鋼焊縫手工超聲波探傷方法和探傷結(jié)果分級(jí)

1、中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)鋼焊縫手工超聲波探傷方法和探傷結(jié)果分級(jí) GB/T ll34589 Method for manual ultrasonic testing and classification of testing results for ferritic steel welds1 主題內(nèi)容與適用范圍 本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了檢驗(yàn)焊縫及熱影響區(qū)缺陷，確定缺陷位置、尺寸和缺陷評(píng)定的一般方法及探傷結(jié)果的分級(jí)方法。 本標(biāo)準(zhǔn)適用于母材厚度不小于8mm的鐵素體類(lèi)鋼全焊透熔化焊對(duì)接焊縫脈沖反射法手工超聲波檢驗(yàn)。 本標(biāo)準(zhǔn)不適用于鑄鋼及奧氏體不銹鋼焊縫；外徑小于159mm的鋼管對(duì)接焊縫；內(nèi)徑小于等于 200mm的管

2、座角焊縫及外徑小于250mm和內(nèi)外徑之比小于80的縱向焊縫。2 引用標(biāo)準(zhǔn) ZBY 344 超聲探傷用探頭型號(hào)命名方法 ZBY 231 超聲探傷用探頭性能測(cè)試方法 ZBY 232 超聲探傷用l號(hào)標(biāo)準(zhǔn)試塊技術(shù)條件 ZBJ04 001 A型脈沖反射式超聲探傷系統(tǒng)工作性能測(cè)試方法3 術(shù)語(yǔ)31 簡(jiǎn)化水平距離l 從探頭前沿到缺陷在探傷面上測(cè)量的水平距離。32 缺陷指示長(zhǎng)度l 焊縫超聲檢驗(yàn)中，按規(guī)定的測(cè)量方法以探頭移動(dòng)距離測(cè)得的缺陷長(zhǎng)度。33 探頭接觸面寬度W 環(huán)縫檢驗(yàn)時(shí)為探頭寬度，縱縫檢驗(yàn)為探頭長(zhǎng)度，見(jiàn)圖1。34 縱向缺陷 大致上平行于焊縫走向的缺陷。35 橫向缺陷 大致上垂直于焊縫走向的缺陷。36幾何臨

3、界角 筒形工件檢驗(yàn)，折射聲束軸線與內(nèi)壁相切時(shí)的折射角。37 平行掃查 在斜角探傷中，將探頭置于焊縫及熱影響區(qū)表面，使聲束指向焊縫方向，并沿焊縫方向移動(dòng)的掃查方法。38斜平行掃查 在斜角探傷中，使探頭與焊縫中心線成一角度，平行于焊縫方向移動(dòng)的掃查方法。39 探傷截面 串列掃查探傷時(shí)，作為探傷對(duì)象的截面，一般以焊縫坡口面為探傷截面，見(jiàn)圖2。310 串列基準(zhǔn)線 串列掃查時(shí)，作為一發(fā)一收兩探頭等間隔移動(dòng)基準(zhǔn)的線。一般設(shè)在離探傷截面距離為05跨距的位置，見(jiàn)圖2。311 參考線 探傷截面的位置焊后已被蓋住，所以施焊前應(yīng)予先在探傷面上，離焊縫坡口一定距離畫(huà)出一標(biāo)記線，該線即為參考線，將作為確定串列基準(zhǔn)線的依

4、據(jù)，見(jiàn)圖3。312 橫方形串列掃查 將發(fā)、收一組探頭，使其入射點(diǎn)對(duì)串 列基準(zhǔn)線經(jīng)常保持等距離平行于焊縫移動(dòng)的掃查方法，見(jiàn)圖4。313 縱方形串列掃查 將發(fā)、收一組探頭使其入射點(diǎn)對(duì)串列基準(zhǔn)線經(jīng)常保持等距離，垂直于焊縫移動(dòng)的掃查方法，見(jiàn)圖4。4 檢驗(yàn)人員41 從事焊縫探傷的檢驗(yàn)人員必須掌握超聲波探傷的基礎(chǔ)技術(shù)，具有足夠的焊縫超聲波探傷經(jīng)驗(yàn)，并掌握一定的材料、焊接基礎(chǔ)知識(shí)。 42 焊縫超聲檢驗(yàn)人員應(yīng)按有關(guān)規(guī)程或技術(shù)條件的規(guī)定經(jīng)嚴(yán)格的培訓(xùn)和考核，并持有相應(yīng)考核組織頒發(fā)的等級(jí)資格證書(shū)，從事相對(duì)應(yīng)考核項(xiàng)目的檢驗(yàn)工作。 注：一般焊接檢驗(yàn)專(zhuān)業(yè)考核項(xiàng)目分為板對(duì)接焊縫；管件對(duì)接焊縫，管座角焊縫；節(jié)點(diǎn)焊縫等四種。4

5、3 超聲檢驗(yàn)人員的視力應(yīng)每年檢查一次，校正視力不得低于10。5探傷儀、探頭及系統(tǒng)性能51 探傷儀 使用A型顯示脈沖反射式探傷儀，其工作頻率范圍至少為15MHz，探傷儀應(yīng)配備衰減器或增益控制器，其精度為任意相鄰12dB誤差在4-1dB內(nèi)。步進(jìn)級(jí)每檔不大于2dB，總調(diào)節(jié)量應(yīng)大于60dB，水平線性誤差不大于1，垂直線性誤差不大于5。52 探頭521 探頭應(yīng)按ZBY 344標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定作出標(biāo)志。522 晶片的有效面積不應(yīng)超過(guò)500mm2，且任一邊長(zhǎng)不應(yīng)大于25mm。523 聲束軸線水平偏離角應(yīng)不大于2°。524 探頭主聲束垂直方向的偏離，不應(yīng)有明顯的雙峰，其測(cè)試方法見(jiàn)ZBY 231。525 斜

