SPCTraining統(tǒng)計技術(shù)的培訓(xùn)ppt課件

1、熱烈歡迎各位光臨本次SPC研討會!統(tǒng)計過程控制Statistical Process Control主講單位:TRM2/SQE大 綱什麼是SPC 持續(xù)改進(jìn)及統(tǒng)計過程控制概述計量型數(shù)據(jù)控制圖計數(shù)型控制圖過程測量系統(tǒng)分析過程才干分析Statistical (統(tǒng)計 ):搜集、整理與分析資料并據(jù)以得出結(jié)論或予以推廣.Process(過程):過程包括供應(yīng)者、生產(chǎn)者、機(jī)器設(shè)備、資料、方法、環(huán)境及輸出行為的集合。是參數(shù)的輸入與結(jié)果輸出的過程. Control(控制) :按著既定的方式或界限去運(yùn)作.第一章 什麼是SPC SPC定義 SPC是運(yùn)用統(tǒng)計手法，並借用各種圖表以協(xié)助產(chǎn)品設(shè)計與品質(zhì)管理，它對依計畫搜集的

2、資料資料進(jìn)行各種統(tǒng)計分析，在過程控制系統(tǒng)中提供客觀之績效報告，以達(dá)成預(yù)先防止防止呵斥浪費(fèi)的控制要求。SPC要點(diǎn)1SPC是過程現(xiàn)狀特徵值與原過程才干的特徵 值進(jìn)行比較，以斷定過程能否出現(xiàn)異常。2SPC是預(yù)防為主的行動，其目的是為了有效 的運(yùn)用資源採取改善行動。3SPC是套預(yù)防性技術(shù)，它不只是進(jìn)行檢驗還 要對搜集的資料進(jìn)行統(tǒng)計分析和維護(hù)，以 提供過程才干許值及過程發(fā)展預(yù)測的依 據(jù)。SPC主要內(nèi)容控制圖的根本技術(shù) 抽樣計劃 品質(zhì)計劃與設(shè)計SPC的開展方向SPC將成為全員應(yīng)知應(yīng)會的方法，工程管理人員的共同語言；因應(yīng)專業(yè)領(lǐng)域的需求，自動化/即時化的資料搜集及分析將得到廣泛利用；最重要的還是持續(xù)不斷的改善

3、觀念、態(tài)度、行動、習(xí)慣的養(yǎng)成。 SPC的用途 1.運(yùn)用SPC通過減少制程變異達(dá)成更好 的品質(zhì)。 2.SPC能夠及早發(fā)現(xiàn)及減少制程變異而提 升制程才干 3.SPC有助于制程控制維護(hù)其穩(wěn)定性SPC的用途 4.SPC可以提高產(chǎn)品長期的可靠性及穩(wěn)定 性 5.縮短產(chǎn)品市周期以應(yīng)競爭之需 6.做除高品質(zhì)的產(chǎn)品援助競爭 7.持續(xù)性高品質(zhì)原資料供應(yīng)。SPC推行步驟 A.統(tǒng)一意識推行SPC a.經(jīng)營管理層積極倡導(dǎo)全力參與 b.教育訓(xùn)練營造基礎(chǔ)。 B.成立SPC推行專案組織 a.決定專案負(fù)責(zé)人 b.各單位指派1人 c.推行作業(yè)之初步檢討。 SPC推行步驟 C.推行計劃之確定 a.產(chǎn)品特性之研討 b.統(tǒng)計技朮與公司

4、系統(tǒng)交融之研討 c.規(guī)劃與推動戰(zhàn)略研討。 D.應(yīng)用控制圖進(jìn)行控制 a.制程解析 b.控制計劃確定 c.SPC現(xiàn)場選作 d.制程才干分析 e.制程異常分析與改善。SPC推行步驟 E.推行狀況檢討 a.專案運(yùn)作狀況檢討 b.控制計劃檢討 c.制程改善狀況檢討 d.教育訓(xùn)練的持續(xù)進(jìn)行。SPC實(shí)施作業(yè)流程明確目的選定控制項目4M的標(biāo)準(zhǔn)化標(biāo)準(zhǔn)作業(yè)實(shí)施數(shù)據(jù)搜集分析12SPC實(shí)施作業(yè)流程(續(xù) )計算制程才干制程能否在控制狀態(tài)下?是否Cpk1?是繼續(xù)控制確認(rèn)制程才干能否適當(dāng)定期統(tǒng)計制程異常連絡(luò)單再設(shè)定減少的目標(biāo)推展改善活動否清查緣由(先掌握機(jī)械的才干及量測才干能否足夠)緣由不明且無法采取經(jīng)濟(jì)技朮性措施調(diào)節(jié)制程

5、控制再次檢討規(guī)格修正檢驗等。制訂標(biāo)準(zhǔn)化防止事態(tài)再發(fā)找出異常緣由采取措施并將對策及效果記錄在控制圖上12第二章 持續(xù)改進(jìn)及統(tǒng)計過程控制概述搜集數(shù)據(jù)并用統(tǒng)計方法來解釋不是最終目的研討變異和應(yīng)用統(tǒng)計方法來改進(jìn)性能適合任何領(lǐng)域當(dāng)產(chǎn)生輸出的過程成為我們?nèi)蝿?wù)的重點(diǎn)SPC等統(tǒng)計技朮才干改善品質(zhì)提高生產(chǎn)效率降低本錢上發(fā)揮作用學(xué)習(xí)SPC應(yīng)聯(lián)系實(shí)際量測系統(tǒng)對合適的數(shù)據(jù)分析的作用。留意點(diǎn)一.預(yù)防與檢測檢測-容忍浪費(fèi)預(yù)防-防止浪費(fèi) 一種在第一步就可以防止生產(chǎn)無用的輸出從而防止浪費(fèi)的更有效的方法 預(yù)防二.過程控制系統(tǒng)統(tǒng)計過程控制是一類反饋系統(tǒng)1.過程 所謂過程指的是共同任務(wù)以產(chǎn)生輸出的供方生產(chǎn)者人設(shè)備輸入資料方法和環(huán)境

