(高清版)GBT 31958-2023 非晶硅薄膜晶體管液晶顯示器用基板玻璃

代替GB/T31958—2015非晶硅薄膜晶體管液晶顯示器用基板玻璃I本文件按照GB/T1.1—2020《標(biāo)準(zhǔn)化工作導(dǎo)則第1部分：標(biāo)準(zhǔn)化文件的結(jié)構(gòu)和起草規(guī)則》的規(guī)定起草。本文件代替GB/T31958—2015《薄膜晶體管液晶顯示器用基板玻璃》,與GB/T31958—2015相比，除結(jié)構(gòu)調(diào)整和編輯性改動(dòng)外，主要技術(shù)變化如下：a)刪除了點(diǎn)狀缺陷、表面污染、劃傷、掉片、缺角、有效區(qū)的術(shù)語和定義(見2015年版的3.1～3.5、3.11),更改了定位角、直角度的定義(見3.4、3.6,2015年版的3.12、3.14);b)更改了外觀質(zhì)量的要求(見4.1,2015年版的4.1);c)更改了長(zhǎng)度偏差、寬度偏差的要求(見4.2.1,2015年版的4.2.1);d)更改了厚薄差的要求(見4.2.3,2015年版的4.2.2);e)更改了切角偏差、定位角偏差的要求(見4.2.4,2015年版的4.2.3);f)更改了波紋度、翹曲的要求(見4.3、4.5,2015年版的4.3、4.4);g)增加了表面粗糙度的要求(見4.4);損耗的性能要求(見4.6);i)更改了平均線熱膨脹系數(shù)、密度、應(yīng)變點(diǎn)的性能指標(biāo)(見4.6,2015年版的4.5～4.7);j)更改了化學(xué)耐久性的性能指標(biāo)(見4.6,2015年版的4.9);k)更改了外觀質(zhì)量的試驗(yàn)方法(見5.2,2015年版的5.2);1)更改了厚度測(cè)量示意圖(見5.3.2,2015年版的5.3.2);m)更改了定位角、切角測(cè)量示意圖(見5.3.3,2015年版的5.3.3);n)更改了直角度的試驗(yàn)方法及測(cè)量示意圖(見5.3.4,2015年版的5.3.4);o)更改了波紋度的試驗(yàn)方法(見5.4,2015年版的5.4);q)更改了翹曲的試驗(yàn)方法(見5.6,2015年版的5.5);r)更改了平均線熱膨脹系數(shù)的試驗(yàn)方法(見5.8,2015年版的5.6);s)更改了應(yīng)變點(diǎn)的試驗(yàn)方法(見5.11,2015年版的5.8);t)更改了密度的試驗(yàn)方法(見5.13,2015年版的5.7);u)更改了透射比的試驗(yàn)方法(見5.16,2015年版的5.9);v)更改了化學(xué)耐久性的試驗(yàn)方法(見5.20,2015年版的5.10);w)更改了堿金屬氧化物含量的試驗(yàn)方法(見5.21,2015年版的5.11);x)增加了單項(xiàng)判定內(nèi)容，包括表面粗糙度、理化性能所列項(xiàng)目(見6.3.4.1);y)更改了運(yùn)輸和貯存的要求(見7.3和7.4,2015年版的7.3和7.4)。請(qǐng)注意本文件的某些內(nèi)容可能涉及專利。本文件的發(fā)布機(jī)構(gòu)不承擔(dān)識(shí)別專利的責(zé)任。本文件由中國建筑材料聯(lián)合會(huì)提出。本文件由全國工業(yè)玻璃和特種玻璃標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC447)歸口。本文件起草單位：彩虹集團(tuán)有限公司、中建材玻璃新材料研究院集團(tuán)有限公司、彩虹顯示器件股份有限公司、蚌埠中光電科技有限公司、中國國檢測(cè)試控股集團(tuán)股份有限公司、北京工業(yè)大學(xué)、玻璃新材料創(chuàng)新中心(安徽)有限公司、東旭集團(tuán)有限公司、彩虹集團(tuán)(邵陽)特種玻璃有限公司、深圳市宇創(chuàng)顯示科Ⅱ技有限公司、湖南邵虹特種玻璃股份有限公司。