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1、醫(yī)用X射線診斷設(shè)備質(zhì)量控制數(shù)字化X射線攝影(DR)系統(tǒng)2018-06-13一、相關(guān)法規(guī)二、成像原理三、質(zhì)量控制一、相關(guān)法規(guī)放射診療管理規(guī)定第五條 醫(yī)療機(jī)構(gòu)應(yīng)當(dāng)采取有效措施,保證放射防護(hù)、安全與放射診療質(zhì)量符合有關(guān)規(guī)定、標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范的要求。第二十條 醫(yī)療機(jī)構(gòu)的放射診療設(shè)備和檢測(cè)儀表,應(yīng)當(dāng)符合下列要求:(一)新安裝、維修或更換重要部件后的設(shè)備,應(yīng)當(dāng)經(jīng)省級(jí)以上衛(wèi)生行政部門資質(zhì)認(rèn)證的檢測(cè)機(jī)構(gòu)對(duì)其進(jìn)行檢測(cè)(驗(yàn)收),合格后方可啟用;放射診療管理規(guī)定(二)定期進(jìn)行穩(wěn)定性檢測(cè)、校正和維護(hù)保養(yǎng),由省級(jí)以上衛(wèi)生行政部門資質(zhì)認(rèn)證的檢測(cè)機(jī)構(gòu)每年至少進(jìn)行一次狀態(tài)檢測(cè);第二十四條 醫(yī)療機(jī)構(gòu)應(yīng)當(dāng)制定與本單位從事的放射診療項(xiàng)目

2、相適應(yīng)的質(zhì)量保證方案,遵守質(zhì)量保證監(jiān)測(cè)規(guī)范。 質(zhì)量保證:為獲得穩(wěn)定的高質(zhì)量的x射線影像,同時(shí)又使人員的受照劑量和所需費(fèi)用達(dá)到合理的最低水平所采取的有計(jì)劃的系統(tǒng)行動(dòng)。質(zhì)量控制:通過對(duì)x射線診斷設(shè)備的性能檢測(cè)和維護(hù),對(duì)X射線影像形成過程的監(jiān)測(cè)和校正行動(dòng),保證影像質(zhì)量的技術(shù)。質(zhì)量管理:為使質(zhì)量保證計(jì)劃得以貫徹實(shí)施,使各種檢測(cè)能正常進(jìn)行,其結(jié)果得到評(píng)價(jià),相關(guān)的校正行動(dòng)得以實(shí)施而采取的管理措施。醫(yī)療機(jī)構(gòu)質(zhì)量控制程序示例為加強(qiáng)放射科影像質(zhì)量管理和質(zhì)量控制,保證放射科診斷質(zhì)量和醫(yī)療安全,落實(shí)“醫(yī)療質(zhì)量持續(xù)改進(jìn)計(jì)劃,參照浙江省醫(yī)院放射科影像質(zhì)量保證方案,制定本市放射科影像質(zhì)量保證方案。醫(yī)療機(jī)構(gòu)質(zhì)量控制程序示例

3、一、放射科影像質(zhì)量保證組織和人員職責(zé)分工二、放射科工作人員準(zhǔn)入要求三、影像質(zhì)量評(píng)價(jià)制度四、影像質(zhì)量評(píng)價(jià)標(biāo)準(zhǔn)五、診斷報(bào)告書寫格式和質(zhì)量評(píng)價(jià)標(biāo)準(zhǔn)六、影像檢查過程的質(zhì)量控制七、相關(guān)資料的記錄、保存八、醫(yī)療安全的保證九、影像檢查設(shè)備的質(zhì)量控制一、放射科影像質(zhì)量保證組織和人員職責(zé)分工(一)各級(jí)醫(yī)院放射科應(yīng)建立影像質(zhì)量保證工作小組,小組成員應(yīng)包括高年資影像診斷醫(yī)師、放射科技師、影像設(shè)備維修人員相關(guān)專業(yè)工程技術(shù)人員,一般由5-7人組成。(二)放射科常規(guī)X線、CT、MR、DSA統(tǒng)一管理,放射科主任負(fù)責(zé)影像質(zhì)量保證方案的全面實(shí)施,組織定期和不定期的核查。影像質(zhì)量保證工作小組成員中,影像設(shè)備維修人員或相關(guān)專業(yè)工程

