SDH電接口參數(shù)測試全解

1、SDH電接口參數(shù)測試1、比特率及容差、接口碼型A、指標(biāo)要求：比特率即二進制信號速率，定義為每單位時間內(nèi)傳送的比特數(shù)。實際數(shù)字信號的比特率和規(guī)定的標(biāo)稱比特率多少有點差別，ITU-T規(guī)定了這種差別允許的范圍，即容差。見下表 1輸入口、輸出口都應(yīng)滿足表 1要求，輸入口滿足指能適應(yīng)相應(yīng)容差范圍內(nèi)的任何實際比特率，其它參數(shù)仍應(yīng)滿足指標(biāo)；輸出口滿足指無論上游是何設(shè)備，數(shù)字信號從輸出口送出， 其實際比特率應(yīng)在表1給出的容差之內(nèi)。接口名稱標(biāo)稱比特率（或時鐘頻率 KHz）（Kbits/s）容差（或頻率容差 Hz）接口碼型ppm(bits/s)PDH1次群2048450102.4HDB32次群8448450253

2、.43次群34368420687.44次群139264士52089CMISDHSTM-1e15552042043110.4/表1:比特率及容差、接口碼型指標(biāo)要求B、測試基本框圖:圖1:比特率及容差測試框圖C、測試步驟：(1) 、輸入口比特率及容差： 按圖1接好電路，配置SDH測試設(shè)備使之產(chǎn)生相應(yīng)表 1的比特率及碼型，使系統(tǒng)正常運行, 確認SDH測試設(shè)備檢測不到任何誤碼；減少SDH測試設(shè)備的輸岀信號比特率，直到SDH測試設(shè)備剛好檢測到任何誤碼的臨界點，記下此時的頻偏值(如到測試設(shè)備頻偏設(shè)置的極限仍無誤碼，則記下此極限值)；增加SDH測試設(shè)備的輸岀信號比特率，重復(fù)上一步驟；-記錄下的頻偏值必須超過

3、表1中的容差限值；更換其它輸入口重復(fù)以上測試步驟。(2) 、輸出口數(shù)字信號比特率：按圖1接好電路，配置SDH測試設(shè)備使之產(chǎn)生相應(yīng)表 1的比特率及碼型，使系統(tǒng)正常運行; 確認SDH測試設(shè)備的輸岀信號比特率無頻偏，測試此時接收到的信號比特率頻偏，其值 應(yīng)在表1所示容差限之內(nèi)；更換其它輸入口重復(fù)以上測試步驟。2、岀口信號波形A、指標(biāo)要求:實際工作條件下，輸岀口通過電纜連接在數(shù)字配線架（DDF上，由于電纜長度和阻抗等不確定因素，無法規(guī)范實際工作的輸出口信號波形參數(shù)指標(biāo)?，F(xiàn)在的輸出口信號波形各參數(shù)都是在輸岀口終結(jié)規(guī)定的測試負載阻抗條件下所規(guī)定的指標(biāo)，各級數(shù)字接口的輸岀口指標(biāo)應(yīng)符合表2的要求。比特率(Kb

4、it/s )2048844834368139264155520脈沖形狀矩形,應(yīng)滿足相應(yīng)的脈沖模板負載阻抗75075075Q75Q750傳號（脈沖）峰值電壓2.37V2.37V1.0V峰-峰電壓1zt0.1V峰-峰電壓111V空號（無脈沖）峰值電壓0H0.237VO：I0.237VO0.1V/標(biāo)稱脈沖寬度244ns59ns14.55ns升時間益ns上升時間 60/060 10M0,空0pf直流（DC）8448 150500 - 150 5k 0 , 350500 - 350 5k 0, 500500 500 5k 0, 0.01uf155520 500500 z 500 5k fj, 0.01u

5、f2048kHz同步信號接口 60/0 - 60 10M0,立0pf直流（DC）表3 :接口測試用濾波器和探頭要求C、測試基本框圖:光口坯回STM-N光口環(huán)回光衰減器破測網(wǎng)絡(luò)單元 ADM 或 DXC光衰減器*DDF架低電容高阻抗探頭|圖2；輸出口信號波形測試配置被測FDH或SDH電口D、測試步驟： 按表3選擇示波器和探頭，按測試框圖接好電路； 將測試負載阻抗（75電阻，誤差小于一0.5%）或7 V5 1阻抗變換器（若不用低電容高 阻抗探頭時）的75門側(cè)接到待測的輸岀口上；先校準(zhǔn)零基線，方法是不給示波器送信號（輸入端短路），將水平掃描線調(diào)到屏幕適當(dāng)?shù)奈恢茫０宓臉?biāo)稱 0伏線）處； 對于13926

