硬件測(cè)試概述PPT課件

1、硬件測(cè)試介紹,課件大綱,硬件測(cè)試概述 測(cè)試前準(zhǔn)備 硬件測(cè)試的種類(lèi)與操作 硬件測(cè)試的級(jí)別 可靠性測(cè)試 測(cè)試問(wèn)題的解決 測(cè)試效果評(píng)估 測(cè)試規(guī)范的制定 測(cè)試人員的培養(yǎng),硬件測(cè)試概述,1、硬件測(cè)試的概念 測(cè)試是為了發(fā)現(xiàn)而執(zhí)行操作的過(guò)程 測(cè)試是為了證明設(shè)計(jì)有錯(cuò)，而不是證明設(shè)計(jì)無(wú)錯(cuò)誤 一個(gè)好的測(cè)試用例是在于它能發(fā)現(xiàn)至今未發(fā)現(xiàn)的錯(cuò)誤 一個(gè)成功的測(cè)試是發(fā)現(xiàn)了“至今未發(fā)現(xiàn)的錯(cuò)誤”的測(cè)試,硬件測(cè)試概述,2、硬件測(cè)試的目的 測(cè)試的目的決定了如何去組織測(cè)試，如果測(cè)試的目的是為了盡可能多地找出錯(cuò)誤，那么測(cè)試就應(yīng)該直接針對(duì)設(shè)計(jì)比較復(fù)雜的部分或是以前出錯(cuò)比較多的位置。如果測(cè)試目的是為了給最終用戶提供具有一定可信度的質(zhì)量評(píng)價(jià)

2、，那么測(cè)試就應(yīng)該直接針對(duì)在實(shí)際應(yīng)用中會(huì)經(jīng)常用到的商業(yè)假設(shè),硬件測(cè)試概述,3、硬件測(cè)試的目標(biāo)產(chǎn)品的零缺陷 關(guān)注點(diǎn)：產(chǎn)品規(guī)格功能的實(shí)現(xiàn)，性能指標(biāo)，可靠性，可測(cè)試性，易用性等 實(shí)現(xiàn)的保障：產(chǎn)品的零缺陷構(gòu)筑于最底層的設(shè)計(jì)，源于每一個(gè)函數(shù)、每一行代碼、每一部分單元電路及每一個(gè)電信號(hào)。測(cè)試就是要排除每一處故障和每一處隱患，從而構(gòu)建一個(gè)零缺陷的產(chǎn)品。 MTBF不是計(jì)算出來(lái)的，而是設(shè)計(jì)出來(lái)的,硬件測(cè)試概述,4、硬件測(cè)試的意義 測(cè)試并不僅僅是為了要找出錯(cuò)誤。通過(guò)分析錯(cuò)誤產(chǎn)生的原因和錯(cuò)誤的分布特征，可以幫助項(xiàng)目管理者發(fā)現(xiàn)當(dāng)前設(shè)計(jì)過(guò)程的缺陷，以便改進(jìn)。同時(shí)，這種分析也能幫助我們?cè)O(shè)計(jì)出有針對(duì)性地檢測(cè)方法，改善測(cè)試的有

3、效性 沒(méi)有發(fā)現(xiàn)錯(cuò)誤的測(cè)試也是有價(jià)值的，完整的測(cè)試是評(píng)定測(cè)試質(zhì)量的一種方法,硬件測(cè)試概述,5、目前業(yè)界硬件測(cè)試的開(kāi)展?fàn)顩r 隨著質(zhì)量的進(jìn)一步要求，硬件測(cè)試工作在產(chǎn)品研發(fā)階段的投入比例已經(jīng)向測(cè)試傾斜，許多知名的國(guó)際企業(yè)，硬件測(cè)試人員的數(shù)量遠(yuǎn)大于開(kāi)發(fā)人員。而且對(duì)于硬件測(cè)試人員的技術(shù)水平要求也要大于開(kāi)發(fā)人員,硬件測(cè)試概述,6、硬件測(cè)試在企業(yè)價(jià)值鏈中的地位 采購(gòu)研發(fā)測(cè)試生產(chǎn)銷(xiāo)售 測(cè)試是每項(xiàng)成功產(chǎn)品的必經(jīng)環(huán)節(jié),硬件測(cè)試概述,7、硬件測(cè)試對(duì)公司形象和公司發(fā)展的重要性 硬件測(cè)試是評(píng)估產(chǎn)品質(zhì)量的重要方法 產(chǎn)品質(zhì)量是公司的信譽(yù)和品牌象征 公司的信譽(yù)和質(zhì)量決定了公司的發(fā)展前景,硬件測(cè)試概述,8、硬件測(cè)試的一般流程和各