6、探頭的公稱(chēng)折射角為45°、60°、70°或K值為10、15、20、25，折射角的實(shí)測(cè)值與公稱(chēng)值的偏差應(yīng)不大于2(K值偏差不應(yīng)超過(guò)5-01)，前沿距離的偏差應(yīng)不大于lmm。如受工件幾何形狀或探傷面曲率等限制也可選用其他小角度的探頭。526 當(dāng)證明確能提高探測(cè)結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性，或能夠較好地解決一般檢驗(yàn)時(shí)的困難而又確保結(jié)果的正確，推薦采用聚焦等特種探頭。53 系統(tǒng)性能531靈敏度余量系統(tǒng)有效靈敏度必須大于評(píng)定靈敏度10dB以上。532遠(yuǎn)場(chǎng)分辨力 a直探頭：X30dB； b斜探頭：Z6dB，54 探傷儀、探頭及系統(tǒng)性能和周期檢查541 探傷儀、探頭及系統(tǒng)性能，除靈敏度

7、余量外，均應(yīng)按ZBJ04 001的規(guī)定方法進(jìn)行測(cè)試。542 探傷儀的水平線性和垂直線性，在設(shè)備首次使用及每隔3個(gè)月應(yīng)檢查一次。543 斜探頭及系統(tǒng)性能，在表1規(guī)定的時(shí)間內(nèi)必須檢查一次。6 試塊61 標(biāo)準(zhǔn)試塊的形狀和尺寸見(jiàn)附錄A，試塊制造的技術(shù)要求應(yīng)符合ZBY 232的規(guī)定，該試塊主要用于測(cè)定探傷儀、探頭及系統(tǒng)性能。62 對(duì)比試塊的形狀和尺寸見(jiàn)附錄B。表1 斜探頭及系統(tǒng)性能檢查周期 檢 查 項(xiàng) 目 檢 查 周 期 前沿距離 折射角或K值 偏離角開(kāi)始使用及每隔6個(gè)工作日 靈敏度余量 分辨力開(kāi)始使用、修補(bǔ)后及每隔1個(gè)月6 21 對(duì)比試塊采用與被檢驗(yàn)材料相同或聲學(xué)性能相近的鋼材制成。試塊的探測(cè)面及側(cè)面

8、，在以25MHz以上頻率及高靈敏條件下進(jìn)行檢驗(yàn)時(shí)，不得出現(xiàn)大于距探測(cè)面20mm處的2mm平底孔反射回來(lái)的回波幅度14的缺陷回波。622 試塊上的標(biāo)準(zhǔn)孔，根據(jù)探傷需要，可以采取其他形式布置或添加標(biāo)準(zhǔn)孔，但應(yīng)注意不應(yīng)與試塊端角和相鄰標(biāo)準(zhǔn)孔的反射發(fā)生混淆。623 檢驗(yàn)曲面工件時(shí)，如探傷面曲率半徑R小于等于W2/4時(shí)，應(yīng)采用與探傷面曲率相同的對(duì)比試塊。反射體的布置可參照對(duì)比試塊確定，試塊寬度應(yīng)滿(mǎn)足式(1)：b2 (1)式中 b-試塊寬度，mm -波長(zhǎng)，mm S-聲程，m； De聲源有效直徑，mm。63 現(xiàn)場(chǎng)檢驗(yàn)，為校驗(yàn)靈敏度和時(shí)基線，可以采用其他型式的等效試塊。7 檢驗(yàn)等級(jí)71 檢驗(yàn)等級(jí)的分級(jí) 根據(jù)質(zhì)

9、量要求檢驗(yàn)等級(jí)分為A、B、c三級(jí)，檢驗(yàn)的完善程度A級(jí)最低，B級(jí)一般，c級(jí)最高，檢驗(yàn)工作的難度系數(shù)按A、B、C順序逐級(jí)增高。應(yīng)按照工件的材質(zhì)、結(jié)構(gòu)、焊接方法、使用條件及承受載荷的不同，合理的選用檢驗(yàn)級(jí)別。檢驗(yàn)等級(jí)應(yīng)按產(chǎn)品技術(shù)條件和有關(guān)規(guī)定選擇或經(jīng)合同雙方協(xié)商選定。 注：A級(jí)難度系數(shù)為11 8級(jí)為56；C級(jí)為1012。 本標(biāo)準(zhǔn)給出了三個(gè)檢驗(yàn)等級(jí)的檢驗(yàn)條件，為避免焊件的幾何形狀限制相應(yīng)等級(jí)檢驗(yàn)的有效性，設(shè)計(jì)、工藝人員應(yīng)在考慮超聲檢驗(yàn)可行性的基礎(chǔ)上進(jìn)行結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)和工藝安排。72 檢驗(yàn)等級(jí)的檢驗(yàn)范圍721 A級(jí)檢驗(yàn)采用一種角度的探頭在焊縫的單面單側(cè)進(jìn)行檢驗(yàn)，只對(duì)允許掃查到的焊縫截面進(jìn)行探測(cè)。一般不要求作橫

10、向缺陷的檢驗(yàn)。母材厚度大于50mm時(shí)，不得采用A級(jí)檢驗(yàn)。722 B級(jí)檢驗(yàn)原則上采用一種角度探頭在焊縫的單面雙側(cè)進(jìn)行檢驗(yàn)，對(duì)整個(gè)焊縫截面進(jìn)行探測(cè)。母材厚度大于100mm時(shí)，采用雙面雙側(cè)檢驗(yàn)。受幾何條件的限制，可在焊縫的雙面單側(cè)采用兩種角度探頭進(jìn)行探傷。條件允許時(shí)應(yīng)作橫向缺陷的檢驗(yàn)。723 c級(jí)檢驗(yàn)至少要采用兩種角度探頭在焊縫的單面雙側(cè)進(jìn)行檢驗(yàn)。同時(shí)要作兩個(gè)掃查方向和兩種探頭角度的橫向缺陷檢驗(yàn)。母材厚度大于100mm時(shí)，采用雙面雙側(cè)檢驗(yàn)。其他附加要求是： a對(duì)接焊縫余高要磨平，以便探頭在焊縫上作平行掃查： b焊縫兩側(cè)斜探頭掃查經(jīng)過(guò)的母材部分要用直探頭作檢查； c焊縫母材厚度大于等于100mm，窄間

