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1、可靠性環(huán)境試驗(yàn)可靠性環(huán)境試驗(yàn)介紹介紹環(huán)境應(yīng)力與失效的關(guān)系環(huán)境應(yīng)力與失效的關(guān)系v1.溫度應(yīng)力對(duì)產(chǎn)品的影響溫度應(yīng)力對(duì)產(chǎn)品的影響v2.濕度對(duì)產(chǎn)品的影響濕度對(duì)產(chǎn)品的影響v3.冷熱溫度沖擊對(duì)產(chǎn)品的影響冷熱溫度沖擊對(duì)產(chǎn)品的影響v4.機(jī)械沖擊和振動(dòng)對(duì)產(chǎn)品的影響機(jī)械沖擊和振動(dòng)對(duì)產(chǎn)品的影響環(huán)境應(yīng)力與失效的關(guān)系環(huán)境應(yīng)力與失效的關(guān)系v1 溫度應(yīng)力對(duì)產(chǎn)品的影響溫度應(yīng)力對(duì)產(chǎn)品的影響 當(dāng)討論產(chǎn)品壽命時(shí),一般采用規(guī)則的表達(dá)方式。具體應(yīng)用時(shí)可以表達(dá)為10規(guī)則等,當(dāng)周圍環(huán)境溫度上升10時(shí),產(chǎn)品壽命就會(huì)減少一半;當(dāng)周圍環(huán)境溫度上升20時(shí),產(chǎn)品壽命就會(huì)減少到四分之一。這種規(guī)則可以說明溫度是如何影響產(chǎn)品壽命(失效)的。 高溫對(duì)產(chǎn)品的
2、影響:老化、氧化、化學(xué)變化、熱擴(kuò)散、電遷移、金屬遷移、熔化、汽化變型等 低溫對(duì)產(chǎn)品的影響:脆化、結(jié)冰、粘度增大和固化、機(jī)械強(qiáng)度的降低、物理性收縮等環(huán)境應(yīng)力與失效的關(guān)系環(huán)境應(yīng)力與失效的關(guān)系v2 濕度對(duì)產(chǎn)品的影響濕度對(duì)產(chǎn)品的影響 高溫高濕條件作用試驗(yàn)樣品上,可以構(gòu)成水氣吸附、吸收和擴(kuò)散等作用。許多材料在吸濕后膨脹、性能變壞、引起物質(zhì)強(qiáng)度降低及其他主要機(jī)械性能的下降,吸附了水氣的絕緣材料不但會(huì)引起電性能下降,在一定條件下還會(huì)引發(fā)各種不同的失效,是影響電子產(chǎn)品最主要的失效環(huán)境。 濕度對(duì)產(chǎn)品的影響:腐蝕、離子遷移、擴(kuò)散、水解、爆裂、霉菌、環(huán)境應(yīng)力與失效的關(guān)系環(huán)境應(yīng)力與失效的關(guān)系v濕度引起塑封半導(dǎo)體器件腐
3、蝕的失效:濕度引起塑封半導(dǎo)體器件腐蝕的失效: 在硅片上集成有大量電子元件的集成電路芯片及其元件通過導(dǎo)線連接起來構(gòu)成電路。由于鋁和鋁合金價(jià)格便宜,加工工藝簡(jiǎn)單,因此通常被使用為集成電路的金屬線。從進(jìn)行集成電路塑封工序開始,水氣便會(huì)通過環(huán)氧樹脂滲入引起鋁金屬導(dǎo)線產(chǎn)生腐蝕進(jìn)而產(chǎn)生開路現(xiàn)象,成為品質(zhì)工程最為頭痛的問題。人們雖然通過各種改善包括采用不同環(huán)氧樹脂材料、改進(jìn)塑封技術(shù)和提高非活性塑封膜為提高產(chǎn)品質(zhì)量進(jìn)行了各種努力,但是隨著日新月異的半導(dǎo)體電子器件小型化發(fā)展,塑封鋁金屬導(dǎo)線腐蝕問題至今仍然是電子行業(yè)非常重要的技術(shù)課題。環(huán)境應(yīng)力與失效的關(guān)系環(huán)境應(yīng)力與失效的關(guān)系v鋁線中產(chǎn)生腐蝕過程:鋁線中產(chǎn)生腐蝕過