4、階段點(diǎn)的輸出文件,課件大綱,硬件測(cè)試概述 測(cè)試前準(zhǔn)備 硬件測(cè)試的種類(lèi)與操作 硬件測(cè)試的級(jí)別 可靠性測(cè)試 測(cè)試問(wèn)題的解決 測(cè)試效果評(píng)估 測(cè)試規(guī)范的制定 測(cè)試人員的培養(yǎng),測(cè)試前準(zhǔn)備,1、正規(guī)檢視 硬件設(shè)計(jì)審查 原理圖檢視 PCB檢視 發(fā)現(xiàn)硬件設(shè)計(jì)原理缺陷 發(fā)現(xiàn)成本浪費(fèi)問(wèn)題 發(fā)現(xiàn)降額不規(guī)范設(shè)計(jì) 發(fā)現(xiàn)布局和布線的缺陷 發(fā)現(xiàn)EMC等專(zhuān)項(xiàng)設(shè)計(jì)缺陷,測(cè)試前準(zhǔn)備,2、正規(guī)檢視的流程 檢視專(zhuān)家的確定 評(píng)審專(zhuān)家預(yù)檢視 檢視問(wèn)題反饋整理 檢視會(huì)議召開(kāi) 檢視問(wèn)題確認(rèn)，解決 檢視問(wèn)題跟蹤,測(cè)試前準(zhǔn)備,3、測(cè)試計(jì)劃 描述該測(cè)試計(jì)劃所應(yīng)達(dá)到的目標(biāo)如下（可依據(jù)項(xiàng)目的實(shí)際要求做適當(dāng)調(diào)整）； 所有測(cè)試需求都已被標(biāo)識(shí)出來(lái)； 測(cè)試的

5、工作量已被正確估計(jì)并合理地分配了人力、物力資源； 測(cè)試的進(jìn)度安排是基于工作量估計(jì)的、適用的； 測(cè)試啟動(dòng)、停止的準(zhǔn)則已被標(biāo)識(shí)； 測(cè)試輸出的工作產(chǎn)品是以標(biāo)識(shí)的、受控的和適用的,測(cè)試前準(zhǔn)備,測(cè)試計(jì)劃的內(nèi)容： 測(cè)試對(duì)象，明確版本，范圍，任務(wù)劃分； 角色和職責(zé)； 測(cè)試和不被測(cè)試的特性原因； 測(cè)試通過(guò)與否的標(biāo)準(zhǔn)； 測(cè)試任務(wù)安排； 測(cè)試結(jié)束的交付件； 工作量評(píng)估,測(cè)試前準(zhǔn)備,4、測(cè)試用例 測(cè)試用例更多的是需要描述測(cè)試方法，測(cè)試步驟，測(cè)試的預(yù)期效果，需要達(dá)到的指標(biāo)。需要更加詳細(xì)的對(duì)每一條測(cè)試項(xiàng)目進(jìn)行描述； 測(cè)試用例是直接用來(lái)指導(dǎo)測(cè)試的，所以對(duì)測(cè)試項(xiàng)目的描述需要更具體，更便于參考操作,測(cè)試前準(zhǔn)備,測(cè)試用例的一般

6、格式： 測(cè)試用例編號(hào)； 測(cè)試項(xiàng)目（模塊或單元）； 測(cè)試子項(xiàng)目（子項(xiàng)目描述）； 測(cè)試級(jí)別（必測(cè)，選擇，可測(cè)）； 測(cè)試條件（環(huán)境、儀器等相關(guān)要求）； 測(cè)試步驟和方法（具體細(xì)致的操作方法）； 應(yīng)達(dá)到的指標(biāo)和預(yù)期效果； 備注,測(cè)試前準(zhǔn)備,5、測(cè)試需求的來(lái)源 一切測(cè)試的需求都來(lái)自于產(chǎn)品設(shè)計(jì)的規(guī)格，規(guī)格來(lái)自于用戶的需求。因此我們的測(cè)試是針對(duì)產(chǎn)品規(guī)格的測(cè)試。具體可以從以下幾方面進(jìn)行考慮： 產(chǎn)品設(shè)計(jì)功能： 根據(jù)功能的實(shí)現(xiàn)，分別對(duì)實(shí)現(xiàn)該功能的各個(gè)環(huán)節(jié)進(jìn)行測(cè)試，從硬件、單板軟件、高層軟件到用戶界面，只有各個(gè)環(huán)節(jié)都暢通無(wú)阻，才能保證該功能的正常實(shí)現(xiàn)； 可靠性： 備份、倒換、插拔、互助、自愈等,測(cè)試前準(zhǔn)備,測(cè)試需求的

7、來(lái)源（續(xù)）： 指標(biāo)性能需求： 指標(biāo)包括電接口指標(biāo)、光接口指標(biāo)、時(shí)鐘指標(biāo)、傳輸指標(biāo)和指標(biāo)容差； 指標(biāo)一般都有相關(guān)的標(biāo)準(zhǔn)可查。性能一般可以從容量、處理能力、容限等方面去考慮，一般是測(cè)試異常輸入條件下的單元、模塊、系統(tǒng)處理情況。性能測(cè)試的異常條件主要是指邊界條件、異常條件及故障相關(guān)性； 組網(wǎng)： 組網(wǎng)需求：電信網(wǎng)組網(wǎng)、異種廠商的互聯(lián),測(cè)試前準(zhǔn)備,測(cè)試需求的來(lái)源（續(xù)）： 應(yīng)用環(huán)境： 應(yīng)用環(huán)境一般可從以下幾個(gè)方面考慮： 高溫、低溫、高低溫循環(huán)工作、鹽霧、濕熱、防塵、接地、電源、振動(dòng)、沖擊、存儲(chǔ)、運(yùn)輸和電磁兼容性、斷電恢復(fù)性,課件大綱,硬件測(cè)試概述 測(cè)試前準(zhǔn)備 硬件測(cè)試的種類(lèi)與操作 硬件測(cè)試的級(jí)別 可靠性測(cè)

