在線ICT培訓(xùn)技術(shù)資料

德智電子ICT-K568E調(diào)試技術(shù)技巧一．系統(tǒng)主畫面---(如圖一所示)(圖一)常用快捷鍵：F1:協(xié)助F2:進入組件編輯畫面F3:進入IC編輯畫面F5:進入測試畫面F6:開短路編輯畫面F8:多連板編輯畫面F9:針點尋找F10:板示畫面F11:組件/板示畫面F12:系統(tǒng)參數(shù)設(shè)定畫面二．組件編輯畫面---(如圖二所示)(圖二)常用快捷鍵：F1:協(xié)助F2:自動學(xué)習(xí)F4:退出F5:單步測試F6:整頁測試F7:測試值分布圖F8:高下點反轉(zhuǎn)F9:找點F10:將測試值拷貝到原則值F11:組件/板示畫面F12:刪略一行Alt+G:人工尋找隔離點Alt+P:查看組件并聯(lián)狀況Alt+R:設(shè)定單步重測Alt+O:雜散電容設(shè)定Ctrl+F:填入資料Ctrl+F10:雜散電容自動扣徐Ctrl+F1:新增一行Ctrl+Back:刪徐一行Ctrl+Alt+F6:所有測試三．程序設(shè)定調(diào)試環(huán)節(jié)1-1:匯入程序---(如圖三、四、五)檔案---匯入他廠程序---德律TRI---找到程序途徑---文獻類型選擇*.DAT---找到----打開(圖三)(圖四)1-2:參數(shù)設(shè)定:1.2.1:系統(tǒng)配置設(shè)定---(如圖六所示)設(shè)定---系統(tǒng)配置---周圍參數(shù)---聲音輸出裝置---選擇PC喇叭或ICT喇叭(圖六)1.2.2:測試參數(shù)設(shè)定:1.2.2.1:待測板參數(shù)設(shè)定---(如圖七所示)設(shè)定---測試參數(shù)---待測板參數(shù)設(shè)定---電路板名稱---設(shè)定目前待測板名稱(圖七)1.2.2.2:O/S參數(shù)設(shè)定---(如圖八所示)設(shè)定---測試參數(shù)---O/S參數(shù)---起始/絡(luò)止點數(shù)(按點圖設(shè)定)設(shè)定---測試參數(shù)---O/S參數(shù)---時間延遲設(shè)定(如板上電容或電感諸多可加大其時間)(圖八)1.2.2.3:測試參數(shù)設(shè)定---(如圖九所示)設(shè)定---測試參數(shù)---測試參數(shù)---選擇開/短測試(開短路pass后再放開零件/IC)設(shè)定---測試參數(shù)---測試參數(shù)---壓床操作模式---人工操作(調(diào)試時為人工,測試時為自動)設(shè)定---測試參數(shù)---測試參數(shù)---不良顯示方式---測試本畫面(如有板示圖可選擇板示畫面)設(shè)定---測試參數(shù)---測試參數(shù)---選擇O/S不良中斷---確定(圖九)1-3:學(xué)習(xí)1.3.1:開短路學(xué)習(xí)---(如圖十所示)主畫面---學(xué)習(xí)---迅速/詳細(xì)開短路學(xué)習(xí)---學(xué)習(xí)---保留---按F5進入測試畫面---壓床上下互換多板測試(出現(xiàn)開路不良請確認(rèn)針床探針與否接觸良好，短路不良則確認(rèn)學(xué)習(xí)數(shù)據(jù)與否對的，可選擇詳細(xì)學(xué)習(xí).如待測試板上電容電感較多可將o/s參數(shù)內(nèi)的開短路時間延遲放大,測試時用足夠的時間來判斷！)---直到每塊板都pass.(圖十)1.3.2:組件學(xué)習(xí)與隔離---(如圖十一所示)主畫面---設(shè)定---測試參數(shù)---測試參數(shù)---選擇零件測試---確定主畫面---學(xué)習(xí)---組件學(xué)習(xí)與隔離---學(xué)習(xí)---關(guān)閉（圖十一）注：因受到電路網(wǎng)絡(luò)及針床等各方面原因影響,組件學(xué)成率無法到達(dá)100%.