4、程: 水氣滲透入塑封殼內(nèi)濕氣滲透到樹脂和導(dǎo)線間隙之中 水氣滲透到晶片表面引起鋁化學(xué)反應(yīng)v加速鋁腐蝕的一些因素(加速鋁腐蝕的一些因素(鋁金屬導(dǎo)線腐蝕反應(yīng)隨著是否施加偏壓而變化) 樹脂材料與晶片框架接口之間連接不夠好(由于各種材料之間存在膨脹率的差異)。 封裝時(shí),封裝材料摻有雜質(zhì)或者雜質(zhì)離子的污染(由于雜質(zhì)離子的出現(xiàn))。 非活性塑封膜中所使用的高濃度磷。 非活性塑封膜中存在的缺陷。環(huán)境應(yīng)力與失效的關(guān)系環(huán)境應(yīng)力與失效的關(guān)系v3 冷熱溫度沖擊對(duì)產(chǎn)品的影響冷熱溫度沖擊對(duì)產(chǎn)品的影響 高溫和低溫的失效都會(huì)反映在冷熱溫度沖擊試驗(yàn)中,冷熱沖擊試驗(yàn)只是加速了高溫和低溫失效的產(chǎn)生。下面歸納了實(shí)際生產(chǎn)或使用環(huán)境中存在
5、的具有代表性的冷熱溫度沖擊環(huán)境,這些冷熱沖擊環(huán)境常常是導(dǎo)致產(chǎn)品失效的主要原因。 1溫度的極度升高導(dǎo)致焊錫回流現(xiàn)象出現(xiàn); 2啟動(dòng)馬達(dá)時(shí)周圍器件的溫度急速升高,關(guān)閉馬達(dá)時(shí)周圍器件會(huì)出現(xiàn)溫度驟然下降; 3設(shè)備從溫度較高的室內(nèi)移到溫度相對(duì)較低的室外,或者從溫度相對(duì)較低的室外移到溫度較高的室內(nèi); 4設(shè)備可能在溫度較低的環(huán)境中連接到電源上,導(dǎo)致設(shè)備內(nèi)部產(chǎn)生陡峭的溫度梯度。在溫度較低的環(huán)境中切斷電源可能會(huì)導(dǎo)致設(shè)備內(nèi)部產(chǎn)生相反方向陡峭的溫度梯度; 5設(shè)備可能會(huì)因?yàn)榻涤甓蝗焕鋮s; 6當(dāng)航空器起飛或者降落時(shí),航空器機(jī)載外部器材可能會(huì)出現(xiàn)溫度的急劇變化。 環(huán)境應(yīng)力與失效的關(guān)系環(huán)境應(yīng)力與失效的關(guān)系v4 機(jī)械沖擊和振
6、動(dòng)對(duì)產(chǎn)品的影響機(jī)械沖擊和振動(dòng)對(duì)產(chǎn)品的影響 機(jī)械沖擊和振動(dòng)主要是針對(duì)處于劇烈振動(dòng)環(huán)境中的車用電子設(shè)備。可是最近由于一般電子設(shè)備也因?yàn)槠浔銛y化而變得易受振動(dòng),因此機(jī)械應(yīng)力的應(yīng)用范圍也廣泛了。 機(jī)械應(yīng)力所造成的失效主要是連接器、繼電器等連接部件,當(dāng)然對(duì)裝配工藝不合理的設(shè)計(jì)也容易引起元器件的脫落和引線短裂,對(duì)元器件內(nèi)部工藝不良的產(chǎn)品會(huì)引起開路、短路、間歇連接。加速壽命實(shí)驗(yàn)加速壽命實(shí)驗(yàn)v加速候命試驗(yàn)的目的加速候命試驗(yàn)的目的v半導(dǎo)體工藝技術(shù)的創(chuàng)新在近幾年盲目的推進(jìn)。v此外,由于最近要求縮短產(chǎn)品開發(fā)時(shí)間v作為產(chǎn)品開發(fā)產(chǎn)品可靠性處于相同的情況,必須在短時(shí)間內(nèi)知道可靠性特征。v基于這種情況下加速的壽命試驗(yàn)是通過