8、試 測(cè)試問(wèn)題的解決 測(cè)試效果評(píng)估 測(cè)試規(guī)范的制定 測(cè)試人員的培養(yǎng),硬件測(cè)試的種類(lèi)與操作,1、測(cè)試設(shè)計(jì) 測(cè)試并不是簡(jiǎn)單意義上的一些測(cè)試操作，在測(cè)試前需要有詳細(xì)的設(shè)計(jì)，周密的策劃，測(cè)試是一項(xiàng)高難度的工作。 測(cè)試設(shè)計(jì)的概念范圍很廣，大致可以分為以下幾類(lèi)： 設(shè)計(jì)測(cè)試平臺(tái)，用此測(cè)試平臺(tái)能進(jìn)行通用項(xiàng)目的測(cè)試，或是進(jìn)行能用此測(cè)試平臺(tái)做一類(lèi)測(cè)試； 設(shè)計(jì)測(cè)試工具，設(shè)計(jì)測(cè)試軟件； 設(shè)計(jì)測(cè)試工裝； 設(shè)計(jì)測(cè)試用例、測(cè)試方法等,硬件測(cè)試的種類(lèi)與操作,測(cè)試設(shè)計(jì)的好處： 良好的測(cè)試設(shè)計(jì)和有效測(cè)試工具可減少重復(fù)低效的勞動(dòng)； 有效地開(kāi)發(fā)利用測(cè)試工具可使測(cè)試更深入、更全面； 有些復(fù)雜的測(cè)試只能依靠測(cè)試工具進(jìn)行自動(dòng)測(cè)試； 在測(cè)試中

9、經(jīng)常進(jìn)行測(cè)試設(shè)計(jì)師提升技術(shù)水平的有效手段； 我們?cè)谧鰷y(cè)試工作時(shí)，不能因循守舊，需要時(shí)刻考慮如何改進(jìn)我們的測(cè)試效果，提高我們的測(cè)試效率，在測(cè)試點(diǎn)上進(jìn)行深入研究，開(kāi)發(fā)測(cè)試工具，最終使我們的所有點(diǎn)的測(cè)試達(dá)到自動(dòng)化,硬件測(cè)試的種類(lèi)與操作,良好的測(cè)試設(shè)計(jì)同樣也是節(jié)約測(cè)試成本的手段 現(xiàn)在的測(cè)試工作中，經(jīng)常會(huì)遇到一些無(wú)法在實(shí)驗(yàn)室模擬的情況，可能在實(shí)際現(xiàn)場(chǎng)也無(wú)法模擬，并且如果要模擬所花的代價(jià)很大，如滿配置、最大負(fù)荷的情況，而這些項(xiàng)目的測(cè)試通過(guò)與否是檢驗(yàn)系統(tǒng)性能的重要手段。這個(gè)測(cè)試任務(wù)便給我們提出了編寫(xiě)測(cè)試軟件模擬大負(fù)荷情況的要求。不但實(shí)現(xiàn)和自動(dòng)化，而且大幅度的節(jié)約了成本,硬件測(cè)試的種類(lèi)與操作,2、基礎(chǔ)指標(biāo)測(cè)試

10、 信號(hào)質(zhì)量測(cè)試: 基本的信號(hào)質(zhì)量測(cè)試是通過(guò)測(cè)試單板上的各種信號(hào)質(zhì)量，根據(jù)信號(hào)種類(lèi)的不同，用不同的指標(biāo)來(lái)衡量信號(hào)質(zhì)量的好壞，并對(duì)信號(hào)質(zhì)量的分析，發(fā)現(xiàn)系統(tǒng)設(shè)計(jì)中的不足。 測(cè)試人員根據(jù)已有的信號(hào)質(zhì)量、時(shí)序調(diào)試和測(cè)試方面的規(guī)范、指導(dǎo)書(shū)在單板調(diào)試階段完成對(duì)單板信號(hào)質(zhì)量的全面測(cè)試并完整記錄結(jié)果。 測(cè)試儀器示波器,硬件測(cè)試的種類(lèi)與操作,時(shí)序測(cè)試: 對(duì)板內(nèi)信號(hào)時(shí)序進(jìn)行調(diào)試，驗(yàn)證信號(hào)實(shí)際時(shí)序關(guān)系是否可靠，是否滿足器件要求和設(shè)計(jì)要求，分析設(shè)計(jì)裕量，評(píng)價(jià)單板工作可靠性。 測(cè)試人員根據(jù)已有的信號(hào)質(zhì)量、時(shí)序調(diào)試和測(cè)試方面的規(guī)范、指導(dǎo)書(shū)在單板調(diào)試階段完成對(duì)單板時(shí)序（包括邏輯外部時(shí)序）的全面調(diào)試和測(cè)試。 測(cè)試儀器示波器、邏

11、輯分析儀,硬件測(cè)試的種類(lèi)與操作,3、功能測(cè)試 功能測(cè)試是根據(jù)硬件詳細(xì)設(shè)計(jì)報(bào)告中提及的功能規(guī)格進(jìn)行測(cè)試，驗(yàn)證設(shè)計(jì)十分滿足要求。 功能測(cè)試是系統(tǒng)功能實(shí)現(xiàn)的基本，是需要嚴(yán)格保證測(cè)試通過(guò)率的。如被測(cè)對(duì)象與其規(guī)格說(shuō)明、總體/詳細(xì)設(shè)計(jì)文檔之間存在任何差異的均需要詳細(xì)描述。 一般包括：電源、CPU、邏輯、復(fù)位、倒換、監(jiān)控、時(shí)鐘、業(yè)務(wù)等,硬件測(cè)試的種類(lèi)與操作,4、性能測(cè)試容限測(cè)試 指使系統(tǒng)正常工作的輸入允許變化范圍。容限測(cè)試的目的是通過(guò)測(cè)試明確知道我們的設(shè)備到底在什么的條件范圍下能夠正常工作，薄弱環(huán)節(jié)到底在哪兒！ 能否發(fā)現(xiàn)和驗(yàn)證器件降額的問(wèn)題，系統(tǒng)工作允許范圍內(nèi)的臨界點(diǎn)上的性能,硬件測(cè)試的種類(lèi)與操作,5、容錯(cuò)

