第一篇第四章電阻率測(cè)深法

1、第四章第四章 電阻率測(cè)深法電阻率測(cè)深法1.4.1 多層水平地層面點(diǎn)電流源的多層水平地層面點(diǎn)電流源的電場(chǎng)及表達(dá)式電場(chǎng)及表達(dá)式二、電阻率轉(zhuǎn)換函數(shù)二、電阻率轉(zhuǎn)換函數(shù) 1.4.2 水平地層上電測(cè)深曲線分析水平地層上電測(cè)深曲線分析二、對(duì)稱四極電測(cè)深二層及三層量板二、對(duì)稱四極電測(cè)深二層及三層量板三、水平地層的縱向電導(dǎo)與橫向電阻三、水平地層的縱向電導(dǎo)與橫向電阻四、水平地層上電測(cè)深曲線的基本性質(zhì)四、水平地層上電測(cè)深曲線的基本性質(zhì)五、電測(cè)深由線的等值現(xiàn)象五、電測(cè)深由線的等值現(xiàn)象 根據(jù)解場(chǎng)正問(wèn)題的唯一定理，一定的地電斷面所對(duì)根據(jù)解場(chǎng)正問(wèn)題的唯一定理，一定的地電斷面所對(duì)應(yīng)的電測(cè)深曲線是唯一的，不同地電斷面對(duì)應(yīng)著不同

2、的應(yīng)的電測(cè)深曲線是唯一的，不同地電斷面對(duì)應(yīng)著不同的電測(cè)深曲線。然而，在實(shí)際工作中，由于電測(cè)深曲線是電測(cè)深曲線。然而，在實(shí)際工作中，由于電測(cè)深曲線是存在一定觀測(cè)誤差情況下得到的，于是便出現(xiàn)這樣的現(xiàn)存在一定觀測(cè)誤差情況下得到的，于是便出現(xiàn)這樣的現(xiàn)象：有些不同地電斷面所對(duì)應(yīng)的電測(cè)深曲線間之差別在象：有些不同地電斷面所對(duì)應(yīng)的電測(cè)深曲線間之差別在觀測(cè)誤差范圍以內(nèi)，常將其看成為觀測(cè)誤差范圍以內(nèi)，常將其看成為“同一條同一條”電測(cè)深曲電測(cè)深曲線，這種情況稱為電測(cè)深曲線的等值現(xiàn)象。由于等值現(xiàn)線，這種情況稱為電測(cè)深曲線的等值現(xiàn)象。由于等值現(xiàn)象的存在，一條實(shí)測(cè)電測(cè)深曲線可對(duì)應(yīng)一組不同的地電象的存在，一條實(shí)測(cè)電測(cè)深曲

3、線可對(duì)應(yīng)一組不同的地電斷面，從而造成錯(cuò)誤的解釋。為此，必須研究等值現(xiàn)象斷面，從而造成錯(cuò)誤的解釋。為此，必須研究等值現(xiàn)象發(fā)生的原因和規(guī)律，以提高解釋質(zhì)量。發(fā)生的原因和規(guī)律，以提高解釋質(zhì)量。圖圖1.4.7三層斷面等值現(xiàn)象示意圖三層斷面等值現(xiàn)象示意圖 （a）S等值現(xiàn)象等值現(xiàn)象 （b）T等值現(xiàn)象等值現(xiàn)象2電測(cè)深曲線的數(shù)值反演方法電測(cè)深曲線的數(shù)值反演方法 用電子計(jì)算機(jī)自動(dòng)解釋電測(cè)深曲線有許多方法，目前應(yīng)用電子計(jì)算機(jī)自動(dòng)解釋電測(cè)深曲線有許多方法，目前應(yīng)用最廣泛的是最優(yōu)化數(shù)值反演方法。最優(yōu)化法在數(shù)學(xué)上是求用最廣泛的是最優(yōu)化數(shù)值反演方法。最優(yōu)化法在數(shù)學(xué)上是求多變量函數(shù)極小值的一種計(jì)算方法。用這種方法反演電測(cè)深