本文件于2015年首次發(fā)布，本次為第一次修訂。1非晶硅薄膜晶體管液晶顯示器用基板玻璃1范圍本文件規(guī)定了非晶硅薄膜晶體管液晶顯示器用基板玻璃的要求，試驗(yàn)方法，檢驗(yàn)規(guī)則，包裝、標(biāo)志、運(yùn)輸和貯存。本文件適用于非晶硅薄膜晶體管液晶顯示器用基板玻璃(以下簡(jiǎn)稱“基板玻璃”)的設(shè)計(jì)、生產(chǎn)、研發(fā)2規(guī)范性引用文件下列文件中的內(nèi)容通過文中的規(guī)范性引用而構(gòu)成本文件必不可少的條款。其中，注日期的引用文件，僅該日期對(duì)應(yīng)的版本適用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本(包括所有的修改單)適用于本文件。GB/T1409測(cè)量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長(zhǎng)在內(nèi))下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法GB/T1549纖維玻璃化學(xué)分析方法GBT2680—2021建筑玻璃可見光透射比、太陽光直接透射比、太陽能總透射比、紫外線透射比及有關(guān)窗玻璃參數(shù)的測(cè)定GB/T2828.1—2012計(jì)數(shù)抽樣檢驗(yàn)程序第1部分：按接收質(zhì)量限(AQL)檢索的逐批檢驗(yàn)抽樣計(jì)劃GB/T5432玻璃密度測(cè)定浮力法GB/T5700—2008照明測(cè)量方法GB/T16920玻璃平均線熱膨脹系數(shù)的測(cè)定GB/T28195玻璃軟化點(diǎn)測(cè)試方法GB/T31838.7—2021固體絕緣材料介電和電阻特性第7部分：電阻特性(DC方法)高溫下測(cè)量體積電阻和體積電阻率GB/T32639平板顯示器基板玻璃術(shù)語GB/T32642平板顯示器基板玻璃表面粗糙度的測(cè)量方法GB/T32643平板顯示器基板玻璃表面波紋度的測(cè)量方法GB/T32644—2016平板顯示器基板玻璃化學(xué)耐久性的試驗(yàn)方法GB/T37780玻璃材料彈性模量、剪切模量和泊松比試驗(yàn)方法GB/T38711超薄玻璃再熱線收縮率試驗(yàn)方法激光法GB/T38712超薄玻璃導(dǎo)熱系數(shù)試驗(yàn)方法熱流法SJ/T11039電子玻璃退火點(diǎn)和應(yīng)變點(diǎn)的測(cè)試方法3術(shù)語和定義GB/T32639、GB/T38711界定的以及下列術(shù)語和定義適用于本文件。2同一片玻璃所測(cè)的厚度最大值與最小值之差。翹曲warp以翹起或突起的最大值來表示的基板玻璃的不平直程度。用于制作薄膜晶體管或彩色濾光片膜層的玻璃表面。用于確定基板玻璃工作面和傳送方向特定規(guī)格的斜角。用于避免尖角破裂，保障玻璃和人員安全的基板斜角?；宀ＡУ慕瞧x直角的程度?；宀ＡУ耐庥^質(zhì)量應(yīng)符合表1的規(guī)定。缺陷種類要求內(nèi)部缺陷“氣泡、結(jié)石、失透D1>100μm,不準(zhǔn)許；D1≤100μm,數(shù)量不大于3個(gè)/m2,且任意300mm×300mm區(qū)域內(nèi)數(shù)量不大于3個(gè)開口泡不準(zhǔn)許表面缺陷“劃傷目視不可見表面污染裂紋不準(zhǔn)許異物目視不可見，離線可清除干凈突起工作面不準(zhǔn)許3缺陷種類要求邊緣缺陷掉片長(zhǎng)度不大于0.5mm;寬度不大于0.5mm;深度不大于基板玻璃標(biāo)稱厚度的1/2缺角長(zhǎng)度不大于2.0mm;寬度不大于1.0mm欠磨不準(zhǔn)許過磨不準(zhǔn)許燒邊不準(zhǔn)許僅對(duì)有效區(qū)提出要求。