7、最小樣品尺寸和最短的測(cè)試時(shí)間來知道可靠性的方法。JIS標(biāo)準(zhǔn)定義“加速試驗(yàn)”是“為了縮短測(cè)試時(shí)間執(zhí)行比標(biāo)準(zhǔn)條件更嚴(yán)酷的條件下進(jìn)行的測(cè)試”。在嚴(yán)酷的條件下進(jìn)行測(cè)試可用少點(diǎn)樣品在短時(shí)間內(nèi)預(yù)測(cè)市場(chǎng)失效率,因而減少要求的時(shí)間和費(fèi)用證實(shí)可靠性。加速壽命實(shí)驗(yàn)加速壽命實(shí)驗(yàn)v4.3.2 溫度加速溫度加速v溫度對(duì)半導(dǎo)體的壽命影響是很大的,因此使用溫度加速壽命的加速試驗(yàn)的最常見的方法。v溫度應(yīng)力基于的反應(yīng)是由空氣統(tǒng)一,空氣模型被廣泛用于半導(dǎo)體產(chǎn)品壽命預(yù)測(cè)v這種空氣模型公式表示如下:v:壽命 Ea:活化能 (eV) T :絕對(duì)溫度 (K) A:常量 k :波爾茲曼系數(shù)v上述公式顯示半導(dǎo)體壽命取決于半導(dǎo)體受到的溫度。v
8、加速的測(cè)試?yán)眠@一特性被稱為溫度加速測(cè)試不過例如一些因?yàn)闊彷d體的影響導(dǎo)致的失效(高能源載體產(chǎn)生的電場(chǎng)捕捉的柵氧化膜的現(xiàn)象)可能有負(fù)面的活化能值。當(dāng)加速這些類型的失效,作為溫度測(cè)試增加試驗(yàn)效果是減少的。加速壽命實(shí)驗(yàn)加速壽命實(shí)驗(yàn)v4.3.3 溫濕度加速溫濕度加速v大規(guī)模集成電路在高溫高濕環(huán)境為了解暴露在高溫、 高濕下進(jìn)行測(cè)試半導(dǎo)體的壽命。v高溫高濕偏壓測(cè)試,蒸汽壓力測(cè)試,溫濕度環(huán)境應(yīng)力高加速試驗(yàn)等,通常都被用于濕度加速試驗(yàn)。濕度很少被用作確認(rèn)防潮的唯一加速因子,而一般應(yīng)用溫度和濕度應(yīng)力的組合。這為了促進(jìn)濕度 (水) 的反應(yīng),并導(dǎo)致增加濕度壽命的加速。v濕度相關(guān)壽命的一半公式表示如下:v: 壽命A,
9、 n:常量v一直沒有關(guān)于濕度相關(guān)壽命的標(biāo)準(zhǔn)化公式,與每個(gè)制造商使用他們自己的特征常數(shù)對(duì)加速的壽命計(jì)算結(jié)果。v特別是與濕度加速度增加至約 100%為加速目的相對(duì)濕度可能會(huì)導(dǎo)致樣品冷凝,使它不可能確定原始的抗潮濕壽命。因此必須給予溫濕度控制做過的關(guān)注。加速壽命實(shí)驗(yàn)加速壽命實(shí)驗(yàn)v4.3.4 電壓加速電壓加速v根據(jù)器件特征電壓加速試驗(yàn)有很大的不同(MOS 雙極和其他過程,電路配置).對(duì) MOS 集成電路和通常用于評(píng)估柵氧化膜的抵抗來說電壓加速試驗(yàn)是有效的。然而很難對(duì)雙極大型集成電路做電壓加速。v電壓加速壽命公式表示如下:v:壽命:常數(shù)V:電壓加速壽命實(shí)驗(yàn)加速壽命實(shí)驗(yàn)v4.3.5 溫差加速溫差加速v半導(dǎo)