4、多變量函數(shù)極小值的一種計(jì)算方法。用這種方法反演電測(cè)深圖圖4.69 擬合擬合T函數(shù)流程圖曲線就是求取使理論曲線和實(shí)際函數(shù)流程圖曲線就是求取使理論曲線和實(shí)際曲線之間擬合差為極小值時(shí)的層參數(shù)。曲線之間擬合差為極小值時(shí)的層參數(shù)?？梢圆捎脙煞N不同的途徑實(shí)現(xiàn)上述反演目的：一種是直接擬可以采用兩種不同的途徑實(shí)現(xiàn)上述反演目的：一種是直接擬合電測(cè)深合電測(cè)深 s曲線的最優(yōu)化反演方法；另一種是擬合電阻率轉(zhuǎn)曲線的最優(yōu)化反演方法；另一種是擬合電阻率轉(zhuǎn)換函數(shù)曲線的最優(yōu)化反演方法。兩種方法都能達(dá)到對(duì)任意水換函數(shù)曲線的最優(yōu)化反演方法。兩種方法都能達(dá)到對(duì)任意水平地層作分層解釋的目的。平地層作分層解釋的目的。 現(xiàn)以擬合電阻率轉(zhuǎn)換

5、函數(shù)為主，參照?qǐng)D現(xiàn)以擬合電阻率轉(zhuǎn)換函數(shù)為主，參照?qǐng)D4.69，說(shuō)明對(duì)，說(shuō)明對(duì)電測(cè)深曲線作最優(yōu)化反演的方法步驟電測(cè)深曲線作最優(yōu)化反演的方法步驟。地電學(xué)教程地電學(xué)教程P1551.4.4 非水平層上的電測(cè)深曲線非水平層上的電測(cè)深曲線二、球體上的電測(cè)深曲線二、球體上的電測(cè)深曲線圖1.4.18水平板狀體上測(cè)深曲線的模型實(shí)驗(yàn)結(jié)果a一良導(dǎo)水平銅板（h=6厘米），b一高阻水平浸染石墨板（h=4厘米）1.4.5 電阻率測(cè)深法的實(shí)際應(yīng)用電阻率測(cè)深法的實(shí)際應(yīng)用v（一）測(cè)網(wǎng)、比例尺（一）測(cè)網(wǎng)、比例尺v測(cè)網(wǎng)及比例尺應(yīng)根據(jù)地質(zhì)任務(wù)及地質(zhì)一地球物理?xiàng)l測(cè)網(wǎng)及比例尺應(yīng)根據(jù)地質(zhì)任務(wù)及地質(zhì)一地球物理?xiàng)l件決定。如果是查明工區(qū)地下構(gòu)造及

6、基巖起伏情況，件決定。如果是查明工區(qū)地下構(gòu)造及基巖起伏情況，測(cè)線方位應(yīng)與估計(jì)的地質(zhì)構(gòu)造走向垂直，而測(cè)線長(zhǎng)測(cè)線方位應(yīng)與估計(jì)的地質(zhì)構(gòu)造走向垂直，而測(cè)線長(zhǎng)度則須大于預(yù)計(jì)的構(gòu)造寬度。如進(jìn)行普查，則只需度則須大于預(yù)計(jì)的構(gòu)造寬度。如進(jìn)行普查，則只需一條測(cè)線。若為詳查，則需在估計(jì)的最小而有意義一條測(cè)線。若為詳查，則需在估計(jì)的最小而有意義的構(gòu)造延伸范圍內(nèi)布置的構(gòu)造延伸范圍內(nèi)布置35條測(cè)線。測(cè)點(diǎn)間距離一條測(cè)線。測(cè)點(diǎn)間距離一般與探測(cè)地層的深度相近即可，并要考慮勘探的性般與探測(cè)地層的深度相近即可，并要考慮勘探的性質(zhì)與要求。當(dāng)進(jìn)行普查時(shí)，必須在所能探測(cè)的最小質(zhì)與要求。當(dāng)進(jìn)行普查時(shí)，必須在所能探測(cè)的最小構(gòu)造范圍內(nèi)，至少

