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dilone蘇州工業(yè)園區(qū)迪隆科技發(fā)展有限公司受控文件QC-1各類卡片的檢驗(yàn)規(guī)范各類卡片的檢驗(yàn)規(guī)范包括:普卡、磁卡、帶觸點(diǎn)的集成電路卡、無(wú)觸點(diǎn)的集成電路卡等的檢驗(yàn)規(guī)范。目的:為了便于本公司檢驗(yàn)人員檢驗(yàn),特制定檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)作業(yè)規(guī)范。引用標(biāo)準(zhǔn)GB/T14443-1:2000識(shí)別卡無(wú)觸點(diǎn)集成電路卡接近式卡第一部分物理特性GB/T15120.1-1994識(shí)別卡記錄技術(shù)第1部分:凸?。╥dtISO7811-1:1985)GB/T15120.2-1994識(shí)別卡記錄技術(shù)第2部分:磁條(idtISO7811-2:1985)GB/T15120.3-1994識(shí)別卡記錄技術(shù)第3部分:ID-1型卡上凸印字符的位置(idtISO7811-3:1985)GB/T15120.4-1994識(shí)別卡記錄技術(shù)第4部分:只讀磁道的第1磁道和第2磁道的位置(idtISO7811-4:1985)GB/T15120.5-1994識(shí)別卡記錄技術(shù)第5部分:讀寫(xiě)磁道的第3磁道的位置(idtISO7811-5:1985)GB/T16649.1-2006識(shí)別卡帶觸點(diǎn)的集成電路卡第1部分:物理特性GB/T16649.2-2006識(shí)別卡帶觸點(diǎn)的集成電路卡第2部分:觸點(diǎn)的尺寸和位置9)GB/T16649.3-2006識(shí)別卡帶觸點(diǎn)的集成電路卡第3部分:電信號(hào)和傳輸協(xié)議10)GB/T17554.3-2006識(shí)別卡測(cè)試方法第1部分:一般特性測(cè)試3、條件:(a)燈光光度600LM(明),檢卡的角度160∠(度)(b)距離眼睛30cm工具:白手套、手指套、游標(biāo)卡尺、千分尺、數(shù)卡機(jī)(JC-1100B)、酒精。方法目測(cè),必要時(shí)用標(biāo)準(zhǔn)參照物比照目測(cè)相應(yīng)讀卡機(jī)讀卡標(biāo)準(zhǔn)尺寸檢驗(yàn)。每批(1000片)抽2-4張卡片作寬度、高度(用游標(biāo)卡尺)及厚度(千分卡尺)的測(cè)量。標(biāo)準(zhǔn)為:寬度:85.47mm--85.72mm(標(biāo)準(zhǔn))高度:53.92mm--54.03mm(標(biāo)準(zhǔn))卡片四角圓角半徑:3.18mm厚度:(1)根據(jù)客戶要求(2)普通卡:0.76mm±0.03mm;0.4mm±0.02mm;0.3mm±0.02mm(3)磁卡:0.76mm±0.08mm;(4)帶觸點(diǎn)的集成電路卡:0.82mm±0.02mm;(5)無(wú)觸點(diǎn)的集成電路卡:0.92mm±0.04mm;注意:進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)尺寸檢查時(shí),只要發(fā)現(xiàn)≥1張不規(guī)格,則判該批為不合格。并對(duì)該批進(jìn)行全數(shù)返工,且由質(zhì)檢抽驗(yàn)合格后方可入庫(kù)。