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1、光時域反射儀(光時域反射儀(OTDR) 使用方法簡介使用方法簡介-安捷倫E6000COTDR簡介簡介OTDR是一個工具,可用于: 1、測量光纖長度、熔接點損耗 2、測量接頭和連接器的位置 3、測量光纖的光學(xué)特性 4、查找斷裂或不正確彎曲的位置 OTDR全稱為光時域反射儀,反射儀是指它測量的是反射光信號,時域是指它測量反射往返的時間。OTDROTDR測試原理測試原理 OTDR所測得的衰減曲線是由瑞利散射的光信號放大處理而成。 瑞利散射:用電筒照射一玻璃杯清水,光會透過水杯,如果照射一杯濁水,濁水中將出現(xiàn)亮點。光纖的玻璃材料中存在不均勻微粒,由這些微粒產(chǎn)生的散射現(xiàn)象成為瑞麗散射。衰減特性曲線DBO

2、TDR光纖1光纖2熔接點(a)、(e)菲涅耳峰(b)自身衰減曲線(c)熔接損耗(d)光纖微彎 OTDR包含一個光發(fā)射機(激光器)和一個光接收器 光發(fā)射機向光纖中發(fā)射光的短脈沖串,此光中的大部分通過光纖進行傳輸,由于光纖的雜質(zhì)反射(瑞麗散射等)及折射,使得部分光返回至發(fā)射端,回到OTDR的反射光被稱為后向分散。 靠近OTDR端的后向分散最先到達發(fā)送端,而距離較遠的后向分散最后則需要較長的時間,距OTDR的距離與后向分散返回所需要的時間成正比。OTDR測試原理測試原理測量后向分散測量后向分散 光接收器測量相對于時間的后向分散。光會因為反射、折射和吸收而損耗,所以后向分散隨著光纖的距離延伸而降低。后

3、向分散的功率隨著距離的變化在OTDR上顯示為一條曲線圖,垂直軸表示功率,水平軸表示距離。這個曲線圖稱為軌跡。Pd后向分散功率(P)相對于距離(d) 對于理想的OTDR和直的、無瑕疵的光纖而言,該軌跡是一條從左到右向下傾斜的直線。 該軌跡偏離直線的地方被稱為事件。 事件有兩類:反射事件反射事件和非反射事件非反射事件。 反射事件是指光纖中的一個可產(chǎn)生多于正常反射光的改變。 當(dāng)光纖中有一個干凈的斷裂,并且光纖的斷裂面與空氣的接觸面如同鏡子一樣,這時,在光纖的斷裂面就會出現(xiàn)一個反射事件。 當(dāng)兩個光纖沒有緊密的接在一起時,例如在機械接頭或使用連接器時,也能出現(xiàn)反射事件。測量后向分散測量后向分散反射事件

4、由于光被反射,并且一些光損耗在間隙的空氣中,不能繼續(xù)沿著光纖前行,所以此事件后的后向分散將降低?;诖嗽颍瓷涫录脖环Q為反射損耗。 光纖涂層中的裂紋也可產(chǎn)生反射事件。 測量后向分散測量后向分散非反射事件:指光纖中導(dǎo)致光的損耗的一個改變。 當(dāng)兩個光纖熔和在一起(光纖融接),沒有完全對齊時或光纖彎曲半徑過小時,也可產(chǎn)生非反射事件。非反射事件非反射事件也被稱作為損耗。測量后向分散測量后向分散 在光纖的接頭處,第二個光纖的后向分散比第一個高,它將在軌跡上產(chǎn)生一個上升,被稱為獲得者(偽增益)。偽增益 偽增益:光在光纖中傳輸,功率與距離成反比,距離越長,功率越小,衰減越大,因此,在光纖中傳輸,不可能存