6、4和155520Kbit/s 輸岀口，注意示波器用交流耦合( AC方式。CMI碼的幅度中線和示波器的零基線之差應(yīng)不超過_0.05V3、阻抗和反射衰減A、指標(biāo)要求：輸入口或輸岀口的實際阻抗與標(biāo)稱阻抗的差異用反射衰減規(guī)定，它表示接口失配時反射造成的能量損失，又稱回波損耗。相應(yīng)各數(shù)字接口的反射衰減指標(biāo)見下表4 :接口比特率(Kbit/s)測試頻率范圍(KHz)標(biāo)稱阻抗反射衰減51.2 102.4750 或 1200 12dB2048輸入口102.4 仏 2048750 或 1200 18dB2048 3072750 或 1200 14dB2048KHZ同步信號輸入口204875。或 1200 15d

7、B211.2422.4750 12dB8448輸入口422.4 - 844875Q 18dB8448 - 1267275Q 14dB859.2 - 1718.4750 12dB34368輸入口1718.4- 34368750 18dB34368 51552750 14dB139264輸入口和輸岀口7000 - 210000750 15dB155520輸入口和輸岀口8000 - 240000750 15dB表4 :接口阻抗特性指標(biāo)B、基本測試框圖:被測輸入口或輸岀口圖3:阻抗和反射衰減測試配置C、測試步驟: 按圖3接好電路，振蕩器的阻抗按反射橋的要求設(shè)置，輸岀電平OdB,頻率在表4相應(yīng)的范圍內(nèi)。

8、電平表阻抗按反射橋的要求設(shè)置； 先將待測接口與反射橋完全斷開，此時電平表指示電平為P1 (dB);將待測接口接在反射橋上，此時電平表指示電平為P2 (dB);反射衰減b：=P1 - P2，其值應(yīng)滿足表 4的要求； 改變頻率，重復(fù)以上步驟，可得到整個頻率范圍內(nèi)的b：、。注意：連接被測接口和反射橋的電纜要盡量短。YB536-92規(guī)定，2048Kbit/s 及更低速率接口測試所用電纜在 10MHz的衰減不得超過 0.5dB，8448Kbit/s 及更高速率接口測試所用電纜在 200MHz的衰減不得超過 0.2dB，這樣才能使測得的結(jié)果準(zhǔn)確。4、輸入口允許衰減和抗干擾能力A、指標(biāo)要求:連接輸岀口和輸入

9、口的電纜和數(shù)字配線架會引入衰減，對于減弱的信號，輸入口應(yīng)能正確接收，輸入口的這種特性用允許的衰減范圍表示。另外，由于數(shù)字配線架和輸岀口阻抗不均勻性，在接口上可能呈現(xiàn)信號反射，反射信號對有用信號形成干擾，因此必須保證輸入口有足夠的抗干擾能力。其指標(biāo)要求見下表5:比特率允許衰減抗干擾能力標(biāo)稱值(Kbit/s)容差(bit/s)測試頻率(kHz)衰減范圍(dB)信號/干 擾(dB)干擾源(PRBS)204802.41024061815/2 - 184484253.4422406202 - 1343684687.4171480 2202 - 113926442089700000 2155520出110.4780000 z 12.72048kHz/同步信號接/204806口B、測試基本框圖:見下圖4。C、測試步驟: 按圖4接好電路，儀表參數(shù)按表 5設(shè)置；調(diào)整干擾支路衰減器，使信號/干擾比等于表5所要求的數(shù)值；-SDH測試設(shè)備設(shè)置相應(yīng)的速率、碼型，連接電纜衰減接近 OdB時，SDH測試設(shè)備應(yīng)檢測不到誤碼;在SDH測試設(shè)備速率有偏差(范圍不超過表5所給容差)，連接電纜衰減增大(范圍不超連接電纜線圖4:輸入口允許衰減和抗干擾能力測試配置5、過壓保護要求通過比較輸入口經(jīng)標(biāo)準(zhǔn)閃電脈沖沖擊前后各項指標(biāo)的測試結(jié)