故無法學(xué)成之環(huán)節(jié)則須人工調(diào)試徐錯,以提高測試精確度！1.3.2.1:跳線調(diào)試----各檔位阻值—1:0~5奧姆2:5~25奧姆3:25~50奧姆4:50奧姆以上主畫面---按F2進入組件編輯---按J模式排序一般設(shè)定原則值為2,下限為0,即阻值設(shè)定為0~25奧姆.如跳線測到3(25~50歐)則表達(dá)針床接觸不良.測試值為4時，一般為開路狀態(tài)。請檢查扁平電纜與否插好，針床探針與否老化等等。1.3.2.2:電阻組件調(diào)試（模式R）FG:其標(biāo)五種措施分別為：1：CV-R(定電壓測電阻)2：CI-R(定電流測電阻)3：CV-Sync(同步積分定電壓)4：CI-Sync(同步積分定電流)5：AC-R（交流法測試）當(dāng)電阻組件測試不良時，首先確認(rèn)：實際值、高下點、原則值與否對的。如不正確請將其改正。將原則值清為0---Enter---輸入對的的原則值---系統(tǒng)FTS會自動復(fù)位調(diào)整---將上下限放為1---去掉Fg和所有隔離點---按F2自動學(xué)習(xí)---如學(xué)成則還原上下限---如無法學(xué)到則可將FG改為3(CV-R)反復(fù)上述環(huán)節(jié)--電阻與較大電容并聯(lián)時則可將FG改為5(AC-R)再做F2自動學(xué)習(xí)。如測試值飄動可按Alt+R設(shè)定單步重測或增長delay.1.3.2.3:電容組件調(diào)試（模式C）FG:棋標(biāo)五種措施分別為：1：CI-C(定電流測試電容)2：AC-C(交流法測試電容)電容調(diào)試措施與電阻相似只是FG不一樣。在調(diào)試小電容(PF級)時受到雜散電容的影響，實際測試到的值會比原則值大，這時可將背面的FTS改為543后按Ctrl+F10系統(tǒng)會自動扣徐雜散電容。最終測到真正的電容值。1.3.2.4:二極管/IC組件調(diào)試（模式D）先按D模式排序，然后按Ctrl+F將s檔位設(shè)為6~8檔。將原則值清為0,按F2自動學(xué)習(xí)---一般測試值在700mv左右---F8反轉(zhuǎn)高下點正反向電壓會有較大偏差1.3.2.5:三極管（模式D/TR）三極管測試分為三部即BC、BE、CE。BC/E極測試用D模式。當(dāng)測CE(三極管飽和壓降，可測試CE極插反現(xiàn)象)時將程式編輯至三端元件,高下點為CE兩極下針點，原則值為200mv模式改為TR,FG字段輸入三極管型號(NPNorPNP),隔離點字段輸入B極下針點按F2自動學(xué)習(xí)。測試值一般在200mv左右。1.3.2.6:電感（模式L）電感測試一般分兩部即一部測試電感值，另一部測試其電阻。調(diào)試措施同電阻.當(dāng)電感值不不小于10uh時，提議值F=5T=4S=1.備注：量測值驗證法：調(diào)整上下一檔，其量測值必須相近重測性良好如未符合上項要素，則也許量測到非DUT的值各操作環(huán)節(jié)均須配合swapP+/P-(F8)來做R--T值≥4或Scale檔位≥6時，必要時加DelayD組件同向并聯(lián)時須將模式改DR,按F2自么學(xué)習(xí)，一般正向電阻在200歐左右反向電阻++++.

1.3.3:IC保護二極管學(xué)習(xí)---(如圖十二所示)主畫面---設(shè)定---測試參數(shù)---測試參數(shù)---選擇IC開路測試---確定主畫面---學(xué)習(xí)---ICD學(xué)習(xí)---學(xué)習(xí)---關(guān)閉---保留（圖十二）注：假如用此措施學(xué)習(xí)IC,前提是在<組件編輯畫面>下的<IC開路>必須有數(shù)據(jù).假如沒有則須在F3IC編輯畫面下輸入各＜IC名稱，IC腳數(shù)，IC下針腳位，電源腳，地腳＞后再學(xué)習(xí).學(xué)完后系統(tǒng)將自動生成IC測試程序。四．上線測試程序調(diào)整pass后，必須做多塊板互換測試