5、在增益。但在OTDR測試過程中,往往會有部分反射峰出現(xiàn)增益,顯示為負(fù)值,我們稱此為偽增益。測量后向分散測量后向分散光纖的開始和結(jié)束: 在光纖連接到OTDR(連接器處)和光纖結(jié)束的地方,會有許多額外的光被反射。具有前面和結(jié)束反射的軌跡 光纖結(jié)束后的噪聲實際上就是由OTDR接收器的電噪聲導(dǎo)致的。測量后向分散測量后向分散偽增益的來源偽增益的來源無衰耗0.3dB 接頭衰耗AB-0.5dBAB0.5dB真實衰耗 = (-0.5 + 0.5) / 2 = 0.0dB真實的熔接衰耗 = (-0.2 + 0.8) / 2 = 0.3dBAB-0.2dBAB0.8dB測量后向分散測量后向分散 如果光纖是斷裂的,

6、則光纖結(jié)束將不會是鏡面,因此光不能正常反射。斷裂點測量后向分散測量后向分散分辨率和噪聲分辨率和噪聲 脈沖寬度是指OTDR發(fā)送到光纖中的光脈沖串的長度。脈沖寬度越長,光纖中的功率越大,OTDR能測量到的光纖就越長。 因此,要測量長光纖,則需要使用更長的脈沖寬度以增大光功率,并使用動態(tài)模式降低噪聲級。 要檢查靠在一起的事件,可使用較小的脈沖寬度和分辨率模式以增大測量分辨率,它是軌跡清晰度的數(shù)量。 分辨率也受測量跨度的影響。被測光纖的總長度越長,分辨率越低。距離:距離: OTDR通過測量反射往返的時間來計算距離。 使用精確的光纖中的光速是很重要的,光纖中的光速通過折射率給定。 在真空中,光速為300

7、 000公里/秒,在玻璃中,光速大約為200 000公里/秒。 距離=(時間)X(真空中的光速)/(光纖折射率) 光纖的折射率由光纖生產(chǎn)商提供。 確保所測量光纖的折射率是正確的,以保證軌跡上的距離是精確的。 光纖的測試方法一般為兩點法和四點法,衰減系數(shù)、損耗和長度均用兩點法測試,熔接點損耗則用四點法測試。1、衰減系數(shù): 單位公里光纖的自身衰減,衰減值/被測長度,它不包含施工中的任何附件損耗(微彎、接續(xù)損耗等)。單位為:DB/KM。 衰減系數(shù)一般在光纜未鋪設(shè)情況下測試,如進廠驗貨時。 衰減系數(shù)用兩點法測試: 第一點放在光纖前端,但在熔接點后,以避開前端附加損耗。 第二點放在光纖末端,避開末端附加

8、損耗(菲涅耳峰)。光纖測試方法簡介:光纖測試方法簡介:2、兩點損耗 兩點損耗用來測量一段光纖任意兩點間的損耗,是指光在光纖中傳輸所有的累計損耗。 兩點損耗是用兩點法來測試: 第一點放在被測光纖段的起點, 第二點放在被測光纖短的末端。3、長度 長度是指光纖的長度,即纖芯長度。因熱脹冷縮及抗彎曲因素,纖芯比光纜略長。 長度同樣是用兩點法來測試: 第一點放在被測光纖的起點, 第二點放在被測光纖的末端。光纖測試方法簡介:光纖測試方法簡介:4、熔接點損耗 熔接點損耗是指兩段光纖接續(xù)時產(chǎn)生的損耗。通常用四點法測試。 第一點放在熔接點左側(cè)光纖平滑段前端。 第二點放在熔接點左側(cè)光纖平滑段末端,熔接點附近。 第