6、以及運(yùn)用輸出行為客戶之集合。 過程性能取決于供方和客戶間的溝通過程設(shè)計及實(shí)施的方式以及運(yùn)作和管理的方式。二.過程控制系統(tǒng)2.有關(guān)性能的信息 與性能有關(guān)最有用的信息是以研討過程本質(zhì)以及其內(nèi)在的變化性中得到的。根據(jù)信息采取措施來矯正過程或剛產(chǎn)生的輸出必須及時和準(zhǔn)確。二.過程控制系統(tǒng)3.對過程采取措施 對重要的特性(過程或輸出)采取措施從而防止他們偏離目標(biāo)值太遠(yuǎn)。 應(yīng)監(jiān)視采取措施后的效果必要時還應(yīng)進(jìn)一步分析并采取措施。二.過程控制系統(tǒng)4.對輸出采取措施 只對輸出檢測并糾正不符合規(guī)范的產(chǎn)品而沒分析過程中的根本緣由這是不經(jīng)濟(jì)或不適合的。三.變異的普通及特殊緣由1.變異 沒有兩件產(chǎn)品或特性是完全一樣的因為

7、任何過程都存在許多引起變異的緣由。2.分布 一個分布可按位置(典型值)分布寬度(最大值與最小值之間的距離)和形狀(能否對稱偏斜等)來區(qū)別。三.變異的普通及特殊緣由4.變異的普通緣由和特殊緣由 A.普通緣由是指呵斥隨著時間的推移具有穩(wěn)定的且可重復(fù)的分布中的許多變異的緣由。 普通緣由表現(xiàn)為一個穩(wěn)定系統(tǒng)的偶爾緣由。只需變異的普通緣由存在且不改變時過程的輸出才是可預(yù)測的。三.變異的普通及特殊緣由B.特殊緣由指的是呵斥不是始終作用于過程的變異的緣由即它們出現(xiàn)時將呵斥(整個)過程的分布改變。 特殊緣由呵斥過程分布的改變不一定都是有害的有些有利。 四.部分措施和對系統(tǒng)采取措施1.部分措施通常用來消除變異的特

8、殊緣由通常由與過程直接相關(guān)的人員實(shí)施通?？沙C正大約15%的過程問題。 四.部分措施和對系統(tǒng)采取措施2.對系統(tǒng)采取措施 通常用來消除變異的普通緣由幾乎總是要求管理措施以便矯正大約可消除85%的過程問題。五.過程控制和過程才干過程控制系統(tǒng)的目標(biāo)是對影響過程的措施(控制過度與控制缺乏)作出經(jīng)濟(jì)合理的決定。首先通過檢查并消除變異的特殊緣由使過程處于受統(tǒng)計控制狀態(tài)那么其性能是可預(yù)測的就可評定其滿足客戶期望的才干五.過程控制和過程才干每個過程可以根據(jù)其才干和能否受控分為4類。滿足要求受控不受控可接受1類3類不可接受2類4類控制五.過程控制和過程才干一個可接受的過程必須是處于受統(tǒng)計控制狀態(tài)的且其固有變異(才

9、干)必須小于圖紙公差。一個過程在被証明處于統(tǒng)計控制狀態(tài)后才計算其過程才干。過程才干是作為從過程中得到的統(tǒng)計數(shù)據(jù)來進(jìn)行過程性能預(yù)測的基礎(chǔ)。五.過程控制和過程才干才干指數(shù)可分為長期的和短期的。 短期才干研討可用來計算短期才干指數(shù)和機(jī)器才干研討 長期才干研討用來描畫一個過程在很長一個時期內(nèi)包括很多能夠變異緣由出現(xiàn)后能否滿足客戶要求的才干。(CpCpk)六.過程改進(jìn)循環(huán)及過程控制過程改進(jìn)循環(huán)計劃計劃計劃實(shí)施實(shí)施實(shí)施措施研討研討研討措施措施123六.過程改進(jìn)循環(huán)及過程控制1.分析過程本過程應(yīng)做些什么?會出現(xiàn)什么錯誤?本過程正在做什么?達(dá)到統(tǒng)計控制狀態(tài)?確定才干2.維護(hù)過程監(jiān)控過程性能查找變異的特殊緣由并

10、 采取措施3.改進(jìn)過程改變過程從而更好的理 解普通緣由變異減少普通緣由變異七.控制圖-過程控制的工具控制上限控制下限中心線七.控制圖-過程控制的工具控制圖運(yùn)用步驟1.搜集 搜集數(shù)據(jù)并畫在圖上2.控制根據(jù)過程數(shù)據(jù)計算實(shí)驗控制界限識別變異的特殊緣由并采取措施3.分析改進(jìn)確定普通緣由變異的大小并采取減小它的措施。八.控制圖的益處合理運(yùn)用控制圖能供正在進(jìn)行過程控制的操作者運(yùn)用有助于在品質(zhì)上會和本錢上能持續(xù)地可預(yù)測地堅持下去使過程達(dá)到更高的品質(zhì)更低的單件本錢更高的有效才干 為檢討過程的性能提供共同的語言區(qū)分變異的特殊緣由和普通緣由作為采取部分措施或?qū)ο到y(tǒng)采取措施的指南確定要制定控制圖的特性是計量型數(shù)據(jù)嗎

11、?關(guān)心的是不良率嗎?樣本容量能否恆定?運(yùn)用p圖否是運(yùn)用np或p否關(guān)心的是不良數(shù)嗎?是否是樣本容量能否恆定?否運(yùn)用u圖運(yùn)用c或u是性質(zhì)上能否均勻或不能按子組取樣?子組均值能否能很方便的計算?否運(yùn)用中位數(shù)圖否運(yùn)用單值圖X-MR是是子組容量能否大于或等于9?運(yùn)用Xbar-R圖否是能否能方便地計算每個子組的S值?否運(yùn)用Xbar-R圖運(yùn)用Xbar-s圖是控制圖選用程序第三章 計量型數(shù)據(jù)控制圖常用的計量型數(shù)據(jù)控制圖平均值全距控制圖(Xbar-Rchart)平均值標(biāo)準(zhǔn)差控制圖(Xbar-Schart)中位數(shù)全距控制圖(X-Rchart)單值移動全距控制圖(X-Mrchart) 為什么運(yùn)用計量性數(shù)據(jù)控制圖?

