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文檔簡介

1、國標(biāo)國標(biāo)GB4706常規(guī)試驗研究常規(guī)試驗研究華凌股份有限公司華凌股份有限公司. .測試中心測試中心GB4706.1-2005GB4706.13-2008IEC603352012.08常規(guī)試驗也稱例行試驗:常規(guī)試驗也稱例行試驗:由產(chǎn)品制造商在每個產(chǎn)品每個產(chǎn)品上進(jìn)行,用來監(jiān)測有可能危及產(chǎn)品安全的生產(chǎn)波動的因素,通常在整機(jī)狀態(tài)進(jìn)行,如果后面的生產(chǎn)過程不會影響例行試驗結(jié)果,制造商也可以在生產(chǎn)過程中適當(dāng)?shù)碾A段進(jìn)行試驗。注:注:如果一個產(chǎn)品未通過某項試驗,則要在返工或返修后重新進(jìn)行該項試驗。例行試驗例行試驗發(fā)現(xiàn)過程波動發(fā)現(xiàn)過程波動目的目的A1.A1.接地連續(xù)性試驗(接地電阻)接地連續(xù)性試驗(接地電阻)定義

2、:定義:接地端子或接地觸點與易接觸接地金屬部件之間的連接,應(yīng)具有低電阻值。方法:方法:從空載電壓12V(交流或直流)電源獲取25A電流(產(chǎn)品額定電流1.5倍或25A,兩者取較大值),讓該電流在接地端子或接地觸點與每個易觸及金屬部件之間通過,該電流不會隨著阻抗變化而影響該電流不會隨著阻抗變化而影響。通常采用電壓通常采用電壓/ /電流法測量:電流法測量:記錄:記錄:對多個遠(yuǎn)端易觸及接地金屬部件部位進(jìn)行測試,并記錄測量電阻值,并取最大值最為測試結(jié)果。標(biāo)準(zhǔn):標(biāo)準(zhǔn):要求測試的接地電阻值小于0.1。應(yīng)用理解:應(yīng)用理解:測量接地電阻時,電源軟線的阻抗不計算在內(nèi)。計算:計算:測量接地端子或接地觸點與易觸及接地

3、金屬部件之間的電壓降,與25A電流計算出的電阻值,即為接地電阻值。注意點:注意點:易接觸接地金屬部件選擇:盡可能選擇與接地端子或接地觸點最遠(yuǎn)端的接地金屬部件。測量探棒頂部與金屬部件接觸性:測量探棒頂部應(yīng)保持良好的接觸性,與金屬部件應(yīng)無明顯接觸電阻值。測量結(jié)果數(shù)據(jù)讀?。喝绻麥y試結(jié)果有波動,必須進(jìn)行到穩(wěn)定狀態(tài),讀取測量數(shù)據(jù)。企標(biāo)要求:量產(chǎn)檢測與新品開發(fā)要求一致。A2.A2.電氣強(qiáng)度試驗(耐電壓電氣強(qiáng)度試驗(耐電壓Withstand VoltageWithstand Voltage)定義:定義:帶電部件與易觸及金屬部件之間的絕緣連接結(jié)構(gòu),應(yīng)能承受一 定的高壓沖擊能力。方法:方法:電源輸出端連接帶電部

4、件與易觸及金屬部件,設(shè)置1750V50Hz,歷時1S的測試電源(工作電壓115V產(chǎn)品測試電壓設(shè)置1250V)。通過泄漏電流的大小或峰值來判定是否為良品。通過泄漏電流的大小或峰值來判定是否為良品。H/PDUTArcing泄 漏過 載CPUDUTRRL記錄:記錄:測試電路中發(fā)生的泄漏電流值(分別測量L、N電源端與易觸及金屬部件,兩者取較大值)。標(biāo)準(zhǔn):標(biāo)準(zhǔn):不能發(fā)生擊穿,要求測量的電流值小于等于5mA。計算:計算:施加于L、N與易觸及金屬部件之間的電壓與兩端之間的阻抗計算獲得的泄漏電流值。注意點:注意點:試驗產(chǎn)品狀態(tài):為了盡可能使測試電壓施加到相應(yīng)的絕緣結(jié)構(gòu)上,需要使通過繼電器控制的部件處于工作狀態(tài)