4、技術(shù)人員負(fù)責(zé)影像設(shè)備正常運(yùn)行,保證影像設(shè)備運(yùn)行穩(wěn)定,參數(shù)準(zhǔn)確,發(fā)生設(shè)備故障及時(shí)檢修。一、放射科影像質(zhì)量保證組織和人員職責(zé)分工技師負(fù)責(zé)X線檢查、CT、MRI掃描過程的質(zhì)量控制。影像診斷醫(yī)師負(fù)責(zé)診斷操作的質(zhì)量控制和影像診斷報(bào)告質(zhì)量的控制。(三)各種設(shè)備日常保養(yǎng)責(zé)任落實(shí)到人。二、成像原理X射線的發(fā)現(xiàn)1895年11月,德國(guó)物理學(xué)家倫琴在維爾茨堡大學(xué)的實(shí)驗(yàn)室里,拉上物理實(shí)驗(yàn)室厚厚的窗簾,屋子里一片漆黑,倫琴摸黑順利做完了實(shí)驗(yàn)。但是,在沖洗才做完的實(shí)驗(yàn)照片時(shí),他發(fā)現(xiàn)放在放電管旁邊的一盒照相底片曝光了1900年4月1日,倫琴第一個(gè)獲得了諾貝爾物理學(xué)獎(jiǎng)X射線的產(chǎn)生軔致輻射:高速電子突然中止 X射線99%熱能1

5、% X射線X射線是一種有能量的電磁波普通X射線成像的原理DR系統(tǒng)的組成一、X射線產(chǎn)生部分二、成像及圖像處理部分一、 X射線產(chǎn)生部分1、控制臺(tái)2、高壓發(fā)生器3、X線球管4、限束器5、其他普通醫(yī)用X射線診斷設(shè)備系統(tǒng)X射線球管的結(jié)構(gòu)焦點(diǎn)限束器限束器:能任意調(diào)節(jié)X射線照射野的大小濾線柵構(gòu)造:X射線濾線柵是由一定厚度、高度的高吸收X射線鉛材料片條和低吸收X射線鋁材料片條所組成的。作用:濾線柵可以減少被照體產(chǎn)生的散射線,改善X射線影像的對(duì)比度和清晰度,從而提高X射線影像的質(zhì)量和醫(yī)療診斷效果DR成像板DR成像板的分類1、直接直接能量轉(zhuǎn)換-非晶硒2、間接間接能量轉(zhuǎn)換-非晶硅和CCD一、非晶硒探測(cè)器結(jié)構(gòu)及其成像

6、原理:(直接成像)直接成像X線非晶硒感光層電信號(hào)影像數(shù)字信息非晶硒探測(cè)器直接數(shù)字化X線成像的平板探測(cè)器,利用了非晶硒的光電導(dǎo)性,將X線直接轉(zhuǎn)換成電信號(hào),形成全數(shù)字化影像。成像原理:X線粒子射入加有高電壓的非晶硒感光層,其中原本定向移動(dòng)的電荷發(fā)生電導(dǎo)率的改變,伴隨著空穴電子對(duì)分布不均勻的形成,感光層內(nèi)就有了不均勻聚集的電荷通過薄膜晶體管陣列轉(zhuǎn)換為可測(cè)的電信號(hào),再進(jìn)行A/D轉(zhuǎn)換,成為可直接由計(jì)算機(jī)進(jìn)行處理的數(shù)字信號(hào)非晶硒探測(cè)器參數(shù)探測(cè)器有效探測(cè)面積:35X43cm采集矩陣:2560 x3072像素大?。?39139m采集像素A/D轉(zhuǎn)換位數(shù):14bit空間分辨率:3.6lp/mm非晶硒探測(cè)器特性:優(yōu)