9、三點放在熔接點右側(cè),光纖平滑段前端,熔接點附近。 第四點放在熔接點右側(cè),光纖平滑段末端。光纖測試方法簡介:光纖測試方法簡介:注意事項: 在操作OTDR儀表時,需對儀表進行相應(yīng)設(shè)置,如距離量程、脈寬、標(biāo)記方法(TPALSA)。 距離量程分自動和具體值選項,自動是在被測光纖長度不確定請況下;具體值是根據(jù)被測光纖長度,設(shè)定其值為長度的兩倍,便于觀察。 脈寬也分為自動和具體值選項,自動是根據(jù)設(shè)置的距離量程,自動設(shè)置合適的脈寬。具體值為長距離量程設(shè)置寬的脈寬,高分辨率下設(shè)置窄的脈寬。標(biāo)記方法: TPA: 兩個標(biāo)記點之間的損耗,一般用于微觀的測量。 LSA:宏觀的測量,用于事件的分析。光纖測試方法簡介:光

10、纖測試方法簡介:運行運行/停止鍵停止鍵安捷倫安捷倫E6000 OTDRE6000 OTDR簡介簡介方向鍵方向鍵軟鍵(確認(rèn)鍵)軟鍵(確認(rèn)鍵)幫助鍵幫助鍵顯示屏顯示屏電池蓋電池蓋正面正面?zhèn)让鎮(zhèn)让骈_關(guān)軟驅(qū)及外置存儲器接口RS232打印接口測試光模塊測試光接口擴展插槽安捷倫安捷倫E6000 OTDRE6000 OTDR簡介簡介開關(guān)開關(guān)外接電源外接電源灰度灰度亮度亮度軟驅(qū)軟驅(qū)擴展外存擴展外存光接口光接口卡銷卡銷安捷倫安捷倫E6000 OTDRE6000 OTDR簡介簡介安捷倫E6000 操作界面簡單介紹簡單介紹OTDROTDR測量步驟(一)測量步驟(一)簡單介紹簡單介紹OTDROTDR測量步驟(二)測量

11、步驟(二)一一對應(yīng)一一對應(yīng)簡單介紹簡單介紹OTDROTDR測量步驟(三)測量步驟(三)簡單介紹簡單介紹OTDROTDR測量步驟(四)測量步驟(四)按鍵運行測試按鍵運行測試簡單介紹簡單介紹OTDROTDR測量步驟(五)測量步驟(五)運行燈亮運行燈亮簡單介紹簡單介紹OTDROTDR測量步驟(六)測量步驟(六)簡單介紹簡單介紹OTDROTDR測量步驟(七)測量步驟(七)損耗損耗反射峰反射峰事件表事件表簡單介紹OTDR測量步驟(八)簡單介紹簡單介紹OTDROTDR測量步驟(九)測量步驟(九)簡單介紹簡單介紹OTDROTDR測量步驟(十)測量步驟(十)簡單介紹簡單介紹OTDROTDR測量步驟(十一)測量

12、步驟(十一)簡單介紹簡單介紹OTDROTDR測量步驟(十二)測量步驟(十二)簡單介紹簡單介紹OTDROTDR測量步驟(十三)測量步驟(十三)簡單介紹簡單介紹OTDROTDR測量步驟(十四)測量步驟(十四)簡單介紹OTDR測量步驟(十五)OTDROTDR測量曲線圖解測量曲線圖解30ns1980ns7620ns3860ns960ns480ns240ns120ns曲線最光滑但盲區(qū)最大使用中等脈寬獲得了較好的盲區(qū)和清晰的曲線最短的盲區(qū)但噪聲很大脈沖寬度與盲區(qū)圖解965m3,165ft540m1,773ft7620ns960ns120ns長脈寬長脈寬中脈寬中脈寬短脈寬短脈寬3,000950 250盲區(qū)OTDROTDR測量曲線圖解測量曲線圖解距離精度距離精度 光纜敷設(shè)時可能不直或上下左右偏離路由. 每一光纖在光纜內(nèi)是松弛的,且在接頭盒內(nèi)有不同長度的盤留。測試距離較短:沿著地面.測試距離較接近:沿著光纜.測試距離較長:光纖長度OTDR測量光纖長度 !斷點位置OTDROT

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