智能卡測試系統(tǒng)技術(shù)指標(biāo)

智能卡測試系統(tǒng)技術(shù)指標(biāo)智能卡測試系統(tǒng)包含非接觸式智能卡測試模塊、接觸式智能卡測試模塊和接觸式智能卡協(xié)議分析模塊。非接觸式智能卡測試模塊技術(shù)指標(biāo)要求自動化測試平臺提供基于可二次開發(fā)的測試環(huán)境， 提供測試過程底層數(shù)據(jù)和命令的自動解析和圖形化顯示功能， 基于ISO14443協(xié)議的測試環(huán)境，操作系統(tǒng)為 WindowsXPsp3,Vistal,Win7.測試環(huán)境支持USB、TCP/IP、RS232三種通信接口，操作系統(tǒng)為Windows，以達(dá)到良好的驅(qū)動兼容性測試平臺的開放性決定它可集成到客戶自己的測試平臺可以與其他接觸式卡及讀卡器測試套件同步運用主要功能要求模擬非接觸式卡片測試儀，支持 ISO14443的TypeA,TypeB,T=CL協(xié)議以及防碰撞，支持?jǐn)?shù)據(jù)速率為 106,212,424,828kbps支持Innovatron協(xié)議支持ISO/IEC15693 協(xié)議，可選數(shù)據(jù)速率有高速和低速，米用的編碼模式為1-4和1-256字節(jié).支持Mifare協(xié)議，支持的類型有classic，light，Ultralight，UltralightC支持FeliCa協(xié)議，支持的數(shù)據(jù)速率為 212-424kbps支持NFC測試，遵守NFCForum 規(guī)范，支持的測試傳輸模式為： tag模式(tag1-tag4)，讀寫模式，對等模式。支持的數(shù)據(jù)傳輸速率為106,212,和424kbps底層數(shù)據(jù)撲捉和解析即使沒有任何協(xié)議封裝的數(shù)據(jù)也可以展示其底層交換幀可編程參物理參數(shù)磁場強(qiáng)度可調(diào)調(diào)幅指數(shù)，從0%-100%

場強(qiáng)上升時間，0-5ms載波頻率，12.56MHz-14.56MHz調(diào)制的上升或下降時間，0-10us邏輯參數(shù)TypeA的暫停時間范圍， 0-4.4ms幀等待時間 ETU可調(diào)TypeB的幀時鐘周期可調(diào)傳輸速度為106,212,424,848kbps電氣測試可進(jìn)行共振頻率的測試其范圍為 11-24MHZ可進(jìn)行芯片阻抗測試，在 13.56MHz的條件下實際測量可進(jìn)行磁場測量其范圍為 0-8A/m可進(jìn)行EMD測試邏輯測試自動測試其分為以下幾部分：發(fā)送TypeA的指令，等待處理判斷，發(fā)送 TypeB的指令并接收應(yīng)答可進(jìn)行的測試（對于TypeB卡）可進(jìn)行的測試發(fā)送TypeB的指令，等待處理判斷，發(fā)送 TypeA的指令等待應(yīng)答 （對于TypeA卡）轉(zhuǎn)換磁場，等待判斷，發(fā)送（ A或B的指令），接收應(yīng)答發(fā)送請求，等待，發(fā)送請求，接收應(yīng)答防撕裂PICC重置表征監(jiān)測最小的 FDT邏輯測試通過API控制測試響應(yīng)時間的測量（ FDT,TR0，TR1）發(fā)送的標(biāo)準(zhǔn)幀發(fā)送畸形的塊（錯誤的比特數(shù)）距離的模擬檢測

分離RX通道允許通信使用射頻放大器傳統(tǒng)調(diào)制比率可測觸發(fā)器測試儀提供多種觸發(fā)器，同步的或由外部實驗設(shè)備進(jìn)行同步軟件開發(fā)可用元素，MPSDK.Net庫，通信Dll支持的開發(fā)語言： C,C++,VB,.NET 等任何支持Dll的開發(fā)語言。接觸式智能卡測試模塊技術(shù)指標(biāo)要求自動化測試平臺提供基于可二次開發(fā)的測試環(huán)境， 提供測試過程底層數(shù)據(jù)和命令的自動解析和圖形化顯示功能，基于 ISO7816協(xié)議的測試環(huán)境，操作系統(tǒng)為 WindowsXPsp3,Vistal,Win7.測試環(huán)境支持USB、TCP/IP、RS232三種接口，操作系統(tǒng)為Windows，以達(dá)到良好的通訊兼容性可二次開發(fā)的測試平臺，可集成到客戶自己的測試平臺可以與其他非接觸式卡及讀卡器測試設(shè)備同步運用支持協(xié)議ISO7816-3，T=0和T=1協(xié)議MicroSmart技術(shù)實現(xiàn)硬件加速傳輸和接收的子符支持USB2.0,ISO/IEC7816-12 大批量存儲以及自定義的協(xié)議主要功能要求支持SWP協(xié)議，滿足規(guī)范ETSITS102613和TS102622，支持SWP，HCI層同步芯片存儲晶體可用的庫包括T2G,Eurochip,SLE4442,SLE4407,AT24CXX可實現(xiàn)自定義協(xié)議的開發(fā)可實現(xiàn)硬件加速

