具有

24、對稱的驅(qū)動特性， 可以輸出和吸收大電流。作為輸入使用時(shí)，若內(nèi)部上拉電阻使能，則端口被外部電路 拉低時(shí)將輸出電流。在復(fù)位過程中，即使系統(tǒng)時(shí)鐘還未起振，端口 d 處于高阻狀態(tài)。 端口 d 也可以用做其他不同的特殊功能。reset 復(fù)位輸入引腳。持續(xù)時(shí)間超過最小 門限時(shí)間的低電平將引起系統(tǒng)復(fù)位。持續(xù)時(shí)間小于門限間的脈沖不能保證可靠復(fù)位4。 引腳 xtal1 為反向振蕩放大器與片內(nèi)時(shí)鐘操作電路的輸入端。xtal2 為反向振 蕩放大器的輸出端。avcc 是端口 a 與 a/d 轉(zhuǎn)換器的電源。不使用 adc 模塊時(shí)，該 引腳應(yīng)直接與 vcc連接。使用 adc 時(shí)應(yīng)通過一個(gè)低通濾波器與 vcc連接。aref

25、 為 a/d 的模擬基準(zhǔn)輸入引腳5。 2.4 其他元件說明 在本設(shè)計(jì)中采用 l7805 三端穩(wěn)壓 ic 來組成穩(wěn)壓電源，所需的外圍元件極少，電 路內(nèi)部還有過流、過熱及保護(hù)電路，使用起來可靠、方便，而且價(jià)格便宜。圖 2-5 為 l7805 實(shí)物圖。 圖 2-5 l7805 實(shí)物圖 本設(shè)計(jì)采用 lcd1602 液晶作為顯示部分，lcd1602 液晶能顯示 162 個(gè)字符，并 且使用四線制數(shù)據(jù)傳輸方式。lcd1602 采用標(biāo)準(zhǔn)的 16 腳接口，其中引腳說明如下： 第 1 腳為 vss為電源地。第 2 腳為 vdd接 5v 電源正極。第 3 腳是 v0 為液晶顯示器對 比度調(diào)整端，當(dāng)接正電源時(shí)對比度最

26、弱，接地電源時(shí)對比度最高。第 4 腳為 rs 為寄 存器選擇，高電平時(shí)選擇數(shù)據(jù)寄存器、低電平時(shí)選擇指令寄存器。第 5 腳為 rw 為讀 寫信號線，高電平時(shí)進(jìn)行讀操作，低電平時(shí)進(jìn)行寫操作。第 6 腳是 e 端為使能端。 d0d7 為 8 位雙向數(shù)據(jù)端。lcd1602 的背燈電源為 15 腳背光正極，16 腳背光負(fù)極。 圖 2-6 為 lcd1602 的實(shí)物圖。 圖 2-6 lcd1602 實(shí)物圖 第 3 節(jié) 電子元件的測量原理 電子元件的測試儀的測試電路如圖 3-1 所示，px、py、pz 分別接入 atmega 8 單片機(jī)的 adc 模塊引腳，px1、px2、py1、py2、pz1、pz2 分

27、別接入 atmega 8 單 片機(jī)端口 b 雙向 i/o 口，當(dāng) x y z 引腳接入被測元件后，按下測試按鈕，程序就會分 別設(shè)置 x y z 通道電平，分別測量 x y z 這 3 個(gè)通道電阻上是否存在電壓，所有 adc 通道都進(jìn)行對 x y z 通道上電阻上壓降的采樣，只要任意一個(gè)通道上電阻有壓 降說明導(dǎo)通了，只要導(dǎo)通則記錄其狀態(tài)，然后根據(jù)對照真值表可以得出 x y z 引腳接 的是電子元件中哪一只引腳。程序的關(guān)鍵就是各種元件的真值表，元件真值表與元件 判斷程序見附錄。 q1 test r1 470k r2 470k r3 470k r4 680 r5 680 r6 680 x y z p