D為缺陷的最大核心尺寸。4.2尺寸偏差基板玻璃長(zhǎng)度偏差、寬度偏差應(yīng)符合表2的規(guī)定。表2基板玻璃長(zhǎng)度偏差及寬度偏差單位為毫米長(zhǎng)度或?qū)挾?X)最大允許偏差士0.3土1.0注：基板玻璃常見的長(zhǎng)度、寬度尺寸見附錄A?；迤铝У暮穸绕顟?yīng)不大于標(biāo)稱值的10%。G6及以下基板玻璃的厚薄差應(yīng)不大于0.015mm,G6以上基板玻璃的厚薄差應(yīng)不大于0.020mm。基板玻璃的切角偏差、定位角偏差應(yīng)不大于1.0mm。基板玻璃的直角度應(yīng)不大于0.1%4.3波紋度截止波長(zhǎng)為0.8mm～8.0mm時(shí)，波紋度應(yīng)不大于0.06μm。44.4表面粗糙度截止波長(zhǎng)為0.08mm時(shí)，表面粗糙度應(yīng)不大于0.1μm。4.5翹曲基板玻璃的翹曲應(yīng)不大于0.15mm。4.6理化性能基板玻璃的理化性能應(yīng)符合表3的規(guī)定。表3基板玻璃理化性能單位指標(biāo)熱學(xué)性能導(dǎo)熱系數(shù)W/(m·K)平均線熱膨脹系數(shù)(30℃~380℃)軟化點(diǎn)℃退火點(diǎn)℃應(yīng)變點(diǎn)℃再熱線收縮率供需雙方商定力學(xué)性能密度應(yīng)力nm/cm彈性模量GPa光學(xué)性能透射比(550nm)%電學(xué)性能lg體積電阻率(250℃)lg體積電阻率(500℃)介電常數(shù)(1kHz)介電損耗(1kHz)—化學(xué)耐久性耐氫氟酸侵蝕(10%HF,22℃,20min)mg/cm2失重不大于6.2耐鹽酸侵蝕(5%HCl,95℃,24h)mg/cm2失重不大于0.9耐堿侵蝕(5%NaOH,95℃,6h)mg/cm失重不大于1.8堿金屬氧化物含量(質(zhì)量分?jǐn)?shù))%5試驗(yàn)方法5.1試驗(yàn)環(huán)境除特殊規(guī)定外，試驗(yàn)均應(yīng)在下述環(huán)境條件下進(jìn)行：b)相對(duì)濕度：40%～80%。55.2外觀質(zhì)量5.2.1試驗(yàn)裝置外觀質(zhì)量檢驗(yàn)示意圖如圖1所示，具體要求如下：a)反射光光源：檢驗(yàn)區(qū)光照強(qiáng)度不小于80001x;b)透射光光源：檢驗(yàn)區(qū)光照強(qiáng)度不小于1500lx;c)邊緣側(cè)光光源：檢驗(yàn)區(qū)光照強(qiáng)度不小于4000lx;d)樣品支撐架：不小于試樣尺寸的中空硬質(zhì)合金框架，框架應(yīng)不影響對(duì)試樣有效面的觀察，與水平面夾角呈75°~85°,見圖1a);e)吊架及試樣夾：兩個(gè)試樣夾裝配在水平吊架上，用于試樣垂直懸吊，見圖1d)。a)樣品支撐架示意圖b)反射光檢查示意圖c)透射光檢查示意圖圖1外觀質(zhì)量檢驗(yàn)示意圖6d)邊緣側(cè)光檢查示意圖標(biāo)引序號(hào)說明：1——光源；2——觀測(cè)點(diǎn)；3——被測(cè)點(diǎn)；4——試樣；5——試樣夾；6——吊架；7——樣品支撐架；θ——試樣與水平面夾角。圖1外觀質(zhì)量檢驗(yàn)示意圖(續(xù))照度計(jì)正對(duì)光源，在待測(cè)點(diǎn)測(cè)試光照強(qiáng)度，以確認(rèn)其滿足要求。照度計(jì)應(yīng)符合GB/T5700—2008中5.1的規(guī)定。