11、隙焊縫母材厚度大于等于40mm時(shí)，一般要增加串列式掃查，掃查方法見(jiàn)附錄c。8 檢驗(yàn)準(zhǔn)備81 探傷面811 按不同檢驗(yàn)等級(jí)要求選擇探傷面。推薦的探傷面如圖5和表2所示。812 檢驗(yàn)區(qū)域的寬度應(yīng)是焊縫本身再加上焊縫兩側(cè)各相當(dāng)于母材厚度30的一段區(qū)域，這個(gè)區(qū)域最小10mm，最大20mm，見(jiàn)圖6。813 探頭移動(dòng)區(qū)應(yīng)清除焊接飛濺、鐵屑、油垢及其他外部雜質(zhì)。探傷表面應(yīng)干整光滑，便于探頭的自由掃查，其表面粗糙度不應(yīng)超過(guò)63m，必要時(shí)應(yīng)進(jìn)行打磨：表2 探傷面及使用折射角 板厚，mm 探 傷 面探傷法 使用折射角或尺值 A B C 25 單面單側(cè) 單面雙側(cè)（1和2或3和 4)或雙面單側(cè)(1和3或 2和4)直射

12、法及一次反射法 70°(K25，K2O) >255070°或60°(K25，K20，K15) >50100 直射法45°或60°；45°和60°，45°和70°并用(K1或K15；K1和K15，K1和K2O并用) >100 雙面雙側(cè)45和60并用(K1和K15或K2并用)a采用一次反射法或串列式掃查探傷時(shí)，探頭移動(dòng)區(qū)應(yīng)大于125P：P-2tg (2)或P2K (3) 式中 p-跨距，mm； 母材厚度，mm。 b采用直射法探傷時(shí)，探頭移動(dòng)區(qū)應(yīng)大于075P。814 去除余高的焊縫，應(yīng)將余高打

13、磨到與鄰近母材平齊。保留余高的焊縫，如焊縫表面有咬邊，較大的隆起和凹陷等也應(yīng)進(jìn)行適當(dāng)?shù)男弈?，并作圓滑過(guò)渡以免影響檢驗(yàn)結(jié)果的評(píng)定。815 焊縫檢驗(yàn)前，應(yīng)劃好檢驗(yàn)區(qū)段，標(biāo)記出檢驗(yàn)區(qū)段編號(hào)。 82檢驗(yàn)頻率 檢驗(yàn)頻率一般在25MHz范圍內(nèi)選擇，推薦選用225MHz公稱(chēng)頻率檢驗(yàn)。特殊情況下，可選用低于2MHz或高于25MHz的檢驗(yàn)頻率，但必須保證系統(tǒng)靈敏度的要求。83 探頭角度831 斜探頭的折射角或K值應(yīng)依據(jù)材料厚度，焊縫坡口型式及預(yù)期探測(cè)的主要缺陷種類(lèi)來(lái)選擇。對(duì)不同板厚推薦的探頭角度和探頭數(shù)量見(jiàn)表2。832 串列式掃查，推薦選用公稱(chēng)折射角均為45°的兩個(gè)探頭，兩個(gè)探頭實(shí)際折射角相差不應(yīng)超過(guò)

14、2°，探頭前沿長(zhǎng)度相差應(yīng)小于2mm。為便于探測(cè)厚焊縫坡口邊緣未熔合缺陷，亦可選用兩個(gè)不同角度的探頭，但兩個(gè)探頭角度均應(yīng)在35°55°范圍內(nèi)。84 耦合劑841 應(yīng)選用適當(dāng)?shù)囊后w或糊狀物作為耦合劑，耦合劑應(yīng)具有良好透聲性和適宜流動(dòng)性，不應(yīng)對(duì)材料和人體有損傷作用，同時(shí)應(yīng)便于檢驗(yàn)后清理。842 典型的耦合劑為水、機(jī)油、甘油和漿糊，耦合劑中可加入適量的“潤(rùn)濕劑”或活性劑以便改善耦合性能。843 在試塊上調(diào)節(jié)儀器和產(chǎn)品檢驗(yàn)應(yīng)采用相同的耦合劑。85 母材的檢查 采用c級(jí)檢驗(yàn)時(shí)，斜探頭掃查聲束通過(guò)的母材區(qū)域應(yīng)用直探頭作檢查，以便探測(cè)是否有影響斜角探傷結(jié)果解釋的分層性或其他種類(lèi)缺

15、陷存在。該項(xiàng)檢查僅作記錄，不屬于對(duì)母材的驗(yàn)收檢驗(yàn)。母材檢查的規(guī)程要點(diǎn)如下： a方法：接觸式脈沖反射法，采用頻率25MHz的直探頭，晶片直徑1025mm； b靈敏度：將無(wú)缺陷處二次底波調(diào)節(jié)為熒光屏滿(mǎn)幅的100； c記錄：凡缺陷信號(hào)幅度超過(guò)熒光屏滿(mǎn)幅20的部位，應(yīng)在工件表面作出標(biāo)記，并予以記錄。9儀器調(diào)整和校驗(yàn)91 時(shí)基線掃描的調(diào)節(jié) 熒光屏?xí)r基線刻度可按比例調(diào)節(jié)為代表缺陷的水平距離l(簡(jiǎn)化水平距離l)；深度h；或聲程s，見(jiàn)圖7。 911 探傷面為平面時(shí)，可在對(duì)比試塊上進(jìn)行時(shí)基線掃描調(diào)節(jié)，掃描比例依據(jù)工件厚度和選用的探頭角度來(lái)確定，最大檢驗(yàn)范圍應(yīng)調(diào)至熒光屏?xí)r基線滿(mǎn)刻度的23以上。912 探傷面曲率半