12、測(cè)試FIT 指通過(guò)冗余設(shè)計(jì)等手段避免、減小某些故障對(duì)系統(tǒng)造成的影響以及在外部異常條件恢復(fù)后系統(tǒng)能夠自動(dòng)恢復(fù)正常的能力。容錯(cuò)測(cè)試的目的是要檢驗(yàn)系統(tǒng)對(duì)異常情況是否有足夠的保護(hù)，是否會(huì)由于某些異常條件造成故障不能自動(dòng)恢復(fù)的嚴(yán)重后果。 容錯(cuò)測(cè)試的一般方法就是采用故障插入的方式，模擬一些在產(chǎn)品使用過(guò)程中可能會(huì)產(chǎn)生的故障因素，進(jìn)而考察產(chǎn)品的可靠性及故障處理能力的一種測(cè)試方法,硬件測(cè)試的種類(lèi)與操作,容錯(cuò)測(cè)試項(xiàng)目的來(lái)源主要是通過(guò)FMEA獲得，是驗(yàn)證FMEA分析結(jié)果的一種手段。而且某些通過(guò)FMEA分析無(wú)法準(zhǔn)確獲得結(jié)論的項(xiàng)目也要通過(guò)FIT來(lái)進(jìn)行模擬。 容錯(cuò)測(cè)試還包括的另外一個(gè)主要內(nèi)容就是操作方面的，主要模擬在用戶

13、使用不當(dāng)?shù)臅r(shí)候系統(tǒng)的容忍錯(cuò)誤的能力,硬件測(cè)試的種類(lèi)與操作,容錯(cuò)測(cè)試一般允許出現(xiàn)一些功能異常，但是不能出現(xiàn)功能喪失或故障擴(kuò)散等嚴(yán)重的安全隱患。 常用的故障插入測(cè)試方法有時(shí)鐘拉偏、誤碼插入、電源加擾等，常用的測(cè)試工具有些是專(zhuān)用的，有些是內(nèi)部開(kāi)發(fā)的。 通過(guò)容錯(cuò)測(cè)試，還可以確定在產(chǎn)品的實(shí)際應(yīng)用過(guò)程中哪些錯(cuò)事易發(fā)生的，哪些錯(cuò)是可以避免的，以盡量減少損失,硬件測(cè)試的種類(lèi)與操作,6、長(zhǎng)時(shí)間驗(yàn)證測(cè)試 由于電子類(lèi)產(chǎn)品很多事需要長(zhǎng)時(shí)間運(yùn)行的，所以進(jìn)行長(zhǎng)時(shí)間的驗(yàn)證測(cè)試是很有必要的； 某些器件應(yīng)用不當(dāng)?shù)脑O(shè)計(jì)，更容易在長(zhǎng)時(shí)間的運(yùn)行中才會(huì)顯露出來(lái)； 系統(tǒng)的散熱能力也只有在長(zhǎng)時(shí)間的大功率運(yùn)行時(shí)才容易暴露； 長(zhǎng)時(shí)間的運(yùn)行才容

14、易發(fā)生某些被忽略的偶然因素，容易發(fā)現(xiàn)某些潛在的問(wèn)題,硬件測(cè)試的種類(lèi)與操作,7、一致性測(cè)試 一致性測(cè)試是指將不同批次的產(chǎn)品分別取樣，進(jìn)行測(cè)試驗(yàn)證，考察產(chǎn)品功能和性能方面的一致性的測(cè)試。 為了驗(yàn)證不同生產(chǎn)批次的產(chǎn)品質(zhì)量和不同批次器件的質(zhì)量，是否具有較高的一致性，是否能夠滿足產(chǎn)品的功能和使用條件要求,硬件測(cè)試的種類(lèi)與操作,測(cè)試要點(diǎn) 測(cè)試至少要包含2個(gè)批次以上的不同器件批次和生產(chǎn)批次的產(chǎn)品； 測(cè)試項(xiàng)目要包含所有的功能測(cè)試項(xiàng)目，和重要的信號(hào)質(zhì)量和時(shí)序等項(xiàng)目； 重點(diǎn)需要驗(yàn)證長(zhǎng)時(shí)間的穩(wěn)定性是否一致； 如果具備條件，需要驗(yàn)證在環(huán)境條件變化時(shí)（如高溫環(huán)境），各樣品的一致性能,硬件測(cè)試的種類(lèi)與操作,8、可靠性數(shù)據(jù)