5.2.2.2.1反射光、透射光檢查時(shí)，將試樣緊貼支撐架背框放置，觀察者在距試樣約300mm處目視檢查并記錄缺陷數(shù)量、位置等信息，如圖1b)、圖1c)所示。邊緣側(cè)光檢查時(shí)，將試樣垂直懸吊于試樣夾上，移動(dòng)側(cè)光源至試樣邊緣20mm～30mm,光源垂直入射試樣橫斷面，觀察者在距試樣約300mm處目視檢查并記錄，如圖1d)所示。5.2.2.2.2至少采用放大倍數(shù)為40倍、精度為0.05mm的讀數(shù)放大鏡測(cè)定內(nèi)部缺陷、表面缺陷尺寸。至少采用放大倍數(shù)為10倍、精度為0.1mm的讀數(shù)放大鏡測(cè)定邊緣缺陷的尺寸。75.3尺寸偏差以產(chǎn)品為試樣，將試樣平放到平臺(tái)上，采用精度不低于0.1mm的游標(biāo)卡尺或相同精度的三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x測(cè)量4個(gè)邊長(zhǎng)尺寸，長(zhǎng)邊測(cè)量值與長(zhǎng)度標(biāo)稱值的最大差值為長(zhǎng)度偏差，短邊測(cè)量值與寬度標(biāo)稱值的最大差值為寬度偏差。以產(chǎn)品為試樣，將試樣平放到平臺(tái)上，按照?qǐng)D2所示，以p點(diǎn)作為測(cè)試起點(diǎn)，p點(diǎn)距離定位角所在長(zhǎng)邊、短邊邊緣距離均不大于10mm。用測(cè)量精度為0.001mm的螺旋測(cè)微計(jì)或非接觸式三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x，垂直流向方向每隔10mm固定間距進(jìn)行測(cè)量，測(cè)試終點(diǎn)距試樣邊緣距離不大于10mm。所有測(cè)試點(diǎn)的厚度測(cè)量值的平均值與厚度標(biāo)稱值之差為厚度偏差；所有測(cè)試點(diǎn)的厚度測(cè)量值的最大值與最小值的差值為厚薄差。3標(biāo)引序號(hào)說明：2——垂直流向方向；p——測(cè)試起點(diǎn)。圖2厚度測(cè)量示意圖以產(chǎn)品為試樣，將試樣平放到平臺(tái)上，工作面向上，按照?qǐng)D3所示，采用放大倍數(shù)為10倍、精度為0.1mm的讀數(shù)放大鏡，讀數(shù)放大鏡置于試樣角部，且十字線同時(shí)與試樣長(zhǎng)邊、短邊對(duì)齊，分別測(cè)量4個(gè)角在長(zhǎng)邊、短邊上被切掉的長(zhǎng)度。該尺寸與標(biāo)稱值的偏差即為定位角和切角的偏差。8a)定位角、切角示意圖b)定位角、切角測(cè)量放大示意圖標(biāo)引序號(hào)說明：1——切角；2——定位角；3——讀數(shù)放大鏡；x——切角尺寸。以產(chǎn)品為試樣。直角度測(cè)量裝置示意圖如圖4所示，該裝置由支撐背板、定位銷、百分表及架體組成，具體要求a)支撐背板：合金材質(zhì)，用于支撐玻璃試樣，應(yīng)無明顯扭曲變形，板面與水平面夾角θ為75°~85°,高度和長(zhǎng)度均不小于試樣長(zhǎng)度。安裝百分表一側(cè)的背板上沿垂直方向應(yīng)有尺寸標(biāo)識(shí)，精度為1mm,用于讀出垂直定位銷(圖4中Ig)與百分表之間的距離。b)定位銷：水平定位銷2個(gè)(圖4中Ic、Ip),用于支撐玻璃試樣，兩個(gè)定位銷上表面應(yīng)保持水平，且保證試樣穩(wěn)定擺放。垂直定位銷1個(gè)(圖4中I),用于試樣側(cè)邊卡位。定位銷Ic、I?中心距試樣待測(cè)角頂點(diǎn)距離分別為10mm,Ip可水平移動(dòng)。定位銷直徑推薦φ20mm。