10、體包括各種各樣的材料的組合,并且這些材料的熱膨脹系數(shù)也廣泛的變化。每次器件經(jīng)歷溫差因每種材料的熱脹系數(shù)之間的差異導(dǎo)致?lián)p壞 (內(nèi)部力量) 累積 (或突然崩潰),導(dǎo)致最終失效。根據(jù)溫度區(qū)別的加速測(cè)試被用于知道壽命。v應(yīng)用對(duì)試驗(yàn)器件是有效的比那些通常遇到更大的溫度差的溫度循環(huán)加速測(cè)試評(píng)價(jià)由溫度差異所引起的損壞。v當(dāng)暴露于高低溫,溫度循環(huán)試驗(yàn)用于評(píng)估器件抵抗的測(cè)試,和抗暴露于在兩個(gè)極限溫度的溫度變化的能力。這些測(cè)試允許確認(rèn)半導(dǎo)體產(chǎn)品抗市場(chǎng)上溫度的應(yīng)力。(例如,經(jīng)歷白天到夜間汽車內(nèi)遺留的設(shè)備所經(jīng)歷的溫度變化,v電源開啟或關(guān)閉器件從高溫到自身溫度的冷卻。).v有關(guān)溫差的壽命由Coffin-Manson模式
11、定義,, 且表示如下:v:壽命A, m:常量v這公式表明加速的測(cè)試可以通過提供達(dá)到溫差建立溫度循環(huán)壽命。環(huán)境試驗(yàn)內(nèi)容環(huán)境試驗(yàn)內(nèi)容v高溫試驗(yàn)高溫試驗(yàn)v低溫試驗(yàn)低溫試驗(yàn)v溫度循環(huán)溫度循環(huán)v溫度沖擊溫度沖擊v恒溫恒濕恒溫恒濕v交變潮熱(濕熱)交變潮熱(濕熱)v機(jī)械振動(dòng),跌落機(jī)械振動(dòng),跌落v沖擊和碰撞沖擊和碰撞v高壓蒸煮試驗(yàn)高壓蒸煮試驗(yàn)v鹽霧試驗(yàn)鹽霧試驗(yàn)v氣體腐蝕試驗(yàn)氣體腐蝕試驗(yàn)v其他試驗(yàn)其他試驗(yàn) 環(huán)境試驗(yàn)內(nèi)容環(huán)境試驗(yàn)內(nèi)容v高溫試驗(yàn)高溫試驗(yàn)v產(chǎn)品壽命遵循10規(guī)則,因而高溫試驗(yàn)作為最常用的試驗(yàn),用于元器件和整機(jī)的篩選、老化試驗(yàn)、壽命試驗(yàn)、加速壽命試驗(yàn)、評(píng)價(jià)試驗(yàn)、同時(shí)在失效分析的驗(yàn)證上起重要作用。v高溫試
12、驗(yàn)的技術(shù)指標(biāo)包括:溫度、時(shí)間、上升速率。v注意產(chǎn)品和元器件的最大耐受溫度極限。v樣品放入試驗(yàn)箱內(nèi)為保持樣品的受熱均勻性,樣品距離箱壁的距離最少為5cmvGB/T 2423.2中高溫的試驗(yàn)方法分:散熱樣品的溫度漸變,非散熱樣品的溫度漸變v試驗(yàn)結(jié)束后需要將樣品在箱體內(nèi)恢復(fù)至穩(wěn)定狀態(tài),或?qū)悠贩胖迷诔爻癍h(huán)境下進(jìn)行恢復(fù)至穩(wěn)定狀態(tài)。環(huán)境試驗(yàn)內(nèi)容環(huán)境試驗(yàn)內(nèi)容v低溫試驗(yàn)低溫試驗(yàn)v低溫試驗(yàn)用于考核產(chǎn)品在低溫環(huán)境條件下貯存和使用的適應(yīng)性,常用于產(chǎn)品在開發(fā)階段的型式試驗(yàn)、元器件的篩選試驗(yàn)。v高溫試驗(yàn)的技術(shù)指標(biāo)包括:溫度、時(shí)間、上升速率。v注意產(chǎn)品從低溫箱取出時(shí)由于溫度突變會(huì)產(chǎn)生冷凝水。(對(duì)溫度循環(huán)、溫度沖擊、