16、徑R大于W2/4時(shí)，可在平面對(duì)比試塊上或與探傷面曲率相近的曲面對(duì)比試塊上，進(jìn)行時(shí)基線掃描調(diào)節(jié)。913 探傷面曲率半徑只小于等于W2/4時(shí)，探頭楔塊應(yīng)磨成與工件曲面相吻合，在623條規(guī)定的對(duì)比試塊上作時(shí)基線掃描調(diào)節(jié)。92 距離一波幅(DAC)曲線的繪制921 距離一波幅曲線由選用的儀器、探頭系統(tǒng)在對(duì)比試塊上的實(shí)測(cè)數(shù)據(jù)繪制見(jiàn)圖8，其繪制方法見(jiàn)附錄D，曲線由判廢線RL，定量線SL和評(píng)定線EL組成，不同驗(yàn)收級(jí)別的各線靈敏度見(jiàn)表3。表中的DAC是以3mm標(biāo)準(zhǔn)反射體繪制的距離一波幅曲線-即DAC基準(zhǔn)線。評(píng)定線以上至定量線以下為I區(qū)(弱信號(hào)評(píng)定區(qū))；定量線至判廢線以下為區(qū)(長(zhǎng)度評(píng)定區(qū))；判廢線及以上區(qū)域?yàn)閰^(qū)

17、(判廢區(qū))。922 探測(cè)橫向缺陷時(shí)，應(yīng)將各線靈敏度均提高6dB。923 探傷面曲率半徑R小于等于W2/4時(shí)，距離波幅曲線的繪制應(yīng)在曲面對(duì)比試塊上進(jìn)行。表3 距離一波幅曲線的靈敏度級(jí)別DACmm A B C 850 8300 8300 判廢線 DAC DAC-4dB DAC2dB 定量線DAC10dBDAC10dBDAC-8dB 評(píng)定線DAC16dBDAC16dBDAC14dB924 受檢工件的表面耦合損失及材質(zhì)衰減應(yīng)與試塊相同，否則應(yīng)進(jìn)行傳輸損失修整見(jiàn)附錄E，在1跨距聲程內(nèi)最大傳輸損失差在2dB以?xún)?nèi)可不進(jìn)行修整。925 距離一波幅曲線可繪制在坐標(biāo)紙上也可直接繪制在熒光屏刻度板上，但在整個(gè)檢驗(yàn)范

18、圍內(nèi)，曲線應(yīng)處于熒光屏滿(mǎn)幅度的20以上，見(jiàn)圖9，如果作不到，可采用分段繪制的方法見(jiàn)圖10。93 儀器調(diào)整的校驗(yàn)931 每次檢驗(yàn)前應(yīng)在對(duì)比試塊上，對(duì)時(shí)基線掃描比例和距離一波幅曲線(靈敏度)進(jìn)行調(diào)節(jié)或校驗(yàn)。校驗(yàn)點(diǎn)不少于兩點(diǎn)。932 檢驗(yàn)過(guò)程中每4h之內(nèi)或檢驗(yàn)工作結(jié)束后應(yīng)對(duì)時(shí)基線掃描和靈敏度進(jìn)行校驗(yàn)，校驗(yàn)可在對(duì)比試塊或其他等效試塊上進(jìn)行。933 掃描調(diào)節(jié)校驗(yàn)時(shí)，如發(fā)現(xiàn)校驗(yàn)點(diǎn)反射波在掃描線上偏移超過(guò)原校驗(yàn)點(diǎn)刻度讀數(shù)的10或滿(mǎn)刻度的5(兩者取較小值)，則掃描比例應(yīng)重新調(diào)整，前次校驗(yàn)后已經(jīng)記錄的缺陷，位置參數(shù)應(yīng)重新測(cè)定，并予以更正。934 靈敏度校驗(yàn)時(shí)，如校驗(yàn)點(diǎn)的反射波幅比距離一波幅曲線降低20或2dB以

19、上，則儀器靈敏度應(yīng)重新調(diào)整，并對(duì)前次校驗(yàn)后檢查的全部焊縫應(yīng)重新檢驗(yàn)。如校驗(yàn)點(diǎn)的反射波幅比距離一波幅曲線增加20或2dB以上，儀器靈敏度應(yīng)重新調(diào)整，而前次校驗(yàn)后，已經(jīng)記錄的缺陷，應(yīng)對(duì)缺陷尺寸參數(shù)重新測(cè)定并予以評(píng)定。10 初始檢驗(yàn)101 一般要求1011 超聲檢驗(yàn)應(yīng)在焊縫及探傷表面經(jīng)外觀檢查合格并滿(mǎn)足813條的要求后進(jìn)行。1012 檢驗(yàn)前，探傷人員應(yīng)了解受驗(yàn)工件的村質(zhì)、結(jié)構(gòu)、曲率、厚度、焊接方法、焊縫種類(lèi)、坡口形式、焊縫余高及背面襯墊、溝槽等情況。1013 探傷靈敏度應(yīng)不低于評(píng)定線靈敏度。1014 掃查速度不應(yīng)大于150mms，相鄰兩次探頭移動(dòng)間隔保證至少有探頭寬度10的重疊。1015 對(duì)波幅超過(guò)

20、評(píng)定線的反射波，應(yīng)根據(jù)探頭位置、方向、反射波的位置及1012條了解的焊縫情況，判斷其是否為缺陷。判斷為缺陷的部位應(yīng)在焊縫表面作出標(biāo)記。102 平板對(duì)接焊縫的檢驗(yàn)1021 為探測(cè)縱向缺陷，斜探頭垂直于焊縫中心線放置在探傷面上，作鋸齒型掃查見(jiàn)圖11。探頭前后移動(dòng)的范圍應(yīng)保證掃查到全部焊縫截面及熱影響區(qū)。在保持探頭垂直焊縫作前后移動(dòng)的同時(shí)，還應(yīng)作10°15°的左右轉(zhuǎn)動(dòng)。1022 為探測(cè)焊縫及熱影響區(qū)的橫向缺陷應(yīng)進(jìn)行平行和斜平行掃查。aB級(jí)檢驗(yàn)時(shí)，可在焊縫兩側(cè)邊緣使探頭與焊縫中心線成l0°20°作斜平行掃查(圖12)；bC級(jí)檢驗(yàn)時(shí)，可將探頭放在焊縫及熱影響區(qū)上作