7、點(diǎn):1、直接光電轉(zhuǎn)換2、直接讀出3、量子檢測(cè)率(DQE)較高4、曝光寬容度大5、后處理功能強(qiáng)大缺點(diǎn):FPD對(duì)環(huán)境溫度,濕度要求較高,需要較高的偏直電壓,刷新速度慢,仍不能滿足動(dòng)態(tài)攝影,所以不常用。二、非晶硅探測(cè)器結(jié)構(gòu)及其成像原理:(間接成像) 分碘化銫(CsI)+非晶硅和硫氧化釓GOS+非晶硅結(jié)構(gòu)由碘化銫閃爍體層、非晶硅光電二極管陣列、行驅(qū)動(dòng)電路以及圖像信號(hào)讀取電路四部分。與非晶硒平板探測(cè)器的主要區(qū)別在于熒光材料層和探測(cè)元陣列層的不同,其信號(hào)讀出、放大、A/D轉(zhuǎn)換和輸出等部分基本相同。非晶硅探測(cè)器非晶硅平板探測(cè)器,是一種以非晶硅光電二極管陣列為核心的X線影像探測(cè)器。它利用碘化銫(CsI)的特性

8、,將入射后的X線光子轉(zhuǎn)換成可見光,再由具有光電二極管作用的非晶硅陣列變?yōu)殡娦盘?hào),通過外圍電路檢出及A/D轉(zhuǎn)換,從而獲得數(shù)字化圖像。由于其經(jīng)歷了射線可見光電荷圖像數(shù)字圖像的成像過程,通常也被稱作間接轉(zhuǎn)換型平板探測(cè)器。非晶硅平板探測(cè)器具有成像速度快,良好的空間及密度分辨率,高信噪比,直接數(shù)字輸出等優(yōu)點(diǎn)。碘化銫針柱直徑6m主要非晶硅平板探測(cè)器參數(shù)說明探測(cè)器法國(guó)Trixell Pixium 4600美國(guó)GERevolution美國(guó)VARIANPaxScan4343R DRZ Plus日本佳能CXDI-40G韓國(guó)三星探測(cè)器類型針狀碘化銫+非晶硅4塊拼接碘化銫+非晶硅整版碘化銫+非晶硅整版硫氧化釓+非晶硅

9、整版碘化銫+非晶硅整版影像區(qū)面積43cm43cm41cm41cm43cm43cm43cm43cm43cm43cm像素矩陣3K3K2K2K3K3K268826883K3K像素大小143um200um139um160um143um極限空間分辨率3.5LP/mm2.5LP/mm3.6LP/mm3.0LP/mm3.5LP/mmDQE (100%MTF時(shí))65%74%70%33%65%A/D 轉(zhuǎn)換14bit14bit14bit14bit14bit灰階度14bit14bit14bit12bit14bit圖像預(yù)覽時(shí)間5s5s3s3s5s圖像處理時(shí)間8s8s5s20s15s工作環(huán)境要求溫度18-30溫度10-

10、40溫度10-40溫度10-40溫度10-40是否需要特殊輔助裝置(如水冷設(shè)備)不需要需要不需要不需要不需要探測(cè)器校正周期3-6個(gè)月用戶自定義校正周期(建議每一年校正一次)用戶自定義校正周期(建議每一年校正一次)用戶自定義校正周期(建議每一年校正一次)用戶自定義校正周期(建議每一年校正一次)非晶硅平板探測(cè)器優(yōu)缺點(diǎn)優(yōu)點(diǎn):1、轉(zhuǎn)換效率高;2、動(dòng)態(tài)范圍廣;3、空間分辨率高;4、在低分辨率區(qū)X線吸收率高(原因是其原子序數(shù)高于非晶硒);5、環(huán)境適應(yīng)性強(qiáng)。缺點(diǎn):1、高劑量時(shí)DQE不如非晶硒型;2、因有熒光轉(zhuǎn)換層故存在輕微散射效應(yīng);3、銳利度相對(duì)略低于非晶硒型。CCD探測(cè)器結(jié)構(gòu)及其成像原理: (間接成像)