13、濕熱試驗(yàn)均適用)v樣品放入試驗(yàn)箱內(nèi)為保持樣品表面溫度的均勻性,樣品距離箱壁的距離最少為5cmvGB/T 2423.1中低溫的試驗(yàn)方法分:散熱樣品的溫度漸變,非散熱樣品的溫度漸變v試驗(yàn)結(jié)束后需要將樣品在箱體內(nèi)恢復(fù)至穩(wěn)定狀態(tài),或?qū)悠贩胖迷诔爻癍h(huán)境下進(jìn)行恢復(fù)至穩(wěn)定狀態(tài),在特定環(huán)境下會(huì)要求對(duì)樣品吹稍熱的風(fēng)進(jìn)行解凍再進(jìn)行升溫至穩(wěn)定狀態(tài)。環(huán)境試驗(yàn)內(nèi)容環(huán)境試驗(yàn)內(nèi)容v溫度沖擊溫度沖擊v溫度沖擊試驗(yàn)?zāi)康氖菫榱嗽谳^短的時(shí)間內(nèi)確認(rèn)產(chǎn)品特性的變化,以及由于構(gòu)成元器件的異種材料熱膨脹系數(shù)不同而造成的故障問題。這些變化可以通過將元器件迅速交替地暴露于超高溫和超低溫的試驗(yàn)環(huán)境中觀察到。v冷熱沖擊試驗(yàn)不同于環(huán)境模擬試驗(yàn)
14、,它是通過冷熱溫度沖擊發(fā)現(xiàn)在常溫狀態(tài)下難以發(fā)現(xiàn)的潛在故障問題。決定冷熱溫度沖擊試驗(yàn)的主要因素有:試驗(yàn)溫度范圍、暴露時(shí)間、循環(huán)次數(shù)、試驗(yàn)樣品重量及熱負(fù)荷等。v溫度沖擊設(shè)備有:兩箱法、三箱法和液槽式三種,其中設(shè)備內(nèi)濕度不能超過50%RH即20g/m。v公司常做的快捷溫度沖擊的條件:-65,150,停留時(shí)間14min,循環(huán)次數(shù):300個(gè)(如下圖為此試驗(yàn)單個(gè)循環(huán)的溫度曲線)v注意產(chǎn)品試驗(yàn)結(jié)束后應(yīng)對(duì)樣品有12小時(shí)的恢復(fù)期。環(huán)境試驗(yàn)內(nèi)容環(huán)境試驗(yàn)內(nèi)容v冷熱沖擊試驗(yàn)與溫度循環(huán)試驗(yàn)的區(qū)別冷熱沖擊試驗(yàn)與溫度循環(huán)試驗(yàn)的區(qū)別冷熱沖擊試驗(yàn)冷熱沖擊試驗(yàn)溫度循環(huán)試驗(yàn)溫度循環(huán)試驗(yàn)溫度變化速率溫度變化速率 急劇2030/min
15、 緩慢15/min 循環(huán)次數(shù)循環(huán)次數(shù) 510個(gè)循環(huán)(多至1000循環(huán)) 510個(gè)循環(huán)(多至1000循環(huán)) 熱平衡熱平衡 正好到達(dá)(液槽式為到達(dá)) 到達(dá) 試驗(yàn)時(shí)間試驗(yàn)時(shí)間 短長(zhǎng) 用途用途1.膨脹系數(shù)不同引起的連接部剝離2.膨脹系數(shù)不同龜裂后水分進(jìn)入3.水分滲入導(dǎo)致腐蝕及短路現(xiàn)象發(fā)生的加速試驗(yàn)1.通過長(zhǎng)期試驗(yàn)發(fā)現(xiàn)腐蝕傾向2.長(zhǎng)時(shí)間地多次循環(huán)觀察應(yīng)力疲勞現(xiàn)象3.調(diào)查分析市場(chǎng)失效的相關(guān)性使用設(shè)備使用設(shè)備冷熱沖擊試驗(yàn)箱高低溫試驗(yàn)箱環(huán)境試驗(yàn)內(nèi)容環(huán)境試驗(yàn)內(nèi)容v恒溫恒濕恒溫恒濕v產(chǎn)品失效因?yàn)闈穸鹊挠绊懻?0以上,因此濕度試驗(yàn)在環(huán)境試驗(yàn)中是必不可少的。常用于壽命試驗(yàn)、評(píng)價(jià)試驗(yàn)和綜合試驗(yàn),同時(shí)在失效分析的驗(yàn)證上起