12、1.大多過程和其輸出具有可量測性其潛在應(yīng)用很廣 2.量化的值比簡單的是/否陳述包含更多的信息 3.為了獲得更多的過程的信息而需求檢查的件數(shù)較少 4.由于檢查的件數(shù)較少可以縮短零件生產(chǎn)和采取矯 正措施之間的時間間隔 5.用計量型數(shù)據(jù)可以分析一個過程的性能可以量 化所做的改進(jìn)。一.平均值全距控制圖(Xbar-Rchart)1.運(yùn)用Xbar-Rchart之前的準(zhǔn)備任務(wù)建立適合于實(shí)施的環(huán)境定義過程確定控制特性客戶的需求與生產(chǎn)關(guān)系親密的特性經(jīng)常發(fā)生問題的特性關(guān)鍵制程的特性可量測的特性。一.平均值全距控制圖(Xbar-Rchart)定義量測系統(tǒng)使不用要的變異最小化1.搜集數(shù)據(jù) 數(shù)據(jù)是以樣本容量恆定的小子組

13、的方式報出這種子組通常包括25件連續(xù)的產(chǎn)品并周期性地抽取子組。應(yīng)制訂一個數(shù)據(jù)搜集的計劃作為搜集記錄及將數(shù)據(jù)畫在控制圖上的依據(jù)。一.平均值全距控制圖(Xbar-Rchart)A.選擇子組大小頻率和數(shù)據(jù) a.子組大小 選擇子組應(yīng)使得一個字組內(nèi)在該單元中的各樣本之間出現(xiàn)變異的機(jī)會小子組普通由45件連續(xù)生產(chǎn)的產(chǎn)品的組合。 b.子組頻率 在過程初期研討中通常是連續(xù)進(jìn)行分組或很短時間間隔進(jìn)行分組。在過程穩(wěn)定后子組間的時間間隔可以添加。每班兩次每小時一次或其他可行頻率。一.平均值全距控制圖(Xbar-Rchart) c.子組數(shù)的大小 搜集越多的子組可以確保變異的主要緣由有機(jī)會出現(xiàn)。在普通情況下包含100或更

14、多單值讀數(shù)的或更多個子組可以很好地用來檢驗穩(wěn)定性假設(shè)過程已穩(wěn)定則可以得到過程位置和分布寬度的有效的估計值。一.平均值全距控制圖(Xbar-Rchart) B.建立控制圖及記錄原始數(shù)據(jù) C.計算每個子組的均值(Xbar)和全距(R) Xbar=(X1+X2+Xn)/n R =Xmax-Xmin 一.平均值全距控制圖(Xbar-Rchart) D.選擇控制圖的刻度 對于Xbar圖坐標(biāo)上的刻度值的最大值 與最小值之差應(yīng)至少為子組均值(Xbar)的最 大值與最小值差的2倍。對于R圖刻度值應(yīng) 從0開始到最大值之間的差值為初始階段所 遇到的最大全距( R)的2倍。 注可將R圖的刻度值設(shè)置為均值圖的刻度值的

15、2倍。一.平均值全距控制圖(Xbar-Rchart) E.將均值和全距畫到控制圖上 將均值和全距分別畫在其各自的圖上。并確認(rèn)計算及畫圖能否正確。應(yīng)確保所畫Xbar和R點(diǎn)在縱向是對應(yīng)的。 如是沒有計算控制界限的初期操作控制圖應(yīng)清楚注明“初始研討字樣。一.平均值全距控制圖(Xbar-Rchart)2.計算控制界限 A.計算平均全距(R )及過程平均值(X) R=(R1+R2+Rk)/k X=(X1+X2+Xk)/k B.計算控制界限 CLX = X R CLR = R UCLX= X+A2R UCLR = D4R LCLX= X-A2R LCLR = D3R一.平均值全距控制圖(Xbar-Rcha

16、rt) C.在控制圖上作出平均值和全距控制界 限的控制線。3.過程控制斷定 控制圖分析目的在于識別過程變化性的任何証據(jù)或過程均值沒有處于恆定的程度的証據(jù)(即其中之一或兩者均不受統(tǒng)計控制)進(jìn)而采取適當(dāng)?shù)拇胧?。?平均值全距控制圖(Xbar-Rchart) A.分析全距圖上的數(shù)據(jù)點(diǎn) a.超出控制界限的點(diǎn) 有點(diǎn)超出控制界限說明存在以下之 情 I. 控制限計算錯誤或描點(diǎn)時描錯 II. 零件間的變化性或分布的寬度已經(jīng)增 大種增大可以發(fā)生在某個時間點(diǎn)上 也能夠是整個趨勢的一部分 III.量測系統(tǒng)變化(不同的檢驗人員量)一.平均值全距控制圖(Xbar-Rchart) IV.量測系統(tǒng)沒有適當(dāng)?shù)姆直媪Α?有一點(diǎn)

17、位于控制限之下說明存在以下 情況 I. 控制限或描點(diǎn)錯誤 II.分布的寬度變小(即變好) III.量測系統(tǒng)已改變(數(shù)據(jù)編輯或變 換)。一.平均值全距控制圖(Xbar-Rchart)控制界限內(nèi)的圖形或變化趨勢 b.鏈-有以下現(xiàn)象之一闡明過程已改變或出現(xiàn)這種趨勢 連續(xù)7點(diǎn)位于平均值的一側(cè) 連續(xù)7點(diǎn)上升(后點(diǎn)等于或大于前點(diǎn))或 下降。 高于平均全距或上升鏈說明一.平均值全距控制圖(Xbar-Rchart) 輸出值的分布寬度添加其緣由可 能是無規(guī)律的或是由于過程中的某 個要素變化。 量測系統(tǒng)改變。 低于平均全距或下降鏈說明 輸出值分布寬度減小 量測系統(tǒng)改變。一.平均值全距控制圖(Xbar-Rchart

18、) c.明顯的非隨機(jī)圖形 總體準(zhǔn)則 各點(diǎn)與R的距離大約2/3的描點(diǎn)應(yīng)落在控制限的中間 1/3的區(qū)域內(nèi)大約1/3的點(diǎn)落在其外的2/3的區(qū)域。 假設(shè)明顯多于2/3以上的描點(diǎn)落在離R很近之處應(yīng)調(diào)查 控制限或描點(diǎn)已計算錯或描錯 過程或抽樣方法被分層每個子組系統(tǒng)包含了從 兩個或多個具有完全不同的過程均值的過程流的 測量值。 數(shù)據(jù)已經(jīng)編輯。 一.平均值全距控制圖(Xbar-Rchart)假設(shè)明顯少于2/3以上的描點(diǎn)落在離R很近之處應(yīng)調(diào)查 控制限或描點(diǎn)計算錯或描錯 過程或抽樣方法呵斥連續(xù)的分組中包含從兩 個或多個具有明顯不同的變化性的過程流的 測量值。一.平均值全距控制圖(Xbar-Rchart) B.識別