c)百分表：精度不低于0.1mm,安裝位置應(yīng)在垂直方向和水平方向可調(diào)，以保證檢測(cè)點(diǎn)距離試樣上邊緣約10mm,且百分表的測(cè)桿可接觸到試樣的側(cè)邊緣。91——尺寸標(biāo)識(shí)；2——試樣；3——支撐背板；Ig——垂直定位銷；θ—-背板與水平面夾角。圖4直角度測(cè)量裝置示意圖直角度測(cè)量按照如下步驟進(jìn)行：a)選擇試樣任一長(zhǎng)邊作為支撐邊，兩短邊為被測(cè)量邊；b)調(diào)整水平定位銷Ip,使其距試樣邊緣約為10mm;c)調(diào)整百分表位置至檢測(cè)點(diǎn)高度，推薦檢測(cè)點(diǎn)比試樣上邊緣低約10mm;d)將試樣支撐邊向下放置到定位銷Ic、Ip、試樣緊貼支撐背板，水平方向移動(dòng)試樣，使短邊緊貼定位銷Iβ;e)水平移動(dòng)百分表位置，使百分表測(cè)桿頂在試樣邊緣并固定百分表，旋轉(zhuǎn)百分表盤，使百分表讀數(shù)為0;f)保持支撐邊不變，將試樣沿水平方向翻轉(zhuǎn)180°,重復(fù)步驟d),確認(rèn)百分表測(cè)桿頂在試樣邊緣，讀取百分表變化值，為兩個(gè)被測(cè)量邊偏離垂直線之和，記為δ;g)讀取定位銷Ig與百分表中心線的間距，記為L(zhǎng);h)以當(dāng)前支撐邊對(duì)面的平行邊作為支撐邊，重復(fù)步驟d)～g);i)選擇試樣任一短邊作為試樣支撐邊，兩長(zhǎng)邊為被測(cè)量邊，重復(fù)步驟b)～h)。5.3.4.4數(shù)據(jù)處理按照公式(1)分別計(jì)算以上4次測(cè)量的直角度，選取4次計(jì)算結(jié)果的最大值作為測(cè)試結(jié)果。式中：Y——直角度；δ——兩個(gè)被測(cè)量邊偏離垂直線之和，單位為毫米(mm);L——垂直定位銷與百分表中心線的間距，單位為毫米(mm)。5.4波紋度的規(guī)定進(jìn)行，試樣數(shù)量為1個(gè)。的規(guī)定進(jìn)行，試樣數(shù)量為1個(gè)。5.5表面粗糙度的規(guī)定進(jìn)行，試樣數(shù)量為1個(gè)。按照GB/T32642的規(guī)定進(jìn)行，試樣數(shù)量為1個(gè)。5.6翹曲以產(chǎn)品為試樣，將試樣工作面向上放置在測(cè)量平臺(tái)(00級(jí)平面度大理石)上，采用精度為0.02mm的塞尺或不低于0.02mm精度的三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x，測(cè)量試樣下表面與平臺(tái)表面之間的最大距離；再將試樣翻轉(zhuǎn)，使工作面向下，再次測(cè)量試樣下表面與平臺(tái)表面之間的最大距離，測(cè)量結(jié)果取最大值。5.7導(dǎo)熱系數(shù)按照GB/T38712的規(guī)定進(jìn)行。5.8平均線熱膨脹系數(shù)5.8.1試樣制備從產(chǎn)品上隨機(jī)切取玻璃作為試樣，長(zhǎng)度為50mm±1mm,寬度取決于膨脹儀設(shè)備要求。5.8.2測(cè)試方法及數(shù)據(jù)處理按照GB/T16920的規(guī)定進(jìn)行。5.9軟化點(diǎn)5.9.1試樣制備將基板玻璃機(jī)械拉絲方式制備成直徑為0.65mm±0.10mm、長(zhǎng)度為235mm±1mm的玻璃絲，要求絲徑偏差小于0.02mm,直線度偏差小于1%。試樣數(shù)量為2個(gè)。5.9.2測(cè)試方法及數(shù)據(jù)處理按照GB/T28195的規(guī)定進(jìn)行。5.10退火點(diǎn)將基板玻璃機(jī)械拉絲方式制備成直徑為0.65mm±0.10mm、長(zhǎng)度不小于200mm的玻璃絲，要求絲徑偏差小于0.02mm,直線度偏差小于1%。