11、CCD(Charge Coupled Device)電荷耦合器是一種將光能轉(zhuǎn)換為電能的元件,隨著微電子技術(shù)的發(fā)展,CCD已是一項(xiàng)成熟的技術(shù),它是由數(shù)量眾多的光敏單元排列組成面陣,光敏單元可小至50m2以下,空間分辨率很高,幾何失真小,均勻性和一致性好。但CCD對(duì)X射線不敏感,所以需要先將X射線激發(fā)熒光屏產(chǎn)生熒光,經(jīng)增強(qiáng)后成為Video信息,經(jīng)反光鏡反射到CCD鏡頭,被采集并轉(zhuǎn)換為電信息,再轉(zhuǎn)換為數(shù)字信息。CCD的特性:光電靈敏度高動(dòng)態(tài)范圍大空間分辨率高較小的失真惰性極小高性能,長(zhǎng)壽命CCD有兩大特點(diǎn):一是CCD采用電荷耦合器件作為圖像傳感器,沒有攝像管,不用電子束掃描;二是CCD輸出的視頻信號(hào)

12、中也有圖像信息、復(fù)位電平和干擾脈沖,它是一個(gè)電壓信號(hào),而不象攝像管輸出的高阻電流信號(hào)。目前國(guó)內(nèi)主要CCDDR探測(cè)器技術(shù)參數(shù)說明探測(cè)器KeenrayCCDDR探測(cè)器,深圳藍(lán)韻研制XDS3000探測(cè)器萬東研制IDC 4K/3KCCD探測(cè)器IDC研制類型針狀碘化銫+非晶硅硫氧化釓+非晶硅4K:針狀碘化銫+非晶硅3K:硫氧化釓+非晶硅影像尺寸171717171717像素矩陣40964096,1680萬像素30723072,940萬4K:40964096,1680萬像素3K:30723072,940萬像素尺寸108um143um108um極限空間分辨率4.6LP/MM3.5LP/MM4K:4.6LP/M

13、M3K:3.5LP/MM密度分辨率65536灰階16384灰階16384灰階動(dòng)態(tài)范圍采集:16比特輸出:16比特采集:12比特輸出:14比特采集:14比特輸出:14比特圖像采集時(shí)間6s8s8s三、質(zhì)量控制設(shè)備質(zhì)量控制檢測(cè)的分類驗(yàn)收檢測(cè):X射線診斷設(shè)備這裝完畢或重大維修后,為鑒定其性能指標(biāo)是否符合約定值需進(jìn)行的質(zhì)量控制檢測(cè)。狀態(tài)檢測(cè):在運(yùn)行中的設(shè)備,為評(píng)價(jià)其性能指標(biāo)是否符合要求而定期進(jìn)行的質(zhì)量控制檢測(cè)。穩(wěn)定性檢測(cè):為確定X射線設(shè)備或在給定條件下獲得的數(shù)值相對(duì)于一個(gè)初始狀態(tài)的變化是否符合控制標(biāo)準(zhǔn)而進(jìn)行的質(zhì)量控制檢測(cè)。檢測(cè)及評(píng)價(jià)標(biāo)準(zhǔn)醫(yī)用常規(guī)X射線診斷設(shè)備質(zhì)量控制檢測(cè)規(guī)范(WS76-2017)醫(yī)用數(shù)字

14、X射線攝影(DR)系統(tǒng)質(zhì)量控制檢測(cè)規(guī)范(WS521-2017)2017-10-01實(shí)施醫(yī)用常規(guī)X射線診斷設(shè)備質(zhì)量控制檢測(cè)規(guī)范替代WS76-2011WS76-2017的適用范圍本標(biāo)準(zhǔn)適用于醫(yī)用常規(guī)X射線診斷設(shè)備的質(zhì)量控制檢測(cè),包括傳統(tǒng)屏片X射線攝影設(shè)備、X射線透視設(shè)備。數(shù)字X射線攝影(DR)通用性能指標(biāo)部分、介入放射學(xué)設(shè)備、移動(dòng)式X射線攝影設(shè)備和便攜式X射線設(shè)備可參照使用。不適用生產(chǎn)過程的質(zhì)量控制檢測(cè)。常規(guī)X射線攝影設(shè)備的檢測(cè)項(xiàng)目與技術(shù)要求常規(guī)X射線攝影設(shè)備的檢測(cè)項(xiàng)目與技術(shù)要求(續(xù)表)WS521-2017 中對(duì)通用項(xiàng)目的要求DR系統(tǒng)的通用檢測(cè)項(xiàng)目具體檢測(cè)方法管電壓輸出量重復(fù)性有用線束半值層曝光時(shí)

