PCB維修技巧使用短路QTECH追蹤儀

內(nèi)容一.維修實例二.PCB檢修的一般步驟及不同測試的分析處理方法三.使用短路追蹤儀查找電路板的四.總線爭用問題五.輸出負載接電容六.功能學習/比較錯誤該芯片與一個電阻排和置位元開關(guān)聯(lián)短路故障是由于置位元開關(guān)對地接修技巧七.計數(shù)器件產(chǎn)生的時序錯誤八.觸發(fā)器產(chǎn)生的時序錯誤之一九.觸發(fā)器產(chǎn)生的時序錯誤之二十.器件沒有完全測試修實例4、在沒有好板做參考比較的情況在電路設計時只使用了其中的一部分管腳出現(xiàn)懸空狀態(tài)(FLT)般顯示為高阻狀態(tài)(阻值大于1兆歐姆)。器件離線測試時，如果不接TTL空狀態(tài)(FLT)。本示例的實際故障原因是該單穩(wěn)諧振器由于功能損壞而不能使電容正常放電。意：任何節(jié)點的對地阻抗都不能小于5-10歐姆(除非該節(jié)點真正短路到地沖驅(qū)動器在邏輯低狀態(tài)下的阻抗大約當通過測試儀的供電夾具和被測時會發(fā)現(xiàn)被測芯片電源腳的實測電壓芯片管腳的氧化使得測試儀的供電夾在線測試中如果在管腳狀態(tài)視窗中某輸入腳顯示“FLT”，表示該腳為通過與其它輸入腳的狀態(tài)做比不可能為高阻狀態(tài)，因為如果高阻的ICFT，其第7腳顯示“FLT”，另一個相同的輸入腳(第15腳)顯示的是正常的邏輯電平(對地阻阻狀態(tài))，并且沒有翻轉(zhuǎn)動作，該阻值小于正常的緩沖驅(qū)動器輸出腳在邏輯1千歐姆)。這種只在被測板加電狀態(tài)下才出邏輯低時應能夠吸收電流，在邏輯高時，它輸出電流到扇出器件的輸入腳。如果被測器件在通電狀態(tài)下內(nèi)部表分別測量被測器件輸出腳對地的電阻和所接扇出器件輸入腳對地的電測板的供電地端，另一只探筆先接到阻是90毫歐姆，然后再接到另一個下面的問題是確定真正短路點是之上的部位，讀出該腳對地的阻值(大約10毫歐姆)，然后再把探阻值(大約6毫歐姆)。該結(jié)果表明真36在線功能測試系統(tǒng)的主要制約因素就是其反向驅(qū)動器的吸收/施放電流能力過強，從而遮蓋了被測芯片輸入腳出現(xiàn)的故障現(xiàn)象。例如，大多數(shù)芯片的輸入腳阻抗都很高(大于1兆歐姆)，如果輸入腳內(nèi)部功能損壞，則該腳阻抗可能降低到大約QT200能夠驅(qū)動8歐姆以上的節(jié)點(小于8歐姆視為短路)，這是本系統(tǒng)的主要問(一)PCB檢修一般步驟下下一個器件測試通過在在線功能測試1檢查芯片編號、測試夾測試失敗2檢查管腳阻抗4調(diào)整測試時基和門限值后重新測試檢查芯片型號類檢查芯片型號類別器件沒有完全測試狀態(tài)試(二)出現(xiàn)不同測試結(jié)果的處理方法1)查看測試夾具是否接錯了芯時鐘,非法連接)狀態(tài)視窗查看是否有開路管腳(顯示HIZ)，是否測出電源管腳。糾正這些題后重新測試。誤的管腳阻抗與另外相同功能的管腳電時測量的對地阻抗)。3)如果比較的阻抗大致相等，則調(diào)低測試時基或門限值，然后再測一果調(diào)整時基或門限值后的測試能夠通有損壞，此時即可轉(zhuǎn)到測試下一個芯如果調(diào)整時基或門限值后測試仍未通4)如果從夾具狀態(tài)中看出測試失敗的原因是由于輸出腳不能達到正常的邏輯電平，則調(diào)低測試門限值后再5)比較測出的各輸出腳對地阻抗，如果不加電測量的阻抗大致相等，而加電時測量出現(xiàn)測試錯誤的輸出腳某個輸出腳的阻抗明顯低于其它輸出扁口鉗鉗斷被測芯片上出現(xiàn)測試錯誤2出現(xiàn)“器件沒有完全測試”結(jié)果時1)當被測芯片的