試樣數(shù)量為2個(gè)。5.10.2測(cè)試方法及數(shù)據(jù)處理按照SJ/T11039的規(guī)定進(jìn)行。5.11應(yīng)變點(diǎn)按照5.10.1規(guī)定的試樣制備方法進(jìn)行。5.11.2測(cè)試方法及數(shù)據(jù)處理按照SJ/T11039的規(guī)定進(jìn)行。5.12再熱線收縮率按照GB/T38711的規(guī)定進(jìn)行，測(cè)試條件供需雙方商定。5.13密度5.13.1.1從隨機(jī)抽取的產(chǎn)品上切取60mm×30mm的玻璃作為試樣，試樣應(yīng)無點(diǎn)狀缺陷，表面光5.13.1.2試樣至少超聲波清洗5min,用無水乙醇和二級(jí)以上的純水沖淋后，放置烘箱內(nèi)，105℃烘干30min,操作中用鑷子拿取。5.13.2測(cè)試方法及數(shù)據(jù)處理按照GB/T5432的規(guī)定進(jìn)行。5.14應(yīng)力以產(chǎn)品為試樣或?qū)Ξa(chǎn)品進(jìn)行裁切，試樣尺寸應(yīng)不小于100mm×100mm。試樣數(shù)量為3個(gè)。采用雙折射應(yīng)力測(cè)試儀，儀器由雙折射光學(xué)機(jī)構(gòu)、運(yùn)動(dòng)機(jī)構(gòu)、試樣承載臺(tái)、控制系統(tǒng)構(gòu)成。雙折射應(yīng)力測(cè)試儀結(jié)構(gòu)裝置見圖5。應(yīng)力測(cè)量?jī)x光程差分辨力不小于0.001nm,儀器可進(jìn)行單點(diǎn)測(cè)試和多點(diǎn)步進(jìn)掃描測(cè)試。1——雙折射光學(xué)機(jī)構(gòu)；2——運(yùn)動(dòng)機(jī)構(gòu)；3——控制系統(tǒng)；4——試樣承載臺(tái)；5——試樣。圖5雙折射應(yīng)力測(cè)試儀結(jié)構(gòu)裝置圖5.14.3測(cè)試方法及數(shù)據(jù)處理5.14.3.1采用精度不低于0.1mm的游標(biāo)卡尺或相同精度的三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x測(cè)量試樣長(zhǎng)度和寬度，采用精度不低于0.001mm的螺旋測(cè)微計(jì)或非接觸式三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x測(cè)量試樣厚度。5.14.3.2校準(zhǔn)初始值：掃描儀器基線并進(jìn)行自動(dòng)校準(zhǔn)，并使雙折射光學(xué)機(jī)構(gòu)歸于零起始位。5.14.3.3將測(cè)試試樣水平放置在測(cè)試臺(tái)上。5.14.3.4光程差測(cè)定分為單點(diǎn)和多點(diǎn)兩種形式：a)單點(diǎn)：測(cè)定指定位置光程差；b)多點(diǎn)：按指定間距逐行逐列測(cè)定光程差，間距為40mm～60mm,測(cè)試起始點(diǎn)和終點(diǎn)距試樣邊緣距離不大于行列間距。5.14.3.5根據(jù)采集試樣的光程差結(jié)果，選出最大的光程差，然后按照公式(2)計(jì)算試樣單位厚度應(yīng)力光程差。式中：σ——試樣單位厚度應(yīng)力光程差，單位為納米每厘米(nm/cm);△l——光程差，單位為納米(nm);d——試樣厚度，單位為厘米(cm)。5.15彈性模量從產(chǎn)品上隨機(jī)切取玻璃作為試樣，試樣數(shù)量為3個(gè)，長(zhǎng)度：寬度=4:1,試樣尺寸宜為120mm×5.15.2測(cè)試方法及數(shù)據(jù)處理按照GB/T37780的規(guī)定進(jìn)行，取3個(gè)試樣測(cè)量結(jié)果的平均值作為彈性模量值，保留至小數(shù)點(diǎn)后兩位。