支持底層數(shù)據(jù)撲捉和解析即使沒有任何協(xié)議封裝的數(shù)據(jù)也可以展示其底層交換幀物理參數(shù)：電壓VCC支持范圍：0-10VVol支持范圍：0-5V，其在每一個觸點上的值都可獨立調(diào)整Voh支持范圍：1-7V，其在每一個觸點上的值都可獨立調(diào)整Vil支持范圍0.2-5VVih支持范圍1-6.8V頻率ISO7816時鐘頻率的范圍： 10KHz-20MHzISO7816時鐘占空比為30%-70%信號的上升和下降時間可編程參數(shù)觸點VCC范圍為可編程參數(shù)觸點c2，c3，c4，c6，c7，c8范圍為10ns-5um所有的pin腳都是相互獨立的可以單獨處理ISO7816的傳輸參數(shù)ETU寬度范圍：1-4096個時鐘周期BGT,初始ETU寬度，時鐘周期可調(diào)BWT,CWT,EGT,RGT,WWT，ETUs可調(diào)時鐘停在高低電平可調(diào)時鐘停止tG和tH計時，時鐘周期可調(diào)奇偶控制可強(qiáng)行控制在 0,1…等奇數(shù)輸入奇偶錯誤檢查可以被禁止

5千歐或者20千歐的固定上拉電阻可以模擬1千歐到100千歐之間的任何值SWP傳輸參數(shù)波特率為49kbps到1.9MbpsSWP的占空比為0%-50%SWPS2的檢測閾值為 1USB-IC傳輸參數(shù)USB-IC特有的附件程序由測試者管理提供的供電電壓為 1.8V和3.0V可進(jìn)行的測試電氣測試開路/短接測試有效觸點為C1，C2，C3，C4，C5，C6，C7，C8強(qiáng)制電流為： -500uA-500uA漏電測試有效觸點為C1，C2，C3，C4，C6，C7，C8測量范圍+/-5mA或者+/-500UA電壓測量有效觸點為C1， C2,C3，C4，C6，C7，C8電壓范圍為+/-10V可用模式：動態(tài)模式，提供一模擬視角的電壓在你選擇電壓時供你選擇靜態(tài)模式，提供一個即時電壓值爆炸模式，512000電壓測量在40ns之間在C1和C6間進(jìn)行，使信號圖像化模擬出來電流測量有效觸點：C1，C2， C3,C4，C6，C7，C8有效電流范圍： +/-100mA,+/-25mA,+/-5mA,+/-500mA電流模式：動態(tài)模式，提供一模擬視角的電流在你選擇電流時供你選擇靜態(tài)模式，提供一個即時電流在所選觸點上爆炸模式，512000電流測量在40ns之間在C1和C6間進(jìn)行，使信號圖像化模擬出來邏輯測試抗撕裂測試，模擬芯片免疫系統(tǒng)抵抗撕毀讀卡器定時測量，測量芯片一個命令的響應(yīng)并發(fā)I/O測試，同時發(fā)送的字符ISO/IEC7816和SWP,與一個用戶定義的時間偏移量SWP框架測試，發(fā)送的幀由點/位組成，使發(fā)送的數(shù)據(jù)沒有位填充，或CRC錯誤接觸式智能卡協(xié)議分析模塊技術(shù)指標(biāo)要求自動化測試平臺提供基于可二次開發(fā)的測試環(huán)境， 提供測試過程交互數(shù)據(jù)和命令的自動解析和圖形化顯示功能， 基于ISO7816協(xié)議的測試環(huán)境，操作系統(tǒng)為 WindowsXPsp3,Vistal,Win7.測試環(huán)境支持USB、TCP/IP、RS232三種接口，操作系統(tǒng)為Windows，以達(dá)到良好的驅(qū)動兼容性可作為第三方監(jiān)測接觸式讀卡器和卡之間的 ISO7816協(xié)議的數(shù)據(jù)并解析測試平臺的開放性決定它可集成到客戶自己的測試平臺可以與其他卡及讀卡器測試套件同步運用主要功能支持協(xié)議ISO7816-3，T=0和T=1協(xié)議，支持波特率范圍為

要求49kbps-1.9Mbps可實現(xiàn)塊級和 LCC級的解析支持USB2.0,ISO/IEC7816-12大批量存儲以及自定義的協(xié)議同步芯片存儲晶體可用的庫包括T2G,Eurochip,SLE4442,SLE4407,AT24CXX可實現(xiàn)自定義協(xié)議的開發(fā)可實現(xiàn)硬件加速可編程參數(shù)ISO7816-3的協(xié)議分析模式：米用I/O方向的檢測算法可進(jìn)行的測試電氣測試進(jìn)行測試的有效觸點為 C1，C6，C7，樣本數(shù)512000可能同時執(zhí)行電壓和電流的測量來表征卡和終端的特性解析特性測試類型的展示：邏輯狀態(tài)的改變解析特點分析調(diào)制的波特率時鐘頻率的檢測信號的模擬表示I/O方向信號顯示：信號在C1，C2，C3，C4，C6，C7，C8上的顯示觸發(fā)輸入觸發(fā)輸出