16、重要作用。尤其對(duì)含有樹脂材料的產(chǎn)品在產(chǎn)品開發(fā)和質(zhì)量評(píng)估時(shí)該試驗(yàn)是必須的。v恒溫恒濕的技術(shù)指標(biāo)包括:溫度、相對(duì)濕度、試驗(yàn)時(shí)間v注意產(chǎn)品試驗(yàn)結(jié)束后應(yīng)對(duì)樣品有12小時(shí)的恢復(fù)期。v常做的雙85指定就是溫度85,濕度85環(huán)境試驗(yàn)內(nèi)容環(huán)境試驗(yàn)內(nèi)容v交變潮熱(濕熱)交變潮熱(濕熱)v模擬熱帶雨林的環(huán)境,確定產(chǎn)品和材料在溫度變化,產(chǎn)品表面產(chǎn)生凝露時(shí)的使用和貯存的適應(yīng)性。常用于壽命試驗(yàn)、評(píng)價(jià)試驗(yàn)和綜合試驗(yàn)。v交變濕熱的技術(shù)指標(biāo)包括:溫度、相對(duì)濕度、轉(zhuǎn)換時(shí)間、交變次數(shù)。v注意試驗(yàn)結(jié)束后應(yīng)對(duì)樣品有12小時(shí)的恢復(fù)期。環(huán)境試驗(yàn)內(nèi)容環(huán)境試驗(yàn)內(nèi)容v機(jī)械振動(dòng)機(jī)械振動(dòng)v描述:振動(dòng)試驗(yàn),英文:Vibration Test,在試驗(yàn)
17、中,模擬產(chǎn)品在于制造、組裝、運(yùn)輸、及使用執(zhí)行階段中所遭遇的各種振動(dòng)環(huán)境,用以鑒定產(chǎn)品是否忍受環(huán)境振動(dòng)的能力。v機(jī)械振動(dòng)試驗(yàn)用來確定機(jī)械的薄弱環(huán)節(jié),產(chǎn)品結(jié)構(gòu)的完好性和動(dòng)態(tài)特性、常用于型式試驗(yàn)、壽命試驗(yàn)、評(píng)價(jià)試驗(yàn)和綜合試驗(yàn)。v機(jī)械振動(dòng)試驗(yàn)中有一類故障的發(fā)生,不在一個(gè)特定條件下不會(huì)發(fā)生,或不在這種特定條件中這種故障不會(huì)輕易地被測(cè)量出來,或是故障的再現(xiàn)性很差(即很難預(yù)測(cè)到它何時(shí)會(huì)發(fā)生),因此機(jī)械振動(dòng)試驗(yàn)在許多情況下,產(chǎn)品是需要處于工作狀態(tài)并連續(xù)測(cè)試的。例如繼電器、連接器等。環(huán)境試驗(yàn)內(nèi)容環(huán)境試驗(yàn)內(nèi)容v機(jī)械振動(dòng)機(jī)械振動(dòng)v分類: 按試驗(yàn)樣品可分為:?jiǎn)螜C(jī)振動(dòng),包裝振動(dòng)(一般為隨機(jī)振動(dòng))v 按振動(dòng)試驗(yàn)類型分類:
18、v正弦振動(dòng)(Sinusoidal Vibration)、 隨機(jī)振動(dòng)(Random Vibration) 、正弦拍頻振動(dòng)(Sine-beat Method)、時(shí)間歷程振動(dòng)(Time-history Method)v一、正弦振動(dòng)(Sinusoidal Vibration)v試驗(yàn)參數(shù): 頻率范圍、 振幅值(加速度值)、 試驗(yàn)持續(xù)時(shí)間、 振動(dòng)方向v正弦振動(dòng)試驗(yàn)由以上3個(gè)參數(shù)共同確定。v 一般低于交越頻率由振幅確定,大于交越頻率由加速度值(G值)確定。v注意振動(dòng)幅值的峰值Vp和峰峰值Vpp是不同的。v 二、隨機(jī)振動(dòng)v試驗(yàn)參數(shù): Grms 均方根加速度、頻率(點(diǎn))、ASD 加速度頻譜密度、 試驗(yàn)持續(xù)時(shí)間、