21、兩個(gè)方向的平行掃查(圖13)，焊縫母材厚度超過(guò)100mm時(shí)，應(yīng)在焊縫的兩面作平行掃查或者采用兩種角度探頭(45°和60°或45°和70°并用)作單面兩個(gè)方向的平行掃查；亦可用兩個(gè)45°探頭作串列式平行掃查；c對(duì)電渣焊縫還應(yīng)增加與焊縫中心線成45°的斜向掃查。1023 為確定缺陷的位置、方向、形狀、觀察缺陷動(dòng)態(tài)波形或區(qū)分缺陷訊號(hào)與偽訊號(hào)，可采用前后、左右、轉(zhuǎn)角、環(huán)繞等四種探頭基本掃查方式(圖14)。103 曲面工件對(duì)接焊縫的檢驗(yàn)1031 探傷面為曲面時(shí)，應(yīng)按623和91 3條的規(guī)定選用對(duì)比試塊，并采用102條的方法進(jìn)行檢驗(yàn)，C級(jí)檢驗(yàn)時(shí)，

22、受工件幾何形狀限制，橫向缺陷探測(cè)無(wú)法實(shí)施時(shí)，應(yīng)在檢驗(yàn)記錄中予以注明。1032 環(huán)縫檢驗(yàn)時(shí)，對(duì)比試塊的曲率半徑為探傷面曲率半徑0915倍的對(duì)比試塊均可采用。探測(cè)橫向缺陷時(shí)按l033條的方法進(jìn)行。1033 縱縫檢驗(yàn)時(shí)，對(duì)比試塊的曲率半徑與探傷面曲率半徑之差應(yīng)小于10。10331 根據(jù)工件的曲率和材料厚度選擇探頭角度，并考慮幾何臨界角的限制，確保聲束能掃查到整個(gè)焊縫厚度。條件允許時(shí)，聲束在曲底面的入射角度不應(yīng)超過(guò)70°。10332 探頭接觸面修磨后，應(yīng)注意探頭入射點(diǎn)和折射角或K值的變化，并用曲面試塊作實(shí)際測(cè)定。10333 當(dāng)R大于W2/4采用平面對(duì)比試塊調(diào)節(jié)儀器時(shí)，檢驗(yàn)中應(yīng)注意到熒光屏指示

23、的缺陷深度或水平距離與缺陷實(shí)際的徑向埋藏深度或水平距離弧長(zhǎng)的差異，必要時(shí)應(yīng)進(jìn)行修正。104其他結(jié)構(gòu)焊縫的檢驗(yàn)1041 一般原則a盡可能采用平板焊縫檢驗(yàn)中已經(jīng)行之有效的各種方法；b在選擇探傷面和探頭時(shí)應(yīng)考慮到檢測(cè)各種類(lèi)型缺陷的可能性，并使聲束盡可能垂直于該結(jié)構(gòu)焊縫中的主要缺陷。1042 T型接頭10421 腹板厚度不同時(shí)，選用的折射角見(jiàn)表4，表4 腹板厚度與選用的折射角 腹板厚度mm 折射角(°) <25 70°(K25) 2550 60°(K25，K20) >50 45°(K1，K15)斜探頭在腹板一側(cè)作直射法和一次反射法探傷見(jiàn)圖15位置2。

24、10422 采用折射角45°(K1)探頭在腹板一側(cè)作直射法和一次反射法探測(cè)焊縫及腹板側(cè)熱影響區(qū)的裂紋(圖16)。10423 為探側(cè)腹板和翼板間未焊透或翼板側(cè)焊縫下層狀撕裂等缺陷，可采用直探頭(圖15位置1)或斜探頭(圖16位置3)在翼板外側(cè)探傷或采用折射角45°(K1)探頭在翼板內(nèi)側(cè)作一次反射法探傷<圖15位置3)。1043 角接接頭 角接接頭探傷面及折射角一般按圖17和表4選擇。1044管座角焊縫 10441 根據(jù)焊縫結(jié)構(gòu)形式，管座角焊縫的檢驗(yàn)有如下五種探測(cè)方法，可選擇其中一種或幾種方式組合實(shí)施檢驗(yàn)。探測(cè)方式的選擇應(yīng)由合同雙方商定，并重點(diǎn)考慮主要探測(cè)對(duì)象和幾何條件的

25、限制(圖18、19)。 a在接管內(nèi)壁表面采用直探頭探傷(圖18位置1)； b在容器內(nèi)表面用直探頭探傷(圖19位置1)； c在接管外表面采用斜探頭探傷(圖19位置2)； d在接管內(nèi)表面采用斜探頭探傷(圖18位置3，圖19位置3)；e在容器外表面采用斜探頭探傷(圖18位置2)。10442 管座角焊縫以直探頭檢驗(yàn)為主，對(duì)直探頭掃查不到的區(qū)域或結(jié)構(gòu)，缺陷方向性不適于采用直探頭檢驗(yàn)時(shí)，可采用斜探頭檢驗(yàn)，斜探頭檢驗(yàn)應(yīng)符合1041條的規(guī)定。1045 直探頭檢驗(yàn)的規(guī)程 a推薦采用頻率25MHz直探頭或雙晶直探頭，探頭與工件接觸面的尺寸應(yīng)小于2R； b靈敏度可在與工件同曲率的試塊上調(diào)節(jié)，也可采用計(jì)算法或DGS曲