15、間1、X射線管電壓指示的偏離檢測(cè)方法:驗(yàn)收檢測(cè)時(shí),在允許最大X射線管電流的50%或多一些,加載時(shí)間約為0.1s的條件下,至少應(yīng)進(jìn)行60kV、 80kV、 100kV 、 120kV或者電壓接近這些值的各檔測(cè)量(飛利浦為79或81kV)要求:5kV或者5%,以較大者控制2、輸出量重復(fù)性檢測(cè)方法:將探測(cè)器房子檢查床上照射野中心,以80kV,適當(dāng)?shù)墓茈娏鲿r(shí)間積(50mAs)照射5次,計(jì)算80kV時(shí)每管電流時(shí)間積的輸出量,建立基線值時(shí),以此5次的平均值作為基線值,并以一下公式計(jì)算輸出量的重復(fù)性。輸出量重復(fù)性: 10%3、有用線束半值層檢測(cè)方法:分別將不同厚度(0mm,1mm5mm)的鋁吸收片房子檢查床

16、上方50cm(或1/2SID)處,用同樣的條件進(jìn)行照射,依次測(cè)量并記錄空氣比釋動(dòng)能,并求得80kV的半值層要求:2.3mmAl4、曝光時(shí)間指示偏離(限驗(yàn)收檢測(cè))檢測(cè)方法:采用數(shù)字式曝光計(jì)時(shí)儀器測(cè)量,重點(diǎn)檢測(cè)臨床常用時(shí)間檔要求:t 0.1s,10%; t0.1s, 2ms或15%5、X射線攝影設(shè)備的幾何學(xué)特性包括:a.有用線束垂直度偏離(SID指示的偏離)b.光野與照射野四邊的偏離c.光野與照射野中心的偏離(DR檢測(cè)不做要求)幾何學(xué)特性檢測(cè)工具有用線束垂直度偏離(SID指示的偏離)SID:焦點(diǎn)到影像接收器之間的距離把SID檢測(cè)筒置于診視床上,使得光野中心、SID檢測(cè)筒中心以及暗盒中心于一垂直線上

17、鎖住全部地位鎖,暗盒托盤全部推進(jìn)去,光野四邊每邊距SID檢測(cè)筒4cm。選用適當(dāng)?shù)恼丈錀l件進(jìn)行照射后沖洗膠片。(曝光條件根據(jù)照射量適當(dāng)調(diào)整)示意圖光野與照射野四邊的偏離光野與照射野四邊的偏離要求:四邊 1cm,中心 1cmDR系統(tǒng)專用檢測(cè)項(xiàng)目暗噪聲探測(cè)器劑量指示(DDI)信號(hào)傳遞特性(STP)響應(yīng)均勻性測(cè)距誤差殘影偽影極限空間分辨力低對(duì)比度細(xì)節(jié)檢測(cè)AEC靈敏度AEC電離室之間一致性AEC管電壓變化一致性DR系統(tǒng)專用檢測(cè)項(xiàng)目與技術(shù)要求DR系統(tǒng)專用檢測(cè)項(xiàng)目與技術(shù)要求(續(xù)表)檢測(cè)前準(zhǔn)備照射量設(shè)置值(Gy)kVmAsmAs附加濾過照射量測(cè)量值1701mm銅5701mm銅10701mm銅20701mm銅3