5、,如化霜加熱器等。測試電路電流限值設(shè)置:對帶有高泄漏電流的產(chǎn)品,此電流限值可以放大至30mA。絕緣結(jié)構(gòu)為非金屬材質(zhì):如果易觸及部位為非金屬材質(zhì),則用金屬箔覆蓋表面。企標(biāo)測試電壓設(shè)定:量產(chǎn)檢測:1800V/1S,15mA;量產(chǎn)抽檢:1750V/1Min,15mA;新品開發(fā):1800V/1Min,15mA。A3.A3.絕緣電阻試驗(絕緣阻抗)絕緣電阻試驗(絕緣阻抗)定義:定義:帶電部件與易觸及金屬部件之間的電阻值,通過絕緣電阻試驗可以了解絕緣結(jié)構(gòu)性能、了解電器絕緣處理質(zhì)量、了解絕緣潮濕及污染情況。方法:方法:電源輸出端連接帶電部件與易觸及金屬部件,設(shè)置500VDC,歷時1S的測試電源。計算:計算:

6、施加于帶電部件與易觸及金屬部件之間的電壓后,測量發(fā)生的泄漏電流值,通過歐姆定律計算獲得電阻值。記錄:記錄:測試電路中發(fā)生的電阻值(分別測量L、N電源端與易觸及金屬部件,兩者取較大值)。標(biāo)準(zhǔn):標(biāo)準(zhǔn):要求測量的電阻值大于10M。注意點:注意點:應(yīng)用理解:絕緣電阻測試為非破壞性試驗,可以偵測絕緣性能是否良好。通常作為絕緣性能的預(yù)測或作為電氣強(qiáng)度測試后絕緣性能是否損傷的確認(rèn)性測試。絕緣與耐壓的關(guān)聯(lián):當(dāng)絕緣電阻過低,泄漏電流將會上升,導(dǎo)致電氣強(qiáng)度不滿足要求,因此,通常先進(jìn)行絕緣電阻測試,再進(jìn)行電氣強(qiáng)度測試。企標(biāo)電阻值設(shè)定:量產(chǎn)檢測:2S/大于10M;量產(chǎn)抽檢:60S/大于10M;新品開發(fā): 60S/大于

7、30M。A4.A4.泄漏電流試驗泄漏電流試驗定義:定義:產(chǎn)品在正常工作狀態(tài)下,通過絕緣部分或分布阻抗產(chǎn)生的與 工作無關(guān)的電流,輸入模擬人體阻抗進(jìn)行測試。方法:方法:通過輸入1.06倍額定電壓,在產(chǎn)品工作狀態(tài)下,測量對地、對接觸金屬部件、對相關(guān)部件的漏電電流,分別進(jìn)行靜態(tài)、動態(tài)極性交換泄漏電流測試。靜態(tài)泄漏電流一:靜態(tài)泄漏電流一:測量L端對地泄漏電流被 測 體baK2K1模 擬 人 體阻 抗 電 路NL1.06U額靜態(tài)泄漏電流二:靜態(tài)泄漏電流二:測量N端對地泄漏電流K2K1ba1.06U額LN模 擬 人 體阻 抗 電 路被 測 體動態(tài)泄漏電流一:動態(tài)泄漏電流一:測量L端對地泄漏電流被測體模擬人體阻抗電路NL1.06U額動態(tài)泄漏電流二:動態(tài)泄漏電流二:測量N端對地泄漏電流被 測 體1.06U額LN模 擬 人 體阻 抗 電 路記錄:記錄:分別記錄各組測試數(shù)據(jù),最終結(jié)果取最大值。標(biāo)準(zhǔn):標(biāo)準(zhǔn):要求測量的泄漏電流值小于3.5mA。注意點:注意點:應(yīng)用理解:電動產(chǎn)品與組合型產(chǎn)品以1.06倍額定電壓進(jìn)行測試,電熱產(chǎn)品以1.15倍額定電壓進(jìn)行測試。對于組合型產(chǎn)品,泄漏電流限值在電熱或電動產(chǎn)品規(guī)定的限值內(nèi)取較大值,不能將兩個限值相加

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