5.16透射比(550nm)從產(chǎn)品上隨機(jī)切取100mm×100mm的玻璃作為試樣，試樣應(yīng)表面光滑、無缺陷。試樣數(shù)量為5.16.2測(cè)試方法及數(shù)據(jù)處理按照GB/T2680—2021規(guī)定的可見光透射比方法進(jìn)行，選取550nm波長(zhǎng)所對(duì)應(yīng)的透射比，取3個(gè)試樣測(cè)量數(shù)據(jù)的平均值作為結(jié)果，保留至小數(shù)點(diǎn)后兩位。5.17體積電阻率從產(chǎn)品上隨機(jī)切取表面光滑、無缺陷試樣，規(guī)格為50mm×50mm,在試樣表面兩側(cè)相對(duì)居中位置制備直徑為30mm～38mm的金屬電極。試樣數(shù)量為3個(gè)。5.17.2測(cè)試方法及數(shù)據(jù)處理按照GB/T31838.7—2021的規(guī)定進(jìn)行，其中試驗(yàn)程序按方法B進(jìn)行。取3個(gè)試樣測(cè)量數(shù)據(jù)的平均值作為結(jié)果，保留至小數(shù)點(diǎn)后兩位。5.18介電常數(shù)按照5.17.1規(guī)定的試樣制備方法進(jìn)行。5.18.2測(cè)試方法及數(shù)據(jù)處理按照GB/T1409的規(guī)定，選用1kHz頻率進(jìn)行測(cè)試，取3個(gè)試樣測(cè)量結(jié)果的平均值作為介電常數(shù)5.19介電損耗按照5.17.1規(guī)定的試樣制備方法進(jìn)行。5.19.2測(cè)試方法及數(shù)據(jù)處理按照GB/T1409的規(guī)定，選用1kHz頻率進(jìn)行測(cè)試。取3個(gè)試樣測(cè)量結(jié)果的平均值作為介電損耗值，保留至小數(shù)點(diǎn)后3位。5.20化學(xué)耐久性警告：使用本文件的人員應(yīng)有正規(guī)實(shí)驗(yàn)室工作的實(shí)踐經(jīng)驗(yàn)。本文件并未指出所有可能的安全問題。使用者有責(zé)任采取適當(dāng)?shù)陌踩徒】荡胧?，并保證符合國家有關(guān)法規(guī)規(guī)定的條件。按照GB/T32644—2016規(guī)定的失重法進(jìn)行，其中試驗(yàn)條件按以下進(jìn)行：a)10%HF,在22℃下侵蝕20min;b)5%HCl,在95℃下侵蝕24h;c)5%NaOH,在95℃下侵蝕6h。其中，化學(xué)試劑濃度以質(zhì)量分?jǐn)?shù)表示。試樣總表面積按照公式(3)計(jì)算。式中：A——待測(cè)試樣總的表面面積，單位為平方厘米(cm2);L——待測(cè)試樣的長(zhǎng)度，單位為厘米(cm);W——待測(cè)試樣的寬度，單位為厘米(cm);T待測(cè)試樣的厚度，單位為厘米(cm)。每種條件取3個(gè)試樣測(cè)量數(shù)據(jù)的平均值作為結(jié)果，保留至小數(shù)點(diǎn)后1位。5.21堿金屬氧化物含量按照GB/T1549的規(guī)定進(jìn)行，試樣數(shù)量為1個(gè)。堿金屬氧化物含量為氧化鋰、氧化鈉、氧化鉀的質(zhì)量分?jǐn)?shù)之和。6檢驗(yàn)規(guī)則6.1檢驗(yàn)分類檢驗(yàn)分為出廠檢驗(yàn)和型式檢驗(yàn)。6.2出廠檢驗(yàn)出廠檢驗(yàn)項(xiàng)目包含外觀質(zhì)量、尺寸偏差、翹曲。相同原材料、相同配方、相同工藝條件下，在規(guī)定時(shí)間內(nèi)生產(chǎn)的基板玻璃為一批?；宀ＡС鰪S檢驗(yàn)的抽樣方案應(yīng)符合表4的規(guī)定