18、0701mm銅暗噪聲1、如果有可能,取出濾線柵。2、關(guān)閉遮線器,再用一塊15 cm15cm,2mm厚鉛板完全覆蓋在遮線器出線口,設(shè)置最低管電流或最低管電流時(shí)間積和最低管電壓進(jìn)行曝光并獲取一幅空白影像。3 、在預(yù)處理影像中央選取面積約12 cm12cm感興趣區(qū)(ROI),讀取平均像素值,或者記錄DDI值。4、評(píng)價(jià):適當(dāng)調(diào)整窗寬和窗位,目視檢查影像均勻,不應(yīng)看到偽影。所獲得像素值或DDI值在生產(chǎn)廠規(guī)定值范圍內(nèi)。如果生產(chǎn)廠家沒有提供規(guī)定值,則以測(cè)量的像素值或記錄的DDI建立基線值。探測(cè)器劑量指示(DDI)1、如果有可能,取出濾線柵。2、設(shè)置焦點(diǎn)影像接受器距離(SID)為180cm,如達(dá)不到則調(diào)節(jié)SI

19、D為最大值。調(diào)整照射野完全覆蓋探測(cè)器,用1.0mm銅濾過板擋住遮線器出線口,設(shè)置70kV,對(duì)探測(cè)器入射空氣比釋動(dòng)能選取約為10Gy進(jìn)行曝光,記錄DDI的數(shù)值。在上述相同的條件下重復(fù)曝光三次,記錄DDI數(shù)值,計(jì)算平均值。如果DR系統(tǒng)沒有DDI的形式,對(duì)獲取每一幅影像中央選取ROI為12 cm12cm的面積上像素值,并計(jì)算三幅影像平均像素值。 探測(cè)器劑量指示(DDI)3、根據(jù)生產(chǎn)廠提供DDI公式進(jìn)行驗(yàn)證,記錄的DDI平均值應(yīng)與公式提供在10Gy入射空氣比釋動(dòng)能計(jì)算出DDI值20%內(nèi)一致。4、驗(yàn)收檢測(cè)中獲得DDI平均值作為基線值,與在狀態(tài)和穩(wěn)定檢測(cè)得到DDI平均值進(jìn)行相互比較在20%內(nèi)一致。5、如果

20、生產(chǎn)廠未能提供DDI值與入射空氣比釋動(dòng)能計(jì)算公式,則對(duì)在第二條中使用曝光條件下獲得影像中ROI區(qū)所計(jì)算平均像素值建立基線值,作為狀態(tài)和穩(wěn)定檢測(cè)結(jié)果相互比較在20%內(nèi)一致。信號(hào)傳遞特性(STP)1、如果有可能,取出濾線柵。設(shè)置SID為180cm,如達(dá)不到則調(diào)節(jié)SID為最大值。2、調(diào)整照射野完全覆蓋探測(cè)器,用1.0mm銅濾過板蓋住遮線器出線口,設(shè)置70kV,分別選取探測(cè)器入射空氣比釋動(dòng)能1Gy、5Gy、10Gy 、20Gy和30Gy進(jìn)行曝光獲取每一幅影像。3、在每一幅原始影像中央選取ROI為12 cm12cm,獲取每幅影像ROI的平均像素值。信號(hào)傳遞特性(STP)4、對(duì)于線性響應(yīng)的DR系統(tǒng),以平均

21、像素值為縱坐標(biāo),影像探測(cè)器表面入射空氣比釋動(dòng)能為橫坐標(biāo)作圖擬合直線(如P = aK + b),計(jì)算線性相關(guān)系數(shù)的平方(R2)。對(duì)于非線性響應(yīng)的DR系統(tǒng)(比如對(duì)數(shù)相關(guān)),應(yīng)參考廠家提供的信息進(jìn)行直線擬合(如P = aln(K) + b),計(jì)算線性相關(guān)系數(shù)的平方R2。5、評(píng)價(jià):驗(yàn)收檢測(cè)要求R20.98; 狀態(tài)檢測(cè)要求R20.95。 響應(yīng)均勻性1、從DDI第二條檢測(cè)中,選取任一幅預(yù)處理影像,使用分析軟件在影像中選五個(gè)面積約4cm4cmROI,分別獲取像素值,要求ROI分別從影像中央?yún)^(qū)和四個(gè)象限中央?yún)^(qū),記錄每個(gè)選點(diǎn)實(shí)測(cè)像素值Vi 。2、按公式計(jì)算:式中:CV變異系數(shù),%; 5個(gè)ROI的平均像素值。Vi

