(高清版)GB∕T 23901.3-2019 無損檢測 射線照相檢測圖像質(zhì)量 第3部分：像質(zhì)分類

GB/T23901.3—2019/ISO19232-3:2013代替GB/T23901.3—2009無損檢測射線照相檢測圖像質(zhì)量第3部分：像質(zhì)分類Part3:Imagequalityclasses國家市場監(jiān)督管理總局中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會IGB/T23901.3—2019/ISO19232-3:2013前言 Ⅲ 1 13術(shù)語和定義 1 25像質(zhì)計(jì)的放置 26像質(zhì)值的確定 27γ射線照相檢測的像質(zhì)值 28單壁透照技術(shù)(源側(cè)A級像質(zhì)) 39單壁透照技術(shù)(源側(cè)B級像質(zhì)) 410雙壁雙影透照技術(shù)(源側(cè)A級像質(zhì)) 511雙壁雙影透照技術(shù)(源側(cè)B級像質(zhì)) 612雙壁雙影或雙壁單影透照技術(shù)(探測器側(cè)A級像質(zhì)) 713雙壁雙影或雙壁單影透照技術(shù)(探測器側(cè)B級像質(zhì)) 8ⅢGB/T23901.3—2019/ISO19232-3:2013GB/T23901《無損檢測射線照相檢測圖像質(zhì)量》分為5個(gè)部分：——第2部分：階梯孔型像質(zhì)計(jì)像質(zhì)值的測定；——第3部分：像質(zhì)分類；——第4部分：像質(zhì)值和像質(zhì)表的實(shí)驗(yàn)評價(jià)；——第5部分：雙絲型像質(zhì)計(jì)圖像不清晰度的測定。本部分為GB/T23901的第3部分。本部分按照GB/T1.1—2009給出的規(guī)則起草。本部分代替GB/T23901.3—2009《無損檢測射線照相底片像質(zhì)第3部分：黑色金屬像質(zhì)分——修改了規(guī)范性引用文件(見第2章，2009年版的第2章);——修改了術(shù)語和定義(見第3章，2009年版的第3章);——更新了采用Ir192和Se75檢測時(shí)的像質(zhì)值確定方法，γ射線照相檢測的像質(zhì)值(見第7章，2009年版的表1～表4);——?jiǎng)h除了表1～表12中的腳注(見2009年版的表1～表12);本部分使用翻譯法等同采用ISO19232-3:2013《無損檢測射線照相檢測圖像質(zhì)量第3部分：像與本部分中規(guī)范性引用的國際文件有一致性對應(yīng)關(guān)系的我國文件如下：——GB/T19802—2005無損檢測工業(yè)射線照相觀片燈最低要求(ISO5580:1985,IDT)——GB/T19943—2005無損檢測金屬材料X和伽瑪射線照相檢測基本規(guī)則(ISO5579:——GB/T23901.1—2019無損檢測射線照相檢測圖像質(zhì)量第1部分：絲型像質(zhì)計(jì)像質(zhì)值的測定(ISO19232-1:2013,IDT)——GB/T23901.2—2019無損檢測射線照相檢測圖像質(zhì)量第2部分：階梯孔型像質(zhì)計(jì)像質(zhì)值的測定(ISO19232-2:2013,IDT)本部分由全國無損檢測標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(SAC/TC56)提出并歸口。GB/T23901.3—2019/ISO19232-3:2013本部分所代替標(biāo)準(zhǔn)的歷次版本發(fā)布情況為：——GB/T23901.3—2009。1GB/T23901.3—2019/ISO19232-3:2013無損檢測射線照相檢測圖像質(zhì)量GB/T23901的本部分規(guī)定了射線照相檢測時(shí)需達(dá)到的像質(zhì)值，以本部分適用于射線照相檢測時(shí)采用ISO19232-1規(guī)定的絲型像質(zhì)計(jì)和采用ISO19232-2規(guī)定的階ISO5579無損檢測金屬材料X或伽瑪射線照相檢測基本規(guī)則(Non-destructivetesting—Ra-diographicexaminationofmetallicmaterialsbyX-andgammarays—Basicrules)ISO5580無損檢測工業(yè)射線照相觀片燈最低要求(Non-destructivetesting—Industrialradi-ographicilluminators—Minimumrequirements)ISO17636(所有部分)焊縫無損檢測射線檢測(Non-destructivetestingofwelds—Radiographictesting)ISO19232-1無損檢測射線照相檢測圖像質(zhì)量第1部分：絲型像質(zhì)計(jì)像質(zhì)值的測定(Non-de-structivetesting—Imagequalityofradiographs—Part1:Determinationoftheimagequalityvalueu-singwire-typeimagequalityindicators)ISO19232-2無損檢測射線照相檢測圖像質(zhì)量第2部分：階梯孔型像質(zhì)計(jì)像質(zhì)值的測定(Non-destructivetesting—Imagequalityofradiographs—Part2:Determinationoftheimagequalityvalueusingstep/hole-typeimagequalityindicators)2GB/T23901.3—2019/ISO19232-3:20134像質(zhì)等級滿足ISO5579的檢測要求，可達(dá)到表1～表4的像質(zhì)等級。a)對于A級射線照相檢測技術(shù)，對應(yīng)A級圖像質(zhì)量(見ISO5579);b)對于B級射線照相檢測技術(shù)，對應(yīng)B級圖像質(zhì)量(見ISO5579)。