19、并標(biāo)注特殊緣由 對于全距數(shù)據(jù)內(nèi)每個特殊緣由進(jìn)行標(biāo)注作一個過程操作分析從而確定緣由進(jìn)行改善防止它再發(fā)。 為了將生產(chǎn)的不合格輸出減到最小以及獲得診斷用的新數(shù)據(jù)及時分析問題是很重要的。一.平均值全距控制圖(Xbar-Rchart) C.重新計算控制界限(全距) 在進(jìn)行初次過程研討或重新評定過程能 力時失控的緣由已被識別和消除或制度化 應(yīng)重新計算控制界限以排除失控時期的影 響。 由于特殊緣由而從R圖中去掉的子組也應(yīng) 從Xbar圖中去掉。 排除代表不穩(wěn)定條件的子組并不僅是“丟 棄壞數(shù)據(jù)而是排除知的特殊緣由影響的 點(diǎn)。一.平均值全距控制圖(Xbar-Rchart) D.分析均值圖上的數(shù)據(jù)點(diǎn) 當(dāng)全距受統(tǒng)計控

20、制時則認(rèn)為過程的分 布寬度-子組內(nèi)的變異-是穩(wěn)定的。 由于Xbar的控制界限取決于全距圖中變異的 大小故假設(shè)均值處于統(tǒng)計控制狀態(tài)其變 差便與全距圖中的變異-系統(tǒng)的普通緣由變 差有關(guān)。假設(shè)均值沒有受控則存在呵斥過 程位置不穩(wěn)定的特殊緣由變異。一.平均值全距控制圖(Xbar-Rchart) a.超出控制限的點(diǎn) 出現(xiàn)超出控制限的點(diǎn)就說明在這點(diǎn)出現(xiàn)特殊緣由。這也說明存在以下緣由 控制限或描點(diǎn)錯誤 過程已改變或是在當(dāng)時那一點(diǎn)(能夠是一 件獨(dú)立的事件)或是一種趨勢的一部分 量測系統(tǒng)發(fā)生變化。 一.平均值全距控制圖(Xbar-Rchart) b.鏈-以下每一種情況都闡明過程已開始出現(xiàn)變化或有變化的趨勢 連續(xù)

21、7點(diǎn)在平均值的一側(cè) 7點(diǎn)連續(xù)上升或下降。 標(biāo)注這些點(diǎn)從該點(diǎn)做一條參考線延伸到鏈的開 始點(diǎn)分析時應(yīng)考慮出現(xiàn)變化趨勢或變化的時間。 過程均值已改變-也許還在變化 量測系統(tǒng)已改變(飄移偏倚靈敏度等) 一.平均值全距控制圖(Xbar-Rchart) c.明顯的非隨機(jī)圖形 斷定異常分布寬度的準(zhǔn)則(各點(diǎn)與過程平均值的距離) 普通情況下大約2/3的點(diǎn)應(yīng)落在控制限 1/3的中間區(qū)域內(nèi)大約1/3的點(diǎn)落在其它 2/3的區(qū)域 1/20的點(diǎn)應(yīng)落在控制限較近之處。 另外存在大約1/150的點(diǎn)落在控制限之外。 即約99.73%的點(diǎn)位于控制限之內(nèi)。 一.平均值全距控制圖(Xbar-Rchart) 假設(shè)大大超過2/3的點(diǎn)(約

22、90%)落在過程平均值附近應(yīng)留意 控制限或描點(diǎn)已計算錯或重新計算錯。 過程或取樣方法分層每個子組包含從 兩個或多個具有不同平均值的過程流的 測量值 數(shù)據(jù)已被編輯。一.平均值全距控制圖(Xbar-Rchart) 假設(shè)大大少于2/3的點(diǎn)( 40%)落在過程平均值附近應(yīng)留意 控制限或描點(diǎn)已計算錯或重新計算錯。 過程或取樣方法呵斥連續(xù)的子組包含從 兩個或多個具有不同過程流的測量值一.平均值全距控制圖(Xbar-Rchart) E.識別和標(biāo)注特殊緣由(平均值圖) 對于平均值數(shù)據(jù)中每一個顯示處于失控狀態(tài)的條件進(jìn)行一次過程操作分析以確定特殊緣由的產(chǎn)生的理由矯正該狀態(tài)并且防止再現(xiàn)。 利用控制圖數(shù)據(jù)來確定這樣狀

23、態(tài)何時開始且會持續(xù)多久。及時分析也是很重要的。一.平均值全距控制圖(Xbar-Rchart) F.重新計算控制限(平均值圖) 當(dāng)進(jìn)行初次過程研討或重新評定過程才干時要排除已發(fā)現(xiàn)并解決了的特殊緣由的任何失控的點(diǎn)重新計算并描畫過程平均值和控制限。 確保當(dāng)與新的控制限相比時一切的數(shù)據(jù)點(diǎn)看起來都處于受控狀態(tài)。一.平均值全距控制圖(Xbar-Rchart) G.延長控制限繼續(xù)進(jìn)行控制 子組容量的變化將影響期望的平均全距以及平均值圖的控制限。為了調(diào)整新的子組樣本容量對應(yīng)的中心線和控制限應(yīng)采取如下措施 a.估計過程的標(biāo)準(zhǔn)偏向(用表示)用現(xiàn)有的子組容量計算 =R/D2 式中R為子組全距的均值(在全距受控時期)

24、D2隨 樣本容量變化的常數(shù)。一.平均值全距控制圖(Xbar-Rchart) b.按照新的子組容量查表得到系數(shù)d2D3D4 和A2,計算新的全距和控制限 R新=/d2 UCLX= X+A2R新 UCLR = D4R新 LCLX= X-A2R新 LCLR = D3R新一.平均值全距控制圖(Xbar-Rchart) H.有關(guān)控制的概念 在一個生產(chǎn)過程中永遠(yuǎn)無法達(dá)到一種完美的控制狀態(tài)。過程控制圖的目的不是完美的而是合理經(jīng)濟(jì)的控制狀態(tài)。因此在實(shí)踐中一個受控的過程不是圖上無任何失控之處的過程。一.平均值全距控制圖(Xbar-Rchart) 4.過程才干解釋 過程才干解釋的幾個假設(shè) 過程處于統(tǒng)計穩(wěn)定狀態(tài) 過