15、預(yù)計(jì) 這里的可靠性數(shù)據(jù)一般包含MTBF（平均故障間隔時(shí)間）、MTTR（平均修復(fù)時(shí)間）、失效率、可用度、返修率等。 可靠性數(shù)據(jù)預(yù)計(jì)的集成式FMEA分析，通過(guò)分析獲得,課件大綱,硬件測(cè)試概述 測(cè)試前準(zhǔn)備 硬件測(cè)試的種類(lèi)與操作 硬件測(cè)試的級(jí)別 可靠性測(cè)試 測(cè)試問(wèn)題的解決 測(cè)試效果評(píng)估 測(cè)試規(guī)范的制定 測(cè)試人員的培養(yǎng),硬件測(cè)試的級(jí)別,1、黑盒測(cè)試與白盒測(cè)試 黑盒測(cè)試注重于測(cè)試功能性需求，將測(cè)試對(duì)象看成一個(gè)黑盒子，對(duì)外只有輸入、輸出。 設(shè)計(jì)黑盒測(cè)試用例只對(duì)于表現(xiàn)在外接口的各種輸入，對(duì)不同的輸入，測(cè)試其表現(xiàn)出來(lái)的輸出，從而達(dá)到測(cè)試功能的目的。 白盒測(cè)試主要測(cè)試模塊內(nèi)部的邏輯細(xì)節(jié)，各個(gè)獨(dú)立的邏輯路徑。黑盒測(cè)

16、試不管多么全面，都可能忽略這些錯(cuò)誤。 設(shè)計(jì)白盒測(cè)試用例需要構(gòu)造到信號(hào)、邏輯或消息級(jí),硬件測(cè)試的級(jí)別,具體測(cè)試時(shí)結(jié)合使用： 白盒測(cè)試與黑盒測(cè)試各有優(yōu)勢(shì)，設(shè)計(jì)測(cè)試用例時(shí)應(yīng)結(jié)合使用。 舉例： 對(duì)于輸入開(kāi)關(guān)機(jī)的測(cè)試，一般采用黑盒測(cè)試，設(shè)計(jì)的測(cè)試用例為：快速上、下電，頻繁上、下電等； 對(duì)于時(shí)鐘電路、鎖相環(huán)等的測(cè)試，就需要設(shè)計(jì)白盒測(cè)試用例，如鎖相范圍、靜態(tài)相差、固有抖動(dòng)、抖動(dòng)容限等,硬件測(cè)試的級(jí)別,2、測(cè)試的級(jí)別 硬件測(cè)試按照系統(tǒng)的復(fù)雜程度，一般分為： 單元測(cè)試針對(duì)獨(dú)立功能單元的測(cè)試； 集成測(cè)試針對(duì)具有一定集成度的功能子系統(tǒng)的測(cè)試； 系統(tǒng)測(cè)試針對(duì)完整的系統(tǒng)整體的測(cè)試,課件大綱,硬件測(cè)試概述 測(cè)試前準(zhǔn)備 硬

17、件測(cè)試的種類(lèi)與操作 硬件測(cè)試的級(jí)別 可靠性測(cè)試 測(cè)試問(wèn)題的解決 測(cè)試效果評(píng)估 測(cè)試規(guī)范的制定 測(cè)試人員的培養(yǎng),可靠性測(cè)試,1、EMC電磁兼容性 電磁騷擾測(cè)試： 輻射騷擾測(cè)試（RE） 傳導(dǎo)騷擾測(cè)試（CE） 諧波電流騷擾測(cè)試（Harmonic） 電壓波動(dòng)與閃爍測(cè)試 （Fluctuctions and flicker,可靠性測(cè)試,電磁敏感度測(cè)試： 輻射騷擾測(cè)試（RE） 傳導(dǎo)騷擾抗擾度測(cè)試（CS） 電快速瞬變脈沖群抗擾度測(cè)試（EFT） 靜電放電抗擾度測(cè)試（ESD） 電壓跌落、短時(shí)中斷抗擾度測(cè)試 （DIP/interruption） 工頻磁場(chǎng)抗擾度測(cè)試（PMS） 浪涌（沖擊）抗擾度測(cè)試（SURGE,可靠

18、性測(cè)試,2、安規(guī) 輸入測(cè)試 溫升測(cè)試 耐壓測(cè)試 接觸電流測(cè)試 接地連續(xù)性測(cè)試 異常溫升測(cè)試 元件異常測(cè)試 激光輻射測(cè)試 TNV電路和地的隔離測(cè)試 TNV電路電壓測(cè)試 電容放電測(cè)試 單板安規(guī)審查 TNV電路和其他電路的隔離測(cè)試,可靠性測(cè)試,3、環(huán)境試驗(yàn) 一般電子類(lèi)產(chǎn)品涉及的環(huán)境測(cè)試有以下種類(lèi)： 氣候類(lèi) 低溫存儲(chǔ) 高溫存儲(chǔ) 低溫工作 高溫工作 熱測(cè)試 溫度循環(huán) 交變濕熱 低溫極限試驗(yàn) 高溫極限試驗(yàn) 噪聲測(cè)試,可靠性測(cè)試,環(huán)境試驗(yàn) 機(jī)械振動(dòng)類(lèi) 振動(dòng)試驗(yàn) 碰撞試驗(yàn) 跌落試驗(yàn) 沖擊試驗(yàn) 模擬運(yùn)輸試驗(yàn) 實(shí)地跑車(chē),可靠性測(cè)試,環(huán)境試驗(yàn)注意事項(xiàng)： 整個(gè)系統(tǒng)根據(jù)實(shí)際情況進(jìn)行接地，否則不能模擬實(shí)際使用情況； 保持