19、振動(dòng)方向v隨機(jī)振動(dòng)試驗(yàn)由以上4個(gè)參數(shù)共同確定。實(shí)際上通過頻率(點(diǎn))和ASD可以計(jì)算出 Grms值。環(huán)境試驗(yàn)內(nèi)容環(huán)境試驗(yàn)內(nèi)容v跌落試驗(yàn)跌落試驗(yàn)v描述:跌落試驗(yàn),又名drop test。用來模擬產(chǎn)品在搬運(yùn)期間可能經(jīng)受到的跌落等。v包括v (1)非包裝狀態(tài)產(chǎn)品在搬運(yùn)期間可能經(jīng)受的自由跌落,樣品通常按照規(guī)定的姿態(tài)從規(guī)定的高度跌落到規(guī)定的表面上。v (2)模擬負(fù)載電纜上的連接器、小型遙控裝置等在使用中可能經(jīng)受的重復(fù)自由跌落。v (3)包裝跌落v主要參數(shù)1、 跌落高度2、 跌落次數(shù)3、 跌落表面v受限制因素:v 1、 高度v 2、.樣品外形(針對(duì)自由跌落)環(huán)境試驗(yàn)內(nèi)容環(huán)境試驗(yàn)內(nèi)容v沖擊和碰撞沖擊和碰撞v許
20、多產(chǎn)品在使用、裝卸、運(yùn)輸過程中都會(huì)受到?jīng)_擊。沖擊的量值變化很大并具有復(fù)雜的性質(zhì)。因此沖擊和碰撞試驗(yàn)適用于確定機(jī)械的薄弱環(huán)節(jié),考核產(chǎn)品結(jié)構(gòu)的完整性。v機(jī)械沖擊試驗(yàn),又名mechanical shock.試驗(yàn)?zāi)康挠脕斫衣稒C(jī)械弱點(diǎn)和(或)性能下降情況。v沖擊試驗(yàn)的技術(shù)指標(biāo)包括:峰值加速度、脈沖持續(xù)時(shí)間、速度變化量(半正弦波、后峰鋸齒波、梯形波)和波形選擇。沖擊次數(shù)無特別要求外每個(gè)面沖擊3次共18次。v碰撞試驗(yàn)的技術(shù)指標(biāo)包括:峰值加速度、脈沖持續(xù)時(shí)間、速度變化量(半正弦波)、每方向碰撞次數(shù)。v注意沖擊和碰撞的方向應(yīng)是6個(gè)面,而不是X、Y、Z 三方向。環(huán)境試驗(yàn)內(nèi)容環(huán)境試驗(yàn)內(nèi)容v高壓蒸煮試驗(yàn)(高壓蒸汽恒定
21、濕熱試驗(yàn))高壓蒸煮試驗(yàn)(高壓蒸汽恒定濕熱試驗(yàn))v高壓蒸煮試驗(yàn)采用高壓高濕條件,考核塑料封裝的半導(dǎo)體集成電路等電子器件的綜合影響,是用高加速的試驗(yàn)方式評(píng)價(jià)電子產(chǎn)品耐濕熱的能力,常用于產(chǎn)品開發(fā)、質(zhì)量評(píng)估、失效驗(yàn)證。v壓力試驗(yàn)的技術(shù)指標(biāo)包括:大氣壓力、相對(duì)濕度(飽和或非飽和) 、溫度、試驗(yàn)時(shí)間。環(huán)境試驗(yàn)內(nèi)容環(huán)境試驗(yàn)內(nèi)容v太陽輻照試驗(yàn)太陽輻照試驗(yàn)v紫外光耐氣候:紫外光耐氣候:v試驗(yàn)?zāi)康模汗饫匣囼?yàn)就是評(píng) 定戶外無遮蔽使用和儲(chǔ)存的設(shè)備經(jīng)受太陽輻射熱和光學(xué)效應(yīng)的能力。 v試驗(yàn)參數(shù):溫度,濕度,燈型波長(zhǎng),輻照強(qiáng)度,光照黑暗周期,持續(xù)時(shí)間v氙燈耐氣候:氙燈耐氣候:v試驗(yàn)?zāi)康模汗饫匣囼?yàn)就是評(píng) 定戶外無遮蔽使用