外觀檢驗(yàn):IC卡、MI卡、CPU卡、磁條卡檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn):項(xiàng)目缺陷內(nèi)容檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)檢驗(yàn)工具產(chǎn)品外觀黑點(diǎn)、絨毛、雜質(zhì)黑點(diǎn)、雜質(zhì):允許0.2-0.3mm1點(diǎn),允許0.1-0.2mm2點(diǎn)。絨毛:允許1-2mm2根,2-3mm1根游標(biāo)卡尺擦毛、劃傷、開(kāi)裂擦毛及劃傷:允許10-20mm1根,0-10mm2根。不允許開(kāi)裂。游標(biāo)卡尺、目視表面污染無(wú)油污、指紋目視彎曲、扭曲、變形彎曲、扭曲、翹曲變形量(垂直高度)<1.27mm尺規(guī)印刷(含絲印、膠印,照片打?。﹫D案、照片、文字影象、文字模糊不得對(duì)清晰度有明顯影響目視套色誤差在0.15mm以下游標(biāo)卡尺還原度與色差顏色還原度號(hào),接近樣稿,無(wú)明顯色差△E≤5,但銀聯(lián)紅△E≤9.6.銀聯(lián)藍(lán)△E≤9.6,銀聯(lián)綠△E≤7.2.目視色點(diǎn)、色絨色點(diǎn):允許0.2-0.3mm1根,允許0.1-0.2mm2點(diǎn)。色絨:允許1-2mm2根,2-3mm1根。(但與周邊顏色的反差不能太明顯)游標(biāo)卡尺、目視斷線與缺色不允許有斷線與缺色現(xiàn)象目視層壓剝離、分層層間剝離強(qiáng)度銀聯(lián)≥4.5N/cm,VISA≥6N/cm.正反面圖文相對(duì)位置不允許有明顯的正反面圖文文字對(duì)位不準(zhǔn)現(xiàn)象目視圖文變形不得有明顯正反面圖文變形現(xiàn)象目視氣斑、氣泡無(wú)氣斑及氣泡目視沖切位置沖切位置偏差在≤0.3mm。(因受銀聯(lián),VISA標(biāo)記位置的約束)游標(biāo)卡尺毛邊卡邊緣毛邊凸起高度≤0.05mm.千分尺磁條外觀矯頑力、位置、粘合力、污染、缺陷、損傷、面膜與芯層復(fù)合時(shí)兩面搞錯(cuò)。磁條的矯頑力有300oe(抵抗磁),2750(高抗磁),650(中抗磁)三種磁條絕不允許用錯(cuò)。磁條的寬度為12.7mm磁條的上邊緣離卡卡邊的距離為3.25mm-5.54mm。要求磁條與卡面粘結(jié)可靠、不脫落。成卡的磁性材料面一定要暴露在外磁條表面無(wú)油污、指紋、霉變、劃傷、氣泡、殘缺等。游標(biāo)卡尺、目視全息膜外觀位置、圖案、外觀全息標(biāo)的燙印位置偏差為VISA≤0.1mm,銀聯(lián)≤0.15mm。全息標(biāo)的圖案必須完整。全息標(biāo)燙印后表面必須光潔,燙印壓力適中。但允許有≤0.2mm的漏孔1個(gè)?!?mm的纖維狀痕跡1根。游標(biāo)卡尺、目視無(wú)觸點(diǎn)集成電路卡(1)模塊型號(hào)(2)模塊與線圈痕跡,讀寫(xiě)距離(1)不允許用錯(cuò)模塊型號(hào)(可用相應(yīng)讀卡機(jī)具檢測(cè))(2)模塊與線圈在卡片表面應(yīng)無(wú)明顯痕跡,頻率15.8±1.0MHZ(3)讀寫(xiě)距離:華虹≥6mm;復(fù)旦≥6mm。頻率測(cè)試儀、高度尺帶觸點(diǎn)集成電路卡(1)大小、深淺不當(dāng)(2)位置偏移、不平整(3)粘結(jié)力小、不潔、損傷(1)銑槽位置:大芯片上邊距:17.83-17.86mm;大芯片左邊距:8.36-8.39mm;小芯片上邊距:18.23-18.26mm;小芯片左邊距:9.31-9.35mm;(2)銑槽尺寸:大芯片:13.2mmX11.7mm,±0.05mm;小芯片:11.2mmX8.2mm,±0.05mm;(3)要求模塊與卡體粘結(jié)牢固可靠。