光學實驗課程教學大綱

#【實驗內(nèi)容】1、組裝調(diào)節(jié)簡單形式的邁克爾遜干涉儀；2、干涉法測量空氣折射率。實驗三十：菲涅爾雙棱鏡【實驗目的】：1、觀察雙棱鏡的干涉現(xiàn)象；2、測定光波長；3、掌握測微目鏡的使用方法?！緝x器用具】 ： 鈉光燈、測微單縫、雙棱鏡、薄透鏡、測微目鏡、光學導軌及光具座、計算機自動采集系統(tǒng)?！窘虒W要求】 ： 相干條件、雙光束干涉及其裝置、干涉反比關(guān)系、干涉條紋的分布及變換規(guī)律?！緦嶒瀮?nèi)容】 ：觀察干涉條紋的變化規(guī)律；2、測定光源波長。實驗三一：透鏡像差的觀察【實驗目的】：1、觀察透鏡的像差；2、了解像差產(chǎn)生的原因?！緝x器用具】 ：光具座、白熾燈、透鏡、濾光片、孔徑光闌、物標、坐標紙等?！窘虒W要求】 ：像差、色差、透鏡組。【實驗內(nèi)容】 ：測量凸透鏡的球差；觀察慧差；測量凸透鏡像散差；畸變的觀察；測定正透鏡的位置色差；觀察正透鏡的放大率色差。實驗三二：光電探測原理綜合實驗【實驗目的】：研究光電檢測器件的基本特性?！緝x器用具】：光電探測原理綜合實驗儀、光敏電阻，光敏二極管，光敏三極管，硅光電池，APD光電二極管，PIN光電二極管，色敏光電二極管等?！窘虒W要求】 ：光電轉(zhuǎn)化。【實驗內(nèi)容】 ：1、工作原理和結(jié)構(gòu)認知實驗2、暗電阻、暗電流，亮電阻、亮電流測試實驗3、光電流，伏安特性，光電特性，時間響應特性，光譜特性測試實驗。實驗三三：信息光學綜合實驗【實驗目的】 ： 了解信息光學的基本原理、方法。【儀器用具】 ： 信息光學綜合實驗系統(tǒng)?！窘虒W要求】 ：衍射、干涉、阿貝成像原理、濾波、編碼調(diào)制、全息術(shù)、光信息存儲?！酢酢酢?:菲涅耳衍射與針孔濾波實驗;夫良和口衍射實驗。馬赫曾德干涉系統(tǒng)；自組麥克爾遜干涉儀觀察干涉現(xiàn)象;薩格奈特干涉口的搭建；各種全息光柵的制作；光柵參數(shù)特性研究；光學圖象想減；利用復合光柵實現(xiàn)光學微分處理； e調(diào)制及偽彩色編碼調(diào)制；阿貝成像原理與空間濾；。全息照相：反射式全息、透射式全息、彩虹全口；激光散斑測量；實時聯(lián)合傅立葉相關(guān)識別；光信息存儲。實驗三四：太陽能電池特性研究【實驗目的】 ： 了解太陽能電池的基本結(jié)構(gòu)、工作原理及其光電特性?！緝x器用具】 ： 光學導軌、太陽能電池板附件?！窘虒W要求】 ： 光電轉(zhuǎn)化及存儲、光電池的工作原理?！緦嶒瀮?nèi)容】 ：1、測量入射到太陽能電池板上的光功率、太陽能電池的開路電壓、短路電流。2、繪制太陽能電池的開路電壓、短路電流隨口射光功率的變化曲線以及太陽能電池伏安特性曲線；3、計算太陽能電池的轉(zhuǎn)換效率、填充因子及其內(nèi)阻實驗三五： 激光相位測距【實驗目的】：了解激光測距的基本原理和一般方法?！緝x器用具】：激光相位測距教學實驗系統(tǒng)【教學要求】：光速的測量、標準米、相位測距原理?！酢酢酢酢酢?半導體激光器的電光特性，激光內(nèi)調(diào)制的基本原理；掌握激光器相位測距的基本原理、基本方法；多波長測量的意義和方法；雪崩光電二極管的性能、工作原理和特點。實驗三六：光學仿真初步【實驗目的】：1、了解虛擬儀器的工作原理；2、掌握簡單的光學實驗仿真方法?！緝x器用具】：LabVIEW虛擬仿真系統(tǒng)□□□□ ：虛擬儀器、 LabVIEW、光學仿真?！緦嶒瀮?nèi)容】 ： 自行設(shè)計實驗內(nèi)容。實驗三七：聲光效應【實驗目的】 ：1、觀察液體中的聲光效應；2、研究超聲頻率與衍射花樣的關(guān)系?！緝x器用具】：液體聲光效應實驗儀【教學要求】：超聲波、駐波、超聲光柵、塔爾伯特效應?！緦嶒瀮?nèi)容】自行設(shè)計實驗內(nèi)容。實驗三八：電光效應【實驗目的】：觀察液晶的衍射現(xiàn)象【儀器用具】：液晶電光效應實驗儀【教學要求】：電光效應及其應用。【實驗內(nèi)容】：自行設(shè)計實驗內(nèi)容。實驗三九：磁光效應【實驗目的】：觀察磁致旋光現(xiàn)象?！緝x器用具】：磁光效應實驗儀?！窘虒W要求】：磁光效應及其應用?！緦嶒瀮?nèi)容】：自行設(shè)計實驗內(nèi)容。實驗四十：光纖光學與半導體激光器的電光特性【實驗目的】：了解半導體激光器的工作原理。【儀器用具】：光學導軌、半導體激光器、光纖、光電二極管探頭、光闌等?！窘虒W要求】：光纖、光信號傳輸、半導體激光器?！緦嶒瀮?nèi)容】：光纖的切割與端面的處理；激光與光纖的耦合及耦合效率的測量；半導體激光器的閾值電流和增益斜率；觀察光纖的模式及偏振態(tài)、光纖彎曲對模式的影響（擾模）；光纖中的光速測定和光纖材