19、測(cè)試儀器的良好接地，以保證測(cè)試人員的安全； 對(duì)于耐受性測(cè)試，試驗(yàn)工程師必須在試驗(yàn)現(xiàn)場(chǎng)看守，以防止試驗(yàn)故障導(dǎo)致的意外事故，并且必須在試驗(yàn)區(qū)加危險(xiǎn)告示標(biāo)識(shí),可靠性測(cè)試,4、HALT HALT（Highly Accelerated Life Test）的全稱(chēng)是高加速壽命試驗(yàn)，是一種試驗(yàn)方法，采用的環(huán)境應(yīng)力比加速試驗(yàn)更加嚴(yán)酷。 主要應(yīng)用于產(chǎn)品開(kāi)發(fā)階段，它能以較短的時(shí)間促使產(chǎn)品的設(shè)計(jì)和工藝缺陷暴露出來(lái)，從而為我們做設(shè)計(jì)改進(jìn)，為提升產(chǎn)品可靠性提供依據(jù),可靠性測(cè)試,HALT 的基本特點(diǎn)： 試驗(yàn)前無(wú)法給定環(huán)境應(yīng)力值，無(wú)依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)； 以加速暴露缺陷為目的； 直接有助于提高產(chǎn)品可靠性； 結(jié)論是發(fā)現(xiàn)的缺陷和改進(jìn)方法,

20、可靠性測(cè)試,HALT試驗(yàn)的優(yōu)點(diǎn)： 試驗(yàn)時(shí)間短； 效果明顯，快速發(fā)現(xiàn)設(shè)計(jì)和工藝的局限性； 縮短開(kāi)發(fā)時(shí)間和費(fèi)用； 評(píng)估產(chǎn)品更改的有力支撐工程工具,課件大綱,硬件測(cè)試概述 測(cè)試前準(zhǔn)備 硬件測(cè)試的種類(lèi)與操作 硬件測(cè)試的級(jí)別 可靠性測(cè)試 測(cè)試問(wèn)題的解決 測(cè)試效果評(píng)估 測(cè)試規(guī)范的制定 測(cè)試人員的培養(yǎng),測(cè)試問(wèn)題解決,1、測(cè)試問(wèn)題的危害確認(rèn) 站在用戶的角度看待測(cè)試問(wèn)題，小問(wèn)題也是問(wèn)題： 產(chǎn)品的最終使用者是用戶； 對(duì)于一個(gè)疑點(diǎn)是否屬于問(wèn)題，最有發(fā)言權(quán)的是用戶； 測(cè)試工程師應(yīng)該站在用戶的角度來(lái)看待每一個(gè)小問(wèn)題，假設(shè)用戶看到問(wèn)題表現(xiàn)后的反應(yīng),測(cè)試問(wèn)題解決,2、測(cè)試缺陷等級(jí)的劃分 致命缺陷（CRI）：引起系統(tǒng)死機(jī)或系

21、統(tǒng)崩潰 的問(wèn)題； 嚴(yán)重缺陷（MAJ）：引起系統(tǒng)某一功能失效且不能簡(jiǎn)單恢復(fù)的問(wèn)題； 一般缺陷（MIN）：引起系統(tǒng)某一功能失效但可以簡(jiǎn)單恢復(fù)或較難復(fù)現(xiàn)的問(wèn)題； 輕微缺陷：從操作或維護(hù)的角度發(fā)現(xiàn)的問(wèn)題或建議,測(cè)試問(wèn)題解決,3、測(cè)試問(wèn)題的種類(lèi)確認(rèn)： 可重現(xiàn)問(wèn)題 每次重現(xiàn)（每次測(cè)試故障現(xiàn)象均會(huì)重復(fù)發(fā)生的問(wèn)題） 偶爾重現(xiàn)（不定期出現(xiàn)的問(wèn)題，暫時(shí)沒(méi)有發(fā)現(xiàn)觸發(fā)條件） 不可重現(xiàn)問(wèn)題 問(wèn)題只出現(xiàn)過(guò)一次，在后續(xù)的測(cè)試過(guò)程中沒(méi)有再次發(fā)生,測(cè)試問(wèn)題解決,4、測(cè)試問(wèn)題的定位 定位方法 自動(dòng)定位系統(tǒng)通過(guò)自動(dòng)檢測(cè)等手段可以直接產(chǎn)生相關(guān)的告警； 人為定位通過(guò)人的現(xiàn)場(chǎng)觀察或者借助一定的測(cè)試手段可以定位； 不可定位在現(xiàn)場(chǎng)無(wú)法定位，

22、需要借助專(zhuān)用的測(cè)試工具或是專(zhuān)業(yè)的人員才可能定位的問(wèn)題； 恢復(fù)方式 自動(dòng)恢復(fù)、手動(dòng)恢復(fù)、不可恢復(fù),測(cè)試問(wèn)題解決,5、測(cè)試問(wèn)題反饋方式和注意事項(xiàng) 測(cè)試工程師發(fā)現(xiàn)的任何問(wèn)題都應(yīng)該以問(wèn)題反饋單的形式反饋； 盡量不要測(cè)試人員直接協(xié)調(diào)開(kāi)發(fā)人員解決問(wèn)題，如果是為了保留測(cè)試環(huán)境或解決某些難以重現(xiàn)的問(wèn)題，可以先通知開(kāi)發(fā)人員了解故障現(xiàn)象，同時(shí)需要盡快補(bǔ)交問(wèn)題反饋單； 問(wèn)題反饋時(shí)應(yīng)盡量將故障現(xiàn)象、觸發(fā)條件、環(huán)境因素、組網(wǎng)情況等信息描述清楚，以便問(wèn)題的處理； 養(yǎng)成保留現(xiàn)場(chǎng)的習(xí)慣,測(cè)試問(wèn)題解決,6、測(cè)試問(wèn)題跟蹤和解決流程 測(cè)試工程師提交問(wèn)題反饋單 測(cè)試經(jīng)理審批并轉(zhuǎn)給相應(yīng)的處理部門(mén)經(jīng)理； 受理部門(mén)經(jīng)理審批并轉(zhuǎn)給開(kāi)發(fā)工程師