輸出腳在測試過程中不發(fā)生翻轉(zhuǎn)(即在測試窗口中保持上的波形視窗并不標注任何測試錯2)如果使用者有被測板的電路原3)如果用戶已學習過好板，那么所學芯片的正常連接狀態(tài)也將記錄下壞板出現(xiàn)非法連接；如果比較結(jié)果相同，則可不考慮“器件沒有完全測試”電路上設計為“線或”狀態(tài)，那么該芯片的輸出可能會受到與其存在線或片的輸入邏輯使其輸出固定為低電過比較測試芯片上所有相同功能管腳三、使用短路追蹤儀查找電路板的短路故障如果近似為零，可以使用毫歐表，通過如果近似為零，可以使用毫歐表，通過邏輯狀態(tài)正好是低電平，其阻抗不會很邏輯狀態(tài)正好是低電平，其阻抗不會很第4腳沒有翻轉(zhuǎn)，測試失敗，使用者應將管腳狀態(tài)視窗切換到阻抗顯示模式，右面兩個圖片說明了“兩點定位法”的操作步驟：首先把毫歐表的測量探針放在被測一個阻值；然后再把探針放在被測腳焊點之外3-4毫米處的連接被測腳的附銅線上(如下圖)，再讀出一個阻值。如果前一個阻值小于后一個阻值，則說明短路點在被測芯片的內(nèi)部驅(qū)動電路上。此時無疑應更換該芯片。如果前一個阻值大于后一個阻值，則說明短路點不在被測芯片的內(nèi)部，而是在芯片外部與其相連的其它芯片上，或者是兩者之間的使用毫歐表所測短路阻值的大小視短路程度而定，但是只要使用“兩點定位法”測出的前后兩個阻值的大小不同，就能夠確定真正短路點的部位。第三種情況：路(輸入腳內(nèi)部三極管擊穿)，但是對不能翻轉(zhuǎn)而使測試失敗。切換夾具視窗輸出腳的阻抗，發(fā)現(xiàn)第4腳阻抗明顯低于其它腳的阻抗(近似為零)。此時使用者并不能確定真正故障原因就是U1，步測量。首先采用“兩點定位法”確定可通過被測板的電路圖或使用Qtech的的所有芯片。然后用短路追蹤儀分別測量這些芯片上與U1第4腳相連管腳的對不過，如果此時為了更加有把握而對腳內(nèi)部對地短路，但仍有一定阻值，只要該阻值大于測試儀的最小可驅(qū)動阻話，那么對該芯片的功能測試就能通輸入腳短路到地，其功能測試仍然能夠通過。對于這種情況，使用者只能通過與學習好板的結(jié)果相比較的辦法來確定故障點了。然而對本例來說，只要測出損壞。因為電路設計者不可能將芯片的輸出腳短路到地。此時測試U1將會測試失敗(因為歐姆左右。為了找出不完全短路的確切部位，普通的毫歐表已無能為力了，因設計了調(diào)節(jié)測量零位的功能，能夠屏蔽四、總線爭用問題對總線器件(如74245)進行在線功能測試時，由于其雙向輸入/輸出腳可能受到通過總線與其相連的其它器件的影響而使測試失敗?？偩€器件在被測板加電后可能會處于使能狀態(tài)，使其輸出/輸入腳不在三態(tài)高阻狀11,16和17腳使用者必須能夠分辨清楚測試失敗是由于總線爭用引起，還是因器件功能損壞所致。本例中，測試失敗的原因是總線爭用。為了對器件進行完整測試，使用者必須隔離有關(guān)總線器件，使其輸出腳處于高阻狀態(tài)，對被測器件不產(chǎn)生影響。下圖中芯片的第3腳在作為輸出腳時受到相連芯片的下拉作用而不能產(chǎn)生翻放放大后的波形題。 (一)如何判斷哪個芯片引起總線爭用而必須設置隔離呢？a,使能端接其它芯片的輸出端;b,兩個或兩個以上的總線芯片的使二類總線芯片，則只設置一個隔離通片的好壞)，如果是，則不考慮對第三采取措施對第三類總線芯片進行隔離設置的總線芯片就是產(chǎn)生總線爭用的芯片。重新接上該芯片的隔離通道，繼續(xù)按上述方法檢驗其它未確定的總時將給予很大幫助)。 (二)如何利用系統(tǒng)的數(shù)位示波器功能判斷總線器件的好壞？