(4)模塊面與卡面無(wú)膠水溢痕。(5)同一模塊表面允許有≤0.1mm凸緣、針孔、缺損2個(gè)。(6)距邊緣2mm之間區(qū)域同一模塊表面允許有≤3mm的劃傷1條。(7)在模塊中心區(qū)域內(nèi)允許有輕微擦傷,擦傷面積≤4mm2不允許模塊有組件外露現(xiàn)象。游標(biāo)卡尺、目視凸印位置(1)距邊緣太近(2)磁卡凸碼位(3)無(wú)觸點(diǎn)集成電路卡凸碼位(4)帶觸點(diǎn)集成電路卡凸碼位(1)所有卡片凸碼高度為0.4---0.5mm,小碼長(zhǎng)3mm,寬2.5mm;大碼長(zhǎng)4.5mm,寬3.5mm,不能太平或太凸。凸字距卡左、右、下邊必須≥4mm.(2)磁卡凸碼距離下邊距最長(zhǎng)距離≤24mm,(3)無(wú)觸點(diǎn)集成電路卡凸碼位要避開(kāi)線圈位置(4)帶觸點(diǎn)集成電路卡凸碼位不得位于模塊同一邊,且距離模塊的水平位置≥3mm游標(biāo)卡尺、目視普卡檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn):項(xiàng)目缺陷內(nèi)容檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)檢驗(yàn)工具印刷版面錯(cuò)誤圖案文字與要求不符不允許有此現(xiàn)象目視印刷圖案缺陷印刷文字缺損、圖案短線等。不允許有此現(xiàn)象目視劃痕在印刷過(guò)程中,由于機(jī)械原因造成的印刷油墨破損允許直徑為20-30mm的2條,10-20mm的2條游標(biāo)卡尺、目視色差印刷后顏色與標(biāo)準(zhǔn)樣卡的顏色不一致△E≤5目視臟污表面干凈油污、異物附著不明顯目視套色偏差套色不準(zhǔn)造成的印刷缺陷圖案、文字的套色允許誤差≤0.15mm游標(biāo)卡尺氣泡層壓不良造成卡片氣泡卡基單面內(nèi)直徑為0.2-0.5mm2個(gè),0.2-0.3mm3個(gè)游標(biāo)卡尺、目視圖案對(duì)位卡片正反對(duì)位準(zhǔn)確正反面對(duì)位誤差≤0.5mm游標(biāo)卡尺色斑油墨污染造成的局部顏色的差別允許直徑為0.1-0.3mm的3個(gè),0.3-0.5mm2個(gè),且在不明顯部位游標(biāo)卡尺、目視纖維由纖維狀污物附著在卡片表面的缺陷允許直徑為0-0.05mm,長(zhǎng)度為3-4mm的1根,允許1-2mm2個(gè),且在不明顯部位游標(biāo)卡尺、目視黑點(diǎn)由深色污物附著在卡片表面造成的印刷缺陷允許直徑為0.1-0.3mm的3個(gè)0.4-0.5mm的1個(gè),且在不明顯部位游標(biāo)卡尺、目視白斑由污染物附著在卡片表面,造成卡片表面局部油墨未附著造成的印刷缺陷允許直徑為0.1-0.5mm的3個(gè),且位于卡片的不明顯部位游標(biāo)卡尺、目視凹坑、凸起因卡基機(jī)械缺陷或油墨錐積造成的印刷后卡片表面的凹坑或凸起允許直徑為0.2-0.5mm的3個(gè),且位于卡片的不明顯部位游標(biāo)卡尺、目視邊緣毛刺機(jī)械加工不良造成的卡片邊緣缺陷凸起高度不得超過(guò)0.08mm。游標(biāo)卡尺、目視翹曲卡片水平放置于檢測(cè)平臺(tái)上,觀察卡片彎程度。卡片彎曲最高點(diǎn)至平面的

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