23、處理； 開(kāi)發(fā)工程師處理問(wèn)題并返還受理部門(mén)經(jīng)理審批； 返還測(cè)試經(jīng)理審批； 測(cè)試經(jīng)理返回測(cè)試工程師； 測(cè)試工程師回歸測(cè)試,測(cè)試問(wèn)題解決,7、問(wèn)題反饋?zhàn)⒁馐马?xiàng)： 流程中間的任何環(huán)節(jié)都可以通過(guò)正當(dāng)?shù)睦碛煞祷厣弦患?jí)處理； 禁止跨流程、跨人員審批； 每個(gè)環(huán)節(jié)都應(yīng)該有相應(yīng)的時(shí)間要求，不允許無(wú)故拖延時(shí)間； 測(cè)試人員在進(jìn)行回歸測(cè)試時(shí)要嚴(yán)格把關(guān)，問(wèn)題處理流程不可以隨便關(guān)閉； 流程處理過(guò)程中對(duì)事不對(duì)人，要按照事實(shí)說(shuō)話； 問(wèn)題報(bào)告單應(yīng)該是測(cè)試人員測(cè)試績(jī)效考核的一個(gè)重要部分,課件大綱,硬件測(cè)試概述 測(cè)試前準(zhǔn)備 硬件測(cè)試的種類(lèi)與操作 硬件測(cè)試的級(jí)別 可靠性測(cè)試 測(cè)試問(wèn)題的解決 測(cè)試效果評(píng)估 測(cè)試規(guī)范的制定 測(cè)試人員的培養(yǎng)

24、,測(cè)試效果評(píng)估,1、測(cè)試報(bào)告 測(cè)試報(bào)告一般需要包含以下內(nèi)容： 測(cè)試時(shí)間、地點(diǎn)、人員 測(cè)試環(huán)境 測(cè)試數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)（測(cè)試人員等工作量統(tǒng)計(jì)、測(cè)試項(xiàng)目通過(guò)情況統(tǒng)計(jì)、缺陷統(tǒng)計(jì)和覆蓋率統(tǒng)計(jì)） 測(cè)試評(píng)估（總結(jié)經(jīng)驗(yàn)教訓(xùn)，評(píng)估工作量，給出被測(cè)對(duì)象的客觀評(píng)價(jià)，描述對(duì)測(cè)試設(shè)計(jì)的改進(jìn)建議和理由） 遺留問(wèn)題,測(cè)試效果評(píng)估,2、評(píng)審 評(píng)審角色 開(kāi)發(fā)工程師 評(píng)審前需提供相關(guān)的設(shè)計(jì)文檔（總體設(shè)計(jì)方案、詳細(xì)設(shè)計(jì)報(bào)告等）； 評(píng)審會(huì)議做簡(jiǎn)單的原理和功能介紹； 評(píng)審?fù)瓿珊?，根?jù)評(píng)審會(huì)議確定的問(wèn)題做相應(yīng)的更改,測(cè)試效果評(píng)估,評(píng)審角色 項(xiàng)目經(jīng)理 明確設(shè)計(jì)責(zé)任，將評(píng)審會(huì)議確定的問(wèn)題按照職責(zé)分配給相關(guān)的責(zé)任人； 公開(kāi)評(píng)審會(huì)完成后，確認(rèn)并保證會(huì)議

25、上的問(wèn)題作了妥善的解決,測(cè)試效果評(píng)估,評(píng)審角色 硬件測(cè)試工程師 介紹測(cè)試過(guò)程和采用的測(cè)試方法； 闡述測(cè)試過(guò)程發(fā)現(xiàn)的問(wèn)題； 詳細(xì)描述測(cè)試問(wèn)題發(fā)生的條件、問(wèn)題現(xiàn)象； 整理匯總測(cè)試問(wèn)題，出具測(cè)試報(bào)告； 評(píng)審會(huì)議結(jié)束后，跟蹤問(wèn)題的后續(xù)解決情況，進(jìn)行回歸測(cè)試,測(cè)試效果評(píng)估,評(píng)審角色 測(cè)試經(jīng)理 對(duì)測(cè)試問(wèn)題進(jìn)行確認(rèn)； 組織評(píng)審會(huì)議； 確定評(píng)審專(zhuān)家； 匯總評(píng)審意見(jiàn)； 不放過(guò)任何一個(gè)可能的問(wèn)題，站在測(cè)試的立場(chǎng)堅(jiān)持一切可能的問(wèn)題，不能隨便放過(guò)一個(gè)可能存在的問(wèn)題，為測(cè)試工程師撐腰,測(cè)試效果評(píng)估,評(píng)審效果 測(cè)試問(wèn)題得到及時(shí)的解決； 產(chǎn)品質(zhì)量得到提高； 測(cè)試問(wèn)題和經(jīng)驗(yàn)得到收集和積累； 為后續(xù)類(lèi)似產(chǎn)品提供測(cè)試等經(jīng)驗(yàn),測(cè)試