25、程的各測量值服從正態(tài)分布 工程及其它規(guī)范準(zhǔn)確地代表客戶的要求 設(shè)計目標(biāo)值位于規(guī)范的中心 測量變異相對較小。 才干反映普通緣由引起的變異并且?guī)?乎總是要對系統(tǒng)采取管理措施來提高才干。一.平均值全距控制圖(Xbar-Rchart) 過程才干的評定在普通情況下將過程輸出的分布與工程規(guī)范相比看能否始終滿足這些規(guī)范。 留意任何才干分析技朮不論它看起來多么精確也只能得到大約的結(jié)果。這是因為 總是存在一些抽樣變異 沒有“完全受統(tǒng)計控制的過程 沒有一個實(shí)際的輸出“準(zhǔn)確服從正態(tài)分布。 一.平均值全距控制圖(Xbar-Rchart) A.計算過程的標(biāo)準(zhǔn)偏向 由于子組內(nèi)過程的變異性是通過子組的全距來反映的所以可以運(yùn)

26、用平均全距R來估計過程的標(biāo)準(zhǔn)準(zhǔn)偏向。 =R/d2= R/d2 只需過程的全距和平均值兩者都處于統(tǒng)計控制狀態(tài)。則可用估計的過程標(biāo)準(zhǔn)偏向來評價過程的才干。一.平均值全距控制圖(Xbar-Rchart) B.計算過程才干 過程才干是指按標(biāo)準(zhǔn)偏向為單位來 描畫的過程平均值與規(guī)范界限的距離 用Z表示。 對于單邊規(guī)格計算如下 Z=(USL-X)/(R/d2) 或 Z=(X-LSL)/(R/d2) 選擇合適的一個一.平均值全距控制圖(Xbar-Rchart) 對于雙邊規(guī)格計算如下 ZUSL=(USL-X)/ (R/d2) ZLSL=(X-LSL)/ (R/d2) Zmin= ZUSL和 ZLSL的最小值。

27、當(dāng)Z值為負(fù)值時說明過程平均值超過規(guī)范。 可運(yùn)用Z值和標(biāo)準(zhǔn)正態(tài)分布表來估計多少比例的輸出會超出規(guī)格值一.平均值全距控制圖(Xbar-Rchart) 對于單邊規(guī)格可直接查表可得。 對于雙邊規(guī)格分別計算超過上 下規(guī)格界限的百分比。 Zmin也可以轉(zhuǎn)化為才干指數(shù)Cpk Cpk= Zmin /3=minCPU,CPL Zmin=3的過程其才干指數(shù)Cpk=1.0假設(shè)Zmin=4則過程才干指數(shù)為Cpk=1.33.一.平均值全距控制圖(Xbar-Rchart) C.評價過程才干 評價制程才干的根本的目標(biāo)是對過程性能進(jìn)行持續(xù)改進(jìn)。 不論是對未滿足的才干指數(shù)值作出響應(yīng)或是為超過最低才干指數(shù)要求對持續(xù)改進(jìn)本錢和品質(zhì)

28、性能作出響應(yīng)所要求的措施是一樣的一.平均值全距控制圖(Xbar-Rchart) 通過減少普通緣由引起的變異或?qū)⑦^程均值 調(diào)整到接近目標(biāo)值 方法來改進(jìn)過程性能 這通常意味著要采取措施來改進(jìn)系統(tǒng) 對比較緊急的情況可采用以下臨時措施 對輸出進(jìn)行篩選根據(jù)需求進(jìn)行報廢或返工 處置 改變規(guī)范使之與過程性能一致。一.平均值全距控制圖(Xbar-Rchart) D.提高過程才干 為了提高過程才干必須重視減少普通緣由。必須將留意力直接集中在系統(tǒng)中即呵斥過程變異性上。 普通來說矯正這些呵斥不可接受的過程才干的系統(tǒng)緣由能夠會超出操作者或者他們的現(xiàn)場管理人員的才干。這是可以采取一些管理層介入的作一些根本的變化分配資源

29、并為改進(jìn)過程的整個性能進(jìn)行協(xié)調(diào)。一.平均值全距控制圖(Xbar-Rchart) E.對修正的過程繪制控制圖并分析 對過程采取措施后其效果應(yīng)在管 制圖上表現(xiàn)出來。 在對過程實(shí)施改變時應(yīng)仔細(xì)監(jiān)視控制 圖。 在變化時期的一切不穩(wěn)定的要素都能解 決后應(yīng)評定新的過程才干并將它作為將來 操作新控制限的基礎(chǔ)通常情況下變化后 用25個子組的數(shù)據(jù)足以建立新的控制限。二.平均值標(biāo)準(zhǔn)差控制圖(Xbar-schart) 由于全距容易計算且對樣本容量較小的子組(n 9)較為有效所以用全距圖來作為過程變異的度量。樣本的標(biāo)準(zhǔn)差s是過程變異性更有效的指標(biāo)尤其是對于樣本容量較大的情況。但它計算較復(fù)雜。普通來說當(dāng)出現(xiàn)以下情況時用

30、s圖替代R圖。 數(shù)據(jù)是由電腦按實(shí)時時序記錄或掃描 的s較易計算。 有方便的計算器使s的計算能簡單按程 序算出。 二.平均值標(biāo)準(zhǔn)差控制圖(Xbar-schart) Xbar-schart的詳細(xì)說明與Xbar-Rchart類似不同之處如下 1.搜集數(shù)據(jù) 假設(shè)原始數(shù)據(jù)量大常將它們記錄在單獨(dú) 的數(shù)據(jù)表上只需每組的Xbar和s出現(xiàn)在 圖上 利用以下公式之一計算每個子組的標(biāo)準(zhǔn)差二.平均值標(biāo)準(zhǔn)差控制圖(Xbar-schart) s= (Xi-X)2/(n-1)或 s= (Xi-nX2)/(n-1)- (X1+X2+Xn-nX2)/(n-1) S圖的刻度尺寸應(yīng)與相對應(yīng)的Xbar圖的一樣。222二.平均值標(biāo)準(zhǔn)差