26、線法，以工件底面回波調(diào)節(jié)。其檢驗(yàn)等級(jí)評(píng)定見(jiàn)表5。表5 直探頭檢驗(yàn)等級(jí)評(píng)定 mm檢驗(yàn)等級(jí)靈敏度 A B C 評(píng)定靈敏度3 2 2 定量靈敏度4 3 3 判廢靈敏度6 6 411規(guī)定檢驗(yàn)111 一般要求1111 規(guī)定檢驗(yàn)只對(duì)初始檢驗(yàn)中被標(biāo)記的部位進(jìn)行檢驗(yàn)。1112 探傷靈敏度應(yīng)調(diào)節(jié)到評(píng)定靈敏度。1113 對(duì)所有反射波幅超過(guò)定量線的缺陷，均應(yīng)確定其位置，最大反射波幅所在區(qū)域和缺陷指示長(zhǎng)度。112 最大反射波幅的測(cè)定1121 對(duì)判定為缺陷的部位，采取1023條的探頭掃查方式、增加探傷面，改變探頭折射角度進(jìn)行探測(cè)，測(cè)出最大反射波幅并與距離一波幅曲線作比較，確定波幅所在區(qū)域。波幅測(cè)定的允許誤差為2dB。1

27、122 最大反射波幅A與定量線SL的dB差值記為SL±-dB。113位置參數(shù)的測(cè)定1131 缺陷位置以獲得缺陷最大反射波的位置來(lái)表示，根據(jù)相應(yīng)的探頭位置和反射波在熒光屏上的位置來(lái)確定如下全部或部分參數(shù)。 a縱坐標(biāo)L代表缺陷沿焊縫方向的位置。以檢驗(yàn)區(qū)段編號(hào)為標(biāo)記基準(zhǔn)點(diǎn)(即原點(diǎn))建立坐標(biāo)。坐標(biāo)正方向距離L表示缺陷到原點(diǎn)之間的距離見(jiàn)圖20； b深度坐標(biāo)h代表缺陷位置到探傷面的垂直距離(mm)。以缺陷最大反射波位置的深度值表示； c橫坐標(biāo)q代表缺陷位置離開(kāi)焊縫中心線的垂直距離，可由缺陷最大反射波位置的水平距離或簡(jiǎn)化水平距離求得。1132 缺陷的深度和水平距離(或簡(jiǎn)化水平距離)兩數(shù)值中的一個(gè)可

28、由缺陷最大反射波在熒光屏上的位置直接讀出，另一數(shù)值可采用計(jì)算法、曲線法、作圖法或缺陷定位尺求出。114 尺寸參數(shù)的測(cè)定 應(yīng)根據(jù)缺陷最大反射波幅確定缺陷當(dāng)量值或測(cè)定缺陷指示長(zhǎng)度l。1141 缺陷當(dāng)量，用當(dāng)量平底孔直徑表示，主要用于直探頭檢驗(yàn)，可采用公式計(jì)算，DGS曲線，試塊對(duì)比或當(dāng)量計(jì)算尺確定缺陷當(dāng)量尺寸。1142 缺陷指示長(zhǎng)度AJ的測(cè)定推薦采用如下二種方法。 a當(dāng)缺陷反射波只有一個(gè)高點(diǎn)時(shí)，用降低6dB相對(duì)靈敏度法測(cè)長(zhǎng)見(jiàn)圖2l； b，在測(cè)長(zhǎng)掃查過(guò)程中，如發(fā)現(xiàn)缺陷反射波峰值起伏變化，有多個(gè)高點(diǎn)，則以缺陷兩端反射波極大值之間探頭的移動(dòng)長(zhǎng)度確定為缺陷指示長(zhǎng)度，即端點(diǎn)峰值法見(jiàn)圖22。12 缺陷評(píng)定121

29、 超過(guò)評(píng)定線的信號(hào)應(yīng)注意其是否具有裂紋等危害性缺陷特征，如有懷疑時(shí)應(yīng)采取改變探頭角度、增加探傷面、觀察動(dòng)態(tài)波型、結(jié)合結(jié)構(gòu)工藝特征作判定，如對(duì)波型不能準(zhǔn)確判斷時(shí)，應(yīng)輔以其他檢驗(yàn)作綜合判定。122 最大反射波幅位于區(qū)的缺陷，其指示長(zhǎng)度小于10mrn時(shí)按5mm計(jì)。123 相鄰兩缺陷各向間距小于8mm時(shí)，兩缺陷指示長(zhǎng)度之和作為單個(gè)缺陷的指示長(zhǎng)度。13 檢驗(yàn)結(jié)果的等級(jí)分類(lèi)131 最大反射波幅位于I區(qū)的缺陷，根據(jù)缺陷指示長(zhǎng)度按表6的規(guī)定予以評(píng)級(jí)。表6缺陷的等級(jí)分類(lèi)檢驗(yàn)等級(jí)板厚mm評(píng)定等級(jí) A B C 850 8300 8300 ；最小12 最小10，最大30 最小10，最大20 ；最小12 最小12，最大

30、50 最小10，最大30 <最小20最小16，最大75 最小12，最大50 超過(guò)三級(jí)者注：為坡口加工側(cè)母材板厚，母材板厚不同時(shí)，以較薄側(cè)板厚為準(zhǔn) 管座角焊縫為焊縫截面中心線高度132 最大反射波幅不超過(guò)評(píng)定線的缺陷，均評(píng)為級(jí)。133 最大反射波幅超過(guò)評(píng)定線的缺陷，檢驗(yàn)者判定為裂紋等危害性缺陷時(shí)，無(wú)論其波幅和尺寸如何，均評(píng)定為級(jí)。134 反射波幅位于區(qū)的非裂紋性缺陷，均評(píng)為I級(jí)。135 反射波幅位于區(qū)的缺陷，無(wú)論其指示長(zhǎng)度如何，均評(píng)定為級(jí)。136 不合格的缺陷，應(yīng)予返修，返修區(qū)域修補(bǔ)后，返修部位及補(bǔ)焊受影響的區(qū)域，應(yīng)按原探傷條件進(jìn)行復(fù)驗(yàn)，復(fù)探部位的缺陷亦應(yīng)按12章評(píng)定。14記錄與報(bào)告141