22、 第i次測(cè)量ROI的像素值。3、評(píng)價(jià): CV5.0%測(cè)距誤差1、選用二個(gè)固定長(zhǎng)度的薄金屬板(如10cm長(zhǎng),2cm寬, 厚1mm的銅板),相互交叉垂直放置在探測(cè)器表面中央,調(diào)節(jié)SID為最大值,設(shè)置50kV,10mAs曝光,獲取一幅軟拷貝影像。2、使用測(cè)距軟件工具對(duì)水平和垂直兩個(gè)方向上的鉛尺刻度不低于10cm的影像測(cè)量距離(Dm),和真實(shí)長(zhǎng)度(Do)進(jìn)行比較。如果金屬板不能直接放在探測(cè)器表面,則把鉛尺放置在攝影床面板中央,獲得影像應(yīng)做距離校正。3、評(píng)價(jià):按E=(Dm-Do)/Do100%公式計(jì)算它們的偏差,垂直和水平方向上均應(yīng)在2%以內(nèi)符合。殘影1、如果有可能,取出濾線柵。設(shè)置SID為180cm,

23、如達(dá)不到則調(diào)節(jié)SID為最大值。2、關(guān)閉遮線器,再用一塊面積15cm15cm,厚2mm的鉛板完全擋住遮線器出線口,設(shè)置最低管電流和最低管電壓進(jìn)行第一次曝光,獲取一幅空白影像。3、打開遮線器取走鉛板,在探測(cè)器表面中央部位放置一塊面積4cm4cm, 4mm厚的鉛板。在70kV和探測(cè)器入射面約5Gy空氣比釋動(dòng)能進(jìn)行第二次曝光。殘影4、按第二條重復(fù)進(jìn)行第三次曝光,再獲得一幅空白影像,這次曝光應(yīng)在第二次曝光后1.5min內(nèi)完成。5、調(diào)整窗寬和床位,在工作站監(jiān)視器上目視觀察第三次曝光后的空白影像中不應(yīng)存在第二次曝光影像中殘影(一部分或者全部)。若發(fā)現(xiàn)殘影,則利用分析軟件在殘影區(qū)和非殘影區(qū)各取相同的ROI面積

24、獲取平均像素值,殘影區(qū)中平均像素值相對(duì)非殘影區(qū)中平均像素值的誤差5.0%。偽影1、設(shè)置SID為180cm,如達(dá)不到則調(diào)節(jié)SID為最大值。2、將屏/片X射線攝影密著檢測(cè)板(細(xì)金屬絲網(wǎng)格板)放在探測(cè)器上面,在60kV和約10mAs進(jìn)行曝光,獲取一幅軟拷貝影像。3、評(píng)價(jià):在工作站監(jiān)視器上獲得影像,適當(dāng)調(diào)整窗寬和窗位,通過目視檢查不應(yīng)存在偽影。4、如果發(fā)現(xiàn)偽影,檢查偽影隨影像移動(dòng)或擺動(dòng)情況,若偽影隨影像移動(dòng)或擺動(dòng)表示來自探測(cè)器,不移動(dòng)仍停留在原位置表示來自監(jiān)視器。應(yīng)記錄所觀察到的偽影情況。 極限空間分辨力1、如果有可能,取出濾線柵。設(shè)置SID為180cm,如達(dá)不到則調(diào)節(jié)SID為最大值。2、取三塊分辨力