31、控制圖(Xbar-schart) 2.計算控制限 CLs = s CLX =X UCLs =B4s UCLX =X + A3s LCLs =B3s LCLX =X A3s式中s為各子組樣本標(biāo)準(zhǔn)差的均值B3B4和A3隨樣本容量變化的常數(shù)。二.平均值標(biāo)準(zhǔn)差控制圖(Xbar-schart) 3.過程控制解釋斷定 (與Xbar-Rchart一樣)。 假設(shè)過程服從正態(tài)分布只需均值和標(biāo)準(zhǔn)差均處于統(tǒng)計控制狀態(tài)可用 的估計值來直接評價過程才干。第四章 計數(shù)型數(shù)據(jù)控制圖為什么運(yùn)用計數(shù)型數(shù)據(jù)控制圖?計數(shù)型數(shù)據(jù)的情況存在于任何技朮或行政管理過程中困難的是對不合格下個準(zhǔn)確的定義在檢驗要求修繕的書面記錄拒收資料的篩選等

32、運(yùn)用計數(shù)型數(shù)據(jù)的情況下只是將數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)化成控制圖的任務(wù)在必須搜集新數(shù)據(jù)的地方獲得計數(shù)型數(shù)據(jù)通常很快且不需很多費(fèi)用并且由于運(yùn)用簡單的量具不需專業(yè)化的搜集技朮許多用于管理總結(jié)報告的數(shù)據(jù)是計數(shù)型的并且可以從控制圖分析中獲益。第1節(jié) 不良率控制圖(p-chart) Pchart用來測量在一批檢驗項目中不合格品(不符合或缺陷)項目的百分比率。這可以評價一個特性值或是許多特性值重要的是 把被檢查的每一個元件零件或項目記 錄成合格或不合格 把這些檢驗的結(jié)果按一個有意義的基礎(chǔ) 條件分組并且把不合格的項目用占子 組大小的百分比來表示。 第1節(jié) 不良率控制圖(p-chart)在運(yùn)用pchart以前需采取的幾個預(yù)備步驟

33、建立適合于實(shí)施的環(huán)境定義過程確定控制特性客戶的需求與生產(chǎn)關(guān)系親密的特性經(jīng)常發(fā)生問題的特性關(guān)鍵制程的特性可量測的特性。第1節(jié) 不良率控制圖(p-chart)定義量測系統(tǒng)使不用要的變異最小化1.搜集數(shù)據(jù) A.選擇子組的容量頻率及數(shù)量 a.子組容量用于計數(shù)型數(shù)據(jù)的控制圖普通要求較大 的子組容量(50200或更多)以便檢驗出性能的一 般變化。對于顯示可分析的圖形的控制圖子組 容量應(yīng)大到每個組內(nèi)包括幾個不合格品。第1節(jié) 不良率控制圖(p-chart) b.分組頻率 應(yīng)根據(jù)產(chǎn)品的周期確定分組的頻率以便幫助分析和矯正發(fā)現(xiàn)的問題。時間間隔短則反饋快但能夠與大的子組容量要求矛盾 c.子組的數(shù)量 搜集數(shù)據(jù)的時間應(yīng)

34、足夠長使得能找到一切能夠的影響過程的變異源。普通情況下也應(yīng)包括25或更多的子組以便很好地檢驗過程的穩(wěn)定性對過程性能也可產(chǎn)生可靠的估計。 第1節(jié) 不良率控制圖(p-chart) B.計算每個子組內(nèi)的不良率(p) p=(np)/p 其中n-被檢項目的數(shù)量 np-發(fā)現(xiàn)的不良項目的數(shù)量。 C.選擇控制圖的坐標(biāo)刻度 描繪數(shù)據(jù)點(diǎn)用的圖應(yīng)將不良率作為縱坐 標(biāo)子組識別作為橫坐標(biāo)。縱坐標(biāo)的刻度應(yīng) 從0到初步研討數(shù)據(jù)讀數(shù)中最大的不良率值 1.5到2倍的值。第1節(jié) 不良率控制圖(p-chart) D.將不良率描繪在控制圖上 描繪每個子組的p值將這些點(diǎn)連成線通常有助于發(fā)現(xiàn)異常圖形和趨勢。 當(dāng)點(diǎn)描繪完后大致看看能否合理

35、。如發(fā)現(xiàn)恣意一點(diǎn)比別的高出或低出許多檢查計算能否正確。 記錄過程的變化或者能夠影響過程的異常狀況將它們記錄在控制圖的“備注部分。 第1節(jié) 不良率控制圖(p-chart)2.計算控制限 A.計算過程平均不良率(p): 對于k個子組的研討時期計算不良率的均值如下 p=(n1p1+n2p2+nkpk)/(n1+n2+nk) 留意不要混淆不良品百分?jǐn)?shù)(px100)和不良率(p)。 第1節(jié) 不良率控制圖(p-chart) B.計算上下控制限(UCLLCL) 假設(shè)過程受統(tǒng)計控制子組的樣本容量一定則控制限為過程平均值加或減期望的變異允許值。對于K個子組的研討時期按下式計算上下控制限 UCLp=p+3 p(1

36、-p)/n LCLp=p-3 p(1-p)/n 式中n為恆定的樣本容量。 第1節(jié) 不良率控制圖(p-chart) 當(dāng)p很小或/和n很小時LCL的計算值有時為負(fù)值在此情況下沒有下控制限因為即使在極精確的時期內(nèi)p=0也在隨機(jī)變異極限之內(nèi)。 C.畫線并標(biāo)注 過程均值 p -程度實(shí)線 控制限(UCLLCL)-程度虛線。 在初始研討階段這些被認(rèn)為是試驗控制限。 第1節(jié) 不良率控制圖(p-chart) 上述給出的控制限計算公式適用于子組容量一樣的情況下理論上只需樣本容量改變控制限將隨之變化在對每個具有不同樣本容量的子組應(yīng)分別計算各組的控制限。 但實(shí)際應(yīng)用時當(dāng)各組容量與其平均值相差不超過 25%時可用平均樣