22、和儲(chǔ)存的設(shè)備經(jīng)受太陽輻射熱和光學(xué)效應(yīng)的能力。 v 試驗(yàn)參數(shù):溫度,濕度,輻照強(qiáng)度,光照黑暗周期,持續(xù)時(shí)間v紫外與氙燈的區(qū)別:主要是使用的光源不一樣,其中紫外燈的波長(zhǎng)是指定的 UVA / UVB 340/400nm,氙燈的波長(zhǎng)是290800nm。 環(huán)境試驗(yàn)內(nèi)容環(huán)境試驗(yàn)內(nèi)容v鹽霧試驗(yàn)鹽霧試驗(yàn)v鹽霧試驗(yàn)?zāi)M海洋或含鹽潮濕地區(qū)氣候的環(huán)境,用于考核產(chǎn)品、材料及其防護(hù)層抗鹽霧腐蝕能力。有鹽霧試驗(yàn)和交變鹽霧試驗(yàn)兩種試驗(yàn)。常用于在特殊條件下的質(zhì)量評(píng)估、失效驗(yàn)證。v種類: 中性鹽霧試驗(yàn)(NSS),醋酸鹽霧試驗(yàn) (ASS),銅鹽醋酸加速鹽霧試驗(yàn)(CASS)v鹽霧試驗(yàn)的技術(shù)指標(biāo)包括:鹽溶液濃度、相對(duì)濕度、溫度、鹽霧
23、時(shí)間、貯存時(shí)間、試驗(yàn)周期,集霧量,PH值。v各種鹽霧試驗(yàn)參數(shù)的區(qū)別:v注意試驗(yàn)結(jié)束后試驗(yàn)樣品需立即沖洗干凈。環(huán)境試驗(yàn)內(nèi)容環(huán)境試驗(yàn)內(nèi)容v氣體腐蝕試驗(yàn)氣體腐蝕試驗(yàn) v氣體腐蝕試驗(yàn)主要應(yīng)用于接觸點(diǎn)和連接件,試驗(yàn)后的評(píng)定標(biāo)準(zhǔn)是接觸電阻變化,其次是外觀變化。主要的腐蝕氣體為二氧化硫和硫化氫v氣體腐蝕試驗(yàn)的技術(shù)指標(biāo)包括:濃度、相對(duì)濕度、溫度、流速、試驗(yàn)時(shí)間。環(huán)境試驗(yàn)內(nèi)容環(huán)境試驗(yàn)內(nèi)容v其他試驗(yàn)其他試驗(yàn)v霉菌試驗(yàn)、低氣壓試驗(yàn)、沙塵試驗(yàn)、水試驗(yàn)(淋雨試驗(yàn))、恒加速試驗(yàn)(離心試驗(yàn))v綜合環(huán)境試驗(yàn): 溫度/濕度/高度、溫度/濕度/振動(dòng)電子類環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)電子類環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)目前公司具備是環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備目前公司具備是環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備v低溫試驗(yàn)設(shè)備 可程式恒溫恒濕箱內(nèi)部尺寸:1000X1000X1000mm溫度范圍:-70150溫濕度箱(德國(guó) weiss)內(nèi)部尺寸:溫度范圍:-40120濕度范圍:1098%RH目前公司具備是環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備目前公司具備是環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備v高溫試驗(yàn)設(shè)備 可程式恒溫恒濕箱內(nèi)部尺寸:1000X10
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