31、 檢驗(yàn)記錄主要內(nèi)容：工件名稱(chēng)、編號(hào)、焊縫編號(hào)、坡口形式、焊縫種類(lèi)、母材材質(zhì)、規(guī)格、表面情況、探傷方法、檢驗(yàn)規(guī)程、驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)、所使用的儀器、探頭、耦合劑、試塊、掃描比例、探傷靈敏度。所發(fā)現(xiàn)的超標(biāo)缺陷及評(píng)定記錄，檢驗(yàn)人員及檢驗(yàn)日期等。反射波幅位于，區(qū)，其指示長(zhǎng)度小于表6的缺陷也應(yīng)予記錄。142 檢驗(yàn)報(bào)告主要內(nèi)容：工件名稱(chēng)、合同號(hào)、編號(hào)、探飭方法、探傷部位示意圖、檢驗(yàn)范圍、探傷比例驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)、缺陷情況、返修情況、探傷結(jié)論、檢驗(yàn)人員及審核人員簽字等。143 檢驗(yàn)記錄和報(bào)告應(yīng)至少保存7年。144 檢驗(yàn)記錄和報(bào)告的推薦格式見(jiàn)附錄F。附 錄 A標(biāo)準(zhǔn)試塊的形狀和尺寸(補(bǔ)充件) 注：尺寸公差±01；各邊垂

32、直度不大于005；c面為尺寸基準(zhǔn)面，上部各折射角刻度尺寸值見(jiàn)表AI，下部見(jiàn)表A2。表A1折射角值60°62°64°66°68°70°72°73°74°75°76°尺寸值870914965102410931174127313311396147O1553表A2折射角值40°41°42°43°44°45°46°47°48°49°50°51°52°尺寸值937959

33、980100310261050107511011127115，5118412141246折射角值53°54°55°56°57°58°59°60°6l°62°63°64°65°66°尺寸值12791313135O13881428147015151562161216671724178518511922附 錄 B對(duì)比試塊的形狀和尺寸(補(bǔ)充件) B 1 對(duì)比試塊的形狀和尺寸見(jiàn)表Bl。表B1 對(duì)比試塊 mm代號(hào)適用板厚對(duì)比試塊RB1825RB28100RB38、15

34、0注：尺寸公差土01mm；各邊垂直度不大于01；表面粗糙度不大于63m；標(biāo)準(zhǔn)孔與加工面的平行度不大于005。附 錄 C串列掃查探傷方法(補(bǔ)充件) C 1 探傷設(shè)備 C 11 超聲波探傷儀的工作方式必須具備一發(fā)一收工作狀態(tài)。 C12 為保證一發(fā)一收探頭相對(duì)于串列基準(zhǔn)線經(jīng)常保持等距離移動(dòng)，應(yīng)配備適宜的探頭夾具，井適用于橫方型及縱方型兩種掃查方式。 C13 推薦采用，頻率225MHz，公稱(chēng)折射角45°探頭，兩探頭入射點(diǎn)間最短間距應(yīng)小于20mm。 C 2 儀器調(diào)整 c 21 時(shí)基線掃描的調(diào)節(jié)采用單探頭按標(biāo)準(zhǔn)正文第91條的方法調(diào)節(jié)，最大探測(cè)范圍應(yīng)大于1跨距聲程。 C 22靈敏度調(diào)整 在工件無(wú)缺

35、陷部位，將發(fā)、收兩探頭對(duì)向放置，間距為1跨距，找到底面最大反射波見(jiàn)圖C 1及式C1，調(diào)節(jié)增益使反射波幅為熒光屏滿(mǎn)幅高度的40，并以此為基準(zhǔn)波高。靈敏度分別提高8dB、14dB和20dB代表判廢靈敏度、定量靈敏度和評(píng)定靈敏度。 C 3檢驗(yàn)程序 C 31 檢驗(yàn)準(zhǔn)備 a探傷面對(duì)接焊縫的單面雙側(cè)； b串列基準(zhǔn)線如發(fā)、收兩探頭實(shí)測(cè)折射角的平均值為聲或值平均為K。在離參考線(參考線至探傷截面的距離工，05P)的位置標(biāo)記串列基準(zhǔn)線，見(jiàn)圖C 2及式C2。05P=tg (C1)或05P=K (C 2) C32 初始探傷 C 321 探傷靈敏度不低于評(píng)定靈敏度。 c 322 掃查方式采用橫方形或縱方形串列掃查，掃

36、查范圍以串列基準(zhǔn)線為中心盡可能掃查到整個(gè)探傷截面，每個(gè)探傷截面應(yīng)掃查一遍。 c 323 標(biāo)記超過(guò)評(píng)定線的反射波，被判定為缺陷時(shí)，應(yīng)在焊縫的相應(yīng)位置作出標(biāo)記。C33規(guī)定探傷 C 331 對(duì)象只對(duì)初始檢驗(yàn)標(biāo)記部位進(jìn)行探傷。 C 332 探傷靈敏度為評(píng)定靈敏度。 C 333 缺陷位置不同深度的缺陷，其反射波均出現(xiàn)在相當(dāng)于半跨距聲程位置見(jiàn)圖C 3。缺陷的水平距離和深度分別為： l=tg (C 3) h= (c 4)C 334 缺陷反射波幅在最大反射波探頭位置，以40線為基準(zhǔn)波高測(cè)出缺陷反射波的dB數(shù)作為缺陷的相對(duì)波幅，記為SL±-dB。 C 335 缺陷指示長(zhǎng)度的測(cè)定 采用以評(píng)定靈敏度為測(cè)長(zhǎng)

37、靈敏度的絕對(duì)靈敏度法測(cè)量缺陷指示長(zhǎng)度。即進(jìn)行左右掃查(橫方形串列掃查)，以波幅超過(guò)評(píng)定線的探頭移動(dòng)范圍作為缺陷指示長(zhǎng)度， C 4缺陷評(píng)定 所有反射波幅度超過(guò)評(píng)定線的缺陷均應(yīng)按標(biāo)準(zhǔn)正文第12章的規(guī)定予以評(píng)定，并按第13章的規(guī)定對(duì)探傷結(jié)果作等級(jí)分類(lèi)。附 錄 D距離波幅(DAC)曲線的制作(補(bǔ)充件) D I 試塊 D 11 采用標(biāo)準(zhǔn)附錄B對(duì)比試塊或其他等效形式試塊繪制DAC曲線。 DI2 R 4,于等于時(shí)，應(yīng)采用探傷面曲率與工件探傷面曲率相同或相近的對(duì)比試塊。 D 2繪制步驟 DAC曲線可繪制在坐標(biāo)紙上(稱(chēng)DAC曲線)，亦可直接繪制在熒光屏前透明的刻度板上(稱(chēng)DAC曲線板)。 D 21 DAC曲線的