26、效果評(píng)估,3、經(jīng)驗(yàn)的總結(jié) 測(cè)試經(jīng)驗(yàn)總結(jié)是我們共同的財(cái)富，也是我們提供自身的手段。經(jīng)驗(yàn)總結(jié)的形式有： 審查規(guī)范； 測(cè)試規(guī)范； Checklist； 案例； 技術(shù)報(bào)告等 總結(jié)可避免重復(fù)勞動(dòng)，平時(shí)工作中需要有總結(jié)的意識(shí),測(cè)試效果評(píng)估,4、測(cè)試經(jīng)驗(yàn)的獲取 從測(cè)試過(guò)程中獲取 直接 印象深刻 深入 正確程度？(不好確定) 從問(wèn)題公關(guān)中獲取 直接 印象深刻 深入 數(shù)量少 從他人的經(jīng)驗(yàn)總結(jié)中獲取 較深入 數(shù)量大 間接 大量的經(jīng)驗(yàn)應(yīng)來(lái)自于獲取他人的測(cè)試經(jīng)驗(yàn)并加以自己實(shí)踐的驗(yàn)證，從而加深印象，成為自己的經(jīng)驗(yàn),測(cè)試效果評(píng)估,如何增長(zhǎng)測(cè)試經(jīng)驗(yàn)： 測(cè)試過(guò)程中深入分析，挖掘到本質(zhì)； 積極參與問(wèn)題攻關(guān)； 多從網(wǎng)上獲取他人經(jīng)

27、驗(yàn)； 多與他人進(jìn)行技術(shù)交流； 參與測(cè)試技術(shù)的開(kāi)發(fā)； 增長(zhǎng)測(cè)試經(jīng)驗(yàn)即提供技術(shù)能力，優(yōu)秀的測(cè)試工程師肯定可以是優(yōu)秀的開(kāi)發(fā)工程師,測(cè)試效果評(píng)估,5、遺留問(wèn)題處理 遺留問(wèn)題是指測(cè)試過(guò)程中發(fā)生的并且在測(cè)試報(bào)告時(shí)仍沒(méi)有得到解決的測(cè)試問(wèn)題。測(cè)試報(bào)告時(shí)已經(jīng)得到解決并已通過(guò)回歸驗(yàn)證的測(cè)試問(wèn)題不計(jì)入其中； 遺留問(wèn)題的劃分需要非常謹(jǐn)慎，必須是長(zhǎng)時(shí)間無(wú)法重現(xiàn)的問(wèn)題或者本身為不嚴(yán)重的問(wèn)題由于某些特定的因素（成本等）的原因才可以通過(guò)流程中各環(huán)節(jié)人員的認(rèn)可被列為遺留問(wèn)題； 遺留問(wèn)題需要定時(shí)跟蹤清理且對(duì)于一款產(chǎn)品需要制定一個(gè)遺留問(wèn)題的數(shù)量限制； 即使是遺留問(wèn)題也要明確跟蹤的責(zé)任人； 遺留問(wèn)題是可以再后續(xù)被重新激活的，一旦問(wèn)題

28、重現(xiàn)或者條件允許，需要重新激活解決,課件大綱,硬件測(cè)試概述 測(cè)試前準(zhǔn)備 硬件測(cè)試的種類(lèi)與操作 硬件測(cè)試的級(jí)別 可靠性測(cè)試 測(cè)試問(wèn)題的解決 測(cè)試效果評(píng)估 測(cè)試規(guī)范的制定 測(cè)試人員的培養(yǎng),測(cè)試規(guī)范的制定,1、人員的規(guī)范 要有一個(gè)職業(yè)化的觀念，要有意識(shí)地把自己培養(yǎng)為職業(yè)工程師。 測(cè)試過(guò)程的記錄； 測(cè)試經(jīng)驗(yàn)的總結(jié)； 測(cè)試規(guī)范和測(cè)試案例的應(yīng)用； 測(cè)試用例的應(yīng)用與設(shè)計(jì),測(cè)試規(guī)范的制定,人員規(guī)范的必要性 我們?cè)诳偨Y(jié)中發(fā)現(xiàn)有較多的從市場(chǎng)上反饋回來(lái)的問(wèn)題是我們?cè)?jīng)在實(shí)驗(yàn)室發(fā)現(xiàn)過(guò)的，但為什么當(dāng)時(shí)沒(méi)有很好的注意呢？原因只有一個(gè)，對(duì)問(wèn)題不敏感。 當(dāng)我們測(cè)試某項(xiàng)目時(shí)間較長(zhǎng)后，對(duì)我們測(cè)試的對(duì)象非常熟悉，對(duì)有些偶爾出現(xiàn)一下的問(wèn)題認(rèn)為是理所當(dāng)然，缺乏了敏感性。但當(dāng)產(chǎn)品推向市場(chǎng)后，這些偶然出現(xiàn)的問(wèn)題會(huì)大面積暴露出來(lái)，將會(huì)嚴(yán)重影響產(chǎn)品的聲譽(yù)。 對(duì)測(cè)試問(wèn)題敏感是測(cè)試人員的必備素質(zhì),測(cè)試規(guī)范的制定,2、建立測(cè)試規(guī)范的必要性 測(cè)試更多的是動(dòng)手的過(guò)程，測(cè)試工程師的水平參差不齊，如何保證測(cè)試質(zhì)量就需要用制度和規(guī)范管理，各個(gè)測(cè)試環(huán)節(jié)均需要有流程和規(guī)范進(jìn)行約束，各個(gè)階段的輸入、輸