28、x1 px2 px py1 py2 py pz1 pz2 pz 圖 2-7 被測電路 第 4 節(jié) 主程序軟件流程圖 主程序功能是初始化及按鍵監(jiān)控。如圖 3-2 所示，本設(shè)計(jì)程序流程圖，本次設(shè)計(jì) 采用了 atmega 8 內(nèi)部 adc 模塊實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)采集與分析，最后取平均值，達(dá)到更精確。 最后由 lcd1602 顯示出晶體管的參數(shù)。當(dāng)被測晶體管接入電路后按下測試按鍵等待 數(shù)秒后液晶上就會顯示該晶體管的具體參數(shù)，從而實(shí)現(xiàn)晶體管的測量。部分程序見附 錄。 開始 初始化 數(shù)據(jù)處理 ad 采樣 lcd1602 顯示 結(jié)束 有鍵按下？ 是 否 圖 2-8 系統(tǒng)流程圖 第 3 章 測試結(jié)果 第 1 節(jié) 參數(shù)測

29、試結(jié)果 用本套系統(tǒng)對實(shí)驗(yàn)室現(xiàn)有的電子元器件進(jìn)行測量，相應(yīng)的數(shù)據(jù)如表 4-1 到表 4-4 所示。 表 4-1 電阻參數(shù)測試結(jié)果 電阻阻值 35 100102 735997 10 k9.8 k 1m 9092k 表 4-2 二極管參數(shù)測試結(jié)果 akuf 紅色發(fā)光 led121708mv 綠色發(fā)光 led212926mv 二極管 in400121697 mv 二極管 in400731687mv 表 4-3 電容參數(shù)測試結(jié)果 電容引腳引腳uf 103j319.92nf 473j3144.56nf 47431466.49nf 4.7uf314.40uf 220uf31183.81 uf 330uf31

30、264.49uf 表 4-4 半導(dǎo)體元件參數(shù)測試結(jié)果 元件型號引腳引腳引腳 c8550pnpb=2c=3e=1hfe=218uf=893mv 8050dnpnb=2c=3e=1hfe=158uf=805mv a1015pnpb=1c=2e=3hfe=653uf=785mv 9015pnpb=1c=2e=3hfe=762uf=780mv e1300snpnb=1c=2e=3hfe=51uf=648mv 6n60n-e-mosc=0.16ngds=123vt=4080mv 由于使用的采樣電阻不是很精確，在焊接上也存在導(dǎo)線的內(nèi)阻，因此在對電阻器 電容器的測量上隨著參數(shù)的增加精確度也隨之降低。而對半導(dǎo)

31、體元件參數(shù)的測量可以 準(zhǔn)確的測量出元件的型號與引腳排布。 第 2 節(jié) 誤差分析 誤差，在任何一種測量中，無論所用儀器多么精密，方法多么完善，實(shí)驗(yàn)者多么 細(xì)心，所得結(jié)果常常不能完全一致而會有一定的誤差或偏差。嚴(yán)格地說，誤差是指觀 測值與真值之差，偏差是指觀測值與平均值之差。但習(xí)慣上常將兩者混用而不加區(qū)別。 根據(jù)誤差的種類、性質(zhì)以及產(chǎn)生的原因，可將誤差分為系統(tǒng)誤差、偶然誤差和過失誤 差三種6。在本設(shè)計(jì)中系統(tǒng)誤差就是在信號輸入的部分的 680 電阻 470k 電阻的精 度上，因?yàn)樵趯?shí)驗(yàn)室沒有精度那么高的電阻，因此采用了阻值比較接近的電阻代替， 從而產(chǎn)生了系統(tǒng)誤差。偶然誤差和過失誤差的產(chǎn)生在于對電路的