38、繪制步驟如下： a將測(cè)試范圍調(diào)整到探傷使用的最大探測(cè)范圍，并按深度、水平或聲程法調(diào)整時(shí)基線掃描比例； b根據(jù)工件厚度和曲率選擇合適的對(duì)比試塊，選取試塊上孔深與探傷深度相同或接近的橫孔為第一基準(zhǔn)孔，將探頭置于試塊探傷面聲束指向該孔，調(diào)節(jié)探頭位置找到橫孔的最高反射波； c調(diào)節(jié)“增益”或“衰減器”使該反射波幅為熒光屏上某一高度(例如滿(mǎn)幅的40)該波高即為 “基準(zhǔn)波高”，此時(shí)，探傷系統(tǒng)的有效靈敏度應(yīng)比評(píng)定靈敏度高10dB； d調(diào)節(jié)衰減器，依次探測(cè)其他橫孔，并找到最大反射波高，分別記錄各反射波的相對(duì)波幅值 (dB)； e以波幅(dB)為縱坐標(biāo)，以探測(cè)距離(聲程、深度或水平距離)為橫坐標(biāo)，將c、d記錄數(shù)值

39、描繪在坐標(biāo)紙上； f將標(biāo)記各點(diǎn)連成圓滑曲線，并延長(zhǎng)到整個(gè)探測(cè)范圍，最近探測(cè)點(diǎn)到探測(cè)距離O點(diǎn)間畫(huà)水平線，該曲線即為3mm橫孔DAC曲線的基準(zhǔn)線； e依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)正文表3規(guī)定的各線靈敏度，在基準(zhǔn)線下分別繪出判廢線、定量線、評(píng)定線，并標(biāo)記波幅的分區(qū)； h為便于現(xiàn)場(chǎng)探傷校驗(yàn)靈敏度，在測(cè)試上述數(shù)據(jù)的同時(shí)，可對(duì)現(xiàn)場(chǎng)使用的便攜試塊上的某一參考反射體進(jìn)行同樣測(cè)量，記錄其反射波位置和反射波幅(dB)并標(biāo)記在DAC曲線圖上。 D 22 DAC曲線板的繪制步驟如下： a同D 21a； b依據(jù)工件厚度和曲率選擇合適的對(duì)比試塊，在試塊上所有孔深小于等于探測(cè)深度的孔中，選取能產(chǎn)生最大反射波幅的橫孔為第一基準(zhǔn)孔； c調(diào)節(jié)“增益

40、”使該孔的反射波為熒光屏滿(mǎn)幅高度的80，將其峰值標(biāo)記在熒光屏前輔助面板上。依次探測(cè)其它橫孔，并找到最大反射波高，分別將峰值點(diǎn)標(biāo)記在輔助面板上，如果做分段繪制，可調(diào)節(jié)衰減器分段繪制曲線；將各標(biāo)記點(diǎn)連成圓滑曲線，并延伸到整個(gè)探測(cè)范圍，該曲線即為3mm橫孔DAC曲線基準(zhǔn)線； e將靈敏度提高(850mm提高到10dB，50300mm提高10dB或8dB)，該線表示定量線。在定量靈敏度下，如分別將靈敏度提高或降低6dB，該線將分別代表評(píng)定或判廢線。(A級(jí)檢驗(yàn)DAC基準(zhǔn)線即為判廢線)； f在作上述測(cè)試的同時(shí)，可對(duì)現(xiàn)場(chǎng)使用的便攜式試塊上的某一參考反射體作同樣測(cè)量，井將其反射波位置和峰值標(biāo)記在曲線板上，以便現(xiàn)

41、場(chǎng)進(jìn)行靈敏度校驗(yàn)。 附 錄 E聲能傳輸損耗差的測(cè)定<補(bǔ)充件) 工件本身反射波幅度有影響的兩個(gè)主要因素是材料的材質(zhì)衰減和工件表面粗糙度及耦合情況造成的表面聲能損失。 超聲波的材質(zhì)衰減對(duì)普通碳鋼或低合金鋼板材，在頻率低于3MHz聲程不超過(guò)200mm時(shí)，可以忽略不記，或者一般來(lái)說(shuō)衰減系數(shù)小于001dBmm時(shí)，材質(zhì)衰減可以不予考慮，標(biāo)準(zhǔn)試塊和對(duì)比試塊均應(yīng)滿(mǎn)是這一要求。 受檢工件探傷時(shí)，如聲程較大，或材質(zhì)衰減系數(shù)超過(guò)上述范圍，在確定缺陷反射波幅時(shí)，應(yīng)考慮作材料衰減修整，如被檢工件表面比較粗糙還應(yīng)考慮表面聲能損失問(wèn)題。E1橫波超聲材質(zhì)衰減的測(cè)量E11 制作與受檢工件材質(zhì)相同或相近，厚度約40mm表面粗糙度與對(duì)比試塊RB相同的平面型試塊圖E1。E12 采用工件檢驗(yàn)中使用的斜探頭按深度1 ：l調(diào)節(jié)儀器時(shí)基掃描。E 13 另選用一只與該探頭尺寸、頻率、角度相同的斜探頭，兩探頭按圖E1所示方向置于平板試塊上，兩探頭入射點(diǎn)間距離為1P，儀器調(diào)為一發(fā)一收狀態(tài)，找到接收波最大反射波幅，記錄其波幅值(dB)。E 14 將兩探頭拉開(kāi)到距離為2P，找到最大反射波幅，記錄其波幅值1-12(dB)。E 15 實(shí)際探傷中超聲波總是往返的，故雙程的衰減系數(shù)H可用下式計(jì)算： H=（H1-H2