表1～表4給出的像質(zhì)值是用于像質(zhì)計(jì)放在源測的情況。如果像質(zhì)計(jì)不能放在源測，可放在探測器側(cè)，在這種情況下不能使用表1～表4。4.2雙壁透照滿足ISO5579的檢測要求可達(dá)到表5～表12的像質(zhì)等級。a)對于A級射線照相檢測技術(shù)，對應(yīng)A級圖像質(zhì)量(見ISO5579);b)對于B級射線照相檢測技術(shù)，對應(yīng)B級圖像質(zhì)量(見ISO5579)。當(dāng)采用雙壁透照射線照相檢測技術(shù)時(shí)，透照厚度w為射線穿透的工件公稱厚度t的總和。表5～表8所示的像質(zhì)值適用于像質(zhì)計(jì)放在源側(cè)時(shí)雙壁雙影透照方法的A級和B級像質(zhì)等級。表9～表12所示的像質(zhì)值適用于像質(zhì)計(jì)放在探測器側(cè)時(shí)雙壁單影透照方法的A級和B級像質(zhì)等級，也適用于像質(zhì)計(jì)放在探測器側(cè)時(shí)雙壁雙影透照方法的A級和B級像質(zhì)等級，如按照ISO17636進(jìn)行橢圓透照檢測。5像質(zhì)計(jì)的放置射線照相檢測時(shí)，像質(zhì)計(jì)應(yīng)放置于被檢工件的源側(cè)表面。當(dāng)被檢工件的源側(cè)表面無法放置像質(zhì)計(jì)件厚度相對均勻的區(qū)域。如有特殊要求時(shí)應(yīng)按所采用標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定進(jìn)行。6像質(zhì)值的確定對于絲型像質(zhì)計(jì)，在圖像上能識別的最細(xì)絲的編號即為像質(zhì)值。當(dāng)圖像密度(或灰度)均勻部位能一般情況下，每次射線照相檢測均應(yīng)通過確定像質(zhì)值驗(yàn)證其檢測質(zhì)量是否滿足要求。在透照相似7γ射線照相檢測的像質(zhì)值當(dāng)使用Ir192或Se75進(jìn)行射線照相檢測時(shí)，如合同各方認(rèn)可如下規(guī)定，則所得像質(zhì)值可低于表1~3GB/T23901.3—2019/ISO19232-3:2013表12規(guī)定。雙壁雙影透照方法(表5～表8),透照厚度(w),像質(zhì)等級包括A級和B級：-—使用Ir192,10mm<w≤25mm,允許像質(zhì)值減少1;——使用Se75,5mm<w≤12mm,允許像質(zhì)值減少1。單壁單影透照方法和雙壁單影透照方法(表1、表2、表9和表10),透照厚度(w),像質(zhì)等級為——使用Ir192,10mm<w≤24mm,允許像質(zhì)值減少2;——使用Ir192,24mm<w≤30mm,允許像質(zhì)值減少1;——使用Se75,5mm<w≤24mm,允許像質(zhì)值減少1。單壁單影透照方法和雙壁單影透照方法(表3、表4、表11和表12),透照厚度(w),像質(zhì)等級為——使用Ir192,10mm<w≤40mm,允許像質(zhì)值減少1;——使用Se75,5mm<w≤20mm,允許像質(zhì)值減少1。8單壁透照技術(shù)(源側(cè)A級像質(zhì))像質(zhì)計(jì)置于源側(cè)，應(yīng)達(dá)到的A級像質(zhì)值見表1～表2。A級像質(zhì)公稱厚度t/mm像質(zhì)值2<t≤3.54GB/T23901.3—2019/ISO19232-3:2013公稱厚度t/mm像質(zhì)值2<t≤3.59單壁透照技術(shù)(源側(cè)B級像質(zhì))像質(zhì)計(jì)置于源側(cè)，應(yīng)達(dá)到的B級像質(zhì)值見表3～表4。B級像質(zhì)公稱厚度t/mm像質(zhì)值t≤1.55GB/T23901.3—2019/ISO19232-3:2013表3(續(xù))B級像質(zhì)公稱厚度t/mm像質(zhì)值表4階梯孔型像質(zhì)計(jì)像質(zhì)B級像質(zhì)公稱厚度t/mm像質(zhì)值10雙壁雙影透照技術(shù)(源側(cè)A級像質(zhì))像質(zhì)計(jì)置于源側(cè)，應(yīng)達(dá)到的A級像質(zhì)值見表5～表6。表5絲型像質(zhì)計(jì)像質(zhì)A級像質(zhì)透照厚度w/mm像質(zhì)值w≤1.2W18W176GB/T23901.3—2019/ISO19232-3:2013表5(續(xù))透照厚度w/mm像質(zhì)值2<w≤3.5w>380透照厚度w/mm像質(zhì)值w≤12<w≤3.53.5<w≤5.511雙壁雙影透照技術(shù)(源側(cè)B級像質(zhì))像質(zhì)計(jì)置于源側(cè)，應(yīng)達(dá)到的B級像質(zhì)值見表7～表8。7GB/T23901.3—2019/ISO19232-3:2013B級像質(zhì)透照厚度w/mm像質(zhì)值w≤1.5w>250B級像質(zhì)透照厚度w/mm像質(zhì)值w≤112雙壁雙影或雙壁單影透照技術(shù)(探測器側(cè)A級像質(zhì))像質(zhì)計(jì)置于探測器側(cè)，應(yīng)達(dá)到的A級像質(zhì)值見表9～表10。8GB/T23901.3—2019/ISO19232-3:2013透照厚度w/mm像質(zhì)值w≤1.22<w≤3.5w>375表10階梯孔型像質(zhì)計(jì)像質(zhì)透照厚度w/mm像質(zhì)值w≤213雙壁雙影或雙壁單影透照技術(shù)(探測器側(cè)B級像質(zhì))像質(zhì)計(jì)置于探測器側(cè)，應(yīng)達(dá)到的B級像質(zhì)值見表11～表12。GB/T23901.3—2019/ISO19232-3:2013表11絲型像質(zhì)計(jì)像質(zhì)