32、焊接與測量得方法上， 在焊接過程中必然導(dǎo)致線路阻值對電路的影響。在測量過程中，電子元件的引腳與插 座之間的接觸不良或是懸空也對產(chǎn)生偶然誤差和過失誤差 7。 結(jié) 論 本文論述了基于 atmega 8 單片機(jī)的電子元件測試儀的原理，實(shí)現(xiàn)了晶體管的數(shù) 據(jù)、信息的顯示。闡述了 atmega 8 單片機(jī)的基本原理和測量過程中的數(shù)據(jù)傳送方式。 在單片機(jī)方面針對 atmega 8 單片機(jī) adc 端口的特點(diǎn)、工作原理、數(shù)據(jù)采集的控制， 各種工作方式等問題進(jìn)行了講解。數(shù)據(jù)采集介紹了如何在單片機(jī)與硬件電路的連接， 闡述了如何利用 adc 模塊來進(jìn)行數(shù)據(jù)采集，保證通信過程不出現(xiàn)邏輯紊亂。 經(jīng)過一段時(shí)間的收集資料，

33、我的設(shè)計(jì)終于完成，看著自己的成果，有說不出的感 觸。經(jīng)過這段時(shí)間的努力，對我所學(xué)知識有了系統(tǒng)的總結(jié)。在本設(shè)計(jì)中，我主要是說 明它的原理和應(yīng)用，然后針對半導(dǎo)體器件、電容、電阻的測量實(shí)現(xiàn)測量功能，讓我學(xué) 會了分析問題、處理問題的方法，為以后的工作學(xué)習(xí)打下了比較堅(jiān)實(shí)的基礎(chǔ)。 總之，在設(shè)計(jì)過程學(xué)到了許多，作為現(xiàn)代的大學(xué)生，如果僅僅停留在以往的書面 層次上，是遠(yuǎn)遠(yuǎn)跟不上時(shí)代步伐的，也無法使自己立足在競爭如此激烈的社會里。通 過對本課題的研究，讓我看到了自己的水平和差距，使我受益匪淺。 參考文獻(xiàn) 1 耿德根，宋建國，馬潮等，avr 高速嵌入式單片機(jī)原理與應(yīng)用（修訂版）m， 北京：北京航空航天大學(xué)出版社，

34、（2002）：185-190 2 江海波，王卓然，耿德根，深入淺出 avr m，北京：中國電力出版社， （2007）：6-12 3 沈文，eagle lee，詹衛(wèi)前，avr 單片機(jī) c 語言開發(fā)入門指導(dǎo) m，北京：清華大 學(xué)出版社， （2003）：2-16 4 馬潮，詹衛(wèi)前，耿德根，atmega 8 原理及應(yīng)用手冊 m，北京：清華大學(xué)出版社， （2003）：1-11 5 richardbarnett, larry ocull，嵌入式 c 編程與 atmel avr m，ssrsh cox，周俊 杰等譯，北京：清華大學(xué)出版社， （2003）：1-11 6 李明生，電子測量與儀器m，北京：高等教育

35、出版社， （2003）：215-225 7 劉建清，劉漢文，尋李波，魯金，從零開始學(xué)電子測量技術(shù) m，北京：國防工 業(yè)出版社， （2006）：2-8 附 錄 1.fet2、bjt 的真值表與 fet 的真值表 附表 1-1 fet2 的真值表 x000111 y011001設(shè)置 z101010 狀態(tài)字 x z y 0x13 x y z 0x23 y z x 0x0d y x z 0x29 z y x 0x0e z x n m o s y 0x19 x z y 0x32 x y z 0x31 y z x 0x2c y x p m o s z 0x25 附表 1-2 bjt 的真值表 z y x

36、0x1c z x y 0x16 x000111 y011001設(shè)置 z101010 狀態(tài)字 x y 0x20 y x 0x10 x z 0x2 z x 0x1 y z 0x8 z 二 極 管 y 0x4 x y 0x30 x z 0x03 y 電 阻 z 0x0c x/y x y/z 0x18 x/z n p n y 0x22 附表 1-3 fet 的真值表 2判斷程序如下 z/x x/y z y/x 0x5 x/z y z/x 0x25 z/y x y/z 0x1c x/y z p n p y/x 0x16 x000111 y011001設(shè)置 z101010 狀態(tài)字 y x/z z/x 0x3d x y/z z/y 0x37 z x/y