37、本容量來計算控制限。第1節(jié) 不良率控制圖(p-chart) 在此情況下 UCLpLCLp=p3 p(1-p)/n 當(dāng)子組容量的變化超過上述值時則要求單獨(dú)計算這些特別小或大樣本時期內(nèi)的控制限合理程序為 確定能夠超過其平均值25%的樣本容量范圍內(nèi)找出樣本容量超出該范圍的一切子組 第1節(jié) 不良率控制圖(p-chart) 按下式重新計算這些點(diǎn)準(zhǔn)確的控制限 UCLpLCLp=p3 p(1-p)/n 其中n為特殊子組的樣本容量點(diǎn)與點(diǎn) 之間只需n的值變化。 在控制圖上描繪受影響的子組新的上 下控制限。并作為識別特殊緣由的依據(jù)。第1節(jié) 不良率控制圖(p-chart) 留意任何處理可變控制限的程序都會很麻煩并呵

38、斥混亂。因此假設(shè)能夠最好調(diào)整成運(yùn)用恆定樣本容量。3.過程控制用控制圖解釋 數(shù)據(jù)點(diǎn)中存在超出控制限的點(diǎn)或存在超出隨機(jī)情況下能夠出現(xiàn)的明顯趨勢或圖形這就闡明存在變異的特殊緣由。第1節(jié) 不良率控制圖(p-chart) A.分析數(shù)據(jù)點(diǎn)找出不穩(wěn)定的証據(jù) 超出控制限的點(diǎn) a.超出任一控制限就証明在此點(diǎn)不穩(wěn)定。 超出上控制限的點(diǎn)通常闡明存在下述 的情況 控制限或描點(diǎn)錯誤 過程性能惡化在當(dāng)時那點(diǎn)或作為一種趨 勢的一部分 量測系統(tǒng)已改變。 第1節(jié) 不良率控制圖(p-chart) 低于控制限的點(diǎn)說明 控制限或描點(diǎn)錯誤 過程性能已改進(jìn) 量測系統(tǒng)已改變。 在控制限之內(nèi)出現(xiàn)異常圖形或趨勢即使一切的點(diǎn)均在控制內(nèi)也說明在出

39、現(xiàn)這個圖形或趨勢的時期內(nèi)過程失控或性能程度變化第1節(jié) 不良率控制圖(p-chart) 當(dāng)每個子組的np 9子組的p的分布近似于正態(tài)分布并且可以運(yùn)用與Xbar圖所用分析類似的分布方法。如np5則不能直接應(yīng)用以下規(guī)則。 b.鏈在一個受控的np中等較大的過程中落在均值兩側(cè)的點(diǎn)的數(shù)量將幾乎相等。以下情況闡明過程開始出現(xiàn)變化或?qū)⒊霈F(xiàn)變化第1節(jié) 不良率控制圖(p-chart) 連續(xù)7點(diǎn)位于均值的一側(cè) 連續(xù)7點(diǎn)上升或連續(xù)的下降。 出現(xiàn)高于均值的長鏈或連續(xù)上升的點(diǎn)說明 過程性能已惡化而且能夠還在惡化 量測系統(tǒng)已改變。 出現(xiàn)低于均值的長鏈或連續(xù)上升的點(diǎn)說明 過程性能已改進(jìn) 量測系統(tǒng)已改變。 當(dāng)np 5時出現(xiàn)低于

40、p的鏈的能夠性添加有必要用長度為8點(diǎn)或更多的點(diǎn)的長鏈來作為不良率降低的標(biāo)志。第1節(jié) 不良率控制圖(p-chart)c.明顯的非隨機(jī)圖形-這些圖形有趨勢周期性控制限內(nèi)異常分布的點(diǎn)以及子組內(nèi)值的相關(guān)性。驗証異常的分布方法如下點(diǎn)到過程均值的距離當(dāng)處于統(tǒng)計狀態(tài)下僅存在普通緣由變異并且其np中等較大的過程中大約2/3的點(diǎn)將在控制限中部1/3的區(qū)域大約1/3的點(diǎn)位于控制限2/3以內(nèi)的區(qū)域大約1/20的點(diǎn)位于與控制限較接近的區(qū)域。第1節(jié) 不良率控制圖(p-chart)假設(shè)明顯多于2/3的點(diǎn)(90%以上)位于與均值接近的地方說明 控制限計算錯誤或或描點(diǎn)錯誤 過程或抽樣方法分層每個子組包含來自兩 個或以上具有不

41、同平均性能的過程流的測量 數(shù)據(jù)被編輯過。假設(shè)明顯少于2/3的點(diǎn)(40%以下)位于與均值接近的地方說明 發(fā)生了計算或描點(diǎn)錯誤 過程或抽樣方法分層。 第1節(jié) 不良率控制圖(p-chart) B.尋找并矯正特殊緣由 當(dāng)從數(shù)據(jù)中已發(fā)現(xiàn)失控的情況時必須研討操作過程以確定其緣由。然后矯正該緣由并盡能夠防止其再發(fā)。 對于應(yīng)用實(shí)時數(shù)據(jù)進(jìn)行現(xiàn)行研討時失控條件的分析包括及時調(diào)查過程的操作將重點(diǎn)放在尋找發(fā)生什么樣的變化可以解釋異常性能上。當(dāng)該分析導(dǎo)致采取措施時措施的效果會在控制圖上顯示出來。 當(dāng)運(yùn)用歷史數(shù)據(jù)進(jìn)行初步分析時時間的推移會使過程操作變化更困難。分析應(yīng)盡能夠在當(dāng)時條件下進(jìn)行以便識別該條件并防止它再發(fā)生。 第

42、1節(jié) 不良率控制圖(p-chart) C.重新計算控制限 當(dāng)進(jìn)行初始過程研討或?qū)^程才干重新評價時應(yīng)剔除與特殊緣由有關(guān)的點(diǎn)以便排除某些控制時期的影響重新計算控制限。 當(dāng)歷史數(shù)據(jù)闡明一致性能均在試驗的控制限內(nèi)則可將控制限延伸到將來時期變成操作控制限。第1節(jié) 不良率控制圖(p-chart)4.過程才干解釋 當(dāng)解決了控制問題后控制圖就反應(yīng)了根本過程才干。對于計數(shù)型控制圖才干直接被定義為不良品的平均百分?jǐn)?shù)或比例。(計量型控制圖的才干是將或不將過程的中心調(diào)整到規(guī)范的目標(biāo)值后穩(wěn)定過程產(chǎn)生的總變異)第1節(jié) 不良率控制圖(p-chart) A.計算過程才干 對于p圖過程才干是通過過程平均不良率 來表示當(dāng)一切點(diǎn)