25、測(cè)試卡(最大線對(duì)數(shù)不低于5Lp/mm)分別放置在探測(cè)器面上呈水平和垂直方向。3、按生產(chǎn)廠給出條件進(jìn)行曝光。如生產(chǎn)廠未給出條件,選用適當(dāng)曝光條件(如60kV,3mAs)進(jìn)行曝光。4、調(diào)節(jié)窗寬和窗位,使分辨力最優(yōu)化。從監(jiān)視器上觀察可分辨出的線對(duì)組數(shù)目。極限空間分辨力5、評(píng)價(jià):在垂直和水平方向上分別與生產(chǎn)廠家保證的極限空間分辨力的規(guī)定值比較,應(yīng)90%。如果得不到規(guī)定值應(yīng)與fNyquist進(jìn)行比較,80%。驗(yàn)收檢測(cè)的結(jié)果作為基線值,狀態(tài)檢測(cè)與基線值進(jìn)行比較( 90%基線值)。低對(duì)比度細(xì)節(jié)檢測(cè)1、在WS521-2017的附錄B中選擇任一種低對(duì)比度細(xì)節(jié)檢測(cè)模體,放置在探測(cè)器上面,根據(jù)模體說明書要求,選擇適

26、當(dāng)?shù)墓茈妷?、濾過和SID,照射野完全覆蓋住探測(cè)器,通常對(duì)探測(cè)器入射空氣比釋功能選擇三個(gè)劑量水平,在一個(gè)以上量級(jí)范圍(如1Gy、5Gy和10Gy)進(jìn)行三次曝光獲取影像。2、根據(jù)在臨床上對(duì)影像最常使用二種評(píng)價(jià)方式獲取影像:應(yīng)調(diào)節(jié)窗寬和窗位使每一細(xì)節(jié)尺寸為最優(yōu)化;用硬拷貝觀察影像細(xì)節(jié),并進(jìn)行記錄。低對(duì)比度細(xì)節(jié)檢測(cè)3、評(píng)價(jià):驗(yàn)收檢測(cè)按檢測(cè)模體說明書要求判斷或者建立基線值。狀態(tài)檢測(cè)與基線值進(jìn)行比較,不得超過基線值的兩個(gè)細(xì)節(jié)變化。AEC靈敏度選擇一個(gè)特定器官曝光程序(如胸部),設(shè)置電壓為70kV,用1mm銅濾過板放置在遮線器出線口,照射野應(yīng)覆蓋影像探測(cè)器,在AEC下曝光,記錄mA、s、mAs(按AEC方式

27、不同而定),或者記錄DDI值。在驗(yàn)收檢測(cè)中建立基線值(mA、s、mAs或DDI值),狀態(tài)檢測(cè)應(yīng)與基線值在25%內(nèi)一致。AEC電離室之間一致性選70kV,用1mm銅濾過板放置在遮線器出線口,關(guān)閉其他電離室,選擇一個(gè)電離室,在AEC下曝光。曝光后記錄機(jī)器顯示mA、s、mAs或DDI值(按AEC方式不同而定)。然后分別選擇其他任一個(gè)電離室按上述相同條件進(jìn)行曝光,記錄機(jī)器顯示mA、s、mAs或DDI值。 將測(cè)量值(如mA、s、mAs或DDI)進(jìn)行相互比較,計(jì)算平均值最大偏差。驗(yàn)收檢測(cè)時(shí)平均值最大偏差在10.0%內(nèi)一致,狀態(tài)檢測(cè)時(shí)最大偏差在15.0%內(nèi)一致。AEC管電壓變化一致性照射野應(yīng)覆蓋住影像探測(cè)器,用1mm銅濾過板放置在遮線器出線口,如果可能,在無濾線柵和無床面衰減條件下,分別設(shè)置電壓為80kV、 80kV、90kV和80kV 在AEC下曝光,分別測(cè)量4個(gè)電壓檔的影像探測(cè)器表面入射空氣比釋動(dòng)能,記錄計(jì)量值或DDI值,并計(jì)算總平均值。驗(yàn)收檢測(cè)時(shí)影像探測(cè)器在4個(gè)電壓檔建立劑量總平均值或DDI總平均值作為基線值,狀態(tài)檢測(cè)時(shí)劑量總平均值或DDI總平均值與基線值的最大偏差在25.0%內(nèi)謝謝!1、人生一世,總有些片斷當(dāng)時(shí)看著無關(guān)緊要,而事實(shí)上卻牽動(dòng)了大局。2、相遇總是猝不及防,而離別多是蓄謀已久,總有一些人會(huì)

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