在測試總線器件時，如果不能通過隔離方式判斷器件的好壞，可利用本系統(tǒng)的最新功能---數(shù)位示波器(DSO)方式進行測試，基本操作方法如下：1)將被測板上焊下的晶體重新焊好，使板上有正常的時鐘運行。2)連接測試探針到合適的通道上(注意：不同版本的系統(tǒng)軟件所選的探針通道4)接通被測板供電電源5)依次將探針接到被測總線器件的不同管腳上，從熒幕上可看到被測管腳的實抗，這樣可避免對晶振電路的影響。檢測管腳是否處于懸空狀態(tài)，可選擇示波器阻抗為10K。如果管腳確實懸判斷管腳的真正狀態(tài)。用戶應掌握的關(guān)鍵一點是，如果管腳在電路在被使用，則應能翻轉(zhuǎn)；如果未被VT五、輸出端接電容負載某些電路在設計上如果對工作速度的要求不高，就在驅(qū)動芯片的輸出端接上電的毛刺干擾。對這種電路中的芯片進行在線功能測試時，右圖中的第2,5,6,9,12等管腳出現(xiàn)測試錯誤，這些腳的輸出象是被固定到邏輯高電位上。第6腳波形(存在階梯形)好象是放電后才到了邏輯低電位；管腳狀態(tài)出現(xiàn)這種測試結(jié)果，是由于被測芯片的輸出端接了不同容量的電容器。第2腳為了驗證芯片測試失敗的原因是測電容在輸出發(fā)生狀態(tài)變化時能夠有較儀能夠自動識別出測試結(jié)果中的速度問題，適時提示使用者調(diào)整測試時基，以較慢的速度重新測試。在線功能測試中，如果由于某個管腳固定為高電平而使測試失敗，可從以間回應電容的充放電過程。但是測試結(jié)果報告該腳輸出有電平錯誤，對此可進一步六、功能學習和比較錯誤放放大波形則表示該腳處于開路狀態(tài)，這時使用者應檢查該腳焊點及對外的連接線是否正常。在夾具狀態(tài)視窗中靠外邊的陰影是當前測試的結(jié)果。圖中顯示出第1,4腳比較結(jié)果不對于總線器件，這種情況時常發(fā)線器件的使能端常常受到未知且不固定的邏輯電平的觸發(fā)而使其輸出狀態(tài)也經(jīng)常發(fā)生隨機性的改變。出現(xiàn)這種情況時，使用者應對該器件重新測試幾次，檢查其管腳狀態(tài)是否還有如果懸空腳在不斷變化，這一般也不是問題。如果器件測試通過而有些管腳始相等，那么可以確定該器件沒有問題。大，則表示在器件的I/0端存在問題。七、計數(shù)器產(chǎn)生的時序問題在檢測計數(shù)器類器件(如7492)中也時常遇到與時序有關(guān)的問題，這是多數(shù)在a,異步設計;b,由于反向驅(qū)動電流而產(chǎn)生的噪聲干擾;c,被測板上有自身的脈沖信號觸發(fā)了被測器件。在此用戶應明白：如果輸出腳內(nèi)部功能損壞，就不會有回應波形輸出。因此通。結(jié)果并不穩(wěn)定，再次測試有時又出現(xiàn)測試失敗的結(jié)果。這是由該芯片的功能特性所于其抗干擾能力的差異而造成的。八、觸發(fā)器產(chǎn)生的時序問題(示例一)右圖示例中，測試失敗的真正原因是由于芯片輸出腳接了電容負載。電容的充放電作用使得輸出波形出現(xiàn)異常。這種問題放電作用使得輸出波形出現(xiàn)異常。這種問題可以通過降低測試速度(測試時基)腳輸出波形的下降沿出現(xiàn)測試錯誤。5腳接了電容器件。變化的速度，所以造成測試失敗。從右面放大的波形圖中可清楚地看出這種時序上的問題。黃色波形是期望波形，淺蘭色是實測波形，當實測波形與期望波形不一致時，系統(tǒng)將報告測試失敗。九、觸發(fā)器產(chǎn)生的時序問題(示例二)示例中出現(xiàn)觸發(fā)器測試失敗的原因是噪顯示第9腳(時鐘腳)噪聲毛刺信號在下一個時鐘上升沿之前即觸發(fā)了第4觸發(fā)波形是芯片在當前電路結(jié)構(gòu)狀態(tài)下的期消除噪聲信號對測試芯片的影響。類器件