43、灰受控后才計算該值。 對于過程才干的初步估計值應(yīng)運(yùn)用歷史 數(shù)據(jù)但應(yīng)剔除與特殊緣由有關(guān)的數(shù)據(jù)點(diǎn) 當(dāng)正式研討過程才干時應(yīng)運(yùn)用新的數(shù) 據(jù)最好是25個或更多時期子組。第1節(jié) 不良率控制圖(p-chart) B.評價過程才干 隨時間的推移測得的不良率百分?jǐn)?shù)將在管 制限間變化但除去過程中的任何變化或 允許存在超出控制的時期外良品的百分?jǐn)?shù) 的平均值將趨于穩(wěn)定。 此平均才干不是波動的單值必須對看管理 上對于特殊性的期望來評價。如此平均才干 不能接受則應(yīng)直接對過程本身進(jìn)一步分析 并采取措施。第1節(jié) 不良率控制圖(p-chart) C.改進(jìn)過程才干 過程如處于統(tǒng)計控制狀態(tài)該過程所堅持的不良平均水準(zhǔn)即反映了該系統(tǒng)的

44、變異緣由-過程才干。須對過程系統(tǒng)本身直接采取管理措施運(yùn)用長期的解決問題的方法來矯正呵斥不良的緣由。 第1節(jié) 不良率控制圖(p-chart) D.繪制并分析修正后的過程控制圖 當(dāng)對過程系統(tǒng)采取了系統(tǒng)的措施后其效果 應(yīng)在控制圖上明顯地反應(yīng)出來。 對過程進(jìn)行改變時應(yīng)小心地監(jiān)視控制圖。 在過程改變期間出現(xiàn)的特殊緣由變異被識別 并矯正系統(tǒng)將按新均值處于控制狀態(tài)。 第2節(jié) npcuchart npcu圖的情況與p圖根本類似其不同處如下 樣本容量 np圖樣本容量必須一樣。 c 圖樣本容量必須一樣。 u 圖樣本容量不用一樣。 p 圖樣本容量不用一樣。 第2節(jié) npcuchart 控制限計算 np圖 np=(n

45、p1+np2+npk)/k UCLnp=np +3 np(1-p) LCLnp=np -3 np(1-p)第2節(jié) npcuchart c 圖 c=(c1+c2+ck)/k UCLc=c+3 c LCLc=c-3 c u 圖 u=(c1+c2+ck)/(n1+n2+nk) UCLu=u+3 u/n LCLu=u-3 u/n 第五章 過程量測系統(tǒng)分析 當(dāng)確定了一個給定的過程要測量的特性值后則則應(yīng)對這個特性的測量系統(tǒng)進(jìn)行評價從而確保為這個特性而搜集的SPC數(shù)據(jù)進(jìn)行有效的分析。 量測系統(tǒng)的分析評價請查閱MSA及GR&R分析。 第六章 過程才干分析 一個統(tǒng)計穩(wěn)定(受控)的制造過程的輸出可用其分布來描畫。

46、該分布的特性用來評價該過程。一個分布的特性有分布中心分布寬度和分布形狀。 本章將定義和討論的常用指數(shù)和比值 與規(guī)范有關(guān)僅反映過程變異的指數(shù)Cp和Pp 與規(guī)范有關(guān)綜合反映過程變異及其中心的指 數(shù)CaCpk 和Ppk; 與規(guī)范有關(guān)的過程變異比值CR和PR。第六章 過程才干分析1.過程朮語定義 A.過程固有變異-僅由于普通緣由產(chǎn)生的那部分過程變異。該變異可以從控制圖通過R/d2來估計。 B.過程總變異-由于普通和特殊兩種緣由所呵斥的變異本變異可用樣本標(biāo)準(zhǔn)差S來估計。 S= (Xi-X)2/(n-1) =s i=1n第六章 過程才干分析 C.過程才干-僅適用于統(tǒng)計穩(wěn)定的制程是過程變異的6范圍由R/d2

47、計算而得。 D.過程性能-過程總變異的6范圍通常通過樣本的標(biāo)準(zhǔn)差S計算而得。 第六章 過程才干分析 2.過程度量的定義 A.指數(shù) a.Cp:這是一個才干指數(shù)為是公差除以過程才干不考慮過程有無偏移也稱精確度表達(dá)為 Cp=T/6R/d2第六章 過程才干分析 Cp為制程之變異性寬度與規(guī)格界限范圍相差的情況,假設(shè)CP越小,表示產(chǎn)品的品質(zhì)特性變異越大,所以制程才干差,反之假設(shè)CP越大,表示產(chǎn)品品質(zhì)特性變異越小,精確度越高,制程才干佳。 普通來說如Cp不良其對應(yīng)方法為技朮單位為主制造單位為副品管單位為輔。第六章 過程才干分析級別CP值對應(yīng)的不良品率工序才干評價改進(jìn)措施4Cp0.67P4.55%嚴(yán)重缺乏(1

48、)停頓生產(chǎn)、清查緣由、全面改進(jìn)人、機(jī)、料、法諸要素提高工序才干,直到Cp1.0才恢復(fù)生產(chǎn);(2)在滿足要求情況下,修正質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn),降低要求30.67P0.27%缺乏採取措施提高Cp值,同時加強(qiáng)控制,並進(jìn)行全數(shù)檢驗21.0P0.006%尚充足嚴(yán)格工序控制、預(yù)防不良品產(chǎn)生11.33P0.000055%充足對普通零件,採取簡化質(zhì)量管理程序,降低質(zhì)量本錢;對關(guān)鍵工序、零部件維持原狀生產(chǎn)特級Cp1.67P0.000055%很充足簡化質(zhì)量管理,延長檢驗間隔,減少檢驗任務(wù)量,降低質(zhì)量本錢;或提高質(zhì)量要求、質(zhì)量升級等級斷定為第六章 過程才干分析第六章 過程才干分析 b.Pp:這是性能指數(shù)為不考慮過程有無偏移時公差除以過程性能普通為 Pp = T/6S Pp僅用來與Cp 及Cpk對比或/和Cp 及Cpk 一同去度量和確定一段時間內(nèi)改進(jìn)的優(yōu)先順序。第六章 過程才干分析 c.Ca:過程準(zhǔn)確度從生產(chǎn)過程中所獲得的資料其實(shí)際平均值( X )與規(guī)格中心( )之