7、布置構(gòu)造范圍內(nèi)，至少布置23個(gè)測(cè)深點(diǎn)。個(gè)測(cè)深點(diǎn)。二、電測(cè)深成果的一些定性解釋圖件二、電測(cè)深成果的一些定性解釋圖件三、電測(cè)深法在屬礦上的應(yīng)用v 電測(cè)深法在金屬礦上應(yīng)用時(shí)，在地質(zhì)地電測(cè)深法在金屬礦上應(yīng)用時(shí)，在地質(zhì)地球物理?xiàng)l件有利的情況下，可用以直接尋找球物理?xiàng)l件有利的情況下，可用以直接尋找礦異常，圈定礦體范圍和確定礦體深度等。礦異常，圈定礦體范圍和確定礦體深度等。但在多數(shù)情況下，由于金屬礦體形態(tài)復(fù)雜或但在多數(shù)情況下，由于金屬礦體形態(tài)復(fù)雜或埋藏較深等原因，用電測(cè)深直接找礦往往效埋藏較深等原因，用電測(cè)深直接找礦往往效果不好，但可用電測(cè)深研究地下構(gòu)造，查明果不好，但可用電測(cè)深研究地下構(gòu)造，查明基巖起伏等

8、，以劃出成礦有利地段。在這方基巖起伏等，以劃出成礦有利地段。在這方面?？扇〉昧己玫刭|(zhì)效果。面?？扇〉昧己玫刭|(zhì)效果。 某區(qū)尋找地下水源的某區(qū)尋找地下水源的電測(cè)深綜合成果圖電測(cè)深綜合成果圖電測(cè)深法尋找古河道電測(cè)深法尋找古河道v圖圖2.1.46是北西是北西東南向橫切成都平原的物東南向橫切成都平原的物探、地質(zhì)綜合剖面圖。反映了砂質(zhì)粘土及粘探、地質(zhì)綜合剖面圖。反映了砂質(zhì)粘土及粘土的分布；在斷面圖中部，反映了高阻的砂、土的分布；在斷面圖中部，反映了高阻的砂、礫層，為本區(qū)主要的含水層；在斷面圖的底礫層，為本區(qū)主要的含水層；在斷面圖的底部，主要反映了基底的電性。部，主要反映了基底的電性。第五章第五章 復(fù)雜條件

9、下電阻率法的應(yīng)用及復(fù)雜條件下電阻率法的應(yīng)用及資料解釋資料解釋 圖圖1.5.7垂直接觸面對(duì)電測(cè)深曲線的影響（垂直接觸面對(duì)電測(cè)深曲線的影響（AB平行接觸面）平行接觸面）圖圖1.5.8 垂直接觸面對(duì)電測(cè)深曲線的影響（垂直接觸面對(duì)電測(cè)深曲線的影響（AB垂直接觸面）垂直接觸面）圖圖1.5.10 對(duì)稱電測(cè)深接觸面影響的改正實(shí)例對(duì)稱電測(cè)深接觸面影響的改正實(shí)例1實(shí)測(cè)曲線，實(shí)測(cè)曲線，2理論曲線；理論曲線；3改正后曲線；改正后曲線；4浮土，浮土，5測(cè)深點(diǎn)及布極方向測(cè)深點(diǎn)及布極方向（圖中縱軸值乘（圖中縱軸值乘l000）圖1.5.13 偶極剖面純地形異常的等值線斷面圖2圖1.5.14 地形對(duì)電測(cè)深法的影響C、D、E、

10、F、G為測(cè)深點(diǎn)；a為山脊、山谷寬度（a）垂直地形走向布極 （b）手行地形走向布極圖1.5.17比較法地形改正后對(duì)礦體異常的影響（a）山谷下有良導(dǎo)體（b）平地下有良導(dǎo)體（c）山脊下有良導(dǎo)體（d）地電斷面實(shí)線為 虛線為點(diǎn)源場(chǎng)沒有線源場(chǎng)上述的簡(jiǎn)點(diǎn)源場(chǎng)沒有線源場(chǎng)上述的簡(jiǎn)單映射關(guān)系，這可用圖單映射關(guān)系，這可用圖1.5.17的水槽模型實(shí)驗(yàn)結(jié)果的水槽模型實(shí)驗(yàn)結(jié)果來(lái)說(shuō)明。在山脊和山谷下有來(lái)說(shuō)明。在山脊和山谷下有埋深及形態(tài)相同的礦體，經(jīng)埋深及形態(tài)相同的礦體，經(jīng)過(guò)地形改正后，山脊上所得過(guò)地形改正后，山脊上所得異常大于平地時(shí)的異常，而異常大于平地時(shí)的異常，而山谷上改正后的異常則小于山谷上改正后的異常則小于平地時(shí)的異常。這是因?yàn)?，平地時(shí)的異常。這是因?yàn)?，在?shí)測(cè)過(guò)程中，