材料分析測(cè)試技術(shù)試卷答案

《材料分析測(cè)試技術(shù)》試卷（答案一 （20X射線管主要 陽 陰 、 窗 構(gòu)成X射線透過物質(zhì)時(shí)產(chǎn)生的物理效應(yīng)有：散射、光電效應(yīng)、透射X射線、 德拜照相法中的底片安裝方法有：正 反裝和偏 三種X射線物相分析方法分：定性 氏體的直接比較法就屬于其中的定量 透射電子顯微鏡的分辨率主要受衍射效 像差兩因素影響今天復(fù)型技術(shù)主要應(yīng)用 萃取復(fù) 來揭取第二相微小顆粒進(jìn)行分析電子探針包 波譜 和能譜儀成分分析儀器掃描電子顯微鏡常用的信號(hào) 二次電 背散射電子二 （8X射線衍射方法中最常用的方法是（ a．法；b．粉末多晶法；c．周轉(zhuǎn)晶體法已知X光管是銅靶，應(yīng)選擇的濾波片材料是（ Co；b.Ni；c.FeX射線物相定性分析方法中有三種索引，如果已知物質(zhì)名時(shí)可以采用（ca．哈氏無機(jī)數(shù)值索引；b.芬克無機(jī)數(shù)值索引；c.無機(jī)字母索引。能提高透射電鏡成像襯度的可動(dòng)光闌是 第二聚光鏡光闌；b.物鏡光闌；c.透射電子顯微鏡中可以消除的像差是（ 球差；b.像散；c.可以幫助我們估計(jì)樣品厚度的復(fù)雜衍射花樣是（ 高階斑點(diǎn)；b.超結(jié)構(gòu)斑點(diǎn)；c.二次衍射斑點(diǎn)與固體樣品相互作用產(chǎn)生的物理信號(hào)中可用于分析1nm厚表層成分的 背散射電子；b.俄歇電子；c.X中心暗場(chǎng)像的成像操作方法是（ 三 （24X個(gè)最佳厚度（t=g1×g2就等于位錯(cuò)布氏矢量b四 證明題：20證明衍射分析中的厄球圖解與布拉格方程等價(jià)以入射X射線的波長(zhǎng)λ的倒數(shù)為半徑作一球（厄球，將試樣放OO*O*為倒易原點(diǎn)，若任一倒易點(diǎn)G落在厄球面上則G對(duì)應(yīng)的晶面滿足衍射條件產(chǎn)生衍射=1/λ=作圖并證明：Rd=LλA點(diǎn)。O*Gg，O，A=R，OO，=L?！咄干潆娮语@微鏡的孔徑半角很?。?-g//R有⊿OO*G≌⊿OO，AOO*/L=g/ROO*=1/λ，g1/d代入上式五 （28為使Cukα線的強(qiáng)度衰減1/2，需要多厚的Ni濾波片？（Ni的μm=49.2/cm2g-1,ρ=8.9/gcm-3（10分）解：根據(jù)強(qiáng)度衰減I=I0e-μmρX1/2=e-49.2*8.9XX=ln2/49.2*8.9=Lλ=17.00mm?（10）有 R62/R12=5.92。N數(shù)列為：1：2：3：4：5：6N數(shù)列為：2：4根據(jù)電子衍射基本Rd=L